CN110780476A - 显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法。显示面板对组设备用于对组阵列基板和彩膜基板，其包括密封腔体、至少一激光传感器以及数据处理器。所述激光传感器可移动地设置于所述彩膜基板远离所述阵列基板的一侧；所述激光传感器包括发射端和检测端；所述数据处理器与所述激光传感器连接；当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，通过移动所述激光传感器进行对位检测，所述发射端发出光线，当所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，当所述检测端未感应到光线时判断对位准确。本发明避免了十字标记在对组前就已经偏移的情况下导致的对位偏移问题。

Description

显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法

技术领域

本发明涉及微电子加工设备技术领域，尤其涉及一种显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法。

背景技术

在液晶面板制作过程中，阵列基板和彩膜基板的对组可能会存在阵列基板的金属走线与彩膜基板的黑色矩阵对位偏移的情况，这种偏移会造成开口率下降、漏光等问题。

传统检测对位状况的技术是在对组过程中监测阵列基板和彩膜基板边缘十字标记的对准情况来判断对组是否正确，但这种方式并不适用十字标记在对组前就已经偏移的情况。

因此，有必要提供一种新的阵列基板、显示面板及阵列基板的制作方法，以克服现有技术中存在的问题。

发明内容

鉴于上述技术问题，本发明提供了一种显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法，当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，通过增加激光传感器进行对位检测，避免了十字标记在对组前就已经偏移的情况下导致的对位偏移问题。

为了解决上述问题，本发明提供一种显示面板对组设备，包括密封腔体、至少一激光传感器以及数据处理器。在所述密封腔体内阵列基板的金属走线与彩膜基板的黑色矩阵进行对位，所述金属走线的分布区域小于等于所述黑色矩阵的分布区域；所述激光传感器可移动地设置于所述密封腔体内且位于所述彩膜基板远离所述阵列基板的一侧；所述激光传感器朝向所述彩膜基板的一侧同时包括发射端和检测端；所述激光传感器的中心轴与所述阵列基板或所述彩膜基板所在平面垂直设置；所述数据处理器与所述激光传感器连接；当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，通过移动所述激光传感器进行对位检测，所述发射端发出光线，当所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时，所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，当所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时，所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位准确。

进一步地，所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度。

进一步地，所述数据处理器包括对位控制单元、对位检测单元、对位判断单元；所述对位控制单元用于在所述密封腔体内控制所述阵列基板的金属走线和所述彩膜基板的黑色矩阵进行对位；所述对位检测单元与所述激光传感器连接，用于在所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，控制所述激光传感器移动，并控制所述发射端发出光线同时识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线；所述对位判断单元与所述对位检测单元连接，用于在所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，在所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位正确。

进一步地，所述对位检测单元包括移动控制单元、信号发射单元、信号读取单元；所述移动控制单元，用于控制所述激光传感器移动；所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述移动控制单元控制所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度；所述信号发射单元与所述发射端连接，用于控制所述发射端发出光线；所述信号读取单元与所述检测端连接，用于读取所述检测端的信号，识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线。

进一步地，所述显示面板对组设备，还包括报警器，所述报警器与所述数据处理器连接，当所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制所述报警器进行报警。

进一步地，所述显示面板对组设备还包括搬运装置，所述搬运装置用于将对位偏移的述阵列基板和所述彩膜基板移出生产线。

本发明还提供一种显示面板对位检测方法，包括以下步骤：

显示面板对组设备设置步骤，设置一显示面板对组设备，包括密封腔体、至少一激光传感器以及数据处理器；在所述密封腔体内阵列基板的金属走线与彩膜基板的黑色矩阵进行对位，所述阵列基板的金属走线的分布区域小于等于与所述彩膜基板的黑色矩阵的分布区域；所述激光传感器可移动地设置于所述密封腔体内且位于所述彩膜基板远离所述阵列基板的一侧；所述激光传感器朝向所述彩膜基板的一侧同时包括发射端和检测端；所述激光传感器的中心轴与所述阵列基板或所述彩膜基板所在平面垂直设置；所述数据处理器连接至所述激光传感器；

