CN110643933A - 复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法 - Google Patents

复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法 Download PDF

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Abstract

本申请涉及钢热处理领域，具体而言，涉及一种复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法。复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为27％～33％。本申请提供的复合渗碳剂在渗碳过程中，通过不同粒径的第二渗碳剂和第一渗碳剂相互穿插，相互填补缝隙，渗入适量的氧气量，确保活性碳原子反应形成，形成均匀稳定的渗碳氛围，使试样表面形成均匀的厚度达标的渗碳层，同时避免氧气过量导致氧化严重的问题。

Description

复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体 晶粒度的检测方法
技术领域
本申请涉及钢热处理领域，具体而言，涉及一种复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法。
背景技术
奥氏体晶粒是钢在奥氏体化时所得到的晶粒，此时的晶粒尺寸称为奥氏体晶粒度，用于表征钢加热时奥氏体晶粒长大的倾向。检测奥氏体晶粒的方法之一为渗碳法。
现有技术中渗碳的温度较低、保温时间长，保温时间长会导致表面氧化严重，甚至在渗碳后期出现氧化速度接近渗入速度的现象，导致形成的渗碳层过薄而无法进行检测。如果仅仅提高渗碳温度，试样的表面氧化会更加严重，影响检测结果。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法，其旨在改善现有的奥氏体晶粒检测过程中表面氧化严重或检测时间过长的问题。
本申请第一方面提供一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂。
其中，第一渗碳剂的质量百分数为27％～33％。
本申请提供的复合渗碳剂在渗碳过程中，通过不同粒径的第二渗碳剂和第一渗碳剂相互穿插，相互填补缝隙，使适量的氧气渗入渗碳层，确保活性碳原子反应形成以形成均匀稳定的渗碳氛围，使试样表面形成均匀的厚度达标的渗碳层，同时避免大量氧气渗入造成渗碳层氧化严重的问题。
如果渗碳剂的粒径较大无法形成均匀稳定的渗碳氛围，不利于试样表面形成均匀的渗碳层，还可能导致渗碳层氧化严重。此外，如果渗碳剂的粒径较小，完全隔绝了空气，空气不能进入渗碳剂颗粒内，阻碍活性碳原子的形成，影响渗碳效果，本申请实施例提供的复合渗碳剂解决了上述问题。
在本申请第一方面的一些实施例中，第一渗碳剂的质量百分数为29％～31％。
第一渗碳剂的质量百分数为29％～31％，能够进一步提高渗碳层的均匀性，避免渗碳层被氧化。
本申请第二方面提供一种用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其包括：
采用本申请第一方面提供的复合渗碳剂对奥氏体试样进行渗碳处理。
采用第一方面提供的复合渗碳剂对奥氏体试样进行渗碳，能够得到均匀的渗碳层。解决现有的奥氏体晶粒检测过程中表面氧化严重的问题。
在本申请第二方面的一些实施例中，其包括：于奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的复合渗碳剂；然后在950℃～1050℃的渗碳温度下保温120min以上；炉冷至600℃以下后取出。
在950℃～1050℃的渗碳温度下保温120min即可使渗碳层大于1.27mm，且渗碳层组织均匀，节约渗碳时间的同时能够得到比较理想的渗碳层，缩短检测时间。
在本申请第二方面的一些实施例中，于奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的复合渗碳剂的步骤包括：
将奥氏体试样置于厚度大于等于10mm的复合渗碳剂上方，然后采用复合渗碳剂覆盖奥氏体试样，直到奥氏体试样四周的渗碳剂厚度大于等于10mm。
采用该方式可以避免渗碳层的氧化，同时确保在渗碳过程中充足的活性碳原子供应。
在本申请第二方面的一些实施例中，于奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的复合渗碳剂的步骤之前还包括：
对试样进行加工得到表面无脱碳层和无氧化层的奥氏体试样。
对试样进行加工，可避免脱碳层和氧化层对后期渗碳过程的影响，以及避免对渗碳后的检测结果。
在本申请第二方面的一些实施例中，奥氏体试样的尺寸为15～20mm*10mm*10mm。
本申请第三方面提供一种奥氏体晶粒度的检测方法，其包括：
采用本申请第二方面提供的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法对奥氏体试样进行渗碳，然后在金相显微镜下观察渗碳后的奥氏体试样。
本申请提供的奥氏体晶粒度的检测方法可以节约渗碳时间和检测时间。
在本申请第三方面的一些实施例中，对奥氏体试样进行渗碳步骤之后，在金相显微镜下观察渗碳后的奥氏体试样步骤之前，还包括：
