CN101995679A - 多探头单元 - Google Patents
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Abstract
公开了一种多探头单元,包括:基板,该基板由金属材料制成,为矩形,固定设置在LCD检测设备上,并在长度方向两端设置有对齐相机;线性电机,该线性电机沿长度方向设置在基板上,具有多个移动子;移动架,该移动架的一端通过线性架固定在各移动子上,另一端固定设置有探头模块;一对LM导轨,该对LM导轨沿长度方向相间隔地设置在基板上;编码器,该编码器在LM导轨之间设置有刻度尺,在移动架底面设置有磁头;外罩,该外罩由金属或合成树脂材料制成,为矩形,通过固定杆固定在基板上端;数据PCB,该数据PCB通过固定架设置在基板的上表面。该多探头单元能够缩短探测器单元的设置工序,利用一个探测器单元检测各种不同规格的LCD板,降低了检测费用。
Description
技术领域
本发明涉及多探头单元,具体地,涉及对于各种不同规格的液晶显示(LCD)板而言,能够对称地在基板上通过线性电机自动地根据相应规格的LCD板移动各探头模块的多探头单元。
背景技术
一般来说,LCD检测设备指的是,将LCD板自动传送到工作人员所在位置,使工作人员能够用肉眼分辨LCD板是不良品还是合格品,并在检测结束后,根据检测结果,将LCD板分为优良品(good)、修理对象(repair)和报废品(reject),将它们分别层叠在相应的盒子(cassette)内的设备。
如图1及图2所示,一般的LCD检测设备在本体1一侧设置有对LCD板10进行检测的检测部2,并在检测部2一侧设置有供给及回收LCD板10的装卸部7。
另外,LCD检测设备还具备能够左右移动的搬运器9,该搬运器9能够将LCD板10从装卸部7搬运到检测部2,或从检测部2搬运到装卸部7。
检测部2由探测器单元3以及使LCD板10与探测器单元3接触并提供光源的工作台(work stage)4构成。工作台4由偏光板4-11及白光灯4-13组成,在工作台4的后方设置有将工作台4相对于探测器单元3进行排列的同时使工作台4与探测器单元3连接的XYθ台4-3。
装卸部7设置有将从装载设备(未图示)返回的LCD板以一定角度(例如,60度)进行倾斜的服务台8。
另外,检测部2的前方还设置有能够上下或左右移动的显微镜6,以便工作人员通过肉眼对LCD板10进行检查时,如果发现异常,能够对其进行更加精密的确认。
通过上述以往的LCD检测设备完成的检测过程可以简单说明如下。
LCD板10从装卸部7的装载设备(未图示)搬运到服务台8,服务台8以一定角度倾斜LCD板10,并将LCD板10传送给搬运器9。接着,搬运器9将LCD板10搬运到检测部2。在需要检测的LCD板10位于检测部2之后,XYθ台4-3将从后方前进,对搬运器9上的LCD板10进行真空吸附固定,并将固定的LCD板10的衬垫(未图示)连接到探测器单元3的管脚(未图示)。
如上所述,在LCD板10和探测器单元3导通之后,通过探测器单元3输入规定的影像信号,同时,白光灯4-13的照明将通过外部影像信号输入装置,即图像发生器(pattern generator)转变为多种图像,此时,工作人员即可根据呈现的图像判别LCD板是否合格。
另一方面,如图3所示,探测器单元3包括:矩形的基板3-1;在基板3-1上表面一侧以等间隔设置的探头模块3-3;设置在基板3-1上表面,并与探头模块3-3导通,能够向探头模块3-3传送信号的对齐相机3-7。
另外,上述以往的探测器单元需要根据LCD板的规格,将与相应LCD板对应的探测器单元附着在LCD检测设备上使用,在附着探测器单元后,需要进行单元设置。
但是,上述单元设置工序需要将LCD板的衬垫与探测器单元的管脚进行1∶1配置,从而需要数小时的工作时间。
发明内容
本发明为解决上述问题而提出,其目的是提供一种新型多探头单元,对于各种不同规格的LCD板而言,该多探头单元能够对称地在基板上通过线性电机自动地根据相应规格的LCD板移动各探头模块,从而缩短单元的设置工序。
为了达到上述目的,本发明提供了一种多探头单元,该多探头单元包括:基板,该基板由金属材料制成,为矩形,固定设置在LCD检测设备上,并且在所述基板的长度方向两端设置有对齐相机;线性电机,该线性电机沿所述基板的长度方向设置在所述基板上,具有多个移动子,并且能够根据所述LCD检测设备的控制信号移动所述移动子;移动架,该移动架的一端通过线性架固定在所述线性电机的各移动子上,另一端固定设置有探头模块;一对直线运动(LM)导轨,该对LM导轨沿所述基板的长度方向相间隔地设置在所述基板上,并且能够引导所述移动架移动;编码器,该编码器具有刻度尺和磁头,所述刻度尺设置在所述LM导轨之间,所述磁头设置在所述移动架底面,并且所述磁头能够检测所述移动架的移动量,并将该移动量输出到所述LCD检测设备;外罩,该外罩由金属或合成树脂材料制成,为矩形,通过固定杆固定在所述基板上端;以及数据印刷电路板(PCB),该数据PCB通过固定架设置在所述基板的上表面,并且能够向所述探头模块传送数据信号。