对位步骤，在所述密封腔体内对所述阵列基板的金属走线和所述彩膜基板的黑色矩阵进行对位；

对位检测步骤，当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，所述数据处理器控制所述激光传感器移动，并控制所述发射端发出光线同时识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线；以及

对位判断步骤，当所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，当所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位正确。

进一步地，所述对位检测步骤包括：

移动控制步骤，所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述数据处理器控制所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度；

信号发射步骤，所述数据处理器控制所述发射端发出光线；以及

信号读取步骤，所述数据处理器读取所述检测端的信号，识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线。

进一步地，在所述对位判断步骤之后还包括报警步骤，当所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制报警器进行报警。

进一步地，在所述对位判断步骤之后还包括不良品搬运步骤，当述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制搬运装置将对位偏移的述阵列基板和所述彩膜基板移出生产线。

本发明的有益效果在于，提供一种显示面板对组设备以及显示面板对位检测方法，当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，通过增加激光传感器进行对位检测，利用金属走线反射光线的特征，当所述激光传感器的检测端感应到所述金属走线反射的光线时判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，从而能够避免十字标记在对组前就已经偏移的情况下导致的对位偏移问题，提高了所述阵列基板和所述彩膜基板的对组合格率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中一种显示面板对组设备的整体结构示意图；

图2为本发明实施例中所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移的俯视图；

图3为本发明实施例中所述显示面板对组设备的部分结构俯视图；

图4为本发明实施例中所述数据处理器的结构示意图；

图5为本发明实施例中一种显示面板对位检测方法的流程图；

图6为图5中所述对位检测步骤的流程图。

图中部件标识如下：

1、密封腔体，2、激光传感器，3、数据处理器，4、阵列基板，

5、彩膜基板，6、移动支架，7、报警器，

21、发射端，22、检测端，23、中心轴，

31、对位控制单元，32、对位检测单元，33、对位判断单元，

321、移动控制单元，322、信号发射单元，323、信号读取单元，

40、显示区，41、像素单元，42、金属走线，43、长边方向，44、宽边方向，

45、对角线方向，51、黑色矩阵，61、第一检测支架，62、第二检测支架，

100、显示面板对组设备。

具体实施方式

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本实施例提供一种显示面板对组设备100，用于对组阵列基板4和彩膜基板5，其包括一密封腔体1、至少一激光传感器2以及数据处理器3。

所述阵列基板4和所述彩膜基板5均呈矩形设置，且两者的形状尺寸相同或相应；在所述阵列基板4上设有显示区40，所述显示区40内设有阵列排布的像素单元41，环绕所述像素单元41设有金属走线42；在所述彩膜基板5上设有黑色矩阵51。所述密封腔体1为真空环境，在所述密封腔体1内所述阵列基板4的金属走线42与所述彩膜基板5的黑色矩阵51进行对位，所述金属走线42的分布区域小于等于所述黑色矩阵51的分布区域，当所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位准确时，所述黑色矩阵51完全遮挡所述金属走线42。更具体的，所述像素单元41包括红色子像素、蓝色子像素和绿色子像素。

所述激光传感器2可移动地设置于所述密封腔体1内且位于所述彩膜基板5远离所述阵列基板4的一侧；所述激光传感器2朝向所述彩膜基板5的一侧同时包括发射端21和检测端22；所述激光传感器2的中心轴23与所述阵列基板4或所述彩膜基板5所在平面垂直设置；所述数据处理器3与所述激光传感器2连接；当所述阵列基板4的金属走线42与所述彩膜基板5的黑色矩阵51对位后，通过移动所述激光传感器2进行对位检测，所述发射端21发出光线，当所述检测端22感应到所述金属走线42反射的光线时，所述数据处理器3判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移；当所述检测端22未感应到所述金属走线42反射的光线时，即所述黑色矩阵51完全遮挡所述金属走线42时，所述数据处理器3判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位准确。

如图2所示，为所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移的俯视图，在所述黑色矩阵51的一侧未能遮挡所述金属走线42，此时所述金属走线42能够反射光线。

