CN110676190A - 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法 - Google Patents

极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110676190A
CN110676190A CN201910943044.0A CN201910943044A CN110676190A CN 110676190 A CN110676190 A CN 110676190A CN 201910943044 A CN201910943044 A CN 201910943044A CN 110676190 A CN110676190 A CN 110676190A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tab
clamping
comb plate
driving mechanism
lug
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910943044.0A
Other languages
English (en)
Inventor
蒋烜
金岳云
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuxi Otwei Intelligent Equipment Co Ltd
Wuxi Autowell Technology Co Ltd
Original Assignee
Wuxi Otwei Intelligent Equipment Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuxi Otwei Intelligent Equipment Co Ltd filed Critical Wuxi Otwei Intelligent Equipment Co Ltd
Priority to CN201910943044.0A priority Critical patent/CN110676190A/zh
Publication of CN110676190A publication Critical patent/CN110676190A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68728—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a plurality of separate clamping members, e.g. clamping fingers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
    • H01L31/05—Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells
    • H01L31/0504—Electrical interconnection means between PV cells inside the PV module, e.g. series connection of PV cells specially adapted for series or parallel connection of solar cells in a module
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Connection Of Batteries Or Terminals (AREA)

Abstract

本发明公开了一种极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法，所述极耳检测设备包括极耳夹持装置，所述极耳夹持装置包括梳子板组件和夹持组件；其中，所述梳子板组件包括具有插槽的梳子板及梳子板驱动机构，所述梳子板驱动机构用于驱动所述梳子板移动以使得电芯组件的一组极耳进入所述梳子板的所述插槽；所述夹持组件包括两个夹爪及驱动两个所述夹爪张开或夹紧的夹爪驱动机构；所述极耳检测设备还包括检测部件，所述检测部件用于检测两个所述夹爪夹紧所述极耳时的间距。本发明提供的技术方案，可以自动检测极耳穿出汇流排的情况，利于提高极耳的检测效率，缩短电池组件的生产周期。

