CN110673020B - 一种芯片测试治具 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种芯片测试治具，包括：底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片安装槽配合，用于压紧测试芯片；按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；卡合件，与所述手柄连接。本发明通过在上盖上设置挤压件、手柄及连接在手柄上的鱼钩件，使上盖与底座扣合，从而将测试芯片压紧，省力方便。

Description

一种芯片测试治具
技术领域
本发明涉及FCT测试领域，尤指一种芯片测试治具。
背景技术
在SIP-FCT站测试过程中，作业员需要取放测试芯片，然后盖上治具上盖进行测试。这样就要求扣合上盖的力不能太大，易扣合，否则就会造成人员操作上的费力，不符合人体工程学，影响测试的稳定，最后导致生产效率低下。
先前使用的测试治具是通过把手将上盖扣合的，如果将测试治具上的测试针的数量改为600，那么在SIP-FCT站测试过程中，作业员在取放测试芯片时，通过把手盖上治具的上盖，扣合上盖时会很费力，不易扣合，影响生产效率；测试完成后，打开上盖时，需要很大的力打开，不易操作，影响测试工时，为了解决这一技术问题，提出一种芯片测试治具。
发明内容
本发明将解决现有治具在测试芯片时，扣合治具费力的技术问题，提供一种芯片测试治具。
本发明提供的技术方案如下：
一种芯片测试治具，其特征在于，包括：
底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；
上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；
压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；
按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；
手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；
卡合件，与所述手柄连接。
在本技术方案中，通过在上盖上设置挤压件，挤压件在挤压压板时形成杠杆，同时上盖与底座之间连接形成一个支点，在将上盖与底座扣合时，向下按压手柄带动挤压件在旋转，这样就会在原有的上盖上再形成新的杠杆，以保证在将上盖与底座扣合时，不需要太费力就能够将上盖与底座扣合在一起。
优选地，还包括两个支撑块，所述两个支撑块相对设置，固定在所述上盖的上端面两侧边的中心线上，用于安装所述按压件，且所述按压件于两个所述支撑块之间转动。
在本技术方案中，两个支撑块用于安装挤压件，支撑块的材质与上盖的材质不一样，支撑块的强度高于上盖的强度，确保不会因经常下压手柄的时候，支撑块在受到下压的力过大而发生变形或损坏。
优选地，所述两个支撑块相对的一侧侧壁上安装有球头柱塞。
在本技术方案中，支撑块上的球头柱塞在上盖处于自然状态下的时候，手柄不会因重力直接垂下来，这样在后期扣合上盖时，就不需要调节手柄来扣合上盖，而球头柱塞起到阻挡的作用，防止手柄在上盖处于自然状态时过度向下移动。
优选地，卡合件包括：
鱼钩件，所述鱼钩件的一端固定在所述手柄的自由端上，另一端呈钩状；
卡扣，所述卡扣具有夹角为钝角两条边，所述两条边分别为呈口型的按压部和呈凹型的扣合部，所述卡扣通过设置在所述按压部和扣合部的相交边上的铰接点与所述上盖前侧面的凹槽内壁铰接，所述卡扣上连接有第一弹簧的一端，所述第一弹簧的另一端连接在所述上盖上，所述第一弹簧的弹性力使所述扣合部远离所述上盖；
所述手柄本体上设有开孔，以方便按压手柄时所述卡扣的按压部穿过所述手柄本体；
其中，按压所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件勾住所述卡扣的按压部向下运动，使所述卡扣的扣合部向靠近所述上盖的方向运动，所述第一弹簧受到挤压；继续按压所述手柄的自由端至贴近所述上盖，所述鱼钩件脱离所述卡扣的按压部。
