CN110799849A - 用于分析soh的装置和方法 - Google Patents

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Abstract

公开的是一种能够分析电池的SOH的设备和方法以及一种能够诊断是否再使用电池的设备和方法。电池SOH分析设备包括：存储器单元，该存储器单元被配置成：存储参考电池的根据DOD的参考温度数据或由此计算的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率(K1)；以及控制单元。控制单元包括：测量和记录单元，该测量和记录单元被配置成：在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的温度数据，并且将所测量的温度数据存储在存储器单元中；计算单元，该计算单元被配置成：从由测量和记录单元获得的根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的温度增加率(K2)；以及确定单元，该确定单元被配置成通过比较参考温度增加率(K1)和温度增加率(K2)来确定电池与参考电池相比的劣化程度。

Description

用于分析SOH的装置和方法
技术领域
本公开涉及一种用于分析电池的健康状态(SOH)的设备和方法。更具体地，本公开涉及一种用于通过测量电池的温度来确定劣化程度的设备和方法。本申请要求于2018年1月26日在韩国提交的韩国专利申请No.10-2018-0009875的优先权，其公开内容通过引用并入本文。
背景技术
电池可被重复地再充电，并且它们作为燃料能源的替代方案正受到关注。它们已被主要用在诸如移动电话、摄像机和电力工具的传统手持装置中。近来，应用范围趋于逐渐地延伸到电动车辆(EV、HEV、PHEV)、大容量储能系统(ESS)和不间断电源系统(UPS)。
电池包括正极电极、负极电极、插置在这些电极之间的分隔件以及与涂覆在正极电极和负极电极上的活性材料进行电化学反应的电解质，并且随着充电/放电循环次数增加，容量减少。容量减少可以是通过涂覆在电极上的活性材料的劣化、电解质的副反应、分隔件的孔隙减少等所引起的。
当电池容量减少时，电阻增加并且作为热损失的电能增加。因此，当电池容量减少至阈值以下时，电池性能显著地降低并且产生的热量增加，所以有必要调查或者更换电池。
在电池技术的领域中，电池容量减少的程度可以通过诸如健康状态(SOH)的因素来定量地指示。可通过许多方法来分析SOH，并且那些方法中的一种通过量化在当前时间的电池电阻与在寿命开始(BOL)时的电阻相比较增加的程度来计算SOH。例如，当电池电阻与在BOL时的电阻相比较增加了20％时，SOH可以被估计为80％。替换地，还可基于电池的电流和电压来分析SOC。
可以通过基于SOH控制最大允许电流来延长电池寿命。为此，有必要准确地分析电池的SOH。
同时，随着电池被扩展到ESS、EV、HEV、PHEV等，正在积极地进行研究以通过切换电池的用途来再使用电池。
特别地，近年来，为了降低成本，试图将用于电动车辆的电池转换为用于在较温和条件下驱动的ESS的电池。
然而，当执行了数百次充电/放电循环时，由于通过副反应、Li电镀、电解质分解、电解质耗竭等的气体产生在电池处经常发生突然故障(sudden death)。因此，为了再使用现有电池，重要的是通过在再使用时准确地分析SOH来适当地对能够被再使用的电池进行分类。
发明内容
技术问题
本公开旨在提供一种可以分析电池的SOH的设备和方法。
本公开还旨在提供一种可以通过分析电池的SOH来诊断电池是否可再使用的设备和方法。
技术方案
在本公开的一个方面中，提供了一种健康状态(SOH)分析设备，包括：存储器单元，存储器单元被配置成存储参考电池的根据放电深度(DOD)的参考温度数据，或由此计算的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率K1；以及控制单元。控制单元包括：测量和记录单元，该测量和记录单元被配置成：在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的温度数据并且将所测量的温度数据存储在存储器单元中；计算单元，该计算单元被配置成：从由测量和记录单元获得的根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的温度增加率K2；以及确定单元，该确定单元被配置成：通过比较参考温度增加率K1和温度增加率K2来确定电池与参考电池相比的劣化程度。
