CN102662258B - 背光模组的检测方法及装置 - Google Patents

背光模组的检测方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102662258B
CN102662258B CN201210129108.1A CN201210129108A CN102662258B CN 102662258 B CN102662258 B CN 102662258B CN 201210129108 A CN201210129108 A CN 201210129108A CN 102662258 B CN102662258 B CN 102662258B
Authority
CN
China
Prior art keywords
backlight module
brightness value
detected
space brightness
pick
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201210129108.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102662258A (zh
Inventor
黄皓
刘纯
潘昶宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201210129108.1A priority Critical patent/CN102662258B/zh
Priority to PCT/CN2012/075064 priority patent/WO2013159377A1/zh
Priority to US13/518,756 priority patent/US20130285819A1/en
Publication of CN102662258A publication Critical patent/CN102662258A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102662258B publication Critical patent/CN102662258B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/20Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
    • G01J1/28Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source
    • G01J1/30Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors
    • G01J1/32Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using variation of intensity or distance of source using electric radiation detectors adapted for automatic variation of the measured or reference value

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明提供了一种背光模组的检测方法及装置。该背光模组的检测方法包括:获取设置在检测机台上的背光模组处于标准辉度时在检测机台的多个位置产生的空间照度值,并将该空间照度值作为标准空间照度值;获取背光模组在该多个位置产生的即时空间照度值;将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定背光模组是否异常。本发明通过照度测量仪测量的即时空间照度值与标准辉度对应的标准空间照度值进行对比,从而即时判定背光模组是否异常,并且由于采用照度测量仪替代辉度测量仪,节约了成本。