上抬所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件脱离所述按压部，所述按压部向靠近所述上盖的方向运动，使所述扣合部脱离所述底座。
优选地，所述卡扣包括滚轴，所述滚轴连接在所述按压部上，用于鱼钩件下压时，与所述鱼钩件相挤压或卡合。
在本技术方案中，在卡扣上设置滚轴，滚轴可以滚动，在下压时，鱼钩件与滚轴抵触，使卡扣的按压部位置发生变化，随着鱼钩件不断的下压，鱼钩件与滚轴由原来的抵触变成鱼钩件勾住卡扣，从而使卡扣上的卡合端卡合在底座上，同时也方便上抬时，鱼钩件与滚轴脱离，从而使卡扣的卡合端与底座脱离。
优选地，所述按压件为凸轮状结构。
优选地，还包括推板，所述推板与所述压板靠近手柄的一侧连接；
其中，按压手柄自由端带动所述按压件挤压所述推板，使所述推板带动所述压板压紧测试芯片。
在本技术方案中，通过手柄带动挤压件转动按压压板，以压紧待测试芯片，以保证在压紧的过程挤压件挤压压板时，压板中的第二弹簧能起到缓冲作用，防止压板将芯片压坏，或者造成卡合机构损坏。
优选地，所述推板上靠近所述压板的一侧设置有若干定位柱，所述定位柱与所述压板上开设的定位孔间隙配合，所述压板与所述推板之间设置有若干第二弹簧。
优选地，所述上盖的四周开设有活动孔，所述推板靠近所述压板一侧的边缘设置有若干限位柱，所述底座上设置有若干与限位柱匹配的限位套，所述限位柱穿过活动孔与所述限位套间隙配合。
在本技术方案中，限位柱与限位套匹配，确保在压板下压时，压板每次都会沿着竖直方向向下运动，从而将测试芯片压紧。
优选地，所述上盖上开设有若干安装槽，所述推板靠近压板的一侧边缘连接有若干第三弹簧的一端，所述第三弹簧的另一端连接在所述安装槽内。
在本技术方案中，为了更好的保护测试芯片，第三弹簧能够将芯片更好地压紧且不容易损坏芯片和治具。
与现有技术相比，本发明提供的一种芯片测试治具的实施例具有以下有益效果：
1、本发明通过在上盖上设置挤压件、手柄及连接在手柄上的鱼钩件，挤压件连接在上盖上并以挤压压板的点为支点，手柄下压时，带动挤压件转动，挤压压板，使压板不断的向下运动，最终带动卡合件卡合在底座上，使上盖与底座扣合，从而将测试芯片压紧，省力方便。
2、本发明中的球头柱塞能够阻挡手柄下垂，防止在不使用的情况下鱼钩件与滚轴卡住，便于在测试的时候，能够很快上抬上盖将测试芯片放在治具内，使操作更加的方便快捷。
、 本发明通过在压板中添加限位柱、限位套及第三弹簧，使得在压紧测试芯片的过程中，能够起到很好的缓冲作用，不会将测试芯片压坏，同时在下压的过程中，压板始终会沿着限位套的位置向下压紧测试芯片，这样既可以保证能够对芯片均匀受力，同时还能够保证压板不会压偏，产生侧向力，起到更好的保护效果。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种芯片测试治具的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是本发明一种测试治具的结构示意图；
图2是本发明一种测试治具的部分爆炸结构示意图；
图3是本发明一种测试治具的剥离上盖后的结构示意图；
图4是图3的另一视角结构示意图；
图5是本发明一种测试治具的卡扣结构示意图；
图6是本发明一种测试治具的凸轮结构示意图；
图7是本发明一种测试治具的底座结构示意图。
附图标号说明：底座110、上盖120、安装槽121、活动孔122、支撑块130、球头柱塞131；
挤压件200、固定孔221、第一安装孔222、凸轮轴210、固定套220、第一卡箍230；
手柄300；
鱼钩件410、卡扣420、扣合部421、按压部422、卡合端423、按压端424、滚轴425、卡合套426、第二卡箍427、第二安装孔428、安装杆429、第一弹簧430、固定槽431。