Description

极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法
技术领域
本发明属于光伏电池生产领域，尤其涉及一种极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法。
背景技术
在光伏电池生产过程中，电芯组件的极耳通过汇流排连接，具体是将电芯组件的极耳两个一组插入到汇流排的槽孔中，实现电芯组件中各个电芯的极耳的汇流连接。
现有技术中，出现了汇流排安装设备，通过汇流排安装设备可以将汇流排安装于电芯组件的极耳。通过设备安装，需要检测电芯的极耳是否穿过汇流排。目前，检测电芯的极耳是否穿过汇流排的方式一般是人工检测，但是，人工检测的方式效率低，导致电池组件的生产周期长。
发明内容
有鉴于此，本发明旨在提出一种汇流排检测设备、极耳处理系统及汇流排安装方法，以解决现有技术中检测电芯极耳是否穿过汇流排的方式效率低的问题。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
本发明提供一种极耳检测设备，所述极耳检测设备包括极耳夹持装置，所述极耳夹持装置包括梳子板组件和夹持组件；
其中，所述梳子板组件包括具有插槽的梳子板及梳子板驱动机构，所述梳子板驱动机构用于驱动所述梳子板移动以使得电芯组件的一组极耳进入所述梳子板的所述插槽；
所述夹持组件包括两个夹爪及驱动两个所述夹爪张开或夹紧的夹爪驱动机构；
所述极耳检测设备还包括检测部件，所述检测部件用于检测两个所述夹爪夹紧所述极耳时的间距。
优选地，所述夹持组件还包括伸缩驱动机构，所述伸缩驱动机构用于驱动所述夹爪及所述夹爪驱动机构朝向所述梳子板的插槽内的极耳的方向移动或者远离所述极耳移动；
优选地，所述极耳夹持装置还包括第一安装架，所述梳子板组件和所述夹爪组件安装在所述第一安装架上；
所述极耳检测设备还包括第二安装架和横移驱动机构，所述横移驱动机构用于驱动所述第一安装架相对所述第二安装架沿所述夹爪的夹持力的方向来回移动。
优选地，所述极耳检测设备包括固定部件及行走驱动机构，所述行走驱动机构用于驱动所述第二安装架相对所述固定部件沿垂直于所述夹爪的夹持力的横向方向移动。
优选地，所述伸缩驱动机构的驱动端与所述夹爪驱动机构之间设置有微调机构，所述微调机构调整所述夹爪驱动机构相对所述梳子板沿所述夹爪的夹持力的方向移动，以使得两个所述夹爪的中间位置与所述梳子板的所述插槽对准。
优选地，所述夹爪驱动机构的固定端固定有第一支架，所述伸缩驱动机构的驱动端固定有第二支架，所述微调机构包括穿在所述第一支架和所述第二支架中且能够转动的螺杆，所述螺杆的转动能够驱动所述第二支架相对所述第一支架在所述夹爪的夹持力的方向上移动。
优选地，所述极耳检测设备包括两个所述极耳夹持装置，两个所述极耳夹持装置相对设置。
根据本发明的另一方面，还提供一种极耳处理系统，所述极耳处理系统包括极耳位置获取设备、汇流排安装设备以及如上所述的极耳检测设备；
所述极耳位置获取设备用于获取电芯组件的极耳位置信息；
所述汇流排安装设备根据所述极耳位置获取设备所获取的极耳位置信息进行定位并将汇流排安装于所述极耳；
在汇流排安装于所述极耳后，所述极耳检测设备检测所述极耳是否穿过所述汇流排。
根据本发明的再一方面，还提供一种极耳检测方法，所述极耳检测方法包括：
S1、驱动梳子板移动使得所要检测的一组极耳插入所述梳子板的插槽中；
S2、采用两个夹爪夹紧所述梳子板的所述插槽中的极耳；
S3、测量两个所述夹爪之间的间距；
重复步骤S1、S2和S3，依次检测多组极耳。
优选地，两个所述夹爪之间的间距测量完后，所述极耳检测方法还包括：
所述夹爪松开并退出；
驱动所述梳子板沿插槽内的所述极耳的表面移动以整平所述极耳。
本发明提供的技术方案，可以通过设备对极耳是否穿出汇流排进行自动检测，提高了极耳检测的效率，从而缩短了电池组件的生产周期。
附图说明
构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施方式及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。
在附图中：
图1为根据本发明的一个实施方式中极耳检测设备检测的结构示意图；
图2为图1所示的极耳检测设备的一侧的结构示意图；
图3为图2的侧视图；
图4为图2的部分结构示意图；
图5为极耳夹持装置的结构示意图；
图6为夹爪组件的结构示意图；
图7为采用本发明提供的极耳检测设备检测极耳的状态示意图。
附图标记说明：