Description

背光模组的检测方法及装置
技术领域
本发明涉及光学测量技术领域,具体而言涉及一种背光模组的检测方法及装置。
背景技术
背光模组是液晶显示器的关键零组件之一,由于液晶本身不具发光特性,因此必须在LCD面板底面加上一个发光源,方能达到饱满的色彩显示效果。背光模组的功能即在于供应亮度充足且分布均匀的平面光源,使LCD能正常显示影像。因此在LCD的发展过程中,有关液晶显示器的性能改善,背光模组具有绝对性的影响,而背光模组的辉度是衡量背光模组性能的重要因素。
在现有技术中,一般采用辉度测量仪(BM-7型辉度亮度计)和TFT-LCD面板点灯检测机(Table自动测量台)组成的测量系统对背光模组的辉度进行测量。操作过程为:检测人员手持辉度测量仪站立于TFT-LCD面板点灯检测机的正前方,定期的对背光模组进行点检,记录辉度测量仪的数据,并与标准辉度进行比较,从而判定背光模组是否异常。此种测量方法不能实现对背光模组的即时监控,而且容易出现由人为因素导致的测量误差。
综上所述,有必要提供一种背光模组的检测方法及装置,以解决上述问题。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种背光模组的检测方法及装置,以解决现有技术存在的无法即时检测背光模组的问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:提供一种背光模组的检测方法,包括以下步骤:利用设置于检测机台上的多个位置的多个照度测量仪获取设置在检测机台上的标准背光模组处于标准辉度时在检测机台的多个位置产生的空间照度值,并将空间照度值作为标准空间照度值;利用多个照度测量仪获取待检测背光模组在该多个位置产生的即时空间照度值;将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定待检测背光模组是否异常。
其中,多个位置位于待检测背光模组和标准背光模组的四侧。
其中,将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定待检测背光模组是否异常的步骤包括:将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定待检测背光模组异常,若两者之间的差值小于或等于预定阈值,则判定待检测背光模组正常。
其中,将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定待检测背光模组是否异常的步骤之前还包括:设置预定阈值。
其中,该背光模组辉度值的检测方法进一步包括:在待检测背光模组异常的情况下,产生报警信号。
为解决上述技术问题,本发明采用的另一个技术方案是:提供一种背光模组的检测装置。该背光模组的检测装置包括:检测机台,用于承载标准背光模组和待检测背光模组;多个照度测量仪,设置于检测机台上的多个位置,用于检测标准背光模组处于标准辉度时在多个位置产生的空间照度值以及待检测背光模组在多个位置产生的即时空间照度值;控制器,用于将空间照度值作为标准空间照度值,并将即时空间照度值与所标准空间照度值进行比较,从而判定待检测背光模组是否异常。
其中,多个位置位于待检测背光模组和标准背光模组的四侧。
其中,控制器将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定待检测背光模组异常,若两者之间的差值小于或等于预定阈值,则判定待检测背光模组正常。
其中,检测装置进一步包括输入装置,用于设置预定阈值。
其中,检测装置进一步包括输出装置,用于在待检测背光模组异常的情况下,产生报警信号。
本发明的有益效果是:本发明通过照度测量仪测量的即时空间照度值与标准辉度对应的标准空间照度值进行对比,从而即时判定背光模组是否异常,并且由于采用照度测量仪替代辉度测量仪,节约了成本。
附图说明
图1是本发明背光模组的检测装置一实施例的结构示意图;
图2是本发明背光模组的检测方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
图1是本发明背光模组的检测装置一实施例的结构示意图。如图1所示,背光模组的检测装置10包括:检测机台11、多个照度测量仪12、控制器13、输入装置14以及输出装置15。
在本实施例中,优选采用4个照度测量仪12设置于检测机台11上的4个不同的位置。
其中,检测机台11用于承载背光模组20,上述4个位置优选位于背光模组20的四侧。照度测量仪12用于检测背光模组20处于标准辉度时在上述4个位置产生的空间照度值以及背光模组20在上述4个位置产生的即时空间照度值,控制器13用于将标准辉度下的空间照度值作为标准空间照度值,并将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定背光模组20是否异常。进一步,输入装置14用于设置预定阈值,输出装置15用于在背光模组异常的情况下,产生报警信号。
在本实施例中,在标准辉度下进行检测的背光模组20与即时检测的背光模组20可以是同一块背光模组,也可以是分别是标准背光模组和待检测背光模组。当分别是标准背光模组和待检测背光模组时,则需要将标准背光模组从检测机台11上取下,并将待检测背光模组放置于与标准背光模组相同的位置。
本实施例的背光模组的检测装置的工作原理为:检测人员通过输入装置14输入一预定阈值,并由控制器13存储该预定阈值。检测人员将背光模组20放于检测机台11上,并将背光模组20的辉度调整成标准辉度。此时,4个照度测量仪12测量背光模组20四侧的空间照度值并传送给控制器13,控制器13获取该空间照度值并将其作为标准空间照度值。4个照度测量仪12进一步测量背光模组20四侧的即时空间照度值,并传送给控制器13,控制器13将该即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定背光模组20异常,并由输出装置15产生报警信号,若两者之间的差值小于或等于预定阈值,则判定背光模组20正常。
值得注意的是,控制器13可以是背光模组的检测装置10内置的工业电脑或外部服务器。输入装置14可由背光模组的检测装置10内的写入有对应控制代码的处理芯片和与其连接的键盘或触摸屏(图未示)来实现,输出装置15可由背光模组的检测装置10内的写入有对应控制代码的处理芯片和与其连接的报警器(图未示)来实现。
图2是本发明背光模组的检测方法的流程图。如图2所示,该背光模组的检测方法包括以下步骤:
步骤S201:获取设置在检测机台上的背光模组处于标准辉度时在检测机台的多个位置产生的空间照度值,并将空间照度值作为标准空间照度值;
其中,上述多个位置优选为背光模组的四侧。该空间照度值由对应设置于背光模组四侧的4个照度测量仪测量得出,4个照度测量仪将空间照度值传送给检测装置的控制器,控制器接收空间照度值并将其作为标准空间照度值。
步骤S202:获取背光模组在多个位置产生的即时空间照度值;
其中,在标准辉度下进行检测的背光模组与即时检测的背光模组可以是同一块背光模组,也可以是分别是标准背光模组和待检测背光模组。当分别是标准背光模组和待检测背光模组时,则需要将标准背光模组从检测机台上取下,并将待检测背光模组放置于与标准背光模组相同的位置。
步骤S203:将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较,从而判定背光模组是否异常。
其中,检测装置的控制器预先通过与其连接的键盘或触摸屏获取并存储有预定阈值。
检测装置的控制器接收即时空间照度值,并将其与标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定背光模组异常,此时检测装置通过设置的报警器产生报警信号,若两者之间的差值小于或等于所述预定阈值,则判定背光模组正常。
综上所述,本发明通过照度测量仪测量的即时空间照度值与标准辉度对应的标准空间照度值进行对比,从而即时判定背光模组是否异常,并且由于采用照度测量仪替代辉度测量仪,节约了成本。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种背光模组的检测方法,其特征在于,该检测方法包括:
利用设置于检测机台上的多个位置的多个照度测量仪获取设置在所述检测机台上的标准背光模组处于标准辉度时在所述检测机台的多个位置产生的空间照度值,并将所述空间照度值作为标准空间照度值;
利用所述多个照度测量仪获取待检测背光模组在所述多个位置产生的即时空间照度值;
将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,从而判定所述待检测背光模组是否异常,其中所述待检测背光模组放置于与所述标准背光模组相同的位置。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述多个位置位于所述待检测背光模组和所述标准背光模组的四侧。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,从而判定所述待检测背光模组是否异常的步骤包括:
将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定所述待检测背光模组异常,若两者之间的差值小于或等于所述预定阈值,则判定所述待检测背光模组正常。
4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,从而判定所述待检测背光模组是否异常的步骤之前还包括:
设置所述预定阈值。
5.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,该检测方法进一步包括:
在所述待检测背光模组异常的情况下,产生报警信号。
6.一种背光模组的检测装置,其特征在于,所述检测装置包括:
检测机台,用于承载标准背光模组和待检测背光模组;
多个照度测量仪,设置于所述检测机台上的多个位置,用于检测所述标准背光模组处于标准辉度时在所述多个位置产生的空间照度值以及所述待检测背光模组在所述多个位置产生的即时空间照度值;
控制器,用于将所述空间照度值作为标准空间照度值,并将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,从而判定所述待检测背光模组是否异常。
7.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,所述多个位置位于所述待检测背光模组和所述标准背光模组的四侧。
8.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,所述控制器将所述即时空间照度值与所述标准空间照度值进行比较,若两者之间的差值大于预定阈值,则判定所述待检测背光模组异常,若两者之间的差值小于或等于所述预定阈值,则判定所述待检测背光模组正常。
9.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置进一步包括输入装置,用于设置所述预定阈值。
10.根据权利要求8所述的检测装置,其特征在于,所述检测装置进一步包括输出装置,用于在所述待检测背光模组异常的情况下,产生报警信号。
CN201210129108.1A 2012-04-27 2012-04-27 背光模组的检测方法及装置 Expired - Fee Related CN102662258B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210129108.1A CN102662258B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 背光模组的检测方法及装置
PCT/CN2012/075064 WO2013159377A1 (zh) 2012-04-27 2012-05-04 背光模组的检测方法及装置
US13/518,756 US20130285819A1 (en) 2012-04-27 2012-05-04 Inspection method of backlight module and inspection apparatus thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210129108.1A CN102662258B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 背光模组的检测方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102662258A CN102662258A (zh) 2012-09-12
CN102662258B true CN102662258B (zh) 2015-04-15