优选地，根据本公开的SOH分析设备还可以包括：电压测量单元，该电压测量单元用于测量电池的电压；电流测量单元，该电流测量单元用于测量电池的电流；以及温度测量单元，该温度测量单元用于测量电池的温度，并且控制单元可以被配置成将测量的电压、测量的电流和测量的温度存储在存储器单元中。
在根据本公开的SOH分析设备中，控制单元可以被配置成通过判断劣化程度来确定电池的输出，或者将劣化程度发送到外部装置。
在本公开的另一方面中，提供了一种SOH分析方法，包括：(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正被放电的同时测量参考电池的根据DOD的温度来获得根据DOD的参考温度数据；(b)从根据DOD的参考温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率K1；(c)通过在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的电池温度来获得根据DOD的温度数据；(d)从根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的温度增加率K2；以及(e)通过比较参考温度增加率K1和温度增加率K2来确定电池与参考电池相比的劣化程度。
在根据本公开的SOH分析方法中，步骤(a)和(c)中的放电可以是恒定电流(CC)放电，并且温度可以是电池表面温度。
在步骤(b)和(d)中，可以通过以下步骤来计算温度增加率：通过标绘根据DOD的温度数据来制备温度分布；以及在温度分布中得到起始第二拐点(onset second inflectionpoint)之后获得DOD后半部的曲线切线斜率。
在根据本公开的SOH分析方法中，随着温度增加率K2更大，可以将电池确定为具有更大的劣化程度。
在本公开的另一方面中，提供了一种电池管理系统，包括该SOH分析设备，并且还提供了一种计算机可读记录介质，在其上编程并记录有SOH分析方法。
在本公开的另一方面中，提供了一种电池再使用诊断设备，包括：根据本公开的SOH分析设备；电池支架；以及显示装置，显示装置被配置成显示SOH分析设备的计算结果或确定结果。
在本公开的另一方面中，提供了一种电池再使用诊断方法，包括：(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正以恒定电流被放电的同时测量参考电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的参考温度分布；(b)计算参考温度分布中的斜率S1；(c)通过在处于完全充电状态的经受再使用诊断的电池正以恒定电流被放电的同时测量经受再使用诊断的电池的根据DOD的表面温度，获得经受再使用诊断的电池的根据DOD的温度分布；(d)计算经受再使用诊断的电池的根据DOD的温度分布中的斜率S2’；以及(e)通过比较斜率S1和斜率S2’确定电池与参考电池相比的劣化程度，来确定是否再使用电池。
优选地，在步骤(b)与步骤(c)之间，电池再使用诊断方法还可以包括：(b-1)通过在处于完全充电状态的样品电池正以恒定电流被放电的同时获取样品电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的样品温度分布；(b-2)计算根据DOD的样品温度分布中的斜率S2；(b-3)当斜率S2大于斜率S1时确定样品电池与参考电池相比较劣化，并且记录劣化程度与斜率S2之间的关联数据；以及(b-4)对其他样品电池重复步骤(b-1)至(b-3)以累积劣化程度与斜率S2之间的关联数据，其中在步骤(e)中，可以通过根据劣化程度与斜率S2之间的关联数据得到与斜率S2’相对应的劣化程度而诊断经受再使用诊断的电池的劣化程度，来确定是否再使用电池。
有益效果
根据本公开，可以通过监测根据放电深度(DOD)的电池温度变化来以相对简单的方式分析电池的SOH。
根据本公开，可以通过在现有电池的再使用时准确地分析SOH来适当地对经受诊断的电池的用途是可被转换还是应该丢弃电池进行分类。
