CN110865292A - 老化测试板 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种老化测试板，包括：基座，所述基座的上表面设置有容纳槽；若干测试座，设置在所述容纳槽内，用于对待测试件进行老化测试；导电连接件，设置在所述容纳槽内，用于将若干所述测试座电连接；盖板，盖设在所述基座的上表面，且设置有供若干所述测试座的部分伸出的通孔；其中，所述基座和所述盖板采用耐高温塑料材料制成，所述导电连接件采用导电金属条制成。本发明可以避免使用PCB板、避免使用传统的焊锡工艺，使得老化测试板可以耐高温，且安全可靠。
Description
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域，尤其涉及一种老化测试板。
背景技术
随着半导体器件技术的发展和特殊使用领域，以及现有严苛的应用环境，各器件生产厂家以及下游产品用户对器件的可靠性(老化)测试标准的要求越来越高。
现有技术中，一般采用老化测试板来对半导体器件进行老化测试。然而，现有的老化测试板一般先制作常规PCB高温电路板，通常材料为聚酰亚胺FR-4，然后将测试座焊接在PCB板上，测试座有一定数量，且通PCB线路实现电器走线，测试座的材料及PCB板材的最大耐温为175℃左右，且连接测试座和PCB板材的焊锡(即使是高温焊锡)在超过200℃高温时状态软化，导致电气连接处容易出现松动脱落。PCB板上除了覆盖绝缘防护漆，无其他更多保护措施，在高温以及高电压情况下，存在电气安全方面的安全隐患，以及操作人员触电事故。
发明内容
本发明的目的在于提供一种老化测试板，以解决上述技术问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是提供一种老化测试板，包括：
基座，所述基座的上表面设置有容纳槽；
若干测试座，设置在所述容纳槽内，用于对待测试件进行老化测试；
导电连接件，设置在所述容纳槽内，用于将若干所述测试座电连接；
盖板，盖设在所述基座的上表面，且设置有供若干所述测试座的部分伸出的通孔；
其中，所述基座和所述盖板采用耐高温塑料材料制成，所述导电连接件采用导电金属条制成。
在一具体实施例中，若干所述测试座成排成列设置。
在一具体实施例中，所述导电连接件包括：
第一导电条，用于连接每列所述测试座的正极或负极；
第二导电条，用于连接每列所述测试座的负极或正极；
第三导电条，用于连接若干所述第一导电条；
第四导电条，用于连接若干所述第二导电条；
其中，所述第三导电条的一端通过第一导线和外部电源的正极或负极相连；所述第四导电条的一端通过第二导线和外部电源的负极或正极连接。
在一具体实施例中，所述导电连接件还包括：
第五导电条，用于连接每列所述测试座的信号端；
第六导电条，用于连接若干所述第五导电条；
其中，所述第六导电条的一端通过信号线和外部数据采集设备连接。
在一具体实施例中，所述耐高温塑料材料为聚醚醚酮。
在一具体实施例中，所述导电金属条为外表面镀金的高纯度铜。
在一具体实施例中，所述测试座和所述导电连接件之间采用螺纹紧固件进行连接。
在一具体实施例中，所述基座还包括和所述容纳槽相连通的线槽，所述线槽用于引出所述第一导线、所述第二导线和所述信号线。
在一具体实施例中，所述第一导线、所述第二导线和所述信号线的外表面包覆有耐高温的复合材料。
在一具体实施例中，所述盖板包括：
第一盖板，盖设在所述测试座的上方，用于固定所述测试座，所述第一盖板上设置有若干所述通孔；
第二盖板，盖设在所述第一导线、所述第二导线和所述信号线的上方，用于固定所述第一导线、所述第二导线和所述信号线。
本发明的有益之处在于：
区别于现有技术，应用本发明的技术方案，通过将若干测试座以及连接若干测试座的导电连接件设置在基座的容纳槽内，并采用盖板盖设在基座上，使得若干测试座和导电连接件被固定在基座和盖板之间，若干测试座的部分从盖板的通孔内伸出，用于承载并测试待测试件。由于基座和盖板采用耐高温塑料材料制成，从而可以实现导电零件和外部环境绝缘，保证了使用的安全可靠性；导电连接件采用导电金属条制成，内部杂质较低，实现了优异的低阻抗。本发明可以避免使用PCB板、避免使用传统的焊锡工艺，使得老化测试板可以耐高温，且安全可靠。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明老化测试板的结构示意图；
