CN110794289B - 主板的边界扫描和功能测试方法及装置 - Google Patents

主板的边界扫描和功能测试方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，应用于机台，所述方法包括以下步骤：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。本发明的一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，用于将边界扫描测试与功能测试结合到一个机台，方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。

Description

主板的边界扫描和功能测试方法及装置
技术领域
本发明涉及主板测试技术领域，特别是涉及一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置。
背景技术
在传统服务器/桌面机/工作站往往对于主板的测试分为边界扫描测试(BSI)和功能测试(FCT)，往往分别对主板进行边界扫描测试(BSI：Boundary Scan Inspect(边界扫描(Boundary Scan)测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。边界扫描测试有两大优点：一个是方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；另一个是，具有JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。))和功能测试(FCT：Functional Circuit Test，功能测试依据控制模式的不同，可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试、全自动控制功能测试。最早的功能测试，主要以手动和半自动方式为主。对于一些简单的被测板的功能测试，基于简化设计和减少制作成本考虑，我们有时还是会采用手动或者半自动的测试方案。随着科技的发展，为了节约生产成本，现在的功能测试绝大多数都是使用全自动的方案。另一种更普遍的分类是依据功能测试的控制器类型来分。在功能测试中，我们通常用的控制方式有MCU控制方式、嵌入式CPU控制方式、PC控制方式、PLC控制方式等。)
然而进行边界扫描测试需要制作专业的自动测试机台，价格不菲。
进行功能测试的功能测试FCT站仍然存在，同样也需要价格不菲的自动测试机台。但是这2个自动机台功能有重合之处，目前各自单独存在的方式使机台成本增加。且分别进行边界扫描测试和功能测试需要分别到扫描测试机台和功能测试机台进行测试，额外浪费了时间和人力。
因此，希望能够解决如何同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，如何加快测试速度，如何减少机台数量的问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，用于解决现有技术中如何同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，如何加快测试速度，如何减少机台数量的问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种主板的边界扫描和功能测试方法，包括以下步骤：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。
于本发明的一实施例中，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。
于本发明的一实施例中，还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡用于连接需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具；所述上位机基于所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试。
于本发明的一实施例中，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具连接；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。
于本发明的一实施例中，还包括与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试。
为实现上述目的，本发明还提供一种主板的边界扫描和功能测试装置，应用于机台，包括上位机、硬盘、边界扫描测试治具和功能测试治具；所述边界扫描测试治具与主板连接，所述功能测试治具与所述主板连接，所述硬盘与所述主板连接，所述上位机与所述主板通信连接；所述上位机通过所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；所述功能测试治具通过安装在所述硬盘的功能测试系统对所述主板进行功能测试。
于本发明的一实施例中，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。
于本发明的一实施例中，还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡用于连接需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具；所述上位机基于所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试。
于本发明的一实施例中，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具连接；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。
于本发明的一实施例中，还包括与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试。
如上所述，本发明的一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，具有以下有益效果：方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。
附图说明
图1显示为本发明的主板的边界扫描和功能测试方法于一实施例中的流程图；
图2a显示为本发明的主板的边界扫描和功能测试装置于一实施例中的结构示意图；
图2b显示为本发明的主板的边界扫描和功能测试装置于又一实施例中的结构示意图。
元件标号说明
21 主板
22 硬盘
23 边界扫描测试治具
24 功能测试治具
25 上位机
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，故图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
本发明的主板的边界扫描和功能测试方法及装置，方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。
如图1所示，于一实施例中，本发明的主板的边界扫描和功能测试方法，包括以下步骤：
步骤S11、将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接。