切割渗碳后的奥氏体试样。
在本申请第三方面的一些实施例中，切割渗碳后的奥氏体试样的尺寸为长*宽*高10mm*10mm*10mm。
本申请实施例提供的复合渗碳剂至少具有以下有益效果：
本申请提供的复合渗碳剂在渗碳温度下保温2个小时即可达到渗碳深度大于1.27mm；在确保渗碳层达到标准(中国标准最小渗层1mm，美国标准0.05英寸(即1.27mm))的前提下，很大程度地缩短了渗碳时间。采用本申请提供的复合渗碳剂，可在一定范围内升高渗碳温度(例如升高到1050℃)，渗碳温度升高，活性碳原子反应加快，同时温度越高扩散原子获得的能量越高，超越势垒的几率增大，有利于扩散速率的提高；且试样的表面氧化微弱，可以忽略不计，试样也能够达到检测标准。
本申请实施例提供的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法至少具有以下有益效果：
本申请实施例提供的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法使用上述复合渗碳剂，能在试样表面形成均匀的渗碳层，复合渗碳剂粒径的合理分配，在保证活性碳原子形成的情况下很大程度上避免渗碳层的氧化。且该方法可以在渗碳温度下保温2个小时即可以达到试样检测标准，节约渗碳时间。
本申请实施例提供的奥氏体晶粒度的检测方法至少具有以下有益效果：
本申请实施例提供的奥氏体晶粒度的检测方法具有上述优点，能够节约渗碳保温时间，节约成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本申请实施例提供的渗碳工艺曲线图。
图2示出了实施例6的表面渗层金相显微镜图。
图3示出了实施例7的表面渗层金相显微镜图。
图4示出了实施例8的表面渗层金相显微镜图。
图5示出了实施例9的表面渗层金相显微镜图。
图6示出了实施例10的表面渗层金相显微镜图。
图7示出了实施例11的表面渗层金相显微镜图。
图8示出了实施例12的表面渗层金相显微镜图。
图9示出了实施例13的表面渗层金相显微镜图。
图10示出了对比例1的表面渗层金相显微镜图。
图11示出了对比例2的表面渗层金相显微镜图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。实施例中未注明具体条件者，按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可以通过市售购买获得的常规产品。
下面对本申请实施例的复合渗碳剂、用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法以及奥氏体晶粒度的检测方法进行具体说明。
一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为27％～33％。
在本实施例中，第二渗碳剂与第一渗碳剂的成分以及组成相同，第一渗碳剂与第二渗碳剂的区别在于粒径不同。
作为示例性地，第二渗碳剂可以包括木炭、SiC及催渗剂，催渗剂例如可以包括BaCO3、Na2CO3、CH3COONa、(CH3COO)2Ba等。相应地，第一渗碳剂也可以包括木炭、SiC及催渗剂，催渗剂例如可以包括BaCO3、Na2CO3、CH3COONa、(CH3COO)2Ba等。需要说明的是，在本申请的其他实施例中，第一渗碳剂与第二渗碳剂的成分也可以为其他。
在本实施例中，第一渗碳剂与第二渗碳剂为进行了粒度处理的含碳量较高的物质，比如可以是日常生活中使用的烧烤木炭。
作为示例性地，粒径为1.0mm～3.0mm的第一渗碳剂可以先采用16目网筛筛分，去除粒径小于16目的渗碳剂，然后再采用6目的网筛筛分，取筛下物，得到粒径为16-6目的第一渗碳剂。
作为示例性地，粒径为5.0mm～8.0mm的第二渗碳剂可以先采用4目网筛筛分，取筛上物，然后再采用2目网筛筛分，取筛下物，得到粒径为4-2目的第二渗碳剂。
第一渗碳剂的质量百分数为27％～33％，余下的为第二渗碳剂以及不可避免的杂质。进一步地，在一些实施例中，第一渗碳剂的质量百分数为29％～31％。
作为示例性地，复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为27％，
第二渗碳剂的质量百分数为73％；复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为28％，第二渗碳剂的质量百分数为72％；复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为29％，第二渗碳剂的质量百分数为71％；复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为30％，第二渗碳剂的质量百分数为70％；复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为31％，第二渗碳剂的质量百分数为69％；复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为32％，第二渗碳剂的质量百分数为68％；或者复合渗碳剂中第一渗碳剂的质量百分数为33％，第二渗碳剂的质量百分数为67％。