本实施例中，所述激光传感器2沿平行于所述阵列基板4的长边方向43或宽边方向44或对角线方向45移动，且所述激光传感器2的移动距离大于一个像素单元41的长边或宽边或对角线的长度。这样能够使得所述激光传感器2移动足够的距离进行对位检测。

如图1、图3所示，为方便所述激光传感器2可移动，优选地，所述显示面板对组设备100还包括移动支架6，设置在所述密封腔体1内，所述移动支架6包括第一检测支架61和/或第二检测支架62，所述第一检测支架61与所述阵列基板4的长边平行设置，所述多个所述激光传感器2成一排安装至所述第一检测支架61；所述第一检测支架61沿平行于所述阵列基板4的宽边方向44移动，且所述第一检测支架61的移动距离大于一个像素单元41的长边的长度；所述第二检测支架62与所述阵列基板4的宽边平行设置，所述多个所述激光传感器2成一排安装至所述第二检测支架62；所述第二检测支架62沿平行于所述阵列基板4的长边方向43移动，且所述第二检测支架62的移动距离大于一个像素单元41的宽边的长度。这样能够使得所述激光传感器2移动足够的距离进行对位检测。

如图4所示，本实施例中，所述数据处理器3包括对位控制单元31、对位检测单元32以及对位判断单元33；所述对位控制单元31用于在所述密封腔体1内控制所述阵列基板4的金属走线42和所述彩膜基板5的黑色矩阵51进行对位；所述对位检测单元32与所述激光传感器2连接，用于在所述阵列基板4的金属走线42与所述彩膜基板5的黑色矩阵51对位后，控制所述激光传感器2移动，并控制所述发射端21发出光线同时识别所述检测端22是否感应到所述金属走线42反射的光线；所述对位判断单元33与所述对位检测单元32连接，用于在所述检测端22感应到所述金属走线42反射的光线时判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移，在所述检测端22未感应到所述金属走线42反射的光线时判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位正确。

如图4所示，本实施例中，所述对位检测单元32包括移动控制单元321、信号发射单元322、信号读取单元323；所述移动控制单元321，用于控制所述激光传感器2移动，所述移动控制单元321优选与所述第一检测支架61和/或所述第二检测支架62连接，所述对位控制单元31通过控制所述第一检测支架61、所述第二检测支架62的移动实现控制所述激光传感器2移动；所述移动控制单元321控制所述激光传感器2沿平行于所述阵列基板4的长边方向43或宽边方向44或对角线方向45移动，且所述激光传感器2的移动距离大于一个像素单元41的长边或宽边或对角线的长度；所述信号发射单元322与所述发射端21连接，用于控制所述发射端21发出光线；所述信号读取单元323与所述检测端22连接，用于读取所述检测端22的信号，识别所述检测端22是否感应到所述金属走线42反射的光线。

如图1所示，本实施例中，所述显示面板对组设备100还包括报警器7，所述数据处理器3还包括报警单元34，所述报警单元34与所述报警器7连接，当所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移时，所述报警单元34控制所述报警器7进行报警。报警方式可以为鸣笛、画面突出显示、异常提醒弹窗等。

本实施例中，所述显示面板对组设备100还包括搬运装置8，所述数据处理器3还包括不良品搬运单元34，与所述搬运装置8连接，用于控制所述搬运装置8将对位偏移的述阵列基板4和所述彩膜基板5移出生产线。本实施例优选所述搬运装置8为机械臂。

如图5所示，本发明还提供一种显示面板对位检测方法，包括以下步骤：

S1、显示面板对组设备设置步骤，设置一显示面板对组设备100，包括密封腔体1至少一激光传感器2以及数据处理器3，所述密封腔体1为真空环境，在所述密封腔体1内阵列基板4的金属走线42与彩膜基板5的黑色矩阵51进行对位，所述阵列基板4的金属走线42的分布区域小于等于与所述彩膜基板5的黑色矩阵51的分布区域；所述激光传感器2可移动地设置于所述密封腔体1内且位于所述彩膜基板5远离所述阵列基板4的一侧；所述激光传感器2朝向所述彩膜基板5的一侧同时包括发射端21和检测端22；所述激光传感器2的中心轴23与所述阵列基板4或所述彩膜基板5所在平面垂直设置；所述数据处理器3连接至所述激光传感器2；

