CN101210952A - 多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法 - Google Patents

Abstract

一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，该方法是分别针对不同的测试产品，将其测试程序、测试产品信息及设备参数设定等繁琐步骤，制成各自对应该测试产品的映像文件，以便由测试机台管理所述映像档；产品测试前只需将各待测试机板上的识别码输入测试机台，即可开始一连串的自动测试程序；根据该方法将可大大减少产品测试前所需的繁琐设定，从而更进一步确保测试的正确性与完整性，大幅度提高管理的效能与产品测试的效率。

Description

多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法 技术领域-本发明涉及一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，尤其 涉及一种无需安装硬盘、光驱或软驱，各测试基座即可自远程开机从而 进行自动测试的方法。背景技术：集成电路(ic)组件已经成为几乎所有电子设备中不可或缺的核心，因此IC的可靠度也无疑成为决定电子设备可靠度的极重要环节。目前用来测试IC的自动化测试机台，大致可分为由测试基座提供仿 真信号，撷取各输出引脚输出信号的模拟测试；以及提供实际主机板与 周边，空出待测IC位置，将待测IC置入实际使用环境中运行的实境测试。 模拟测试虽然能具体获得待测IC完整的电气特性，但需针对每一不 同IC，分别编写出对应的测试软件，设计提供仿真信号的硬件架构，不 仅需耗费大量资源除错才能实际使用，而且当待测IC更新设计时，还需 耐心等待测试软件与硬件臻于完善。所以建立测试环境的成本相当高， 且无法立即跟随新产品问世而对应推出测试设备，通常会滞后一段时间。 实境测试恰恰相反，由于并不是以获得待测IC的完整电气特性为目 的，因此无需获得完备的数据，而是在完全符合使用环境的测试环境中， 单独留下待测IC的空位，让受测IC填补受测位置，并以实际机台按照其 使用状态进行测试，虽然每次测试所需花费时间稍长，但可轻易获得该 待测IC在实际使用环境下的反应状态，并得知该待测IC是否可供实际装 机。 若待测的IC为中央处理器，上述实境测试的测试电路板即为主机板， 若所测IC为显示卡用的IC，即可以显示卡作为测试电路板。同理，根据 实际需要也可采用网卡、PDA或手机的主板等作为测试电路板，这些产品 皆为市面上常见产品，因此实境测试的环境营造没有任何困难。如图1所示，以例如一中央控制模块10控制六组测试基座11为例，各 测试基座分别包括一主机板110、 一硬盘、 一网卡，测试程序储存于硬盘 中，中央控制模块10与各基座11间的信号则经由网卡传输至主机板110, 以控制各测试基座ll，并获得来自各测试基座ll的测试结果，据以判断 受测IC是否符合标准。这种测试方法存在的缺点是：一方面，每次启动生产线时，操作人员均需由中央控制模块10设定 各测试基座ll的状态参数，更换生产线也得如此，这样分别设定各设备 的参数、更新硬盘内容，无疑造成管理上的困难，还使测试效率难以提 高。另一方面，在频繁测试的开关机流程后，各测试基座ll的硬盘易于 出现问题甚至损坏，无论是操作人员顺手将两测试基座的硬盘对调，还 是更新损坏的硬盘，都需要更新硬盘内容，稍有不慎，将造成测试程序 与被测产品不一致或不对应的状况，影响更新后的测试结果的正确性。若不慎将合格产品误测为不合格产品，损失的仅仅是一颗IC;反之，若 误将不合格IC测为合格，安装于实际使用环境，无疑将损及电子设备整 体的可靠性，不仅给后续的使用者造成诸多困扰，而且还会损害电子设 备制造商的信誉并给其带来不必要的经济损失。况且如上述，由于工厂中生产线众多，在单一产品测试完毕后，也 可能更换生产线上的测试产品；每次更换，操作人员又需逐一设定更改 每一测试基座数据， 一旦遗漏，也会造成上述不对应的问题。此外，由 于每位操作人员需同时关注多个（而不是一个）测试机台，更使得发生 问题的机率以等比级数倍增。

若能自动化设定并测试，不仅可降低测试成本、提高测试精度和效 率，还能有效增加测试机台的市场接受度，也增加使用此种机台的经济 效益。发明内容：因此，本发明要解决的技术问题之一是，提供一种降低测试成本的 多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法。本发明要解决的另一技术问题是，提供一种大幅度减少人为处理疏 漏、同时也降低人力成本的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法。本发明要解决的再一技术问题是，提供一种测试精度与效率大大提 高的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法。按照本发明提供的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其 可供对应多个测试电路板，所述多个测试电路板分别对应数量少于测试 电路板数量的多个测试流程，且该测试机台具有多个测试基座及一控制 装置，每一所述测试基座分别供置放一测试电路板，各所述测试电路板 分别具有一识别码；该方法包括下列步骤：在所述控制装置中建立各所 述测试电路板与其测试流程的对应关系数据库及对应各所述测试流程的 映像文件；输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置； 由所述控制装置根据各所述测试基座上的测试电路板对应的所述测试流 程，提供对应所述测试流程的映像文件供各对应的所述测试基座执行。按照本发明提供的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法还具 有如下附属技术特征：在本发明给出的一种优选实施例中，所述识别码是一条形码。输入 各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置的输入方式是由扫 瞄器读取条形码。在本发明给出的另 一种优选实施例中，所述识别码是网卡的内码。 输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置的输入方式是

