CN110907795B - 测试用电路板及其操作方法 - Google Patents
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Abstract
一种测试用电路板及其操作方法,通过于具探针的电路板本体上配置继电器,且于该探针与该继电器之间配置至少一外接导线,以于进行高频测试信号作业时,该高频测试信号的传输路径经由该外接导线至一测试机台,而非经由该继电器至该测试机台,避免受限于该继电器的频宽条件。
Description
技术领域
本发明有关一种电性检测装置,特别涉及一种用于电性检测的电路板。
背景技术
传统探针卡以其探针接触芯片的信号接点,以测试芯片的电路是否正常。
随着数码科技的进步,待测芯片的运算速度与每秒的信号传输量也日益增大,使传统探针卡所产生的测试信号的频率无法满足该待测芯片所需的高频测试信号的信号传输量需求,为此,业界遂通过在探针卡所配置的继电器(Relay)达到高频测试的目的,其中,该继电器的种类包括如电磁式机械继电器(Electro-mechanical Relay)、磁簧继电器(Reed Relay)与半导体式继电器(Semiconductor Relay),其中,该半导体式继电器的体积最小且制作成本最低。
如图1所示,现有探针卡1的基板10上配置有至少一半导体式继电器11,并借由控制电路13控制该继电器11,以切换一低频测试信号路径L1及一高频测试信号路径L2,再经由该基板10上的线路12传送低频测试信号或高频测试信号。
然而,现有探针卡1于进行高频测试信号作业时,因该继电器11的频宽(bandwidth)太小(至多4GHz(8Gbps)),导致高频的测试信号难以传输,进而造成测试机台容易发生误判测试结果。
此外,因传输高频测试信号的高频测试信号路径L2较长(经由该基板10的探针100、该继电器11与线路12),致使该高频测试信号路径L2上产生较大的阻抗值,因而增加该线路12的损耗率,也使测试机台容易发生误判测试结果的问题。
因此,如何克服上述现有技术的问题,实已成目前亟欲解决的课题。
发明内容
鉴于上述现有技术的种种缺失,本发明公开一种测试用电路板及其操作方法,以避免测试机台误判测试结果。
本发明的测试用电路板,包括:电路板本体,其具有至少一探针;继电器,其配置于该电路板本体上,并具有输入端与输出端,且于该输入端与该输出端之间配置有第一开关,其中,该探针电性连接该继电器的输入端;线路,其布设于该电路板本体上,并电性连接该继电器的输出端且对应连结该第一开关;以及外接导线,其设于该探针与该继电器的输入端之间以电性连接该探针。
本发明还公开一种测试用电路板的操作方法,包括:提供一前述的测试用电路板;于进行低频测试信号作业时,该探针经由该继电器的输入端、第一开关与输出端而电性导通至该线路;以及于进行高频测试信号作业时,该探针电性导通至该外接导线。
前述的测试用电路板及其操作方法中,该继电器的输入端与输出端之间还配置有第二开关,且该线路未连结该第二开关。于进行低频测试信号作业时,该第一开关导通且该第二开关断开;于进行高频测试信号作业时,该第一开关断开且该第二开关导通。
前述的测试用电路板及其操作方法中,该外接导线以焊接方式连结至该探针与该输入端之间。
由上可知,本发明的测试用电路板及其操作方法,主要借由该外接导线的配置,以于进行高频测试信号作业时,该传输路径经由该外接导线而非该继电器,因而不会受限于该继电器的频宽条件,故相较于现有技术,本发明的测试用电路板能借由该外接导线有效地传输高频的测试信号,以避免该测试机台误判测试结果。
此外,因传输测试信号的传输路径变短,而降低该传输路径上的阻抗值,因而降低该线路的损耗率,使高频的测试信号能顺利传输,故相较于现有技术,该测试机台不会误判测试结果。
附图说明
图1为现有探针卡的示意图;以及
图2及图3为本发明的测试用电路板的示意图。
符号说明
1 探针卡
10 基板
100,200 探针
11,21 继电器
12,22 线路
13 控制电路
2 测试用电路板
20 电路板本体
21a 输入端
21b 输出端
211 第一开关
212 第二开关
23 外接导线
L1 低频测试信号路径
L2 高频测试信号路径
S1,S2 传输路径
具体实施方式
以下借由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所公开的内容轻易地了解本发明的其他优点及技术效果。
须知,本说明书附图所示出的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所公开的内容,以供本领域技术人员的了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的技术效果及所能实现的目之下,均应仍落在本发明所公开的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、及“一”等用语,也仅为便于叙述,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当也视为本发明可实施的范围。