推板510、压板520、第二弹簧530、限位柱540、限位套550、第三弹簧560。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
根据本发明提供的一种实施例，如图1-4所示，一种芯片测试治具，包括：
底座110，底座110内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；上盖120为框架结构，前侧面设有凹槽；与底座110的后侧边铰接；压板520安装在上盖120的下端面，并与测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；
按压件200，按压件200铰接在上盖120的上端面中心线上；
手柄300，手柄300的固定端与按压件200铰接，按压或提起手柄300的自由端，带动按压件200靠近上盖120或远离上盖120的方向转动；卡合件与手柄300连接。
在实施过程中，按压件200上开设有固定孔221，手柄300与按压件200通过固定螺钉固定在固定孔221上，如图6所示，按压件200安装在上盖120上，使按压件200可以转动，而在实施时，按压件200可以在两端开设连接点，使连接点连接在上盖120后，按压件200能够转动；同时还可以在按压件200上开设第一安装孔222，安装下文所述的凸轮轴210，再将凸轮轴210的两端安装在上盖120上，本实施例中不对按压件200安装在上盖120上的具体方式做阐述，仅需使安装在上盖120上按压件200能够转动，以保证在上盖120扣合时不费力，从而使压板520将测试芯片压紧；
如图1-4所示，在本发明的另一实施例中，还包括两个支撑块130，两个支撑块130相对设置，固定在上盖120的上端面两侧边的中心线上，用于安装按压件200，且按压件200于两个支撑块130之间转动；在具体实施的时候，支撑块130可以与上盖120一体成型使支撑块130成为上盖120的一部分；支撑块130也可以通过螺钉安装在上盖120上，本实施例中优选为将支撑块130通过螺钉安装在上盖120上，而此方案中，为了保证支撑块130能够更好的支撑按压件200，增加整个治具的使用寿命，支撑块130使用的材料强度大于上盖120的材料强度，不仅能够节约生产成本，还能够更好的起到支撑作用。
同时，两个支撑块130相对的一侧侧壁上安装有球头柱塞131，球头柱塞131可以阻挡自身重力的作用下向下运动，以确保不会在扣合上盖120的时候，鱼钩件410与下文所述的卡扣420卡合在一起，方便放测试芯片。在本实施例中，按压件200为凸轮状结构，按压件200通过凸轮轴210连接在支撑块130上，在具体实施的时候，按压件200上开设有第一安装孔222，凸轮轴210穿过第一安装孔222，且凸轮轴210位于第一安装孔222外的一段上套有固定套220，然后凸轮轴210的两端穿过支撑块130上开设的第三安装孔，并用第一卡箍230将凸轮轴210的两端卡住，这样便于安装和拆卸；按压件200能绕凸轮轴210旋转，这样就能在手柄300带动按压件200转动的时候，凸轮轴210均匀受力，这样能够保证手柄300带动按压件200运动的时候，凸轮轴210能够很好的起到支撑作用。
如图5所示，在本发明的另一实施例中，卡合件包括：
鱼钩件410，鱼钩件410的一端固定在手柄300的自由端上，另一端呈钩状；其中，在实施时，鱼钩件410可以固定连接在手柄300上，与下文所述的卡扣420配合使用；也可以通过扭簧连接在手柄300上，在使用的时候，能够在下压手柄300后很方便的钩在底座110上，而在打开上盖120的时候，只需再按压手柄300的状态下，用手指拨动鱼钩件410即可使鱼钩件410脱离底座110；而在本技术方案中，鱼钩件410与下文所述的卡扣420配合使用。