S2、对位步骤，在所述密封腔体1内对所述阵列基板4的金属走线42和所述彩膜基板5的黑色矩阵51进行对位；

S3、对位检测步骤，当所述阵列基板4的金属走线42与所述彩膜基板5的黑色矩阵51对位后，所述数据处理器3控制所述激光传感器2移动，并控制所述发射端21发出光线同时识别所述检测端22是否感应到所述金属走线42反射的光线；以及

S4、对位判断步骤，当所述检测端22感应到所述金属走线42反射的光线时所述数据处理器3判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移，当所述检测端22未感应到所述金属走线42反射的光线时所述数据处理器3判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位正确。

如图6所示，本实施例中，所述对位检测步骤S3包括：

S31、移动控制步骤，所述阵列基板4呈矩形设置且其上设有显示区40，所述显示区40内设有阵列排布的像素单元41，所述数据处理器3控制所述激光传感器2沿平行于所述阵列基板4的长边方向43或宽边方向44或对角线方向45移动，且所述激光传感器2的移动距离大于一个像素单元41的长边或宽边或对角线的长度；这样能够使得所述激光传感器2移动足够的距离进行对位检测；

S32、信号发射步骤，所述数据处理器3控制所述发射端21发出光线；以及

S33、信号读取步骤，所述数据处理器3读取所述检测端22的信号，识别所述检测端22是否感应到所述金属走线42反射的光线。其中，本实施例优选在所述数据处理器3控制所述激光传感器2移动时所述数据处理器3控制所述激光传感器2。

如图5所示，本实施例中，在所述对位判断步骤之后还包括：

S5、报警步骤，当所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移时，所述数据处理器3控制报警器7进行报警。

如图5所示，在其他实施例中，在所述对位判断步骤S4之后还包括：

S41、对位调整步骤，当所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移时，在所述密封腔体1内对所述阵列基板4的金属走线42和所述彩膜基板5的黑色矩阵51进行重新对位；当所述阵列基板4和所述彩膜基板5再次对位仍偏移时，执行所述报警步骤S5。

如图5所示，本实施例中，在所述对位判断步骤S4之后还包括：

S6、不良品搬运步骤，当述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移时，所述数据处理器3控制搬运装置将对位偏移的述阵列基板4和所述彩膜基板5移出生产线。

所述不良品搬运步骤S6也可在所述报警步骤S5之后执行，也可独立于所述报警步骤S5执行，也可在所述报警步骤S5之前执行，本实施例优选所述不良品搬运步骤S6与所述报警步骤S5可同时执行。

本发明的有益效果在于，提供一种显示面板对组设备100以及显示面板对位检测方法，当所述阵列基板4的金属走线42与所述彩膜基板5的黑色矩阵51对位后，通过增加激光传感器2进行对位检测，利用金属走线42反射光线的特征，当所述激光传感器2的检测端22感应到所述金属走线42反射的光线时判断所述阵列基板4和所述彩膜基板5对位偏移，从而能够避免十字标记在对组前就已经偏移的情况下导致的对位偏移问题，提高了所述阵列基板4和所述彩膜基板5的对组合格率。

可以理解的是，在实际应用时，本发明的显示面板对位检测方法可单独使用，也可与现有的十字标记对组方法一起结合使用，从而进一步提高所述阵列基板4和所述彩膜基板5的对组合格率。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板对组设备，其特征在于，包括：

密封腔体，在所述密封腔体内阵列基板的金属走线与彩膜基板的黑色矩阵进行对位，所述金属走线的分布区域小于等于所述黑色矩阵的分布区域；

至少一激光传感器，可移动地设置于所述密封腔体内且位于所述彩膜基板远离所述阵列基板的一侧；所述激光传感器朝向所述彩膜基板的一侧同时包括发射端和检测端；所述激光传感器的中心轴与所述阵列基板或所述彩膜基板所在平面垂直设置；以及