具体地，将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘(Real HDD)与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接，所述主板、所述功能测试治具、所述边界扫描测试治具都位于同一个机台，这样可以同时在一个机台进行边界扫描测试和功能测试，由原来的在一个机台进行边界扫描测试，在另一个机台进行功能测试合并为同时在一个机台进行边界扫描测试和功能测试。这样在边界扫描测试和功能测试的覆盖率不便的前提下，减少了机台的数量，节约了主板进机台，再出机台的次数。由于进出机台次数的减少、在完成边界扫描测试和功能测试的同时，也节约了测试的时间，减少人力成本，减少机台占用的空间，操作人员数量和机台维护成本也相应减少。原来分别进行边界扫描测试和功能测试，分别需要两次测试治具的安装以及进机台、出机台，而这些也是测试的风险所在，而将边界扫描测试和功能测试在同一机台上完成，减少一次机台占用和测试治具的安装拆除，减少了50％这方面的影响风险，增加了测试的通过率。
步骤S12、通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试。
具体地，所述上位机是指负责机台控制、执行所述主板进行边界扫描测试的机器。所述上位机可以是直接对所述主板发出操控命令的计算机。
具体地，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。具体地，所述硬盘、边界扫描测试治具、功能测试治具通过拔插等方式连接，但并不是被所述主板所包括。但所述主板包括：中央处理器(CPU)和平台控制器(PCH：Platform Controller Hub)。所述主板扩展插槽边界扫描测试治具(PCIE BSI)与所述中央处理器连接，所述主板扩展插槽边界扫描测试治具即为对主板扩展插槽进行边界扫描测试的治具；所述主板扩展插槽边界扫描测试治具通过与所述中央处理器连接对所述主板的主板扩展插槽进行边界扫描测试。所述USB边界扫描测试治具(USB PSI)即为用于对主板的USB进行边界扫描测试的治具；所述USB边界扫描测试治具通过与所述平台控制器连接对所述主板的USB进行边界扫描测试。所述串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具即为对主板的串行硬件驱动器接口进行边界扫描测试的治具；所述串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具(SATA BSI：Serial Advanced TechnologyAttachment BSI)与所述平台控制器连接对所述主板的串行硬件驱动器接口进行边界扫描测试。双列直插式存储模块边界扫描测试治具即为对所述主板的双列直插式存储模块进行边界扫描测试的治具；所述双列直插式存储模块边界扫描测试治具(DIMM BSI：Dual-Inline-Memory-Modules BSI)与所述中央处理器连接对所述主板的双列直插式存储模块进行边界扫描测试。
具体地，还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡(PCIE RISER)用于连接需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具；所述上位机基于所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试。即所述主板扩展插槽边界扫描测试治具需要通过转接卡与所述主板的中央处理器连接，从而对所述主板的主板扩展插槽进行边界扫描测试。
步骤S13、通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。
具体地，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具(Led Sensor)、电池功能测试治具(Arduino)和显示接口功能测试治具(VGA Board：Video Graphics ArrayBoard)连接；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。所述电池功能测试是指所述主板的CMOS电池电压的功能测试。所述LED功能测试是指测试主板Led功能；所述电池功能测试是指所述主板的CMOS电池电压的功能测试；所述显示接口功能测试是指所述主板的显示接口的功能测试。
具体地，所述平台控制器还通过USB接口与键盘(Key Board)和USB接口的网卡连接，用于对所述主板进行键盘功能测试和网络功能测试。
具体地，还包括与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试。例如直接与主板连接的风扇功能治具用于对所述主板进行风扇功能测试。
具体地，所述功能测试的相应测试系统需要安装在与所述平台控制器连接的硬盘中。
具体地，进行主板的边界扫描和功能测试方法如下：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；将所述边界扫描测试治具、所述主板、所述功能测试治具和所述硬盘放置于机台；所述上位机还用于控制机台。通过所述上位机读取所述主板的序列号为SN码(是SerialNumber的缩写，有时也叫SerialNo，也就是产品序列号)基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；并将所述边界扫描测试的测试结果存储于预设的管理系统，例如制造企业生产过程执行系统(MES)。通过从所述上位机获取所述主板的序列号为SN码，通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试，将所述功能测试结果存储于预设的管理系统。并发送已经完成功能测试的信息至所述上位机，从而使所述上位机控制机台停止测试。所述主板与所述上位机通过串口通讯沟通，用以传递所述主板SN及通知所述上位机边界扫描测试和功能测试的完成。
如图2a所示，于一实施例中，本发明的主板21的边界扫描和功能测试装置，包括上位机25、硬盘22、边界扫描测试治具23和功能测试治具24；所述边界扫描测试治具23与主板21连接，所述功能测试治具24与所述主板21连接，所述硬盘22与所述主板21连接，所述上位机25与所述主板21通信连接；所述上位机25通过所述边界扫描测试治具23对所述主板21进行边界扫描测试；所述功能测试治具24通过安装在所述硬盘22的功能测试系统对所述主板21进行功能测试。
具体地，所述主板21包括：中央处理器和平台控制器；主板21扩展插槽边界扫描测试治具23与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具23与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具23与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具23与所述中央处理器连接；所述上位机25基于所述主板21扩展插槽边界扫描测试治具23、USB边界扫描测试治具23、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具23和双列直插式存储模块边界扫描测试治具23分别对所述主板21进行主板21扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。
具体地，还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡用于连接需要转接的主板21扩展插槽边界扫描测试治具23；所述上位机25基于所述需要转接的主板21扩展插槽边界扫描测试治具23对所述主板21进行主板21扩展插槽边界扫描测试。
