CN110988771A - 一种校准装置 - Google Patents

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付子豪
黄承祖
李艳芳
姚利军
齐万泉
刘星汛
崔腾林
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract

本发明公开了一种校准装置，该装置包括支撑同轴内芯穿过电流探头或电流注入探头卡口通孔的左支撑部和右支撑部，所述左支撑部和右支撑部为可分离式结构；所述电流探头或所述电流注入探头置入校准装置后处于所述校准装置的测试区。该装置解决了传统校准夹具和校准装置不适用于电流探头CT1和电流注入探头CT2的问题，且结构简单，物理尺寸小，不影响校准精度，操作流程方便，可以完成CT1和CT2等类型的小型电流探头和电流注入探头的校准工作。

Description

一种校准装置
技术领域
本发明涉及电流探头校准技术领域。更具体地，涉及一种校准装置。
背景技术
电流探头广泛应用于军用产品的电磁兼容试验和相关设备的性能评估等领域，例如用于CS109壳体电流传导敏感度、CS114电缆束注入传导敏感度、CS115电缆束注入脉冲激励传导敏感度、CS116电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度等试验，涉及的频段覆盖20Hz～1GHz。因此，电流探头的校准工作十分重要，对于电流探头和电流注入探头传输阻抗和插入损耗的校准结果直接决定了电磁兼容试验的准确性和可靠性。电流探头和电流注入探头的校准需要采用对应的电流探头和电流注入探头校准夹具，典型的电流探头和电流注入探头校准夹具有Solar公司的9125-1、9125-2、9357-1、9254-1等，FCC公司的FCC-BCICF系列等以及CJDR-250、VERI-MIL系列等型号。
随着电流探头和电流注入探头的型号逐渐增多，出现了一些小型电流探头，近年来出现的小型电流探头和电流注入探头的典型型号主要有CT1、CT2等类型，其尺寸较小，工作频率较宽。相比于传统的9123、9125等电流探头，新的小型设备不具备开口钳部分。传统的电流探头和电流注入探头校准夹具无法与其匹配，无法满足校准需求。因此迫切需要一种能够满足校准要求的小型电流探头和电流注入探头校准装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种校准装置，该装置可以使得小型电流探头和电流注入探头处于校准装置恰当的测试区域中；使得校准夹具自身的驻波比较小；以及获得准确的电流探头和电流注入探头校准结果。
为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：
一种校准装置，该装置包括：
支撑同轴内芯穿过探头卡口通孔的左支撑部和右支撑部，所述左支撑部和右支撑部为可分离式结构；
所述探头置入校准装置后处于所述校准装置的测试区；
优选地，所述左支撑部为左侧板，所述右支撑部为右侧板。
优选地，所述左支撑部的底部与所述右支撑部的底部通过第一螺钉连接，所述第一螺钉的直径为4mm，螺纹长度为10mm。
优选地，所述左支撑部上设有第一通孔，所述右支撑部上设有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔同轴；所述同轴内芯从所述第一通孔、探头卡口通孔及所述第二通孔穿过。
优选地，在所述左支撑部的外侧设有第一导体，所述第一导体的中部设有第三通孔，所述第三通孔与所述第一通孔同轴，所述第三通孔与所述第一通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。
优选地，在所述右支撑部的外侧设有第二导体，所述第二导体的中部设有第四通孔，所述第四通孔与所述第二通孔同轴，所述第四通孔与所述第二通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。
优选地，所述第一导体与所述左支撑部通过第二螺钉连接。
优选地，所述第二螺钉的直径为3mm，螺纹长度为8mm。
优选地，所述第二导体与所述右支撑部通过第三螺钉连接；所述第三螺钉的直径为3mm，螺纹长度为5mm。
优选地，所述探头包括CT1类型的电流探头或CT2类型的电流注入探头。
本发明的有益效果如下：
本发明解决了传统校准夹具和校准装置不适用于CT1类型的电流探头和CT2类型的电流注入探头的问题。本发明的校准装置，结构简单，物理尺寸小，不影响校准精度，操作流程方便，可以完成CT1和CT2等类型的小型电流探头和电流注入探头的校准工作。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1为本发明实施例校准装置剖视图；
图2为本发明实施例校准装置侧视图；
图3为本发明实施例校准装置俯视图；
图4为本发明实施例校准装置等轴测图。
附图标记：
1-CT1电流探头；
2-左侧板；
3-右侧板；
4-同轴内芯；
5.1-第一导体；
5.2-第二导体
6-聚四氟乙烯环；
9-第三螺钉；
10-第二螺钉；
11-第一螺钉。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明，下面结合附图和优选实施例对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。
传统的9123、9125等电流探头是一种可以套在导线上向导线中注入电流的装置，一般做成钳形结构，使用时两个半环可以张开夹住待测的导线，使用时不需要与导线接触，而近年出现的CT1类型的小型电流探头和CT2类型的电流注入探头等新的小型设备不具备开口钳部分，与传统的校准夹具不匹配，CT1类型的小型电流探头和CT2类型的电流注入探头无法放入传统的电流探头校准夹具，且CT1类型的小型电流探头和CT2类型的电流注入探头等与传统电流探头夹具同轴内芯部分不匹配，其驻波较差，为此，发明人经研究，设计出与CT1类型的小型电流探头和CT2类型的电流注入探头尺寸贴合的校准装置，保证了电流探头处于恰当测试区域同时使其驻波比得到较好的改善，取得更加准确的校准结果。为此，提出本方案的校准装置，技术方案如下：
一种校准装置，该装置包括：
支撑同轴内芯穿过探头卡口通孔的左侧板和右侧板，左侧板和右侧板为可分离式结构；探头置入校准装置后处于校准装置的测试区。
在左侧板的底部与右侧板的底部通过一个直径为4mm，螺纹长度为10mm的第一螺钉连接。
在左侧板上设有第一通孔，右侧板上设有第二通孔，使得第一通孔与第二通孔同轴；同轴内芯可从第一通孔、探头卡口通孔及第二通孔穿过。
在左侧板的外侧设有第一导体，在第一导体的中部设有第三通孔，使得第三通孔与第一通孔同轴，第三通孔与第一通孔连接处设置用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。第一导体与左侧板通过直径为3mm，螺纹长度为8mm的第二螺钉连接。
在右侧板的外侧设有第二导体，在第二导体的中部设有第四通孔，使得第四通孔与第二通孔同轴，在第四通孔与第二通孔连接处设置用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。第二导体与右侧板通过直径为3mm，螺纹长度5mm的第三螺钉连接。
探头包括电流探头或电流注入探头；电流探头为CT1类型的电流探头，电流注入探头为CT2类型的电流注入探头。
本方案解决了传统校准夹具和校准装置不适用于CT1类型电流探头和CT2类型电流注入探头的问题。本发明的校准装置，结构简单，物理尺寸小，不影响校准精度，操作流程方便，可以完成CT1和CT2等类型的小型电流探头和电流注入探头的校准工作。可以使得小型电流探头和电流注入探头能够处于恰当的测试区域中；本方案的校准装置外导体和内芯的设计使得校准夹具自身的驻波比较小；同时该装置可获得准确的电流探头和电流注入探头的校准结果。
下面结合具体实例，对本方案做进一步的说明。
如图1至图4所示，一种校准装置，该装置包括：
支撑同轴内芯4穿过CT1电流探头1卡口通孔的左侧板2和右侧板3，左侧板2和右侧板3为分离式结构，左侧板2和右侧板3的底部通过两枚第一螺钉11连接，第一螺钉11的直径为3mm，螺纹长度10mm，左侧板2和右侧板3采用分离式结构，使得探头能够置于校准装置的测试区域中。
左侧板2上设有第一通孔，右侧板3上设有第二通孔，第一通孔与第二通孔同轴；同轴内芯4从第一通孔、电流探头卡口通孔及第二通孔穿过。
左侧板2的外侧设有第一导体5.1，第一导体5.1的中部设有第三通孔，第三通孔与第一通孔同轴，第三通孔与第一通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯4的聚四氟乙烯环6。
右侧板3的外侧设有第二导体5.2，第二导体5.2的中部设有第四通孔，第四通孔与第二通孔同轴，第四通孔与第二通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯4的聚四氟乙烯环6。
第一导体5.1与左侧板2通过第二螺钉10连接，第二螺钉10的直径为3mm，螺纹长度8mm。
第二导体5.2与右侧板通过第三螺钉9连接，第三螺钉9的直径为3mm，螺纹长度5mm。
CT1类型电流探头1放入校准装置之前需要先卸下第一螺钉11，将同轴内芯4从左侧板的第一通孔抽出，将CT1类型电流探头置于校准装置中，再将同轴内芯4穿过CT1电流探头1的孔径部分，拧紧第一螺钉11。CT1类型电流探头1置于校准装置后其同轴内芯的接头位置朝斜下方，与校准装置外部的射频电缆相连。
本实施例装置也可适用于CT2类型电流注入探头的校准，操作方法和CT1电流探头的校准操作相同。
显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。