图2是本发明老化测试板的导电连接件和测试座的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
参见图1-图2，本发明老化测试板实施例包括：若干测试座1、导电连接件2、基座3和盖板。基座3的上表面设置有容纳槽33。若干测试座1设置在容纳槽33内，用于对待测试件进行老化测试。导电连接件2设置在容纳槽33内，用于将若干测试座1电连接。盖板，盖设在基座3的上表面，且设置有供若干测试座1的部分伸出的通孔51。其中，基座3和盖板采用耐高温塑料材料制成，导电连接件2采用导电金属条制成。
应用本实施例的技术方案，通过将若干测试座1以及连接若干测试座1的导电连接件2设置在基座3的容纳槽33内，并采用盖板盖设在基座3上，使得若干测试座1和导电连接件2被固定在基座3和盖板之间，若干测试座1的部分从盖板的通孔51内伸出，用于承载并测试待测试件。由于基座3和盖板采用耐高温塑料材料制成，从而可以实现导电零件和外部环境绝缘，保证了使用的安全可靠性；导电连接件2采用导电金属条制成，内部杂质较低，实现了优异的低阻抗。本实施例可以避免使用PCB板、避免使用传统的焊锡工艺，使得老化测试板可以耐高温，且安全可靠。
在本实施例中，若干测试座1成排成列设置。优选地，每排测试座1的数量相同，每列测试座1的数量相同。具体地，每排设置有五个测试座1，每列设置有八个测试座1，但不限定于此，每排每列的数量可以视情况而定。通过将测试座1成排成列设置，可以一次性对多个待检测件进行老化测试，提高了测试效率。
进一步地，导电连接件2包括第一导电条21、第二导电条22、第三导电条23和第四导电条24。第一导电条21用于连接每列测试座1的正极或负极。第二导电条22用于连接每列测试座1的负极或正极。第三导电条23用于连接若干第一导电条21。第四导电条24用于连接若干第二导电条22。具体地，第三导电条23和若干第一导电条21垂直连接，第三导电条23的一端通过第一导线和外部电源的正极或负极相连；第四导电条24和若干第二导电条22垂直连接，第四导电条24的一端通过第二导线和外部电源的负极或正极连接。通过设置第一导电条21、第二导电条22、第三导电条23和第四导电条24，可以将若干测试座1并联连接，当有单个待测试件短路时，不影响其他待测试件的测试。
进一步地，导电连接件2还包括第五导电条25和第六导电条26。第五导电条25设置在每列相邻的两个测试座1之间，用于连接每列测试座1的信号端。第六导电条26用于连接若干第五导电条25。具体地，第六导电条26和若干第五导电条25垂直连接。第六导电条26的一端通过信号线和外部数据采集设备连接。上述实施例中，每列测试座1的信号端是串联的。在其他实施例中，每列测试座1的信号端还可以并联连接，此时第五导电条25为一整根长条，与每列测试座1分别连接。
在本实施例中，耐高温塑料材料为聚醚醚酮。聚醚醚酮有良好的耐高温性和电绝缘性，并且比较环保无毒害，能在高温环境下长期使用，无污染性气体释放。
在本实施例中，导电金属条为外表面镀金的高纯度铜。高纯度铜内部杂质含量低，整体电性指标优异，内部电气导体阻抗低且连接可靠。
在本实施例中，测试座1和导电连接件2之间采用螺纹紧固件(例如：螺钉)进行连接，从而可以实现接触低阻抗和高温过程中的电气连接可靠性。
在本实施例中，基座3还包括和容纳槽33相连通的线槽31，线槽31用于引出第一导线、第二导线和信号线。具体地，线槽31包括第一线槽311、第二线槽312、第三线槽313，第一线槽311用于引出与第四导电条24的一端相连接的第二导线，第二线槽312用于引出与第六导电条26的一端相连接的信号线，第三线槽313用于引出与第三导电条23的一端相连接的第一导线。通过设置线槽31，使得老化测试板的接线更为可靠，且没有导线外露，从而使得使用更为安全。
进一步地，第一线槽311、第二线槽312和第三线槽313均包括引入段、中间段和引出段。引入段的一端和容纳槽33连通，另一端和中间段的一端连通。引出段和中间段的另一端连通。中间段大致呈圆柱状，设置有绕线柱32，第一导线、第二导线和信号线可以在引出前绕绕线柱32至少一圈，以防止牵拉第一导线、第二导线和信号线时造成导电连接件2的损坏。其中，三个引出段相互平行间隔设置，可以避免第一导线、第二导线和信号线纠缠在一起。
