CN102346225B - 连接状况快速检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明披露一种连接状况快速检测方法，用于检测测试装置。测试装置包括控制单元、多个集成电路以及多个弹簧。连接状况快速检测方法包括以下步骤。提供检测电路板与探针组件，检测电路板具有多个检测点，探针组件具有多个探针。耦接检测电路板、探针组件以及测试装置的弹簧，探针与弹簧一一对应耦接，以使探针、弹簧以及集成电路形成多条支路，且支路与检测电路板的检测点一一对应耦接。当检测电路板的检测点相互耦接时，控制单元给至少两条支路供电以形成至少一条回路，以判断测试装置的集成电路与对应的弹簧之间是否存在开路。本发明提供的测试装置的连接状况快速检测方法，可避免于生产过程中由于测试机故障而出现异常，提升测试装置的稼动率。

Description

连接状况快速检测方法

技术领域

本发明有关于一种检测方法，且特别是有关于一种测试装置的连接状况快速检测方法。

背景技术

目前，于电路板的生产过程中，通常需要使用测试机来测试电路板的质量。因此，测试机本身的质量直接影响着测试电路板的效率。通常，测试机包括控制单元、多个集成电路以及多个弹簧。其中，控制单元耦接于集成电路，且集成电路与弹簧一一对应耦接。

然而，针对测试机本身的质量问题(例如，集成电路与对应的弹簧接触不良等问题)，目前并无好的测试方法，通常是在操作者实际使用时才会发现问题。如此，容易影响电路板的测试过程，且无法避免在生产过程中由于测试机故障而出现异常。此外，亦不便于测试机的维护。

发明内容

本发明的目的在于提供一种连接状况快速检测方法，以改善现有技术的缺失。

本发明提出的连接状况快速检测方法，用于检测测试装置。测试装置包括控制单元、多个集成电路以及多个弹簧。控制单元耦接于这些集成电路，这些集成电路与这些弹簧一一对应耦接。连接状况快速检测方法包括以下步骤。提供检测电路板与探针组件。检测电路板具有多个检测点，探针组件具有多个探针，且这些检测点、这些探针以及测试装置的这些弹簧的数目一致。耦接检测电路板、探针组件以及测试装置的这些弹簧，这些探针与这些弹簧一一对应耦接，以使这些探针、这些弹簧以及这些集成电路形成多条支路，且这些支路与检测电路板的这些检测点一一对应耦接。当检测电路板的这些检测点相互耦接时，控制单元给这些支路中的至少两条供电以形成至少一条回路，以判断测试装置的这些集成电路与对应的这些弹簧之间是否存在开路。

在本发明的一实施例中，当测试装置的这些集成电路与对应的这些弹簧之间存在开路时，控制单元通过坐标方式显示存在开路的这些支路的对应位置。

在本发明的一实施例中，当检测电路板的这些检测点相互独立时，控制单元给这些支路中的至少两条供电，以判断位于两条不同支路的这些集成电路之间、这些弹簧之间或者这些集成电路与这些弹簧之间是否存在短路。

在本发明的一实施例中，当位于两条不同支路的这些集成电路之间、这些弹簧之间或者这些集成电路与这些弹簧之间存在短路时，控制单元通过坐标方式显示存在短路的这些支路的对应位置。

在本发明的一实施例中，连接状况快速检测方法还包括移除检测电路板，控制单元给这些支路的至少两条供电，以判断位于两条不同支路的这些集成电路之间、这些弹簧之间或者这些集成电路与这些弹簧之间是否存在短路。

在本发明的一实施例中，当位于两条不同支路的这些集成电路之间、这些弹簧之间或者这些集成电路与这些弹簧之间存在短路时，控制单元通过坐标方式显示存在短路的这些支路的对应位置。

在本发明的一实施例中，探针组件还包括多个隔板，用于固定这些探针。

在本发明的一实施例中，测试装置的控制单元为电脑。

根据本发明提供的测试装置的连接状况快速检测方法，利用检测电路板、探针组件以及控制单元之间的配合，可快速判断测试装置的集成电路与对应的弹簧之间是否存在开路。由此，避免于生产过程中由于测试机故障而出现异常，以提升测试装置的稼动率。此外，方便操作者维护测试装置，省时省力。

为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1为根据本发明的一较佳实施例的连接状况快速检测方法的流程图；

图2为根据本发明的一较佳实施例的连接状况快速检测方法的原理图；

图3为根据本发明的一较佳实施例的检测电路板、探针组件以及测试装置的局部示意图；

图4为根据本发明的另一较佳实施例的连接状况快速检测方法的流程图。

具体实施方式

图1为根据本发明的一较佳实施例的连接状况快速检测方法的流程图。图2为根据本发明的一较佳实施例的连接状况快速检测方法的原理图。请一并参考图1与图2。

本实施例所提供的连接状况快速检测方法用于检测测试装置1。测试装置1包括控制单元10、多个弹簧12、多个集成电路14、多个指示灯16以及电源18。其中，控制单元10分别耦接于集成电路14、指示灯16以及电源18。集成电路14与指示灯16一一对应耦接。弹簧12与集成电路14一一对应耦接。具体而言，弹簧12与集成电路14之间通过晶格13耦接。