100-电芯组件；101-极耳；200-汇流排；1-极耳夹持装置；11-梳子板组件；111-梳子板；112-梳子板驱动机构；113-插槽；12-夹爪组件；121-夹爪；122-夹爪驱动机构；123-伸缩驱动机构；124-第一支架；1241-第一固定部；125-第二支架；1251-第二固定部；126-螺杆；127-微调轨道；13-第一安装架；2-第二安装架；21-横移轨道；3-横移驱动机构；31-电机；32-丝杠；4-固定部件；5-行走驱动机构；6-行走轨道。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。
此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免喧宾夺主而使得本公开的各方面变得模糊。
为了易于说明，在这里可以使用诸如“上”、“下”、“左”、“右”等空间相对术语，用于说明图中示出的一个元件或特征相对于另一个元件或特征的关系。应该理解的是，除了图中示出的方位之外，空间术语意在于包括装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果图中的装置被倒置，被叙述为位于其他元件或特征“下”的元件将定位在其他元件或特征“上”。因此，示例性术语“下”可以包含上和下方位两者。装置还可以以其他方式定位，例如旋转90度或位于其他方位，这里所用的空间相对说明可相应地解释。
本发明提供一种极耳检测设备，如图1-图3所示，所述极耳检测设备包括极耳夹持装置1，所述极耳夹持装置1包括梳子板组件11和夹持组件12。
其中，参考图4和图5，所述梳子板组件11包括具有插槽113的梳子板111及梳子板驱动机构112，所述梳子板驱动机构112用于驱动所述梳子板111移动以使得电芯组件的一组极耳进入所述梳子板111的插槽113中；
所述夹持组件12包括两个夹爪121及驱动两个所述夹爪121张开或夹紧的夹爪驱动机构122；
所述极耳检测设备还包括检测部件，所述检测部件用于检测两个所述夹爪121夹紧所述极耳时的间距。其中，该检测部件优选为设置在夹爪121上的距离传感器，当然，也可以为独立于夹爪121设置的能够检测距离的其他部件。
本发明提供的极耳检测设备可以检测电芯组件的极耳是否穿过汇流排，如图1所示，汇流排200安装在电芯组件100两端的极耳101上，即电芯组件100每端的多对极耳101分别穿在汇流排200的槽孔中。由于已知每根极耳的厚度，通过测量夹爪121夹紧时夹爪之间的间距，算出夹爪121在夹紧时夹到几根极耳，从而可以检测出汇流排200插入后极耳的伸出情况。
如图7所示，A情况：两根极耳均伸出汇流排200，检测部件可检测两夹爪121之间的间距，通过间距可以知晓该组极耳中两根极耳101均伸出汇流排；
B情况：通过检测部件检测到夹爪121之间的间距，通过间距可以知晓该组极耳中的两根极耳101均没有伸出汇流排；
C情况：通过检测部件检测到夹爪121之间的间距，通过间距可以知晓该组极耳101中只有一根极耳伸出汇流排。
因此，通过本申请提供的汇流排检测设备可以检测极耳穿出汇流排的情况，实现极耳的自动化检测，利于提高极耳检测的效率，缩短电池组件的生产周期。
在本发明的一个具体实施方式中，如图4和图5所示，所述极耳夹持装置1还包括第一安装架13，所述梳子板组件11和所述夹爪组件12安装在所述第一安装架13上。
具体的，梳子板组件11的梳子板驱动机构112的固定端固定在第一安装架13上，梳子板111安装在梳子板驱动机构112的驱动端。其中，梳子板驱动机构112具体为气缸。
夹爪组件12的具体结构如图6所示，其除包括夹爪121和夹爪驱动机构122外，还包括伸缩驱动机构123，所述伸缩驱动机构123用于驱动所述夹爪121及所述夹爪驱动机构122朝向所述梳子板111的插槽113内的极耳的方向移动或者远离所述极耳移动。其中，夹爪驱动机构122和伸缩驱动机构123均为气缸，当然，可以理解的是，夹爪驱动机构122和伸缩驱动机构123也可以为能够驱动部件直线运动的其他机构。
进一步的，由于伸缩驱动机构123用于驱动夹爪121朝向梳子板111的插槽113的方向移动，以夹持梳子板111的插槽113内的极耳，因此，需要设置梳子板111的插槽113与两个夹爪121的中间位置对准，为实现梳子板111的插槽113与两个夹爪121的中间位置对准，在伸缩驱动机构123的驱动端与所述夹爪驱动机构122之间设置有微调机构，所述微调机构调整所述夹爪驱动机构122相对所述梳子板111沿所述夹爪121的夹持力的方向移动，以使得两个所述夹爪121的中间位置与所述梳子板111的插槽123对准。