在本实施例中，盖板包括第一盖板5和第二盖板6，第一盖板5盖设在测试座1的上方，用于固定测试座1，第一盖板5上设置有若干通孔51。第二盖板6盖设在第一导线、第二导线和信号线的上方，用于固定第一导线、第二导线和信号线。通过设置第一盖板5和第二盖板6，可以对测试座1与第一导线、第二导线、信号线分别进行快速维修，使得两部分不相互影响。
在本实施例中，还包括固定架4，用于将基座3固定。固定架4包括第一固定条41和第二固定条42，第一固定条41沿第一方向设置在基座3的底部。第二固定条42沿第二方向设置在第一固定条41的底部。第一方向和第二方向相互垂直。具体地，第一固定条41沿基座3的长度方向延伸设置，第二固定条42沿基座3的宽度方向延伸设置。
进一步地，第一固定条41底部沿其长度方向开设有第一安装槽，第一安装槽内滑动设置有第一安装块。通过第一螺钉穿过盖板、基座3和第一固定条41与第一安装块连接，使得基座3可以沿着第一方向移动以调节位置。第二固定条42底部延其长度方向开设有第二安装槽，第二安装槽内滑动设置有第二安装块。通过第二螺钉穿过第一固定条41和第二固定条42与第二安装块连接，使得基座3可以沿第二方向移动以调节位置。由此，提高了老化测试板的适用性。
在本实施例中，第一导线、第二导线和信号线的外表面包覆有耐高温的复合材料，该复合材料可以耐200摄氏度以上的高温。
在本实施例中，待测试件可以为半导体器件。
本发明的老化测试板的测试过程为：将待测试件统一插入测试座1内。将第一导线和第二导线连接至电源，将信号线连接至数据采集设备。将老化测试板放入高低温老化箱内，将环境温度设置为250摄氏度，并进行一个周期为1000小时以上的老化测试，每次测试可持续6个周期。在高温状态测试中通过第一导线、第二导线、信号线对待测试件的工作状态进行数据监测，发现并判断失效产品。
显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
Claims (10)
1.一种老化测试板，其特征在于，包括：
基座，所述基座的上表面设置有容纳槽；
若干测试座，设置在所述容纳槽内，用于对待测试件进行老化测试；
导电连接件，设置在所述容纳槽内，用于将若干所述测试座电连接；
盖板，盖设在所述基座的上表面，且设置有供若干所述测试座的部分伸出的通孔；
其中，所述基座和所述盖板采用耐高温塑料材料制成，所述导电连接件采用导电金属条制成。
2.根据权利要求1所述的老化测试板，其特征在于，若干所述测试座成排成列设置。
3.根据权利要求2所述的老化测试板，其特征在于，所述导电连接件包括：
第一导电条，用于连接每列所述测试座的正极或负极；
第二导电条，用于连接每列所述测试座的负极或正极；
第三导电条，用于连接若干所述第一导电条；
第四导电条，用于连接若干所述第二导电条；
其中，所述第三导电条的一端通过第一导线和外部电源的正极或负极相连；所述第四导电条的一端通过第二导线和外部电源的负极或正极连接。
4.根据权利要求3所述的老化测试板，其特征在于，所述导电连接件还包括：
第五导电条，用于连接每列所述测试座的信号端；
第六导电条，用于连接若干所述第五导电条；
其中，所述第六导电条的一端通过信号线和外部数据采集设备连接。
5.根据权利要求1所述的老化测试板，其特征在于，所述耐高温塑料材料为聚醚醚酮。
6.根据权利要求1所述的老化测试板，其特征在于，所述导电金属条为外表面镀金的高纯度铜。
7.根据权利要求1所述的老化测试板，其特征在于，所述测试座和所述导电连接件之间采用螺纹紧固件进行连接。
8.根据权利要求4所述的老化测试板，其特征在于，所述基座还包括和所述容纳槽相连通的线槽，所述线槽用于引出所述第一导线、所述第二导线和所述信号线。
9.根据权利要求4所述的老化测试板，其特征在于，所述第一导线、所述第二导线和所述信号线的外表面包覆有耐高温的复合材料。
10.根据权利要求4所述的老化测试板，其特征在于，所述盖板包括：
第一盖板，盖设在所述测试座的上方，用于固定所述测试座，所述第一盖板上设置有若干所述通孔；
第二盖板，盖设在所述第一导线、所述第二导线和所述信号线的上方，用于固定所述第一导线、所述第二导线和所述信号线。
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