CN209280865U - 一种具有自检功能的集成电路测试板 - Google Patents

一种具有自检功能的集成电路测试板 Download PDF

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李明铭
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Abstract

本实用新型公开了一种具有自检功能的集成电路测试板,包括电路板模块、供电模块和显示模块,所述供电模块搭载于所述电路板模块表面,所述供电模块用于为所述电路板模块提供电力的支持,所述显示模块与所述电路板模块电性连接,所述显示模块用于提示所述电路板模块是否有损坏;通过在原有的自检集成电路测试板上添加信号所述发送单元,可以将每次所述测试电路检测后的结果发送给远处的所述接收单元,所述接收单元将接收的信号转发给所述处理单元进行简单的处理,随后通过所述提示单元进行具体的显示提示,由于所述显示模块以app的形式搭载于手机,手表以及计算机等,便于工作人员随时以及及时的了解整个芯片自检的结果,便于对芯片的及时处理。

Description

一种具有自检功能的集成电路测试板
技术领域
本实用新型属于集成电路技术领域,尤其涉及一种具有自检功能的集成电路测试板。
背景技术
在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中,为保证芯片的质量和性能,集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试,当前,多采用集成电路测试板来完成芯片的测试,而现有技术中,一旦集成电路测试板出现故障,难以对芯片进行正常测试,并且没有及时被发现,大量芯片的测试结果便可能会不准确,从而导致批量性不良品的出现。
目前市场上进行带自检功能的集成电路测试板对工作人员的通知采用的时传统的量红绿灯式,这种传统的需要工作人员在工作台附近,否则无法及时的了解到芯片检测的信息,不利于对芯片的维修和再次检测。
实用新型内容
本实用新型提供一种具有自检功能的集成电路测试板,旨在解决目前市场上进行带自检功能的集成电路测试板对工作人员的通知采用的时传统的量红绿灯式,这种传统的需要工作人员在工作台附近,否则无法及时的了解到芯片检测的信息,不利于对芯片的维修和再次检测的问题。
本实用新型是这样实现的,一种具有自检功能的集成电路测试板,包括电路板模块、供电模块和显示模块,所述供电模块搭载于所述电路板模块表面,所述供电模块用于为所述电路板模块提供电力的支持,所述显示模块与所述电路板模块电性连接,所述显示模块用于提示所述电路板模块是否有损坏,其中:所述电路板模块包括集成电路板、测试电路和发送单元,所述测试电路和所述发送单元均搭载于所述集成电路板,所述测试电路用于测试所述集成电路板的好坏,所述发送单元用于将整个电路板检测好坏的信号的发送,所述供电模块包括蓄电池和电源插口,所述蓄电池和所述电源插口均搭载于所述集成电路板,所述蓄电池用做所述测试电路和所述发送单元的备用电源,所述电源插口与外接电源相连接,用于为所述集成电路板进行正常通电,所述显示模块包括接收单元、处理单元和提示单元,所述接收单元与所述发送单元相连接,所述接收单元用于接受所述发送单元发送的测试信息,所述处理单元与所述接收单元相连接,所述处理单元用于根据接收到的测试信号进行解读,所述提示单元与所述处理单元相连接,用于跟据所述处理单元的信号进行对应显示。
优选的,所述提示单元设置为显示屏,所述显示屏显示数据为“正常”或者“故障”。
优选的,所述处理单元包括处理器和内存条,所述内存条与所述处理器相连接,所述处理器用于根据所述接收单元中的信息调取所述内存条中对的显示消息。
优选的,所述内存条内存储有检测为正常的“正常”指令,以及检测为损坏的“故障”指令。
优选的,所述测试电路包括CPU和继电器K1、K2、K3,所述CPU分别电性连接所述继电器K1、K2、K3。
优选的,所述发送单元的信号发送通路分为两种情况,分别为正常时和损坏时。
优选的,所述蓄电池、所述测试电路和所述发送单元作为所述集成电路板本身损坏时的信号发送的通路。
优选的,所述电源插口、所述集成电路板、所述测试电路和所述发送单元作为正常时信号发送的通路。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型的一种具有自检功能的集成电路测试板,通过在原有的自检集成电路测试板上添加信号所述发送单元,可以将每次所述测试电路检测后的结果发送给远处的所述接收单元,所述接收单元将接收的信号转发给所述处理单元进行简单的处理,随后通过所述提示单元进行具体的显示提示,提示分为“正常”和“故障”两种,由于所述显示模块以app的形式搭载于手机,手表以及计算机等,便于工作人员随时以及及时的了解整个芯片自检的结果,便于对芯片的及时处理。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的示意图;