具体的，如图6所示，在所述夹爪驱动机构122的固定端固定有第一支架124，所述伸缩驱动机构123的驱动端固定有第二支架125，所述微调机构包括穿在所述第一支架124和所述第二支架125中且能够转动的螺杆126，所述螺杆126的转动能够驱动所述第二支架125相对第一支架124在所述夹爪121的夹持力的方向上移动，以使得两个夹爪121的中间位置对准梳子板111的插槽123。其中，第一支架124的两端分别固定有第一固定部1241，第二支架125上固定有位于两个第一固定部1241之间的第二固定部1251，螺杆126穿过第一固定部1241和第二固定部1251，第二固定部1251与螺杆126螺纹连接，通过转动螺杆126，第二固定部1251可以相对第一固定部1241沿螺杆126的轴向移动。另外，在第一支架124和第二支架125之间还设置有微调轨道127，第二支架125沿微调轨道127相对第一支架124移动。
本发明提供的技术方案中，所述极耳检测设备还包括第二安装架2和横移驱动机构3，所述横移驱动机构3用于驱动所述第一安装架13相对第二安装架2沿夹爪121的夹持力的方向来回移动。这样，可以使得极耳夹持装置1能够横移到所要夹持的极耳所在的位置。其中，第二安装架2上设置有横移轨道21，第一安装架13相对第二安装架2沿横移轨道21移动。横移驱动机构3包括电机31和电机31驱动旋转的丝杠32，第一安装架13安装在于丝杠32配合的丝母上。这样，电机31驱动丝杠32旋转，可以驱动第一安装架13相对第二安装架2移动。
本实施方式中，为使得极耳夹持装置1能够沿垂直于夹持力的横向方向移动到极耳所在的位置，该极耳检测设备还包括固定部件4及行走驱动机构5，所述行走驱动机构5用于驱动所述第二安装架2相对所述固定部件4沿垂直于所述夹爪121的夹持力的横向方向移动。
如图1和图2所示，固定部件4上设置有行走轨道6，行走驱动机构5可以驱动第二安装架2以及其上所安装的极耳夹持装置1沿朝向所要夹持的极耳的方向移动或者远离所要夹持的极耳。
本实施方式提供的极耳检测设备可以同时对电芯组件100两端的极耳进行检测，因此，如图1所示，该极耳检测设备包括两个所述极耳夹持装置1，两个所述极耳夹持装置1相对设置，该两个极耳夹持装置均可相对于固定部件4朝向电芯组件100的方向移动或远离电芯组件100移动。这样，可以同时对电芯组件100两端的极耳101进行检测，提高检测效率。
本发明的另一方面，还提供一种极耳处理系统，所述极耳处理系统包括极耳位置获取设备、汇流排安装设备以及如上所述的极耳检测设备；
所述极耳位置获取设备用于获取电芯组件的极耳位置信息；
所述汇流排安装设备根据所述极耳位置获取设备所获取的极耳位置信息进行定位并将汇流排安装于所述极耳；
在汇流排安装于所述极耳后，所述极耳检测设备检测所述极耳是否穿过所述汇流排。
本发明的再一方面还提供一种极耳检测方法，所述极耳检测方法包括：
S1、驱动梳子板移动使得所要检测的一组极耳插入所述梳子板的插槽中；
S2、采用两个夹爪夹紧所述梳子板的所述插槽中的极耳；
S3、测量两个所述夹爪之间的间距；
重复步骤S1、S2和S3，依次检测多组极耳。
两个所述夹爪之间的间距测量完后，所述极耳检测方法还包括：
所述夹爪松开并退出；
驱动所述梳子板沿插槽内的所述极耳的表面移动以整平所述极耳。
该极耳检测方法可以采用如上所述的汇流排检测设备进行，采用如上所述的汇流排检测设备检测电芯组件100的极耳的具体过程如下：
首先，根据电芯组件100两端的极耳位置信息，通过行走驱动机构5将电芯组件100端部设置的第二安装架2及其上设置的极耳夹持装置1朝向电芯组件100的方向移动；
通过横移驱动机构3驱动极耳夹持装置1的第一安装架13相对第二安装架2沿夹爪121的夹持力的方向移动，并在夹爪的夹持力的方向上，通过微调机构微调夹爪组件12中夹爪驱动机构122相对伸缩驱动机构123的位置，使得夹爪121的中间位置与梳子板111的插槽113对准；
梳子板驱动机构112驱动梳子板111下降，电芯组件100的一组极耳进入到梳子板111的插槽113内，然后伸缩驱动机构123驱动夹爪驱动机构122以及夹爪121前移，夹爪121夹住梳子板111的插槽内的极耳；
测量部件测量夹持极耳的两个夹爪之间的间距；
然后夹爪松开并退出；
夹持极耳的梳子板111沿插槽113内的极耳的表面移动以整平所述极耳；
梳子板上升；
沿夹爪121的夹持力的方向横移极耳夹持装置1，使其与另一组极耳对应，以测量下一组极耳，如此重复，可以测量电芯组件100端部的多组极耳。
测量完毕，该极耳检测设备的各部件复位。
本发明所属技术领域的普通技术人员应当理解，上述具体实施方式部分中所示出的具体结构和工艺过程仅仅为示例性的，而非限制性的。而且，本发明所属技术领域的普通技术人员可对以上所述所示的各种技术特征按照各种可能的方式进行组合以构成新的技术方案，或者进行其它改动，而都属于本发明的范围之内。