附图说明
附图图示本公开的优选的实施例并且与前面的公开内容一起，用来提供对本公开的技术特征的进一步理解，并且因此，本公开未被解释为限于附图。
图1是示意性地示出根据本公开的实施例的SOH分析设备的配置的框图。
图2是用于图示根据本公开的实施例的SOH分析方法的流程图。
图3示出电池的根据DOD的温度分布。
图4是示意性地示出根据本公开的实施例的电池再使用诊断设备的图。
具体实施方式
在下文中，将参考附图详细地描述本公开的优选的实施例。在描述之前，应该理解的是，说明书和所附权利要求中使用的术语不应该被解释为限于一般和词典含义，而应该在允许本发明人为了最佳说明而适当地定义术语的原则基础上，基于与本发明的技术方面相对应的含义和概念来解释。因此，本文提出的描述只是仅用于图示目的的优选示例，不旨在限制本公开的范围，所以应该理解的是，能在不脱离本公开的范围的情况下对其做出其他等同物和修改。
在下述实施例中，电池指代锂电池。在这里，锂电池共同地指代锂离子在充电和放电期间作为工作离子，从而在正极电极和负极电极处引起电化学反应的电池。
同时，应该解释为即使电池的名称取决于锂电池中使用的电解质或分隔件的类型、用于封装电池的封装的类型以及锂电池的内部或外部结构而改变，锂电池也涵盖使用锂离子作为工作离子的任何电池。
本公开还可以被应用于除锂电池以外的电池。因此，应该解释为本公开涵盖尽管工作离子不是锂离子，但是本公开的技术方面可以被应用于的任何类型的电池。
附加地，电池不限于部件的数目。因此，电池应该被解释为包括：在封装材料中包括正极电极/分隔件/负极电极和电解质的集合的单元单体以及单元单体的集合、包括串联和/或并联连接的集合的模块、包括串联和/或并联连接的模块的电池组以及包括串联和/或并联连接的电池组的电池系统。
图1是示意性地示出根据本公开的实施例的SOH分析设备的配置的框图，并且图2是用于图示根据本公开的实施例的SOH分析方法的流程图。
将参考图1和图2详细地描述SOH分析设备和方法。
参考图1，根据本公开的SOH分析设备100是用于分析电池B的SOH的设备，并且至少包括存储器单元110和控制单元120。
控制单元120包括用于执行逻辑计算的处理器，并且用于根据下面描述的控制逻辑来分析电池B的SOH。
存储器单元110是能够电力地、磁性地、光学地或量子机械地记录或者擦除数据的存储介质，并且作为非限定示例，可以是RAM、ROM或寄存器。
优选地，存储器单元110可以例如通过数据总线连接到控制单元120，以允许控制单元120访问它。
存储器单元110可以存储和/或更新和/或擦除包括由控制单元120执行的各种类型的控制逻辑的程序、预定义参数和/或在控制逻辑被执行时创建的数据。
存储器单元110可以在逻辑上被分成两个或更多个，并且可以被包括在控制单元120中，但是不限于此。
优选地，存储器单元110预先存储参考电池的根据放电深度(DOD)的参考温度数据，或由此计算出的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率K1。
参考温度数据或参考温度增加率K1可以通过经由针对例如处于寿命开始(BOL)状态的电池的参考电池的放电实验的初步测量(对应于作为SOH分析方法的第一阶段的图2中的步骤s1)来获得。可以通过在处于完全充电状态的参考电池正被放电的同时测量参考电池的根据DOD的温度来获得根据DOD的参考温度数据。此时，放电优选地是恒定电流(CC)放电，并且优选地通过测量参考电池的表面温度来获得温度。
在完全充电状态下DOD是0％，而在完全放电状态下DOD是100％。当DOD随着放电进行而增加时，即当DOD从0％增加到100％时，参考电池的温度逐渐地上升，从而获得通常伴随DOD的增加而增加的温度分布。
例如，可以标绘如图3中所示的参考温度分布。预先存储在存储器单元110中的参考温度数据可以具有关于根据DOD的温度、或由此计算出的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率K1的数据对的矩阵结构。参考温度增加率K1可以直接地从参考温度数据计算出或者可以根据如图3中所示的温度分布从DOD后半部的切线斜率获得(对应于作为SOH分析方法的第二步骤的图2中的步骤s2)。特别地，可以在参考温度分布中得到起始第二拐点之后获得DOD后半部的曲线切线斜率。具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率K1被确定为比较标准，从而判断与DOD前半部的温度增加率相比较，DOD后半部的温度增加率更好地表示电池的内部状态。