数据处理器，与所述激光传感器连接；

当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，通过移动所述激光传感器进行对位检测，所述发射端发出光线，当所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时，所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，当所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时，所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位准确。

2.根据权利要求1所述的显示面板对组设备，其特征在于，所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度。

3.根据权利要求1所述的显示面板对组设备，其特征在于，所述数据处理器包括：

对位控制单元，用于在所述密封腔体内控制所述阵列基板的金属走线和所述彩膜基板的黑色矩阵进行对位；

对位检测单元，与所述激光传感器连接，用于在所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，控制所述激光传感器移动，并控制所述发射端发出光线同时识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线；

对位判断单元，与所述对位检测单元连接，用于在所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，在所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位正确。

4.根据权利要求1所述的显示面板对组设备，其特征在于，所述对位检测单元包括：

移动控制单元，用于控制所述激光传感器移动；所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述移动控制单元控制所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度；

信号发射单元，与所述发射端连接，用于控制所述发射端发出光线；以及

信号读取单元，与所述检测端连接，用于读取所述检测端的信号，识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线。

5.根据权利要求1所述的显示面板对组设备，其特征在于，还包括：

报警器，与所述数据处理器连接，当所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制所述报警器进行报警。

6.根据权利要求1所述的显示面板对组设备，其特征在于，还包括：

搬运装置，用于将对位偏移的述阵列基板和所述彩膜基板移出生产线。

7.一种显示面板对位检测方法，其特征在于，包括步骤：

显示面板对组设备设置步骤，设置一显示面板对组设备，包括密封腔体、至少一激光传感器以及数据处理器；在所述密封腔体内阵列基板的金属走线与彩膜基板的黑色矩阵进行对位，所述阵列基板的金属走线的分布区域小于等于与所述彩膜基板的黑色矩阵的分布区域；所述激光传感器可移动地设置于所述密封腔体内且位于所述彩膜基板远离所述阵列基板的一侧；所述激光传感器朝向所述彩膜基板的一侧同时包括发射端和检测端；所述激光传感器的中心轴与所述阵列基板或所述彩膜基板所在平面垂直设置；所述数据处理器连接至所述激光传感器；

对位步骤，在所述密封腔体内对所述阵列基板的金属走线和所述彩膜基板的黑色矩阵进行对位；

对位检测步骤，当所述阵列基板的金属走线与所述彩膜基板的黑色矩阵对位后，所述数据处理器控制所述激光传感器移动，并控制所述发射端发出光线同时识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线；以及

对位判断步骤，当所述检测端感应到所述金属走线反射的光线时所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移，当所述检测端未感应到所述金属走线反射的光线时所述数据处理器判断所述阵列基板和所述彩膜基板对位正确。

8.根据权利要求1所述的显示面板对位检测方法，其特征在于，所述对位检测步骤包括：

移动控制步骤，所述阵列基板呈矩形设置且其上设有显示区，所述显示区内设有阵列排布的像素单元，所述数据处理器控制所述激光传感器在所述显示区内沿平行于所述阵列基板的长边或宽边或对角线的方向移动，且所述激光传感器的移动距离大于一个像素单元的长边或宽边或对角线的长度；

信号发射步骤，所述数据处理器控制所述发射端发出光线；以及

信号读取步骤，所述数据处理器读取所述检测端的信号，识别所述检测端是否感应到所述金属走线反射的光线。

9.根据权利要求1所述的显示面板对位检测方法，其特征在于，在所述对位判断步骤之后还包括：

报警步骤，当所述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制报警器进行报警。

10.根据权利要求1所述的显示面板对位检测方法，其特征在于，在所述对位判断步骤之后还包括：

不良品搬运步骤，当述阵列基板和所述彩膜基板对位偏移时，所述数据处理器控制搬运装置将对位偏移的述阵列基板和所述彩膜基板移出生产线。

Images