CN100478742C - 一种tft-lcd基板检测设备中探针结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种TFT-LCD基板检测设备中探针结构，由母板和多个不同型号的子板构成，母板在不同型号的面板检测中可以通用，多个不同型号的子板中的每一对子板对应一种型号的面板，其中子板上包含有能与其对应型号面板上的信号输入端接触的探针，且多个不同型号的子板可自由在母板上进行拆装，母板和每一对子板上分别对应有多个接口，母板和每一对子板之间通过接口进行信号连接。本发明通过同一件探针结构检测不同尺寸面板阵列基板，从而减少探针结构的购买量以节约资金和减少更换探针结构所需时间。
Description
技术领域
本发明涉及TFT-LCD(薄膜晶体管液晶显示器)阵列基板检测技术，特别涉及一种TFT-LCD基板检测设备中探针结构。
背景技术
PDI公司阵列检测(Array Checker)系列设备是目前TFT-LCD生产线广泛使用的，用于检测阵列基板电学性能的一种重要设备。其中探针结构(ProbeFrame)是设备用来对阵列基板上面板(pannel)加信号的重要部件，该部件内部通过电路将信号输入端和安装在探针结构上固定位置的pin(探针)连接在一起，检测时pin头与阵列基板上的pad(面板检测信号输入端)一一对应接触。该阵列检测设备的工作原理是通过探针结构将信号加到阵列基板的pad上，再利用VIOS(Voltage Imaging Optical Subsystem)系统对阵列基板进行检测。
虽然对于同一条生产线来说阵列基板的尺寸固定不变，但由于各种尺寸面板(如17英吋，19英吋)的设计不同，面板在阵列基板上的排列也不同，这就导致不同尺寸面板的阵列基板需要不同的探针结构进行检测；且生产线一旦更换生产不同尺寸的面板，设备就要更换相应的探针结构。为了保证生产线高效运转，就需要根据阵列检测设备的数量来最大程度地购买各种尺寸的探针结构部件。但由于探针结构的价格非常昂贵，购买不同型号的探针结构花费的资金较多。
现有技术中17英吋面板阵列基板如图1所示，用来给基板上面板加信号的pad1位于基板上下两侧；适用于17英吋面板阵列基板的探针结构如图2所示，用来和阵列基板上的pad1连接的pin2位于探针结构的上侧和下侧；探针结构通过导线直接将输入信号连接到上侧和下侧的pin上的内部电路图如图3所示。
现有技术中19英吋面板阵列基板如图4所示，用来给基板上面板加信号的pad1位于基板左右两侧；适用19英吋面板的探针结构如图5所示，通过内部电路将信号输入端和pin2连接在一起，检测时探针结构上pin2与阵列基板上的pad1一一对应接触。
当由17英吋面板阵列基板换产成19英吋面板阵列基板时，必须把庞大沉重的17英吋面板适用探针结构从基台上拆下，再换上同样庞大沉重的19英吋面板适用探针结构；受探针结构体积及重量所限，花费时间较多。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种改良的TFT-LCD基板检测设备中探针结构，能够用同一件探针结构检测不同尺寸面板阵列基板，从而减少探针结构的购买量以节约资金和减少更换探针结构所需时间。
为了实现上述目的，本发明提供一种TFT-LCD基板检测设备中探针结构，由母板和多个不同型号的子板构成，所述母板在不同型号的面板检测中可以通用，所述多个不同型号的子板中的每一对子板对应一种型号的面板，其中所述子板上包含有能与其对应型号面板上的信号输入端接触的探针，所述多个不同型号的子板可自由在母板上进行拆装，母板和每一对子板上分别对应有多个接口，母板和每一对子板之间通过接口进行信号连接。
上述方案中，所述母板内部包括与多个不同型号的子板对应的多个阵列基板检测用电路。所述母板内部的检测电路使用印刷电路板，电路之间通过接口连接。
相对于现有技术，本发明具有如下有益效果：其一，同一个探针结构的母板可适用于几种不同尺寸面板的阵列基板检测，大量减少了探针结构的购买量节约大笔资金；其二，结构简单，更换探针结构时不再需要整体拆下，只需更换轻便的子板，减少了更换时间，提高了产能。
下面结合附图和具体实施例对本发明进行进一步更为详细地说明。
附图说明
图1是现有技术17英吋面板阵列基板简图；
图2是现有技术17英吋面板阵列基板检测用探针结构简图；
图3是现有技术17英吋面板阵列基板检测用探针结构内部电路图；
图4是现有技术19英吋面板阵列基板简图；
图5是现有技术19英吋面板阵列基板检测用探针结构简图；
图6是本发明17英吋与19英吋阵列基板检测通用探针结构简图(母板+可拆卸子板)；
图7是本发明探针结构母板内部电路及接口图；
图8是本发明17英吋面板用的探针结构上侧子板内部电路及接口图；
图9是本发明17英吋面板用的探针结构下侧子板内部电路及接口图；
图10是本发明19英吋面板用的探针结构左侧子板内部电路及接口图；