卡扣420，卡扣420具有夹角为钝角两条边，两条边分别为呈口型的按压部422和呈凹型的扣合部421，卡扣420通过设置在按压部422和扣合部421的相交边上的铰接点与上盖120前侧面的凹槽内壁铰接，卡扣420上连接有第一弹簧430的一端，第一弹簧430的另一端连接在上盖120上，第一弹簧430的弹性力使扣合部421远离上盖120；在具体实施的时候，扣合部421上开设第二安装孔428，通过安装杆429安装在上盖120上；且扣合部421的侧壁通过若干第一弹簧430与上盖120的侧壁连接，扣合部421上开设有与第一弹簧430数量相匹配的固定槽431，第一弹簧430的一端固定在固定槽431内，另一端固定在上盖120的侧壁上；在实际过程中固定槽431位于铰接点以上时，此时第一弹簧430起到推动的作用，固定槽431位于铰接的点以下时，此时第一弹簧430起到拉动的作用，使扣合部与底座扣合的位置始终靠近上盖120；
手柄300本体上设有开孔，以方便按压手柄300时卡扣420的按压部422穿过手柄300本体；
其中，按压手柄300的自由端，带动鱼钩件410勾住卡扣420的按压部422向下运动，使卡扣420的扣合部421向靠近上盖120的方向运动，第一弹簧430受到挤压；继续按压手柄300的自由端至贴近上盖120，鱼钩件410脱离卡扣420的按压部422。
上抬手柄300的自由端，带动鱼钩件410脱离按压部422，按压部422向靠近上盖120的方向运动，使扣合部421脱离底座110。在具体使用时，手柄300自由端下压时，鱼钩件410与滚轴425抵触，鱼钩件410挤压滚轴425，使卡扣420的按压端424位置发生变化，按压端424不断的靠近上盖120，卡合端423不断的远离上盖120，随着鱼钩件410不断的下压，鱼钩件410与滚轴425由原来的抵触变成鱼钩件410勾住滚轴425，随即下压时，卡扣420在第一弹簧430的作用下复位，卡在底座110上，卡扣420的滚轴425与鱼钩件410相卡合；上抬手柄300、打开上盖120时，鱼钩件410与滚轴425之间相互接触的位置发生变化，由开始的接触到鱼钩件410与滚轴425脱离，再一次使按压端424靠近上盖120，卡合端423远离底座110，此时松手，卡扣420的卡合端423就会与底座110脱离。
在实际制造时，按压部422上的按压端424用于与鱼钩件410相卡合或相挤压，按压端424只需要达到这样的功能即可，按压端424可以为按压部422端部开设一勾槽，这样在抵触时，与按压部422端部抵触，卡合时，卡合在勾槽内；还可以在按压部422的端部开设一缺口，然后安装滚轴425，本实施例对于按压端424的其他变形方式不做过多的延展，扣合部上具有一卡合端423；而在本实施例中，卡扣420还包括滚轴425，滚轴425连接在按压端424上，用于鱼钩件410下压时与鱼钩件410相挤压或卡合。在具体实施的时候，卡扣420的按压端424为缺口端，将滚轴425插在按压端上位于缺口两侧开设转动孔内，滚轴425位于缺口处的一段上对称套设有两个卡合套426，滚轴425的两端上卡合有第二卡箍427，用来将滚轴425固定住，防止滚轴425脱离转动孔，在卡扣420上设置滚轴425，滚轴425可以滚动。
如图3和4所示，在本发明的另一实施例中，还包括推板510，推板510与压板520靠近手柄300的一侧连接；其中，按压手柄300自由端带动按压件200按压推板510，使推板510带动压板520压紧测试芯片。
在具体实施的时候，再次参照图3和图4所示，推板510上靠近压板520的一侧设置有若干定位柱，定位柱与压板520上开设的定位孔间隙配合，压板520与推板510之间通过固定钉连接，且使压板520和推板510之间保持一定距离，并在压板520与推板510之间设置若干第二弹簧530。
在本发明的另一实施例中，如图3、图4和图7所示，如在具体实施的时候，上盖120的四周开设有活动孔122，推板510靠近压板520一侧的边缘设置有若干限位柱540的一端，底座110上连接有若干与限位柱540匹配的限位套550，限位柱540穿过活动孔122与限位套间隙配合。
上盖120上开设有若干安装槽121，推板510靠近压板520的一侧边缘连接有若干第三弹簧560的一端，第三弹簧560的另一端连接在安装槽121内。