请参阅图2及图3,其为本发明的测试用电路板的示意图,如图所示,本发明的测试用电路板2包括:一具有至少一探针200的电路板本体20、至少一继电器21、至少一线路22以及至少一外接导线23。
于本实施例中,该测试用电路板2可用于测试晶圆/芯片的探针卡(Probe card)或用于测试封装件的测试载板(Load board)等可供测试机台使用的电路板。
所述的电路板本体20可为公板结构,也可为专板结构。有关该电路板本体20的结构样式繁多,并无特别限制,故于此不赘述。
所述的继电器21配置于该电路板本体20上,且具有输入端21a与输出端21b,且于该输入端21a与该输出端21b之间配置有第一开关211与第二开关212,其中,该探针200电性连接该输入端21a。
于本实施例中,该继电器21采用半导体式,如模拟(analog)ADG936型,其频宽约4GHz(8Gbps)。
所述的线路22布设于该继电器21外的该电路板本体20上,并电性连接该输出端21b且对应连结该第一开关211而未连结该第二开关212。
所述的外接导线23设于该探针200与该继电器21的输入端21a之间。
于本实施例中,该外接导线23为如导线的传输元件,并以例如焊接方式连结至该探针200与该输入端21a之间的交界处,且该外接导线23可依频宽需求选择所需的传输元件,如频宽大于4GHz(8Gbps)的导线。
因此,该测试用电路板2的操作方法于进行低频测试信号作业时(如图2所示),令该第一开关211导通及第二开关212断开,使该探针200借由该继电器21的输入端21a、第一开关211与输出端21b而电性导通至该线路22,即低频测试信号的传输路径S1将信号按序从待测芯片(图未示)、该探针200、该继电器21的输入端21a、第一开关211与输出端21b与该线路22传递至测试机台(图未示)。
另一方面,于进行高频测试信号作业时(如图3所示),令该第一开关211断开及第二开关212导通,使该探针200电性导通至该外接导线23,即高频测试信号的传输路径S2将信号按序从待测芯片(图未示)、该探针200与该外接导线23传递至测试机台(图未示)。
综上所述,本发明的测试用电路板2及其操作方法借由该外接导线23的配置,以于进行高频测试信号作业时,该传输路径S2经由该外接导线23而非该继电器21,因而不会受限于该继电器21的频宽条件,故相较于现有技术,本发明的测试用电路板2能借由该外接导线23有效地传输高频的测试信号,以避免该测试机台误判测试结果。
此外,因传输测试信号的传输路径S2变短(经由该探针200与该外接导线23),而降低该传输路径S2上的阻抗值,因而降低该线路22的损耗率,使高频的测试信号能顺利传输,故相较于现有技术,该测试机台不会误判测试结果。
上述实施例仅用以例示性说明本发明的原理及其技术效果,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的构思及范围下,对上述实施例进行修改。因此本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。
Claims (10)
1.一种测试用电路板,其特征为,该电路板包括:
电路板本体,其设有至少一探针;
继电器,其配置于该电路板本体上,并具有输入端与输出端,且于该输入端与该输出端之间配置有第一开关,其中,该探针电性连接该继电器的输入端;
线路,其布设于该电路板本体上,并电性连接该继电器的输出端且对应连结该第一开关;以及
外接导线,其设于该探针与该继电器的输入端之间以电性连接该探针。
2.根据权利要求1所述的测试用电路板,其特征为,该继电器的输入端与输出端之间还配置有第二开关,且该线路未连结该第二开关。
3.根据权利要求2所述的测试用电路板,其特征为,该第一开关导通及该第二开关断开时,该探针借由该继电器的输入端、第一开关与输出端而电性导通至该线路,以传递低频测试信号。
4.根据权利要求2所述的测试用电路板,其特征为,该第一开关断开及该第二开关导通时,该探针电性导通至该外接导线,以传递高频测试信号。
5.根据权利要求1所述的测试用电路板,其特征为,该外接导线以焊接方式连结至该探针与该继电器的输入端之间。
6.一种测试用电路板的操作方法,其特征为,该操作方法包括:
提供一根据权利要求1所述的测试用电路板;
于进行低频测试信号作业时,该探针经由该继电器的输入端、第一开关与输出端而电性导通至该线路;以及
于进行高频测试信号作业时,该探针电性导通至该外接导线。
7.根据权利要求6所述的测试用电路板的操作方法,其特征为,该继电器的输入端与输出端之间还配置有第二开关,且该线路未连结该第二开关。
8.根据权利要求7所述的测试用电路板的操作方法,其特征为,于进行低频测试信号作业时,该第一开关导通且该第二开关断开。
9.根据权利要求7所述的测试用电路板的操作方法,其特征为,于进行高频测试信号作业时,该第一开关断开且该第二开关导通。
10.根据权利要求6所述的测试用电路板的操作方法,其特征为,该外接导线以焊接方式连结至该探针与该继电器的输入端之间。
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