图3为本实用新型的电路板模块示意图;
图4为本实用新型的供电模块示意图;
图5为本实用新型的显示模块示意图;
图中:100-电路板模块、101-集成电路板、102-测试电路、103-发送单元、200-供电模块、201-蓄电池、202-电源插口、300-显示模块、301-接收单元、302-处理单元、303-提示单元。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:一种具有自检功能的集成电路测试板,包括电路板模块100、供电模块200和显示模块300,供电模块200搭载于电路板模块100表面,供电模块200用于为电路板模块100提供电力的支持,显示模块300与电路板模块100电性连接,显示模块300用于提示电路板模块100是否有损坏,其中:电路板模块100包括集成电路板101、测试电路102和发送单元103,测试电路102和发送单元103均搭载于集成电路板101,测试电路102用于测试集成电路板101的好坏,发送单元103用于将整个电路板检测好坏的信号的发送,供电模块200包括蓄电池201和电源插口202,蓄电池201和电源插口202均搭载于集成电路板101,蓄电池201用做测试电路102和发送单元103的备用电源,电源插口202与外接电源相连接,用于为集成电路板101进行正常通电,显示模块300包括接收单元301、处理单元302和提示单元303,接收单元301与发送单元103相连接,接收单元301用于接受发送单元103发送的测试信息,处理单元302与接收单元301相连接,处理单元302用于根据接收到的测试信号进行解读,提示单元303与处理单元302相连接,用于跟据处理单元302的信号进行对应显示。
在本实施方式中,在使用时,通过电源线接通电源插口202和外界电源,将被测试的芯片搭载于集成电路板101上,然后启动测试电路102进行自检,测试电路102的自检通过IO控制测试电路102上的继电器驱动集成电路板101上的电路1、电路2和电路3,从而控制继电器K1、K2和K3,达到选通不同测试通路的目的,然后向选通的测试通路发送高电平信号,同时CPU通过控制芯片向目标芯片,即被测试芯片发送进行对应通路电平检测的指令,若对应通路检测到了高电平,则表明被选通的测试通路正常,CPU将检测的结果通过发送单元103以无线信号的形式发送给接收单元301,接收单元301接受到信号后将之转化为电信号,发送给处理单元302,处理单元302中的处理器根据接收到的电信号,调取内存条中的信息继续对应,并将对应的指令发送给提示单元303,提示单元303在显示屏上显示“正常”标志;若检测不到高电平,则由目标芯片向CPU反馈失效信号,CPU接到该信号后则停止自检,并将检测的结果通过发送单元103以无线信号的形式发送给接收单元301,接收单元301接受到信号后将之转化为电信号,发送给处理单元302,处理单元302中的处理器根据接收到的电信号,调取内存条中的信息继续对应,并将对应的指令发送给提示单元303,提示单元303在显示屏上显示“故障”标志,随后工作人员进行芯片的再次检测和维修。
进一步的,提示单元303设置为显示屏,显示屏显示数据为“正常”或者“故障”。
在本实施方式中,提示单元303根据处理单元302发送过来的执行指令,从而对应具体的执行操作。
进一步的,处理单元302包括处理器和内存条,内存条与处理器相连接,处理器用于根据接收单元301中的信息调取内存条中对的显示消息。
在本实施方式中,CPU将检测的结果通过发送单元103以无线信号的形式发送给接收单元301,接收单元301接受到信号后将之转化为电信号,发送给处理单元302,处理单元302中的处理器根据接收到的电信号,调取内存条中的信息继续对应,并将对应的指令发送给提示单元303,提示单元303在显示屏上显示“正常”标志或者“故障”标志。
进一步的,内存条内存储有检测为正常的“正常”指令,以及检测为损坏的“故障”指令。
在本实施方式中,内存条中存储有检测后电信号对应的“正常”和“故障”等指令,还包括指令的对应方法和具体的执行过程,即“正常”电信号对应“正常”指令,“故障”电信号对应“故障”指令,。
进一步的,测试电路102包括CPU和继电器K1、K2、K3,CPU分别电性连接继电器K1、K2、K3。