由于电池在测量期间可能受到环境温度影响，所以优选预先通过实验在各种温度环境中测量参考电池的表面温度并存储为数据。例如，预先测量参考电池在诸如-5℃、10℃和25℃的各种温度下的表面温度变化。
优选地，控制单元120可以电耦合到电压测量单元130、电流测量单元140和温度测量单元150以确定电池B的诸如SOC和电阻的其他变量。
电压测量单元130包括已知电压测量电路，并且在控制单元120的控制下以时间间隔周期性地测量电池B的电压，并且将测量的电压输出到控制单元120。然后，控制单元120将周期性地输入的测量的电压存储在存储器单元110中。如果测量了电池B的电压，则可以由此知道放电深度。
电流测量单元140包括感测电阻器或霍尔传感器，并且在控制单元120的控制下以时间间隔测量电池B的充电或放电电流的大小，并且将测量的电流输出到控制单元120。然后，控制单元120将周期性地输入的测量的电流存储在存储器单元110中。
温度测量单元150包括作为一种温度传感器的热电偶，并且在控制单元120的控制下以时间间隔周期性地测量电池B的温度，并且将测量的温度输出到控制单元120。然后，控制单元120将周期性地输入的测量的温度存储在存储器单元110中。
控制单元120的测量和记录单元122在处于完全充电状态的电池B正被放电的同时测量根据DOD的温度数据并将测量的温度数据存储在存储器单元110中(对应于作为SOH分析方法的第三步骤的图2中的步骤s3)。由温度测量单元150测量的电池B的温度由测量和记录单元122作为根据DOD的温度数据存储在存储器单元110中。
此时，与参考电池相同，优选的是放电是恒定电流(CC)放电并且通过测量电池B的表面温度来获得温度。
与参考电池相同，如果DOD增加，则电池B的温度逐渐地上升，从而获得伴随DOD的增加而上升的温度分布。这被作为示例描绘在图3中。
控制单元120的计算单元124根据由测量和记录单元122获得的根据DOD的温度数据来计算具有50％以上的DOD的放电后半部的温度增加率K2。此时，温度增加率K2还可以直接地从温度数据计算出或者还可以根据如图3中所示的温度分布从DOD后半部的曲线切线斜率获得(对应于作为SOH分析方法的第四步骤的图2中的步骤s4)。特别地，如上面关于参考温度分布所描述的，可以在温度分布中得到起始第二拐点之后获得DOD后半部的曲线切线斜率。
控制单元120的确定单元126通过比较参考温度增加率K1和温度增加率K2来确定电池B与参考电池相比的劣化程度(对应于作为SOH分析方法的第五步骤的图2中的步骤s5)。
此时，例如，可以一起考虑测量时的环境温度，使得如果在实际测量环境中的电池B的温度是25℃，则可将测量结果与预先在25℃下测量的参考电池的温度数据相比较。
通常，随着电池的使用循环进行，在负极电极和正极电极处重复锂离子的嵌入和脱嵌以引起相变并使结构变化劣化。本公开的发明人已经通过研究发现，由结构变化所引起的劣化程度对在电池内产生的熵热量有显著影响。已经用实验方法发现，与初始电池——即，参考电池——相比较，具有许多使用循环的电池具有不同的熵热(entropicheat)。因此，已经基于如下事实提出了本公开：可通过比较地分析温度变化来推断出电池的劣化程度。
如上所述，在本公开中，在恒定电流放电期间测量电池的电压(可从中得到DOD)，并且测量电池表面的温度变化，使得通过比较温度增加率来得出电池的劣化程度。
假定图3中描绘的温度分布的直线的斜率是K，获得了以下等式。
K＝Δ表面温度/ΔDOD
这里，如果经受测量的电池B处的K的绝对值大于参考电池的K的绝对值，即|K|>|参考电池的K|，则可以估计该电池与参考电池相比较已劣化。因为由于熵热生成而导致的温度变化将随着电池劣化而增加，所以具有更大的斜率K的电池可以被视为具有更大的劣化程度。
因此，随着温度增加率K2更大，可以将电池确定为具有更大的劣化程度。