Claims (10)

1.一种极耳检测设备，其特征在于，所述极耳检测设备包括极耳夹持装置，所述极耳夹持装置包括梳子板组件和夹持组件；
其中，所述梳子板组件包括具有插槽的梳子板及梳子板驱动机构，所述梳子板驱动机构用于驱动所述梳子板移动以使得电芯组件的一组极耳进入所述梳子板的所述插槽；
所述夹持组件包括两个夹爪及驱动两个所述夹爪张开或夹紧的夹爪驱动机构；
所述极耳检测设备还包括检测部件，所述检测部件用于检测两个所述夹爪夹紧所述极耳时的间距。
2.根据权利要求1所述的极耳检测设备，其特征在于，所述夹持组件还包括伸缩驱动机构，所述伸缩驱动机构用于驱动所述夹爪及所述夹爪驱动机构朝向所述梳子板的插槽内的极耳的方向移动或者远离所述极耳移动。
3.根据权利要求1所述的极耳检测设备，其特征在于，所述极耳夹持装置还包括第一安装架，所述梳子板组件和所述夹爪组件安装在所述第一安装架上；
所述极耳检测设备还包括第二安装架和横移驱动机构，所述横移驱动机构用于驱动所述第一安装架相对所述第二安装架沿所述夹爪的夹持力的方向来回移动。
4.根据权利要求3所述的极耳检测设备，其特征在于，所述极耳检测设备包括固定部件及行走驱动机构，所述行走驱动机构用于驱动所述第二安装架相对所述固定部件沿垂直于所述夹爪的夹持力的横向方向移动。
5.根据权利要求2所述的极耳检测设备，其特征在于，所述伸缩驱动机构的驱动端与所述夹爪驱动机构之间设置有微调机构，所述微调机构调整所述夹爪驱动机构相对所述梳子板沿所述夹爪的夹持力的方向移动，以使得两个所述夹爪的中间位置与所述梳子板的所述插槽对准。
6.根据权利要求5所述的极耳检测设备，其特征在于，所述夹爪驱动机构的固定端固定有第一支架，所述伸缩驱动机构的驱动端固定有第二支架，所述微调机构包括穿在所述第一支架和所述第二支架中且能够转动的螺杆，所述螺杆的转动能够驱动所述第二支架相对所述第一支架在所述夹爪的夹持力的方向上移动。
7.根据权利要求1-6中任意一项所述的极耳检测设备，其特征在于，所述极耳检测设备包括两个所述极耳夹持装置，两个所述极耳夹持装置相对设置。
8.一种极耳处理系统，其特征在于，所述极耳处理系统包括极耳位置获取设备、汇流排安装设备以及根据权利要求1-7中任意一项所述的极耳检测设备；
所述极耳位置获取设备用于获取电芯组件的极耳位置信息；
所述汇流排安装设备根据所述极耳位置获取设备所获取的极耳位置信息进行定位并将汇流排安装于所述极耳；
在汇流排安装于所述极耳后，所述极耳检测设备检测所述极耳是否穿过所述汇流排。
9.一种极耳检测方法，其特征在于，所述极耳检测方法包括：
S1、驱动梳子板移动使得所要检测的一组极耳插入所述梳子板的插槽中；
S2、采用两个夹爪夹紧所述梳子板的所述插槽中的极耳；
S3、测量两个所述夹爪之间的间距；
重复步骤S1、S2和S3，依次检测多组极耳。
10.根据权利要求8所述的极耳检测方法，其特征在于，两个所述夹爪之间的间距测量完后，所述极耳检测方法还包括：
所述夹爪松开并退出；
驱动所述梳子板沿插槽内的所述极耳的表面移动以整平所述极耳。
CN201910943044.0A 2019-09-30 2019-09-30 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法 Pending CN110676190A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910943044.0A CN110676190A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910943044.0A CN110676190A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110676190A true CN110676190A (zh) 2020-01-10

Family

ID=69080567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910943044.0A Pending CN110676190A (zh) 2019-09-30 2019-09-30 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110676190A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113571843A (zh) * 2021-06-30 2021-10-29 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种电池模组汇流排安装设备及安装方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113571843A (zh) * 2021-06-30 2021-10-29 广东利元亨智能装备股份有限公司 一种电池模组汇流排安装设备及安装方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN218824441U (zh) 一种电池测试机构
CN110676190A (zh) 极耳检测设备、极耳处理系统及极耳检测方法
CN210575842U (zh) 极耳检测设备及极耳处理系统
CN210575982U (zh) 汇流排安装设备及极耳处理系统
CN210923829U (zh) 多量程电容检测夹具
CN108918972B (zh) 一种碳滑板电阻检测装置
CN114371314B (zh) 一种电芯产品测试设备
CN111123121A (zh) 一种电池的夹取检测夹具及电池组装设备
CN110690309A (zh) 汇流排安装设备、极耳处理系统及汇流排安装方法
CN214584998U (zh) 电芯包膜缺陷检测装置
CN218272560U (zh) 一种基于无人机的输电线路零值绝缘子带电检测装置
CN216082979U (zh) 一种模组绝缘耐压检测装置
CN216595204U (zh) 用于锂电池电芯电压测试的治具
CN208476973U (zh) 一种测电桥夹具
CN211148868U (zh) 电芯短路检测装置及圆柱形纽扣式电芯制片卷绕机
CN216026356U (zh) 步进电机检测设备
CN215728400U (zh) 一种基于物联网的剩余电流传感器
CN219417632U (zh) 一种耐压测试装置
CN215526067U (zh) 检测工装
CN110780137B (zh) 一种电子元器件耐高温测试装置
CN220289216U (zh) 一种电缆拉力试验机夹持结构
CN109633347A (zh) 一种绝缘工器具缺陷检测平台及检测方法
CN220019770U (zh) 一种磁场干扰测试工装
CN220218419U (zh) 一种可夹持旋转的检测装置
CN217181073U (zh) 一种用于电缆的电动力测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination