CN110703474A - 偏光板重工的装置及方法 - Google Patents
偏光板重工的装置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110703474A CN110703474A CN201911044863.8A CN201911044863A CN110703474A CN 110703474 A CN110703474 A CN 110703474A CN 201911044863 A CN201911044863 A CN 201911044863A CN 110703474 A CN110703474 A CN 110703474A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- defect
- polarizing plate
- display panel
- unit
- reworking
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本发明公开了一种偏光板重工的装置及方法,所述装置包括:缺陷解析单元,对存在偏光板缺陷的显示面板进行缺陷解析;偏光板撕除单元,与所述缺陷解析单元连接,接收所述缺陷解析单元排片出的显示面板;以及,偏光板贴附单元,与所述偏光板撕除单元连接,接收所述偏光板撕除单元排片出的显示面板,其中,所述缺陷解析单元包括背光灯箱,用于照亮显示面板,以辅助快速确认缺陷位置。通过该设计,可减小缺陷解析难度加快解析速度,从而提高偏光板重工的整体效率。
Description
技术领域
本发明涉及面板显示领域,具体涉及一种偏光板重工的装置及方法。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)因其具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,已被广泛应用于手机、电视、个人数字助理、数码相机、笔记本电脑等各种消费电子品,成为显示装置中的主流。
在液晶显示器制备工艺中,需要在玻璃基板上进行偏光板的贴附。然而在偏光板的贴附过程中经常会存在偏光板缺陷,这时就需使用偏光板撕除方法来撕除具有缺陷的偏光板,并重新进行偏光板的贴附以消除缺陷。
目前偏光板撕除机直接连接显微镜,操作人员一边撕除偏光板,解析人员一边对偏光板缺陷进行解析。虽然有偏光板缺陷的坐标,但坐标准确度不佳,解析人员还是需在较大的位置查找缺陷位置,加上没有背光协助,查找较为困难和耗时。且如果解析人员对偏光板缺陷有疑问,也无法重新点灯确认。
发明内容
本发明提供一种偏光板重工的装置及方法,可减小重工设备制程时间,提高重工良率。
为解决上述问题,第一方面,本发明提供一种偏光板重工的装置,所述装置包括:
缺陷解析单元,对存在偏光板缺陷的显示面板进行缺陷解析;
偏光板撕除单元,与所述缺陷解析单元连接,接收所述缺陷解析单元排片出的显示面板;以及,
偏光板贴附单元,与所述偏光板撕除单元连接,接收所述偏光板撕除单元排片出的显示面板。
进一步地,所述缺陷解析单元包括:
外框;
底座,设置于所述外框内部,并与所述外框的下部连接;
载台,与所述底座连接并能在一定范围内调整角度,用于承载需进行缺陷解析的显示面板;
背光灯箱,设置于所述载台的内部,用于照亮显示面板,以辅助解析人员快速确认缺陷位置。
进一步地,所述缺陷解析单元还包括多组激光灯组,所述激光灯组连接于所述外框内部并可任意变换角度,从而对准缺陷位置,并记录所述缺陷的坐标点位。
进一步地,所述缺陷解析单元还与所述偏光板贴附单元连接,从所述偏光板撕除单元排片出的显示面板会再次进入所述缺陷解析单元,确认该显示面板无缺陷后,再流入所述偏光板贴附单元进行制程。
进一步地,从偏所述光板撕除单元排片出的显示面板再次进入所述缺陷解析单元后,所述激光灯组会自动对准原存在的缺陷的坐标点位照射,辅助对所述缺陷进行复检。
进一步地,所述多组激光灯组中的任意一组包括3-4个激光灯,每组激光灯组记录一片显示面板的缺陷坐标点位。
另一方面,本发明还提供了一种偏光板重工的方法,所述方法包括:
S1:使用背光灯箱照射存在偏光板缺陷的显示面板,找出缺陷的具体位置,并使用显微镜对所述缺陷进行解析;
S2:撕除完成缺陷解析的显示面板的偏光板;
S3:对撕除偏光板的显示面板重新贴附偏光板。
进一步地,在执行所述S3步骤前,确认所述缺陷消除后再进行偏光板的重新贴附。
进一步地,在所述S1步骤中找出缺陷的具体位置后,使用激光灯照射所述缺陷,所述激光灯则自动记录所述缺陷的点位坐标。
进一步地,在执行所述S3步骤前,使用所述激光灯照射显示面板,所述激光灯根据记录的所述缺陷的点位坐标对准所述缺陷照射,以确认所述缺陷已消除。
有益效果:本发明通过在偏光板重工设备的缺陷解析单元中增设灯箱,可辅助人员进行缺陷点位的确认,减小解析难度加快解析速度,从而加快偏光板重工的整体制程效率,另一方面,解析人员可随时点亮背光对缺陷进行确认,使得解析结果更加准确。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供一种偏光板重工设备的结构示意图;
图2是本发明实施例提供一种偏光板重工设备的中缺陷解析单元的结构示意图;
图3是本发明实施例提供另一种偏光板重工设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本申请中,“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本发明,给出了以下描述。在以下描述中,为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是,本领域普通技术人员可以认识到,在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本发明。在其它实例中,不会对公知的结构和过程进行详细阐述,以避免不必要的细节使本发明的描述变得晦涩。因此,本发明并非旨在限于所示的实施例,而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本发明实施例提供一种偏光板的重工装置。以下分别进行详细说明。
请参照图1,该偏光板的重工装置包括:
缺陷解析单元,解析人员在该单元中对前工序检测出的存在偏光板缺陷的显示面板进行缺陷解析,以判定缺陷类型;
偏光板撕除单元,与所述缺陷解析单元连接,接收所述缺陷解析单元排片出的显示面板,对其进行偏光板撕除制程;
以及,偏光板贴附单元,与所述偏光板撕除单元连接,接收所述偏光板撕除单元排片出的显示面板,对其进行偏光板贴附制程,即完成偏光板的重工。
其中,所述缺陷解析单元的具体结构可参照图2,包括:
外框101;
底座102,设置于所述外框101内部,并与所述外框101的下部连接;
载台103,用于承载需进行缺陷解析的显示面板106,与所述底座102连接并能在一定范围内调整角度,以便解析人员更清晰的观测缺陷;
背光灯箱104,设置于所述载台103的内部,用于照亮显示面板,以辅助解析人员快速确认缺陷位置。
在本实施例中,所述缺陷解析单元还包括光学显微镜组件(图中未示出),对于确认坐标点位的缺陷进行解析,在显微镜头下判定缺陷类型,以便工厂更有针对性的进行相关缺陷的调查与改善,从根本上降低偏光板缺陷率。
在一种优选的实施例中,所述缺陷解析单元还包括多组激光灯组,图2中示例性示出了一个激光灯105,连接于所述外框101上,所述激光灯105在解析人员的操作下,可任意变换角度,解析人员可将激光灯105对准缺陷位置,此时,该缺陷解析单元在其软体操控下会自动记录所述缺陷的坐标点位。
在一种优选的实施例中,所述多组激光灯组中的任意一组包括3-4个激光灯105,用于快速记录显示面板存在缺陷的位置。
在一种优选的实施例中,每组激光灯组记录一片显示面板的缺陷坐标点位。
在一种优选的实施例中,因显示面板中偏光板缺陷的种类不同,在不同光源下的显现程度不同,所述背光灯箱104包括多个光源,根据不同需求可任意切换,以便更准确快速地判定缺陷位置。
具体地,所述多个光源包括钠灯、卤素灯、高压汞灯、荧光灯及LED灯中的至少两者,根据实际的生产需求,配置不同的光源。
在另一实施例中,本发明还提供了一种偏光板的重工设备,请参照图3,该偏光板的重工设备同样包括缺陷解析单元、偏光板撕除单元及偏光板贴附单元,与前述的偏光板的重工设备相比较,仅存在连接方式,即显示面板流片顺序的差异,不同之处在于所述缺陷解析单元还与所述偏光板贴附单元连接,显示面板在进行了偏光板撕除制程后,不会直接流入偏光板贴附单元,而是会再次返回到缺陷解析单元确认原存在的缺陷去除后,再进入偏光板贴附单元进行偏光板的贴附,以此提升偏光板重工良率,避免多次重工的情况。
具体地,在该偏光板的重工设备中,被检测出存在偏光板缺陷的显示面板首先进入缺陷解析单元,该缺陷解析单元的结构同样可参照图2,解析人员借助背光灯箱104的照射,快速准确的确认缺陷的具体点位,并调整激光灯105的角度,使其对准缺陷处,此时软体自动记录该缺陷的点位坐标,再通过光学显微镜组件判定缺陷类型。接着,该显示面板流入偏光板撕除单元,将存在缺陷的偏光板撕除。撕除偏光板的显示面板再次流入缺陷解析单元,此时,在软体的控制下,激光灯105会自动调整角度,至所记录的该显示面板原存在缺陷的位置并照亮,此时,操作人员会重点检查该缺陷是否消除,若仍存在可使用无尘布擦拭去除,确保缺陷均去除后再流入偏光板贴附单元进行偏光板贴附,即完成偏光板的重工。
在该实施例中,通过优化显示面板在偏光板重工设备中的流片方式,可有效提高偏光板的重工良率。
在本发明的另一实施例中,还提供了一种偏光板重工的方法,包括:
S1:使用背光灯箱照射存在偏光板缺陷的显示面板,找出缺陷的具体位置,并使用显微镜对所述缺陷进行解析;
S2:撕除完成缺陷解析的显示面板的偏光板;
S3:对撕除偏光板的显示面板重新贴附偏光板。
在一种优选的实施方式中,在执行所述S3步骤前,确认所述缺陷消除后再进行偏光板的重新贴附,以提成偏光板的重工良率,避免多次重工影响制造效率。
在一种优选的实施方式中,在所述S1步骤中找出缺陷的具体位置后,使用激光灯照射所述缺陷,所述激光灯则自动记录所述缺陷的点位坐标。
在一种优选的实施方式中,在执行所述S3步骤前,使用所述激光灯照射显示面板,所述激光灯根据记录的所述缺陷的点位坐标对准所述缺陷照射,以辅助操作人员快速确认所述缺陷是否消除,若仍存在,则可使用无尘布轻拭去除,以保证偏光板的重工良率。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见上文针对其他实施例的详细描述,此处不再赘述。
具体实施时,以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现,也可以进行任意组合,作为同一或若干个实体来实现,以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例,在此不再赘述。
以上对本发明实施例所提供的一种偏光板重工的设备及方法进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种偏光板重工的装置,其特征在于,所述装置包括:
缺陷解析单元,对存在偏光板缺陷的显示面板进行缺陷解析;
偏光板撕除单元,与所述缺陷解析单元连接,接收所述缺陷解析单元排片出的显示面板;以及,
偏光板贴附单元,与所述偏光板撕除单元连接,接收所述偏光板撕除单元排片出的显示面板。
2.如权利要求1所述的偏光板重工的装置,其特征在于,所述缺陷解析单元包括:
外框;
底座,设置于所述外框内部,并与所述外框的下部连接;
载台,与所述底座连接并能在一定范围内调整角度,用于承载需进行缺陷解析的显示面板;
背光灯箱,设置于所述载台的内部,用于照亮显示面板,以辅助解析人员快速确认缺陷位置。
3.如权利要求2所述的偏光板重工的装置,其特征在于,所述缺陷解析单元还包括多组激光灯组,所述激光灯组连接于所述外框内部并可任意变换角度,从而对准缺陷位置,并记录所述缺陷的坐标点位。
4.如权利要求3所述的偏光板重工的装置,其特征在于,所述缺陷解析单元还与所述偏光板贴附单元连接,从所述偏光板撕除单元排片出的显示面板会再次进入所述缺陷解析单元,确认该显示面板无缺陷后,再流入所述偏光板贴附单元进行制程。
5.如权利要求4所述的偏光板重工的装置,其特征在于,从偏所述光板撕除单元排片出的显示面板再次进入所述缺陷解析单元后,所述激光灯组会自动对准原存在的缺陷的坐标点位照射,辅助对所述缺陷进行复检。
6.如权利要求2所述的偏光板重工的装置,其特征在于,所述多组激光灯组中的任意一组包括3-4个激光灯,每组激光灯组记录一片显示面板的缺陷坐标点位。
7.一种偏光板重工的方法,其特征在于,所述方法包括:
S1:使用背光灯箱照射存在偏光板缺陷的显示面板,找出缺陷的具体位置,并使用显微镜对所述缺陷进行解析;
S2:撕除完成缺陷解析的显示面板的偏光板;
S3:对撕除偏光板的显示面板重新贴附偏光板。
8.如权利要求7所述的偏光板重工的方法,其特征在于,在执行所述S3步骤前,确认所述缺陷消除后再进行偏光板的重新贴附。
9.如权利要求7或8所述的偏光板重工的方法,其特征在于,在所述S1步骤中找出缺陷的具体位置后,使用激光灯照射所述缺陷,所述激光灯则自动记录所述缺陷的点位坐标。
10.如权利要求9所述的偏光板重工的方法,其特征在于,在执行所述S3步骤前,使用所述激光灯照射显示面板,所述激光灯根据记录的所述缺陷的点位坐标对准所述缺陷照射,以确认所述缺陷已消除。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911044863.8A CN110703474A (zh) | 2019-10-30 | 2019-10-30 | 偏光板重工的装置及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201911044863.8A CN110703474A (zh) | 2019-10-30 | 2019-10-30 | 偏光板重工的装置及方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110703474A true CN110703474A (zh) | 2020-01-17 |
Family
ID=69202874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201911044863.8A Pending CN110703474A (zh) | 2019-10-30 | 2019-10-30 | 偏光板重工的装置及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110703474A (zh) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWM265606U (en) * | 2004-05-31 | 2005-05-21 | Contrel Technology Co Ltd | Light box to switch the light source |
TW200600947A (en) * | 2004-06-23 | 2006-01-01 | xin-wen Ye | Light box for examining defects by eyes |
TWM302023U (en) * | 2006-04-04 | 2006-12-01 | Mirle Automation Corp | Flat panel visual inspection unit and the visual inspection application apparatus thereof |
TW200706826A (en) * | 2005-08-03 | 2007-02-16 | Qi-Cheng Ye | Image inspection method and structure for attachment machine |
CN102590221A (zh) * | 2012-02-24 | 2012-07-18 | 深圳大学 | 一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法 |
CN202442973U (zh) * | 2012-02-14 | 2012-09-19 | 浙江凯信光电科技有限公司 | 可识别观测角度的液晶显示屏外观测试台 |
CN102756536A (zh) * | 2012-07-13 | 2012-10-31 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 偏光板撕除的方法和装置 |
CN204009279U (zh) * | 2014-07-23 | 2014-12-10 | 无锡博一光电科技有限公司 | 液晶显示屏视角测试架 |
CN204666996U (zh) * | 2015-04-23 | 2015-09-23 | 明基材料有限公司 | 积层膜片检测系统 |
CN109507815A (zh) * | 2018-12-05 | 2019-03-22 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种液晶显示屏背光检测中快速定位缺陷位置的方法 |
-
2019
- 2019-10-30 CN CN201911044863.8A patent/CN110703474A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWM265606U (en) * | 2004-05-31 | 2005-05-21 | Contrel Technology Co Ltd | Light box to switch the light source |
TW200600947A (en) * | 2004-06-23 | 2006-01-01 | xin-wen Ye | Light box for examining defects by eyes |
TW200706826A (en) * | 2005-08-03 | 2007-02-16 | Qi-Cheng Ye | Image inspection method and structure for attachment machine |
TWM302023U (en) * | 2006-04-04 | 2006-12-01 | Mirle Automation Corp | Flat panel visual inspection unit and the visual inspection application apparatus thereof |
CN202442973U (zh) * | 2012-02-14 | 2012-09-19 | 浙江凯信光电科技有限公司 | 可识别观测角度的液晶显示屏外观测试台 |
CN102590221A (zh) * | 2012-02-24 | 2012-07-18 | 深圳大学 | 一种偏光片的外观缺陷检测系统及检测方法 |
CN102756536A (zh) * | 2012-07-13 | 2012-10-31 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 偏光板撕除的方法和装置 |
CN204009279U (zh) * | 2014-07-23 | 2014-12-10 | 无锡博一光电科技有限公司 | 液晶显示屏视角测试架 |
CN204666996U (zh) * | 2015-04-23 | 2015-09-23 | 明基材料有限公司 | 积层膜片检测系统 |
CN109507815A (zh) * | 2018-12-05 | 2019-03-22 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种液晶显示屏背光检测中快速定位缺陷位置的方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20030023573A (ko) | 디스플레이 패널 조립에서의 육안 검사용 마크 | |
JP3378795B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
US20040124868A1 (en) | Bump structure for testing liquid crystal display panel and method of fabricating the same | |
CN109633948A (zh) | 显示面板检测方法及显示面板检测装置 | |
CN110703474A (zh) | 偏光板重工的装置及方法 | |
KR100879007B1 (ko) | 기판의 광학검사기능을 구비한 리페어장치 | |
US7202695B2 (en) | Apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel | |
TW201027094A (en) | Array test apparatus and method of measuring position of point on substrate thereof | |
KR101801395B1 (ko) | 액정표시소자의 리페어장치 및 리페어검사장치 | |
KR20050114132A (ko) | 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법 | |
KR100487429B1 (ko) | 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자 | |
JP3229823B2 (ja) | 液晶表示装置およびその製造方法 | |
KR100315117B1 (ko) | 글래스 얼라인먼트 검사 시스템 | |
JP2963598B2 (ja) | 薄型表示機器の検査装置及び欠陥修正装置 | |
JP3478813B2 (ja) | 輝点欠陥の修正方法及び液晶表示器の作製方法 | |
JP3396548B2 (ja) | 欠陥部位置合せ方法 | |
JP3501671B2 (ja) | 表示装置の欠陥絵素座標特定装置 | |
JP3406222B2 (ja) | アクティブマトリクス基板の製造方法 | |
KR100522752B1 (ko) | 에이.오.아이 기능을 구비한 엘시디 리페어 장비 및 리페어방법 | |
JPH1031225A (ja) | 液晶パネルの点灯検査装置 | |
JP3187298B2 (ja) | 液晶表示パネル修正装置 | |
JP2004301882A (ja) | 液晶表示パネルの欠陥検出方法 | |
CN113362742B (zh) | 一种显示面板及显示模组 | |
KR100989216B1 (ko) | 액정표시장치 공정 장비의 척 구조 | |
JP2006153844A (ja) | パネル検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200117 |