Claims (10)

1.一种校准装置，其特征在于，该装置包括：
支撑同轴内芯穿过探头卡口通孔的左支撑部和右支撑部，所述左支撑部和右支撑部为可分离式结构；
所述探头置入校准装置后处于所述校准装置的测试区。
2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述左支撑部为左侧板，所述右支撑部为右侧板。
3.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述左支撑部的底部与所述右支撑部的底部通过第一螺钉连接，所述第一螺钉的直径为4mm，螺纹长度为10mm。
4.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述左支撑部上设有第一通孔，所述右支撑部上设有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔同轴；所述同轴内芯从所述第一通孔、探头卡口通孔及所述第二通孔穿过。
5.根据权利要求4所述的校准装置，其特征在于，在所述左支撑部的外侧设有第一导体，所述第一导体的中部设有第三通孔，所述第三通孔与所述第一通孔同轴，所述第三通孔与所述第一通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。
6.根据权利要求4所述的校准装置，其特征在于，在所述右支撑部的外侧设有第二导体，所述第二导体的中部设有第四通孔，所述第四通孔与所述第二通孔同轴，所述第四通孔与所述第二通孔连接处设有用于定位和固定同轴内芯的聚四氟乙烯环。
7.根据权利要求5所述的校准装置，其特征在于，所述第一导体与所述左支撑部通过第二螺钉连接。
8.根据权利要求7所述的校准装置，其特征在于，所述第二螺钉的直径为3mm，螺纹长度为8mm。
9.根据权利要求6所述的校准装置，其特征在于，所述第二导体与所述右支撑部通过第三螺钉连接；所述第三螺钉的直径为3mm，螺纹长度为5mm。
10.根据权利要求9所述的校准装置，其特征在于，所述探头包括CT1类型的电流探头或CT2类型的电流注入探头。
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