所述移动架包括:第一水平部,该第一水平部由金属材料制成,为四边形板状,并且该第一水平部的底面具有与所述LM导轨结合的一对LM导轨模块,一侧面形成有线性架,在所述一对LM导轨模块之间设置有所述编码器的磁头;垂直部,该垂直部从所述第一水平部垂直向下延伸而形成,并且该垂直部的一侧面与所述基板的一侧面相对;以及第二水平部,该第二水平部从所述垂直部下端水平延伸而形成,并且该第二水平部的上表面固定设置有探头模块,上表面两端设置有增强板。
另外,在每两个相邻的所述移动架之间固定设置有用于限制所述移动架移动的制动器。
所述LCD检测设备将分别保存各移动架的初始坐标值以及与各LCD板尺寸对应的移动架的移动坐标值。
在用户输入单元设置命令之后,所述LCD检测设备在控制所述线性电机的同时,通过所述编码器确认所述移动架的位置,将各移动架移动到与初始坐标值对应的位置,然后,控制所述线性电机,使所述移动架根据相应LCD板的尺寸规格移动。
本发明对于各种不同规格的LCD板,能够对称地在基板上通过线性电机自动地根据相应规格的LCD板移动各探头模块,从而缩短探测器单元的设置工序,并且能够利用一个探测器单元检测各种不同规格的LCD板,相对地降低检测费用。
附图说明
图1及图2是一般的LCD检测设备的结构示意图。
图3是以往探测器单元的结构示意图。
图4是本发明涉及的多探头单元组成结构的斜视图。
图5是本发明涉及的多探头单元组成结构的分解斜视图。
图6是沿图4中VI-VI线剖开的剖面图。
图7是本发明涉及的多探头单元中移动架的组成结构的斜视图。
图8是使用了本发明涉及的多探头单元的LCD检测设备的正视图。
附图标记
3-1、110:基板,120:线性电机,130:移动架,140:LM导轨,150:编码器,160:外罩,170:数据PCB,180:探头模块。
具体实施方式
下面结合附图对本发明涉及的多探头单元的结构进行详细说明。
在下面的说明中,对于众所周知的相关功能或结构,如果认为对其进行具体说明可能会对理解本发明主要思想造成混乱,将省去详细说明。此外,下面用到的用语是在本发明的功能基础上定义的,有可能因为使用者的意图或习惯而有所不同。因此,其定义应以本说明书整体内容为基础进行理解。
图4是本发明涉及的多探头单元组成结构的斜视图,图5是本发明涉及的多探头单元组成结构的分解斜视图,图6是沿图4中VI-VI线剖开的剖面图,图7是本发明涉及的多探头单元中移动架的组成结构的斜视图,图8是使用了本发明涉及的多探头单元的LCD检测设备的正视图。
如图4至图8所示,本发明涉及的多探头单元100包括基板110、线性电机120、移动架130、LM导轨140、编码器150、外罩160及数据PCB 170。
基板110由金属材料制成,为矩形,固定设置在LCD检测设备200上,并且在基板110的长度方向两端设置有对齐相机111。
线性电机120沿基板110的长度方向设置在基板110上,具有多个移动子121,并且能够根据LCD检测设备200的控制信号移动所述移动子121。线性电机120具有移动子,可以将它们根据探头模块180的个数分别设置。
另外,如图7所示,移动架130包括:第一水平部131,该第一水平部131由金属材料制成,为四边形板状,并且该第一水平部131的底面具有与LM导轨140结合的一对LM导轨模块131-1,一侧面形成有线性架131-3;垂直部133,该垂直部133从第一水平部131垂直向下延伸而形成,并且该垂直部133的一侧面与基板110的一侧面相对;以及第二水平部135,该第二水平部135从垂直部133下端水平延伸而形成,并且该第二水平部135的上表面固定设置有探头模块180,上表面两端设置有增强板135-1。这里,在每两个相邻的移动架130之间固定设置有限制移动架130移动的制动器137。
另外,一对LM导轨140沿基板110的长度方向相间隔地设置在基板110上,并且能够与移动架130的LM导轨模块131-1结合,从而引导移动架130移动。
编码器150包括设置在LM导轨140之间的刻度尺151以及在移动架130底面设置在LM导轨模块131-1之间的磁头153,该磁头153能够检测移动架130的移动量,并将该移动量输出到LCD检测设备200。这里,刻度尺151上一般形成有数微米至数十微米的刻度,能够使移动架130移动数微米至数十微米。
外罩160由金属或合成树脂材料制成,为矩形,通过固定杆161固定在基板110上端。
数据PCB170通过固定架171设置在基板110的上表面,并且能够向探头模块180传送数据信号。
另一方面,设置了本发明涉及的多探头单元100的LCD检测设备200,该LCD检测设备200将分别保存各移动架130的初始坐标值以及与各LCD板10尺寸对应的移动架130的移动坐标值。
另外,只要用户输入单元设置命令,LCD检测设备200就会在控制线性电机120的同时,通过编码器150确认移动架130的位置,将各移动架130移动到与初始坐标值对应的位置,然后,控制线性电机120,使移动架130根据相应LCD板的尺寸规格移动。
下面,参照附图对本发明涉及的多探头单元的工作原理进行详细说明。
首先,工作人员通过LCD检测设备200上设置的操作面板(未图示)输入单元设置命令。设置命令中包括要检查的LCD板的大小或与其对应的识别符号。
这样,LCD检测设备200就可以在控制线性电机120的同时,通过编码器150确认移动架130的位置,将各移动架130移动到与初始坐标值对应的位置,然后,控制线性电机120,使各移动架130根据相应LCD板的尺寸规格移动。