此时，期望预先收集关于其他各种样品电池的信息，使得确定单元126可以定量地获得电池B的劣化程度。如果通过针对若干样品电池执行SOH分析方法的第三步骤(s3)至第五步骤(s5)来累积劣化程度与温度增加率之间的关联数据，则可以通过合成所有数据来确定任何温度增加率的SOH(％)。例如，可以将SOC分类为各个部分，使得如果电池的测量温度增加率等于参考温度增加率则电池具有100％的SOH，如果温度增加率在参考温度增加率的10％内增加则电池具有90％的SOH，如果温度增加率在参考温度增加率的20％内增加则电池具有80％的SOH等。这可以取决于电池类型而变化并且应该实验地确定。如果与每个温度增加率相对应的SOH值被预先确定，例如存储在查找表中，则在计算出电池B的实际温度增加率K2之后，可以得到并立即定量地显示与其相对应的SOH值。
如上所述分析的电池B的SOH可以被用作用于如稍后所描述的确定电池B是否可被再使用的重要指标，并且还可以被用于在电池B在使用中的同时进行输出估计。
控制单元120还可以通过利用经分析的电池B的SOH来确定电池B的输出并且将所确定的输出信息存储在存储器单元110中。
根据另一方面，控制单元120可以与通信接口(I/F)160组合以通过通信接口160来将估计输出和SOH值中的至少一个输出到外部设备(未示出)。
优选地，外部设备可以是从电池B供应有电能的装置负载的控制器，但是本公开不限于此。
同时，如果打算在电池B被完全充电之后在电池B正被以恒定电流放电的同时测量温度，则在当电池B被充电和放电时的使用循环期间温度可能不容易被测量。因此，例如，如果电池B是车辆电池，则相关系统可以被配置为使得当电池充电/放电终止时，例如当车辆启动钥匙被关闭时，电池B被完全充电然后被放电，以便执行SOH分析方法。另外，由于电池B在SOH分析步骤之后处于完全放电状态，所以系统可以被配置为使得电池B被充电以供使用。如果电池B是始终被完全充电并然后在电池B正以恒定电流被放电的同时使用直至完全放电点的特殊类型，则可以在电池不在使用中的同时不单独地实现SOH分析步骤，而是系统可以被配置为在电池在使用中的同时使用上述SOH分析方法。
另外，控制单元120可以选择性地包括处理器、专用集成电路(ASIC)、芯片组、逻辑电路、寄存器、通信调制解调器以及已知在本领域中用于执行本文公开的各种控制逻辑的数据处理装置。
附加地，当控制逻辑用软件加以实现时，控制单元120可以作为程序模块的集合而被实现。在这种情况下，程序模块可以被存储在存储器单元110中并由处理器执行。存储器单元110可以在处理器的内部或外部，并且可以通过各种众所周知的方式连接到处理器。
可以组合与如上所述的SOH分析方法的第一步骤(s1)至第五步骤(s5)相关联的控制逻辑中的至少一个，并且组合的控制逻辑可以被写入在计算机可读编码系统中并存储在计算机可读记录介质中。记录介质不限于特定类型并且包括可由包括在计算机中的处理器访问的任何类型。例如，记录介质可以包括从由ROM、RAM、寄存器、CD-ROM、磁带、硬盘、软盘和光学数据记录装置构成的组中选择的至少一种。附加地，编码系统可以被调制为载波信号并在特定时间点包括在通信载波中，并且可以在以分布式方式经由网络连接的计算机中存储和执行。附加地，可以通过与本公开有关的技术领域中的程序容易地推理用于实现组合控制逻辑的功能程序、代码和段。
根据本公开的SOH分析可以作为称作BMS的系统的一部分而被包括。附加地，BMS可以被安装在可通过从电池B供应的电能来操作的各种类型的电气装置中。
根据一个方面，电气装置可以是移动电话、诸如膝上型计算机和平板计算机的移动计算机装置，或包括数码相机、摄像机和音频/视频播放器的手持多媒体装置。
根据另一方面，电气装置可以是可通过电来移动的电动装置，诸如电动车辆、混合动力电动车辆、电动自行车、电动摩托车、电动机车、电动船和电动飞机，或包括电机的动力工具，诸如电钻和电动磨床。
根据再一个方面，电气装置可以是安装在电网中以存储可再生能源或冗余电力的大容量储能系统，或用于在诸如停电的紧急情形下向包括服务器计算机或移动通信装置的各种类型的信息通信装置供应电力的不间断电源系统。
现在，在下文中，将进一步基于以上配置参考图4更详细地描述根据本公开的电池再使用诊断设备和方法。
图4是示意性地示出根据本公开的实施例的电池再使用诊断设备的图。
电池再使用诊断设备300包括本公开的SOH分析设备100、电池支架200、显示装置220等。