Family

ID=46771776

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210129108.1A Expired - Fee Related CN102662258B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 背光模组的检测方法及装置

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102662258B (zh)
WO (1) WO2013159377A1 (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106895961B (zh) * 2016-07-29 2019-07-23 深圳市德仓科技有限公司 一种背光模组的检测设备及其检测方法
CN108418997B (zh) * 2018-01-31 2020-12-22 深圳市商巨视觉技术有限公司 去除图像摩尔纹的方法
CN110057549B (zh) * 2019-04-08 2021-06-01 Tcl华星光电技术有限公司 一种光源照度检测方法及系统
CN109946859B (zh) * 2019-04-09 2022-02-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 背光模组的检测方法和装置
CN111721505A (zh) * 2020-06-30 2020-09-29 东莞市聚明电子科技有限公司 基于极坐标的键盘背光模组的自动校准检测方法及装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06331962A (ja) * 1993-05-21 1994-12-02 Keibunshiya:Kk 液晶表示装置
CN1466408A (zh) * 2002-06-26 2004-01-07 明基电通股份有限公司 液晶显示器亮度的探测与调整方法
CN1862334A (zh) * 2005-05-11 2006-11-15 英华达(上海)电子有限公司 手持设备自动调整背光亮度和效果的装置及其方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1115552C (zh) * 2000-06-07 2003-07-23 明碁电脑股份有限公司 用来检测平面光源所发出的光线的检测装置
JP2002101194A (ja) * 2000-09-26 2002-04-05 Toshiba Corp 移動通信端末装置
JP2003254861A (ja) * 2002-03-01 2003-09-10 Seiko Epson Corp 液晶パネル検査方法及び装置
JP3813144B2 (ja) * 2003-09-12 2006-08-23 ローム株式会社 発光制御回路
CN2828858Y (zh) * 2005-09-15 2006-10-18 比亚迪股份有限公司 一种背光亮度稳定的液晶模组测试装置
JP2007250986A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Harison Toshiba Lighting Corp Ledバックライト装置
CN101075025A (zh) * 2007-07-02 2007-11-21 浙江大学 背光模组在线色度(或辉度)测量方法及仪器和系统
KR101604482B1 (ko) * 2008-08-14 2016-03-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치와 그 구동방법
JP2010171617A (ja) * 2009-01-21 2010-08-05 Nec Saitama Ltd 折り畳み式電子機器の照度検出方法、折り畳み式電子機器及びプログラム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06331962A (ja) * 1993-05-21 1994-12-02 Keibunshiya:Kk 液晶表示装置
CN1466408A (zh) * 2002-06-26 2004-01-07 明基电通股份有限公司 液晶显示器亮度的探测与调整方法
CN1862334A (zh) * 2005-05-11 2006-11-15 英华达(上海)电子有限公司 手持设备自动调整背光亮度和效果的装置及其方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102662258A (zh) 2012-09-12
WO2013159377A1 (zh) 2013-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102662258B (zh) 背光模组的检测方法及装置
US7791717B2 (en) Reflective display device testing system, apparatus, and method
CN1732484A (zh) 现金发放式自动银行机显示故障检测系统和方法
CN203134316U (zh) 一种led全彩屏系统及其检测电路
CN107024475A (zh) 基于自动光学检测程序的触摸面板自动检测设备
CN106324532A (zh) 一种led驱动电源测试机
CN107589568B (zh) 一种led灯串自动学习检测装置及方法
CN202511958U (zh) Led背光源检测系统
KR102020981B1 (ko) 터치 스크린을 포함하는 디스플레이 장치 및 터치 스크린 검사 방법
CN102062817B (zh) 用于电子产品的晶体振荡器的频偏检测方法和装置
CN201772992U (zh) 可逐点检测led背光lcd显示器的手持检测器
CN103592787B (zh) 亮度检测装置
CN202050507U (zh) 一种视频显示测试系统
CN107316594A (zh) 一种oled微型显示器自动检测系统及方法
US20130285819A1 (en) Inspection method of backlight module and inspection apparatus thereof
CN205449797U (zh) 一种环境光孔透过率测试装置
CN204129083U (zh) 一种检测090-590000-22tv板卡的工装检测针台
CN202473174U (zh) 一种led显示屏测试控制器
KR101166409B1 (ko) 고해상도 테블릿 피씨 디스플레이 모듈 테스트를 위한 고해상도 다채널 디스플레이 모듈 검사장치
KR101007142B1 (ko) Led 모듈의 쇼트 검사 장치
CN105022683A (zh) 一种无电脑控制的通用测试平台
KR102229394B1 (ko) 액정 표시 모듈의 백라이트 유닛 검사 장치 및 방법
CN102339581B (zh) 虚拟负载板及液晶显示控制板的测试系统和测试方法
KR101668805B1 (ko) 스마트보드의 디스플레이부 동작상태를 감시하는 시스템
CN208173199U (zh) 一种适用于多种工作电压的lcd液晶板显示屏检测仪器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
PE01 Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right
PE01 Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right

Denomination of invention: Detection method and device of backlight module

Effective date of registration: 20190426

Granted publication date: 20150415

Pledgee: Bank of Beijing Limited by Share Ltd. Shenzhen branch

Pledgor: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: 2019440020032

PC01 Cancellation of the registration of the contract for pledge of patent right
PC01 Cancellation of the registration of the contract for pledge of patent right

Date of cancellation: 20201016

Granted publication date: 20150415

Pledgee: Bank of Beijing Limited by Share Ltd. Shenzhen branch

Pledgor: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd.

Registration number: 2019440020032

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20150415