于本实施例中，控制单元10可为电脑。然而，本发明并不限定于此。此外，控制单元10中存储控制程序用于控制电源18对集成电路14供电。

于本实施例中，连接状况快速检测方法包括步骤S10～S13。首先，于步骤S10中，提供检测电路板2与探针组件3。其中，检测电路板2具有多个检测点20，探针组件3具有多个探针30。此外，检测电路板2的检测点20的数目、探针组件3的探针30的数目以及测试装置1的弹簧12的数目均一致。

请一并参考图1至图3。图3为根据本发明的一较佳实施例的检测电路板2、探针组件3以及测试装置1的局部示意图。如图3所示，探针组件3还包括多个隔板32，这些隔板32层层堆叠用于固定探针30。于实际应用中，测试装置1可包括上模弹簧与下模弹簧。检测电路板2可为双面电路板，且探针组件3的数目可对应为两组。两组探针组件3可分别设置于检测电路板2的上下两侧，从而分别耦接检测电路板2的上下两个相对表面与上模弹簧以及下模弹簧。然而，本发明并不限定于此。

于本实施例中，于步骤S11中，耦接检测电路板2、探针组件3以及测试装置1的弹簧12。如图2所示，探针组件3的探针30与弹簧12一一对应，以使探针30、弹簧12以及集成电路14形成多条支路，且这些支路与检测电路板2的检测点20一一对应耦接。举例而言，如图2所示，探针30、弹簧12以及集成电路14形成六条支路B 1～B6。然而，本发明并不限定于此。于实际应用中，可根据探针30、弹簧12以及集成电路14的数目形成相应数目的支路。

于本实施例中，于步骤S12中，当检测电路板2的检测点20相互耦接时，控制单元10给至少两条支路供电以形成至少一条回路，以判断测试装置1的集成电路14与对应的弹簧12之间是否存在开路。

举例而言，如图2所示，当控制单元10给支路B1，B4供电时，由于检测电路板2的检测点20相互耦接，因此，支路B1，B4可形成一条回路。此时，若支路B1，B4中的集成电路14与对应的弹簧12之间存在开路，则支路B1，B4形成的回路无法导通。反之，若支路B1，B4中的集成电路14与对应的弹簧12之间不存在开路(即，正常耦接)，则支路B1，B4形成的回路可导通。

具体而言，操作者可通过控制单元10中的控制程序控制电源18为支路B1，B4供电。于此，举例而言，控制单元10可使支路B1的集成电路14耦接于电源18的正极并使支路B4的集成电路14耦接于电源18的负极，或者可使支路B1的集成电路14耦接于电源18的负极并使支路B4的集成电路14耦接于电源18的正极。同时，控制程序可对应地于控制单元10的显示接口(图未示)上以坐标方式标示所有支路。于检测过程中，若支路B1，B4存在开路，则支路B1，B4的具体位置会以坐标方式于控制单元10的显示接口上显示，测试装置1中与支路B1，B4耦接的指示灯16亦不会被点亮。反之，相应的指示灯16会正常发光。

于本实施例中，需要注意的是，本实施例提及的坐标方式指控制单元10的显示接口上显示的所有支路的位置用来仿真测试装置1中所有支路的实际位置。换言之，控制单元10显示接口显示的所有支路的位置与测试装置1中所有支路的实际位置一致。例如，当操作者由控制单元10的显示接口得知第3行第5列的支路存在开路时，操作者可相应地于测试装置1的第3行第5列的位置找到开路的弹簧12与集成电路14。

此外，于实际应用中，由于测试装置1的弹簧12与集成电路14的数目繁多，因此，操作者可通过控制单元10中的控制程序选择性地为多条支路供电，以判断存在开路的支路。若无法于一次测试过程中检测出存在问题的支路，操作者可通过控制单元10中的控制程序多次选择性地为相应数目的支路供电，从而逐步地进行判断。

于本实施例中，于步骤S13中，当检测电路板2的检测点20相互独立时，控制单元10给至少两条支路供电，以判断位于两条不同支路的集成电路14之间、弹簧12之间或者集成电路14与弹簧12之间是否存在短路。具体而言，于本实施例中的检测电路板2可包括一个或两个电路子板。当包括一个电路子板时，电路子板上可相应的设置开关用于控制检测点20为相互耦接或相互独立。当包括两个电路子板时，其中一个电路子板上的检测点20可为相互耦接，另一个电路子板上的检测点20可为相互独立。然而，本发明对此不作任何限定。