具体地，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具24、电池功能测试治具24和显示接口功能测试治具24连接；通过安装在所述硬盘22的功能测试系统基于所述LED功能测试治具24、电池功能测试治具24和显示接口功能测试治具24分别对所述主板21进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。
具体地，还包括与主板21直接连接的功能测试治具24对所述主板21进行功能测试。
具体地，所述主板21、硬盘22、边界扫描测试治具23和功能测试治具24全部设置于同一个机台，在同一个机台完成边界扫描测试和功能测试。
如图2b所示，于一实施例中，本发明的主板的边界扫描和功能测试装置，包括：
具体地，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。具体地，所述硬盘(Real HDD)、边界扫描测试治具、功能测试治具通过拔插等方式连接，但并不是被所述主板所包括。但所述主板包括：中央处理器(CPU)和平台控制器(PCH：Platform Controller Hub)。所述主板扩展插槽边界扫描测试治具(PCIE BSI)与所述中央处理器连接，所述主板扩展插槽边界扫描测试治具即为对主板扩展插槽进行边界扫描测试的治具；所述主板扩展插槽边界扫描测试治具通过与所述中央处理器连接对所述主板的主板扩展插槽进行边界扫描测试。所述USB边界扫描测试治具(USB PSI)即为用于对主板的USB进行边界扫描测试的治具；所述USB边界扫描测试治具通过与所述平台控制器连接对所述主板的USB进行边界扫描测试。所述串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具即为对主板的串行硬件驱动器接口进行边界扫描测试的治具；所述串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具(SATA BSI：Serial AdvancedTechnology Attachment BSI)与所述平台控制器连接对所述主板的串行硬件驱动器接口进行边界扫描测试。双列直插式存储模块边界扫描测试治具即为对所述主板的双列直插式存储模块进行边界扫描测试的治具；所述双列直插式存储模块边界扫描测试治具(DIMMBSI：Dual-Inline-Memory-Modules BSI)与所述中央处理器连接对所述主板的双列直插式存储模块进行边界扫描测试。具体地，还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡(PCIE RISER)用于连接需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具；所述上位机基于所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试。即所述主板扩展插槽边界扫描测试治具需要通过转接卡与所述主板的中央处理器连接，从而对所述主板的主板扩展插槽进行边界扫描测试。具体地，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具(Led Sensor)、电池功能测试治具(Arduino)和显示接口功能测试治具(VGA Board：Video Graphics Array Board)连接；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。所述电池功能测试是指所述主板的CMOS电池电压的功能测试。所述LED功能测试是指测试主板Led功能；所述电池功能测试是指所述主板的CMOS电池电压的功能测试；所述显示接口功能测试是指所述主板的显示接口的功能测试。具体地，所述平台控制器还通过USB接口与键盘(Key Board)和USB接口的网卡连接，用于对所述主板进行键盘功能测试和网络功能测试。具体地，还包括与主板直接连接的功能测试治具(FCT治具)对所述主板进行功能测试。例如直接与主板连接的风扇(FAN)功能治具用于对所述主板进行风扇功能测试。
需要说明的是，上位机25、主板21、硬盘22、边界扫描测试治具23和功能测试治具24的结构和原理与上述主板的边界扫描和功能测试方法中的步骤一一对应，故在此不再赘述。
综上所述，本发明主板的边界扫描和功能测试方法及装置，方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (2)

1.一种主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于，应用于机台，包括以下步骤：
将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；其中，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；
通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试，包括：所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试；以及，所述上位机基于需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试，所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试冶具通过转接卡相连，且所述转接卡与所述中央处理器连接；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试，包括：通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试，以及通过与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试；其中，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具连接。
2.一种主板的边界扫描和功能测试装置，其特征在于，应用于机台，包括上位机、硬盘、边界扫描测试治具和功能测试治具；
所述边界扫描测试治具与主板连接，所述功能测试治具与所述主板连接，所述硬盘与所述主板连接，所述上位机与所述主板通信连接；其中，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；
所述上位机通过所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试，包括：所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试；以及，所述上位机基于需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试，所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试冶具通过转接卡相连，且所述转接卡与所述中央处理器连接；
所述功能测试治具通过安装在所述硬盘的功能测试系统对所述主板进行功能测试，包括：通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试，以及通过与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试；其中，所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具连接。
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