在开机时自动读取。本发明相比现有技术具有如下优点：由于藉由测试机台统一控制各 测试基座并按照各测试电路板的识别码下载映像文件至各测试电路板， 以供执行一系列的自动测试程序，不仅大幅度降低测试成本，而且减少 人为操作疏漏而产生的风险和损失，大大提高了检测精度与效率。 附图说明：图1是中央控制模块控制六组测试基座的立体示意图；图2是本发明多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法优选实施 例的实体架构示意图；图3是本发明多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法优选实施 例的流程图；图4是测试电路板内码读取方框示意图。【主要组件符号说明】10…中央控制模块11、 21〜26…测试基座110、 210〜260…测试电路板20…控制装置201…条形码扫描仪261…条形码27…内部局域网络31〜35…步骤具体实施方式：有关本发明的前述及其它技术内容、特点与功效，在以下配合附图 给出的优选实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。参见图2，作为本发明多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法的 一种优选实施例，该测试机台包括一控制装置20、 一条形码读取装置201、六个测试基座21〜26、以及六片分别设置于各测试基座21〜26上的测试 电路板210〜260、每一测试电路板均具有一识别码；其中，控制装置20 经由内部局域网27连接位于测试基座21〜26上的测试电路板210〜260， 而控制装置20上还设置有一识别码获得装置。如图3所示，在测试机台实际开始运转之前，首先于机台建制步骤31， 在所述控制装置20中建立所有可能上线的测试电路板与有关测试流程的 对应关系数据库和对应各所述测试流程的映像文件。例如在此生产线上， 共可能进行对笔记本电脑的中央处理器、显卡芯片和手机芯片三种产品 进行测试，且针对每一待测产品，各有一百片测试电路板可供测试使用； 此时，就需要在机台的控制装置20中，建立共三百片测试电路板的编号、 三种不同测试流程的映像文件、及每一片测试电路板所对应的映像文件 关联数据。换言之，机台的控制装置20可以在辨识出哪一片测试电路板 被置放于基座后，立即得知所应取出的映像档，这样无论进行何种测试 程序，均可免除繁杂的设定，只需下载相对应的映像档，即可开始测试。 真正开机前，则于设定步骤32输入各测试电路板识别码至所述控制 装置中；在本优选实施例中，所述识别码是例如设置在测试电路板260上 的一条形码261，而控制装置20也连接有一条形码扫描仪201，以供读取 各条形码内容，再将读取的结果送至控制装置20，使控制装置20清楚辨 别所搭配的六组测试电路板210〜260各自的状况与需求。步骤33启动时，控制装置20分别记忆所有六组识别码，并分别分配 一IP地址给每一测试电路板210〜260;于步骤34，控制装置20根据各识 别码将相对应的映像档下载至各测试机板210〜260;例如测试电路板 210〜230为测试笔记本电脑的中央处理器而对应至第一映像文件，控制 装置20即将第一映像文件下载至测试电路板210〜230，而测试电路板 240〜260则用以测试手机芯片、并对应第三映像文件，控制装置20则将 第三映像文件下载至测试电路板240〜260。

最后于步骤35,测试电路板按照其对应的所述映像文件执行一系列 的测试程序；由于所有测试程序、测试产品信息及设备参数设定等繁琐 步骤均已制成对应的映像档，因此开始测试时不需另行调整设定，而且 因为各所述映像档在测试时才需下载，因此测试电路板也无需硬盘存放 测试程序及设置。此外，当在同一测试机台上的不同测试基座进行各自 不同的测试程序，各所述测试电路板即可以根据各其对应的所述映像档 设定成无碟开机以进行自动测试程序。当然，如图4所示，测试电路板210〜260所附的识别码也可以是测试 电路板210〜260上网卡的内码，当测试机台开机后，控制装置20经由内 部局域网络27分别读取各所述测试电路板210〜260上网卡的内码，控制 装置20再根据各内码相对应的各映像档下载至各所述测试电路板210〜 260上以进行自动测试程序。按照上述方法，将测试机台的测试程序自动化，这样的确能降低测 试成本和设备成本，同时简化管理机制，不仅降低人力成本，而且还大 大减少人为处理疏漏，从而进一步提高测试的精度与效率，因此藉由本 发明完全能解决本发明所欲解决的技术问题，达到本发明的技术效果。上述优选实施例仅供说明本发明之用，而并非对本发明的限制。本 领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内指引下，还可做 出各种变形和变换，因此所有等同技术方案皆属于本发明的保护范围。

Claims (5)

1. 一种多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其可供对应多个测试电路板，所述多个测试电路板为分别对应数量少于测试电路板数量的多个测试流程，且该测试机台具有多个测试基座及一控制装置，各所述测试基座分别供置放一所述测试电路板，各所述测试电路板分别具有一识别码；该方法包括下列步骤： 在所述控制装置中建立各所述测试电路板与所述测试流程的对应关系数据库及对应各所述测试流程的映像文件； 输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述控制装置； 由所述控制装置根据各所述测试基座中的测试电路板对应的所述测试流程，提供对应所述测试流程的映像文件供各对应的所述测试基座执行。

2. 根据权利要求l所述的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法， 其特征在于：所述识别码为一条形码。

3. 根据权利要求1或2所述的多测试埤半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述 控制装置的输入方式是由扫瞄器读取条形码。

4. 根据权利要求l所述的多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：所述识别码为网卡的内码。

5. 根据权利要求1或4所述多测试埠半导体测试机台的自动化设定方法，其特征在于：输入各所述测试基座上测试电路板识别码至所述 控制装置的输入方式是在开机时自动读取。