举例而言，当操作者通过控制单元10中的控制程序控制电源18为支路B1，B2供电时，由于检测电路板2的检测点20相互独立，因此，支路B1，B2不会形成导通回路。然而，此时，若支路B1中的集成电路14与支路B2中的弹簧12之间、支路B1中的弹簧12与支路B2中的集成电路14之间、支路B1中的弹簧12与支路B2中的弹簧12之间或者支路B1中的集成电路14与支路B2中的集成电路14之间存在短路，则支路B1，B2可形成导通回路。控制单元10通过坐标方式显示存在短路的支路(例如，支路B1，B2)的对应位置。具体而言，若支路B1，B2之间存在短路，则支路B1，B2的具体位置会以坐标方式于控制单元10的显示接口上显示，同时，测试装置1中与支路B1，B2耦接的指示灯16亦会发光。反之，相应的指示灯16不会被点亮。其中，短路检测中控制单元10的供电控制方式与坐标显示方式与上述开路检测中控制单元10的供电控制方式与坐标显示方式一致。故在此不再赘述。

图4为根据本发明的另一较佳实施例的连接状况快速检测方法的流程图。如图4所示，本实施例中的连接状况快速检测方法与上一实施例提供的连接状况快速检测方法的区别在于本实施例中不使用检测电路板即可直接进行短路检测。

于本实施例中，连接状况快速检测方法包括步骤S40～S43。其中，步骤S40～S42的具体操作与上一实施例中步骤S10～S12的具体操作一致。故在此不再赘述。

于本实施例中，于步骤S43中，移除检测电路板，控制单元给至少两条支路供电，以判断位于两条不同支路的集成电路之间、弹簧之间或者集成电路与弹簧之间是否存在短路。然而，本发明对此不作任何限定。于其它实施例中，亦可先进行短路检测，然后使用检测电路板进行开路检测。

此外，于本实施例中，连接状况快速检测方法的开路检测原理与短路检测原理与上一实施例中的开路检测原理与短路检测原理一致。故在此不再赘述。

综上所述，本发明较佳实施例所提供的测试装置的连接状况快速检测方法，利用检测电路板、探针组件以及控制单元之间的配合，可快速判断测试装置的集成电路与对应的弹簧之间是否存在开路，亦可判断位于不同支路的集成电路之间、弹簧之间或者集成电路与弹簧之间是否存在短路。由此，避免于生产过程中由于测试装置故障而出现异常，以提升测试装置的稼动率。此外，方便操作者维护测试装置，省时省力。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (7)

1.一种连接状况快速检测方法，用于检测测试装置，上述测试装置包括控制单元、多个集成电路以及多个弹簧，上述控制单元耦接于上述多个集成电路，上述多个集成电路与上述多个弹簧一一对应耦接，其特征是，上述连接状况快速检测方法包括下述步骤： 

提供检测电路板与探针组件，上述检测电路板具有多个检测点，上述探针组件具有多个探针，上述多个检测点、上述多个探针以及上述测试装置的上述多个弹簧的数目一致； 

耦接上述检测电路板、上述探针组件以及上述测试装置的上述多个弹簧，上述多个探针与上述多个弹簧一一对应耦接，以使上述多个探针、上述多个弹簧以及上述多个集成电路形成多条支路，且上述多个支路与上述检测电路板的上述多个检测点一一对应耦接；以及 

当上述检测电路板的上述多个检测点相互耦接时，上述控制单元给上述多条支路中的至少两条供电以形成至少一条回路，以判断上述测试装置的上述多个集成电路与对应的上述多个弹簧之间是否存在开路，当上述测试装置的上述多个集成电路与对应的上述多个弹簧之间存在开路时，上述控制单元通过坐标方式显示存在开路的上述多条支路的对应位置。 

2.根据权利要求1所述的连接状况快速检测方法，其特征是，当上述检测电路板的上述多个检测点相互独立时，上述控制单元给上述多条支路中的至少两条供电，以判断位于上述两条不同支路的上述多个集成电路之间、上述多个弹簧之间或者上述多个集成电路与上述多个弹簧之间是否存在短路。 

3.根据权利要求2所述的连接状况快速检测方法，其特征是，当位于上述两条不同支路的上述多个集成电路之间、上述多个弹簧之间或者上述多个集成电路与上述多个弹簧之间存在短路时，上述控制单元通过坐标方式显示存在短路的上述多个支路的对应位置。 

4.根据权利要求1所述的连接状况快速检测方法，其特征是，上述连接状况快速检测方法还包括移除上述检测电路板，上述控制单元给上述多个支路的至少两条供电，以判断位于上述两条不同支路的上述多个集成电路之间、上述多个弹簧之间或者上述多个集成电路与上述多个弹簧之间是否存在短路。 

5.根据权利要求4所述的连接状况快速检测方法，其特征是，当位于上述两条 不同支路的上述多个集成电路之间、上述多个弹簧之间或者上述多个集成电路与上述多个弹簧之间存在短路时，上述控制单元通过坐标方式显示存在短路的上述多条支路的对应位置。 

6.根据权利要求1所述的连接状况快速检测方法，其特征是，上述探针组件还包括多个隔板，用于固定上述多个探针。 

7.根据权利要求1所述的连接状况快速检测方法，其特征是，上述测试装置的上述控制单元为电脑。 

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