在按压手柄300的时候，带动按压件200旋转，按压件200挤压推板510，致使推板510向下运动，第二弹簧530的存在使推板510不会直接挤压压板520达到压紧效果，而是在推板510下压的时候，推板510在第二弹簧530的作用下能够缓冲一下，同时第三弹簧560也是起到缓冲的作用，而在本实施例中，限位柱540与限位套550之间相互配合，使压板520在下压的时候保持位置不变，始终沿着同一方向下压，以保证不会压偏，造成对测试芯片的受力不均。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括：
底座，所述底座内设凹槽，用于安装芯片的测试嵌套；
上盖，所述上盖为框架结构，与所述底座的后侧边铰接，前侧面设有凹槽；
压板，安装在所述上盖的下端面，并与所述测试嵌套的芯片放置槽配合，用于压紧测试芯片；
按压件，所述按压件铰接在所述上盖的上端面中心线上；
手柄，所述手柄的固定端与所述按压件铰接，按压或提起所述手柄的自由端，带动所述按压件靠近所述上盖或远离所述上盖的方向转动；
卡合件，与所述手柄连接，包括鱼钩件和卡扣；
所述鱼钩件的一端固定在所述手柄的自由端上，另一端呈钩状；所述卡扣具有夹角为钝角两条边，所述两条边分别为呈口型的按压部和呈凹型的扣合部，所述卡扣通过设置在所述按压部和扣合部的相交边上的铰接点与所述上盖前侧面的凹槽内壁铰接，所述卡扣上连接有第一弹簧的一端，所述第一弹簧的另一端连接在所述上盖上，所述第一弹簧的弹性力使所述扣合部远离所述上盖；
其中，按压所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件勾住所述卡扣的按压部向下运动，使所述卡扣的扣合部向靠近所述上盖的方向运动，所述第一弹簧受到挤压；继续按压所述手柄的自由端至贴近所述上盖，所述鱼钩件脱离所述卡扣的按压部；
上抬所述手柄的自由端，带动所述鱼钩件脱离所述按压部，所述按压部向靠近所述上盖的方向运动，使所述扣合部脱离所述底座。
2.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：还包括两个支撑块，所述两个支撑块相对设置，固定在所述上盖的上端面两侧边的中心线上，用于安装所述按压件，且所述按压件于两个所述支撑块之间转动。
3.根据权利要求2所述的芯片测试治具，其特征在于：所述两个支撑块相对的一侧侧壁上安装有球头柱塞。
4.根据权利要求1-3任一所述的芯片测试治具，其特征在于：所述手柄本体上设有开孔，以方便按压手柄时所述卡扣的按压部穿过所述手柄本体。
5.根据权利要求4所述的芯片测试治具，其特征在于：所述卡扣包括滚轴，所述滚轴连接在所述按压部上，用于鱼钩件下压时，与所述鱼钩件相挤压或卡合。
6.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：所述按压件为凸轮状结构。
7.根据权利要求1所述的芯片测试治具，其特征在于：
还包括推板，所述推板与所述压板靠近手柄的一侧连接；
其中，按压手柄自由端带动所述按压件挤压所述推板，使所述推板带动所述压板压紧测试芯片。
8.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述推板上靠近所述压板的一侧设置有若干定位柱，所述定位柱与所述压板上开设的定位孔间隙配合，所述压板与所述推板之间设置有若干第二弹簧。
9.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述上盖的四周开设有活动孔，所述推板靠近所述压板一侧的边缘设置有若干限位柱，所述底座上设置有若干与限位柱匹配的限位套，所述限位柱穿过活动孔与所述限位套间隙配合。
10.根据权利要求7所述的芯片测试治具，其特征在于：所述上盖上开设有若干安装槽，所述推板靠近压板的一侧边缘连接有若干第三弹簧的一端，所述第三弹簧的另一端连接在所述安装槽内。
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