另一方面,只要LCD检测设备200向线性电机120输入控制信号,移动子121就会移动,从而通过线性架131-3与移动子121固定连接的移动架130也一起移动。此时,移动架130将通过LM导轨140在基板110上左右或上下移动。
只要移动架130开始移动,设置在移动架130底面的编码器150的磁头153就会沿刻度尺151移动并检测移动量,与磁头153检测的移动量对应的信号就会反馈到LCD检测设备200,从而,LCD检测设备200就可以将移动架130移动到所需位置。
这样,探头模块180就可以随着移动架130移动到相应LCD板10的衬垫位置。
接着,与以往方法相同,XYθ台(图1中4-3)前进,使LCD板10的衬垫(未图示)与探头模块180的管脚(未图示)连接。
以上仅对本发明优选实施方式进行了说明,本发明还可以进行多种变形,采用多种实施方式。本发明并不局限于以上说明的特殊实施方式,属于权利要求书所述的本发明技术思想范围内的所有变形形式、等价形式以及替代形式均落入本发明权利要求的保护范围。
Claims (5)
1.一种多探头单元,其特征在于,该多探头单元包括:基板,该基板由金属材料制成,为矩形,固定设置在液晶显示检测设备上,并且在所述基板的长度方向两端设置有对齐相机;线性电机,该线性电机沿所述基板的长度方向设置在所述基板上,具有多个移动子,并且能够根据所述液晶显示检测设备的控制信号移动所述移动子;移动架,该移动架的一端通过线性架固定在所述线性电机的各移动子上,另一端固定设置有探头模块;一对直线运动导轨,该对直线运动导轨沿所述基板的长度方向相间隔地设置在所述基板上,并且能够引导所述移动架移动;编码器,该编码器具有刻度尺和磁头,所述刻度尺设置在所述直线运动导轨之间,所述磁头设置在所述移动架底面,并且所述磁头能够检测所述移动架的移动量,并将该移动量输出到所述液晶显示检测设备;外罩,该外罩由金属或合成树脂材料制成,为矩形,通过固定杆固定在所述基板上端;以及数据印刷电路板,该数据印刷电路板通过固定架设置在所述基板的上表面,并且能够向所述探头模块传送数据信号。
2.根据权利要求1所述的多探头单元,其中,所述移动架包括:第一水平部,该第一水平部由金属材料制成,为四边形板状,并且该第一水平部的底面具有与所述直线运动导轨结合的一对直线运动导轨模块,一侧面形成有线性架,在所述直线运动导轨模块之间设置有所述编码器的磁头;垂直部,该垂直部从所述第一水平部垂直向下延伸而形成,并且该垂直部的一侧面与所述基板的一侧面相对;以及第二水平部,该第二水平部从所述垂直部下端水平延伸而形成,并且该第二水平部的上表面固定设置有探头模块,上表面两端设置有增强板。
3.根据权利要求1所述的多探头单元,其中,在每两个相邻的所述移动架之间固定设置有用于限制所述移动架移动的制动器。
4.根据权利要求1所述的多探头单元,其中,所述液晶显示检测设备分别保存各移动架的初始坐标值以及与各液晶显示板尺寸对应的移动架的移动坐标值。
5.根据权利要求4所述的多探头单元,其中,在用户输入单元设置命令之后,所述液晶显示检测设备在控制所述线性电机的同时,通过所述编码器确认所述移动架的位置,将各移动架移动到与初始坐标值对应的位置,然后,控制所述线性电机,使所述移动架根据相应液晶显示板的尺寸规格移动。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102929005A (zh) * | 2012-09-26 | 2013-02-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Tft-lcd基板的探测装置 |
US8970245B2 (en) | 2012-09-26 | 2015-03-03 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Probing device for TFT-LCD substrate |
CN104614878A (zh) * | 2013-11-04 | 2015-05-13 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 一种液晶屏检测系统 |
CN104715705A (zh) * | 2015-03-30 | 2015-06-17 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
CN106251796A (zh) * | 2015-06-12 | 2016-12-21 | 株式会社日本显示器 | 显示装置的检查装置、显示装置用母基板的检查方法及显示装置 |
CN110153748A (zh) * | 2019-06-18 | 2019-08-23 | 河南理工大学 | 一种机械加工用辅助定位装置 |
CN111710749A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-09-25 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 基于多基板二次拼接的长线列探测器拼接结构及实现方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101332160B1 (ko) * | 2012-07-25 | 2013-11-21 | 한국항공우주연구원 | 이엠씨 측정용 프로브 거치대 |