在本实施方式中,通过IO控制测试电路102上的继电器驱动电路1-3,从而控制继电器K1-K3,达到选通不同测试通路的目的,然后向选通的测试通路发送高电平信号,同时CPU通过控制芯片向目标芯片,即被测芯片发送进行对应通路电平检测的指令,若对应通路检测到了高电平,则表明被选通的测试通路正常;若检测不到高电平,则由目标芯片向CPU反馈失效信号,CPU接到该信号后则停止自检。
进一步的,发送单元103的信号发送通路分为两种情况,分别为正常时和损坏时;蓄电池201、测试电路102和发送单元103作为集成电路板101本身损坏时的信号发送的通路;电源插口202、集成电路板101、测试电路102和发送单元103作为正常时信号发送的通路。
在本实施方式中,通过将整个测试板的电路设置两种,蓄电池201用作备用,防止对被检测芯片进行检测时,本身的损坏造成被检测芯片的损坏。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,包括电路板模块(100)、供电模块(200)和显示模块(300),所述供电模块(200)搭载于所述电路板模块(100)表面,所述供电模块(200)用于为所述电路板模块(100)提供电力的支持,所述显示模块(300)与所述电路板模块(100)电性连接,所述显示模块(300)用于提示所述电路板模块(100)是否有损坏,其中:
所述电路板模块(100)包括集成电路板(101)、测试电路(102)和发送单元(103),所述测试电路(102)和所述发送单元(103)均搭载于所述集成电路板(101),所述测试电路(102)用于测试所述集成电路板(101)的好坏,所述发送单元(103)用于将整个电路板检测好坏的信号的发送,
所述供电模块(200)包括蓄电池(201)和电源插口(202),所述蓄电池(201)和所述电源插口(202)均搭载于所述集成电路板(101),所述蓄电池(201)用做所述测试电路(102)和所述发送单元(103)的备用电源,所述电源插口(202)与外接电源相连接,用于为所述集成电路板(101)进行正常通电,
所述显示模块(300)包括接收单元(301)、处理单元(302)和提示单元(303),所述接收单元(301)与所述发送单元(103)相连接,所述接收单元(301)用于接受所述发送单元(103)发送的测试信息,所述处理单元(302)与所述接收单元(301)相连接,所述处理单元(302)用于根据接收到的测试信号进行解读,所述提示单元(303)与所述处理单元(302)相连接,用于跟据所述处理单元(302)的信号进行对应显示。
2.如权利要求1所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述提示单元(303)设置为显示屏,所述显示屏显示数据为“正常”或者“故障”。
3.如权利要求1所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述处理单元(302)包括处理器和内存条,所述内存条与所述处理器相连接,所述处理器用于根据所述接收单元(301)中的信息调取所述内存条中对的显示消息。
4.如权利要求3所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述内存条内存储有检测为正常的“正常”指令,以及检测为损坏的“故障”指令。
5.如权利要求1所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述测试电路(102)包括CPU和继电器K1、K2、K3,所述CPU分别电性连接所述继电器K1、K2、K3。
6.如权利要求1所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述发送单元(103)的信号发送通路分为两种情况,分别为正常时和损坏时。
7.如权利要求6所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述蓄电池(201)、所述测试电路(102)和所述发送单元(103)作为所述集成电路板(101)本身损坏时的信号发送的通路。
8.如权利要求6所述的一种具有自检功能的集成电路测试板,其特征在于,所述电源插口(202)、所述集成电路板(101)、所述测试电路(102)和所述发送单元(103)作为正常时信号发送的通路。
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CN114089166A (zh) * 2021-11-29 2022-02-25 江苏捷策创电子科技有限公司 一种芯片测试装置和方法

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