图11是本发明19英吋面板用的探针结构右侧子板内部电路及接口图。
图中标记：1、pad；2、pin；3、母板；41、上侧子板；42、下侧子板；51、左侧子板；52、右侧子板；6、母板内部电路间接口；7、印刷电路板8、母板与子板接口。
具体实施方式
本发明的阵列基板检测用的探针结构由母板和可拆卸子板构成：其中母板上下左右均有接口可以和不同的子板的接口相连，母板内有不同型号阵列基板的检测电路。当检测某一型号的阵列基板时将该型号的子板通过接口安装到母板上；检测时，信号由母板通过接口传送到子板的pin上，再通过pin与阵列基板上的pad相接触从而将信号加到阵列基板上。当检测其他型号的阵列基板时，把上一次使用的子板从探针结构母板上拆下，将其他型号的子板通过接口安装到母板上；从而对该型号的阵列基板进行检测。也就是说，检测某种型号阵列基板时，只需把母板上的子板取下来换上该型号对应的子板即可。
下面结合具体的实施例对本发明进行详细描述，但不应视为对本发明的限制。
图6是本发明17英吋与19英吋阵列基板检测通用探针结构的结构简图(母板+可拆卸子板)。如图6所示，本发明的探针结构分为母板3和可拆卸的子板；子板包括适用于17英吋面板阵列基板的上侧子板41和下侧子板42；适用于19英吋面板阵列基板的左侧子板51和右侧子板52。探针结构母板3上安装印刷电路板7，既有17英吋又有19英吋的电路，所以用信号线通过接口6将上下侧和左右侧的信号连接起来，如图7所示。测试时把子板通过接口8与母板上电路相连接。
上侧子板41相当于把未改进前的17英吋适用探针结构上侧带有pin的那部分单独取下来，其内部电路及接口如图8所示，其上做出接口8可与母板相连，通过接口8将信号由母板传送到pin2上，再通过pin2传到阵列基板上进行检测。
下侧子板42相当于把未改进前的17英吋适用探针结构下侧带有pin的那部分单独取下来，其内部电路及接口如图9所示，其上做出接口8可与母板相连，通过接口8将信号由母板传送到pin2上，再通过pin2传到阵列基板上进行检测。
左侧子板51相当于把未改进前的19英吋适用探针结构左侧带有pin的那部分单独取下来，其内部电路及接口如图10所示，其上做出接口8可与母板相连，通过接口8将信号由母板传送到pin2上，再通过pin2传到阵列基板上进行检测。
右侧子板52相当于把未改进前的19英吋适用探针结构右侧带有pin的那部分单独取下来，其内部电路及接口如图11所示，然后在其上做出接口8可与母板相连，通过接口8将信号由母板传送到pin2上，再通过pin2传到阵列基板上进行检测。
由于19英吋面板的检测电路只是在母板左右两侧，而17英吋面板检测电路则是在母板上下两侧，所以检测19英吋面板时不需要通过信号线把接口6的信号连上，而检测17英吋面板时则需要通过信号线把接口6的信号连上。当检测17英吋面板的阵列基板时只将17英吋面板对应的子板装在母板上下两侧，所以检测19英吋面板的信号悬空不对检测结果造成影响，再利用信号线通过接口6把左右侧电路和上下侧电路连接起来；当检测19英吋面板的阵列基板时不需利用信号线连接接口6，只需将17英吋面板对应的子板拆下，再将对应的子板装在母板左右两侧，所检测17英吋面板的信号悬空也不造成影响。
由上可见，本实施例中同一个探针结构母板可适用于17英吋面板和19英吋面板两种不同尺寸面板的阵列基板检测，减少了探针结构的购买量可节约资金；另外，更换探针结构时不再需要整体拆下，只需更换轻便的子板，减少了更换时间，提高了产能。
上述具体实施例可进行各种形式的变通，如根据实际生产线生产的面板情况，对子板和母板的内部电路进行改变；再者可将多个子板同时安装在母板上，然后通过接口连接与否或者通过电路开关控制每个子板与母板的通断。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解按照需要可使用不同材料和设备实现之，即可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (3)
1、一种TFT-LCD基板检测设备中探针结构，其特征在于：由母板和多个不同型号的子板构成，所述母板在不同型号的面板检测中可以通用，所述多个不同型号的子板中的每一对子板对应一种型号的面板，其中所述子板上包含有能与其对应型号面板上的信号输入端接触的探针，所述多个不同型号的子板可自由在母板上进行拆装，母板和每一对子板上分别对应有多个接口，母板和每一对子板之间通过接口进行信号连接。
2、根据权利要求1所述探针结构，其特征在于：所述母板内部包括与多个不同型号的子板对应的多个阵列基板检测用电路。
3、根据权利要求2所述探针结构，其特征在于：所述母板内部的检测电路使用印刷电路板，电路之间通过接口连接。
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