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Family Cites Families (4)
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---|---|---|---|---|
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CN100547633C (zh) * | 2007-08-29 | 2009-10-07 | 浙江大学 | 用于检测显示屏光色性能的龙门式四维自动测量台 |
CN201130281Y (zh) * | 2007-11-27 | 2008-10-08 | 均豪精密工业股份有限公司 | 平面显示器面板坏点定位检测机构 |
KR100870152B1 (ko) * | 2008-04-07 | 2008-11-24 | (주)유비프리시젼 | Lcd 검사 장비용 프로브 유니트의 자동 변경 장치 |
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102929005A (zh) * | 2012-09-26 | 2013-02-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Tft-lcd基板的探测装置 |
WO2014047978A1 (zh) * | 2012-09-26 | 2014-04-03 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Tft-lcd基板的探测装置 |
US8970245B2 (en) | 2012-09-26 | 2015-03-03 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Probing device for TFT-LCD substrate |
CN102929005B (zh) * | 2012-09-26 | 2016-03-30 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Tft-lcd基板的探测装置 |
CN104614878A (zh) * | 2013-11-04 | 2015-05-13 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 一种液晶屏检测系统 |
CN104715705A (zh) * | 2015-03-30 | 2015-06-17 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种用于液晶显示面板的检测装置 |
CN106251796A (zh) * | 2015-06-12 | 2016-12-21 | 株式会社日本显示器 | 显示装置的检查装置、显示装置用母基板的检查方法及显示装置 |
US10283026B2 (en) | 2015-06-12 | 2019-05-07 | Japan Display Inc. | Inspection device of display device, method of inspecting mother substrate for display device, and display device |
CN110153748A (zh) * | 2019-06-18 | 2019-08-23 | 河南理工大学 | 一种机械加工用辅助定位装置 |
CN111710749A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-09-25 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 基于多基板二次拼接的长线列探测器拼接结构及实现方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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Owner name: KLT Free format text: FORMER NAME: UBPREC CO., LTD. |
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CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20130109 Termination date: 20150924 |
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EXPY | Termination of patent right or utility model |