EV和HEV已通过最近的研究和开发投入实际使用。如果用于此类车辆的电池被广泛地使用，则随着车辆被报废以及电池被更换，将产生大量使用过的电池。使用过的电池可能包括破损的、有缺陷的或失效的电池，但是还可能包括仍然可用的电池。特别地，可以将用于车辆的电池再使用作为用于可以在较温和条件下使用的ESS的电池。因此，处置使用过的电池当中的破损的或严重劣化的电池并且单独地对仍可用的电池进行分类以在其他目的中被再使用是经济和环境有吸引力的。
本公开的电池再使用诊断设备300可以用于适当地对使用过的电池进行分类。
例如，经受再使用诊断的电池B被放置在电池支架200中并且通过电路210连接到SOH分析设备100。在电池B正被以恒定电流放电的同时，电池B的电压被测量并发送到SOH分析设备100的存储器单元，并且电池B的表面温度被温度测量单元150测量并发送到SOH分析设备100的测量和记录单元，从而获得电池B的温度数据。
SOH分析设备100通过如上所述比较参考温度增加率和电池B的温度增加率来确定电池B的劣化程度。可以通过显示装置220来显示此时执行的SOH分析设备100的计算结果和确定结果。例如，可以显示上面参考图3所描述的温度分布或针对每个温度增加率从所存储的SOH值中读出的电池B的SOH值，使得用户可以容易地检查SOH值等。用户可以在显示装置220上看到结果并且确定是丢弃还是再使用电池B。
可以通过使用如上所述的电池再使用诊断设备或者通过使用如上所述的SOH分析方法来实现根据本公开的电池再使用诊断方法。
将进一步描述优选的电池再使用诊断方法。首先，在处于完全充电状态的参考电池正以恒定电流被放电的同时测量参考电池的根据DOD的表面温度，从而获得根据DOD的参考温度分布。这对应于图2的步骤s1。
接下来，在参考温度分布中计算斜率S1。这对应于图2的步骤s2。
随后，在完全充电状态下经受再使用诊断的电池正以恒定电流被放电的同时测量经受再使用诊断的电池的根据DOD的表面温度，从而获得经受再使用诊断的电池的根据DOD的温度分布。这对应于图2的步骤s3，并且还对应于图4的电池再使用诊断设备的使用。
接下来，在根据DOD的经受再使用诊断的电池的温度分布中计算斜率S2’。这对应于图2的步骤s4并且还对应于图4的电池再使用诊断设备的使用。
随后，比较斜率S1和斜率S2’以检查电池与参考电池相比的劣化程度并且以确定是否再使用电池。这对应于图2的步骤s5并且还对应于图4的电池再使用诊断设备的使用。
特别地，如上所述，通过实验，可以制备具有不同的劣化程度的若干样品电池，并且可以在处于完全充电状态的每个样品电池正处于恒定电流下的同时获得每个样品电池的根据DOD的表面温度，从而获取每个样品电池的根据DOD的温度分布。在这里，可以从每个样品电池的根据DOD的温度分布计算斜率S2，然后可以累积并记录劣化程度与斜率S2之间的关联数据。在这种情况下，可以得到并使用与经受诊断的电池的斜率S2’相对应的劣化程度来诊断经受再使用诊断的电池的劣化程度。例如，如果决定要仅再使用具有大于70％的SOH且小于80％SOH的电池，则当经受再使用诊断的电池被分析为具有75％的SOH时，该电池将被分类为可再使用的电池，然后对电池进行后续措施以供下次使用。然而，如果经受再使用诊断的电池被分析为具有60％的SOH，则该电池被分类为废电池并且对电池进行后续措施。以这种方式利用根据本公开的电池再使用诊断方法。
在描述本公开的各种实施例时，通过“～单元”所标明的部件应该被理解为在功能上而不是在物理上分类的元件。因此，每个部件可以与其他部件选择性地组合，或者可以被划分成子部件以便于(一个或多个)控制逻辑的高效执行。然而，对于本领域的技术人员而言显然的是，即使部件被组合或者划分，如果可确认功能的相同性，则组合或划分的部件也应该被解释为在本公开的范围内。
已经详细地描述了本公开。然而，应该理解的是，详细说明和具体示例虽然指示本公开的优选的实施例，但是仅通过说明的方式来给出，因为根据此详细说明，在本公开的范围内的各种变化和修改对于本领域的技术人员而言将变得显而易见。

Claims (10)

1.一种健康状态(SOH)分析设备，包括：
存储器单元，所述存储器单元被配置成存储参考电池的根据放电深度(DOD)的参考温度数据，或由此计算的具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率(K1)；以及
控制单元，
其中，所述控制单元包括：
测量和记录单元，所述测量和记录单元被配置成：在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的温度数据，并且将所测量的温度数据存储在所述存储器单元中；
计算单元，所述计算单元被配置成：从由所述测量和记录单元获得的所述根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的所述放电后半部的温度增加率(K2)；以及
确定单元，所述确定单元被配置成：通过比较所述参考温度增加率(K1)和所述温度增加率(K2)来确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度。
2.一种SOH分析方法，包括：
(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正被放电的同时测量所述参考电池的根据DOD的温度来获得根据DOD的参考温度数据；
(b)从所述根据DOD的参考温度数据计算具有50％以上的DOD的放电后半部的参考温度增加率(K1)；
(c)通过在处于完全充电状态的电池正被放电的同时测量根据DOD的电池温度来获得根据DOD的温度数据；
(d)从所述根据DOD的温度数据计算具有50％以上的DOD的所述放电后半部的温度增加率(K2)；以及
(e)通过比较所述参考温度增加率(K1)和所述温度增加率(K2)来确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度。
3.根据权利要求2所述的SOH分析方法，
其中，所述步骤(a)和(c)中的所述放电是恒定电流(CC)放电，并且所述温度是电池表面温度。
4.根据权利要求2所述的SOH分析方法，
其中，在所述步骤(b)和(d)中，所述温度增加率是通过以下步骤来计算的：
通过标绘根据DOD的温度数据来制备温度分布；以及
在所述温度分布中得到起始第二拐点之后获得DOD后半部的曲线切线斜率。
5.根据权利要求2所述的SOH分析方法，
其中，随着所述温度增加率(K2)更大，所述电池被确定为具有更大的劣化程度。
6.一种电池管理系统，所述电池管理系统包括根据权利要求1所述的SOH分析设备。
7.一种计算机可读记录介质，在其上编程并记录有根据权利要求2至5中的任何一项所述的SOH分析方法。
8.一种电池再使用诊断设备，包括：
根据权利要求1所述的SOH分析设备；
电池支架；以及
显示装置，所述显示装置被配置成显示所述SOH分析设备的计算结果或确定结果。
9.一种电池再使用诊断方法，包括：
(a)通过在处于完全充电状态的参考电池正以恒定电流被放电的同时测量所述参考电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的参考温度分布；
(b)在所述参考温度分布中计算斜率S1；
(c)通过在处于完全充电状态的经受再使用诊断的电池正以恒定电流被放电的同时测量经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的表面温度，获得经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的温度分布；
(d)在经受再使用诊断的所述电池的根据DOD的温度分布中计算斜率S2’；以及
(e)通过比较所述斜率S1和所述斜率S2’确定所述电池与所述参考电池相比的劣化程度，来确定是否再使用所述电池。
10.根据权利要求9所述的电池再使用诊断方法，在所述步骤(b)与所述步骤(c)之间，还包括：
(b-1)通过在处于完全充电状态的样品电池正以恒定电流被放电的同时获取所述样品电池的根据DOD的表面温度来获得根据DOD的样品温度分布；
(b-2)在所述根据DOD的样品温度分布中计算斜率S2；
(b-3)当所述斜率S2大于所述斜率S1时确定所述样品电池与所述参考电池相比较劣化，并且记录劣化程度与所述斜率S2之间的关联数据；以及
(b-4)对其他样品电池重复所述步骤(b-1)至(b-3)以累积劣化程度与所述斜率S2之间的关联数据，
其中，在所述步骤(e)中，通过根据劣化程度与所述斜率S2之间的所述关联数据得到与所述斜率S2’相对应的劣化程度而诊断经受再使用诊断的所述电池的劣化程度，来确定是否再使用所述电池。
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