现有技术中，试样渗碳温度为930℃左右，达到1.0mm的渗层深度要求需要保温6小时以上，达到1.27mm的渗层深度要求需要保温8小时以上。加上升温时间需1.5小时，为保证碳化物有效析出降温时间需要3.5小时。因此现有技术中渗碳法检测奥氏体晶粒度的方法试样处理时间需要11-13小时，处理周期很长；而且由于长时间的保温，造成表面氧化严重，渗碳后期会出现氧化速度接近渗入速度的现象，造成实际渗层深度无法稳定满足检测要求的现象。升高温度能够在一定程度上降低渗碳时间，但是升高温度会导致渗碳层更严重的氧化。
本申请提供的复合渗碳剂能够解决上述技术问题。
本申请提供的复合渗碳剂中包括27％～33％的粒径为1.0～3.0mm的较小颗粒的第一渗碳剂和余下的5.0mm～8.0mm的较大颗粒的第二渗碳剂。在渗碳过程中，大颗粒的第二渗碳剂和小颗粒的第一渗碳剂相互穿插，相互填补缝隙，在渗碳温度下形成均匀稳定的渗碳氛围，较好地隔绝试样外的氧气，避免试样表面被氧化，使试样表面形成均匀的渗碳层。
本申请提供的复合渗碳剂避免了下列两个方面问题的产生。
一方面，如果部分或者全部渗碳剂的粒径较大(例如大于8mm)，氧气可能从渗碳剂的缝隙间进入试样表面，导致试样被氧化；且部分渗碳剂的粒径较大，在加热保温过程中无法形成均匀稳定的渗碳氛围，不利于试样表面形成均匀的渗碳层。
另一方面，如果部分渗碳剂的粒径较小(例如大于1mm)，渗碳剂之间的缝隙太小，完全隔绝了空气，空气不能进入渗碳剂颗粒内，阻碍活性碳原子[C]的反应形成，影响渗碳效果。活性碳原子形成反应公式如下：
2C+O2→2CO
2CO→CO2+[C]
本申请提供的复合渗碳剂能够允许部分空气进入渗碳剂的颗粒间，使渗碳剂转化为活性碳原子，形成均匀的渗碳层；同时本申请提供的复合渗碳剂又会阻止空气穿过渗碳剂与试样表面的渗碳层发生氧化反应，减小试样表面的氧化，避免渗碳层的氧化失效。
此外，采用本申请提供的复合渗碳剂在渗碳温度下保温2个小时即可达到渗碳深度大于1.27mm；在确保渗碳层达到标准的前提下，，很大程度地缩短了渗碳时间。采用本申请提供的复合渗碳剂，可在一定范围内升高渗碳温度(例如升高到1050℃)，渗碳温度升高，活性碳原子反应加快，同时温度越高扩散原子获得的能量越高，超越势垒的几率增大，有利于扩散速率的提高；升高温度后试样的表面氧化微弱，可以忽略不计，试样同样也能够达到检测标准。
进一步地，上述的标准可以为ASTM E112-2013，其要求渗碳层不小于0.05英寸(即1.27mm)；或者GB/T6394-2002，其要求渗碳层不小于1mm。
本实施例还提供一种用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其包括：采用上述的复合渗碳剂对奥氏体试样进行渗碳处理。
承上所述，采用上述的复合渗碳剂对奥氏体试样进行渗碳处理，能够在奥氏体试样表面形成均匀的渗碳层，并且渗碳处理的保温时间较短，不小于120min即可。上述的复合渗碳剂可以快速形成活性碳原子，也可以避免奥氏体试样表面的渗碳层被氧化。解决了现有的奥氏体晶粒检测过程中检测时间过长、表面氧化严重的问题。
进一步地，用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法包括：
于奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的复合渗碳剂；然后在950℃～1050℃的渗碳温度下保温120min以上；炉冷至600℃以下后取出。
作为示例性地，奥氏体试样四周覆盖的复合渗碳剂的厚度可以为10mm、10.5mm、11mm、12mm、12.5mm或者15mm等。渗碳温度可以为950℃、955℃、960℃、970℃、980℃、990℃、1000℃、1010℃、1020℃或者1050℃等。在渗碳温度下保温的时间可以为120min、130min、150min、180min、200min、260min、300min、400min、500min或者600min。
本申请不限定为奥氏体试样渗碳的炉子的型号以及结构。炉冷至600℃以下后取出，是指保温完成后，奥氏体试样在炉内与炉子一起降温，直到炉内温度小于600℃后便可取出，取出后可以采用风冷或者自然冷却的方式冷却至常温。
采用上述符合渗碳剂在950℃～1050℃的渗碳温度下保温120min及以上渗碳深度即可大于或等于1.27mm；且渗碳均匀。可以看出该渗碳方法的保温时间较短、渗碳温度较高，且能够达到最终的检测标准。即便是保温时间较长，例如保温600min后，其渗碳层也几乎没有被氧化。
需要说明的是，在本申请的其他实施例中，渗碳过程中的渗碳温度也可以为其他值，例如930℃±10℃或者927℃±14℃范围内等。
在本实施例中，奥氏体试样是通过对试样进行加工得到表面无脱碳层和无氧化层的。在钢材上取样，取样位置避开剪切/锯切的影响区域，样品表面不得有脱碳层和氧化层，试样尺寸按照长*宽*高为15～20mm*10mm*10mm。
加工得到表面无脱碳层和无氧化层的奥氏体试样，是为了避免脱碳层和氧化层对后期渗碳过程的影响，以及避免对渗碳后的检测结果。
将奥氏体试样置于厚度大于等于10mm的复合渗碳剂上方，然后采用复合渗碳剂覆盖奥氏体试样，直到奥氏体试样上方的渗碳剂厚度大于等于10mm。采用该方式，可以尽可能地避免渗碳层被氧化。
图1示出了本申请实施例提供的渗碳工艺曲线图，请参阅图1，将四周覆盖了复合渗碳剂的奥氏体试样置于炉内，先升温，然后保温一段时间(例如120分钟)，达到保温时间后停止加热，在炉内缓慢冷却至600℃以下(例如500℃)，为碳化物在晶界提供充分时间，然后出炉风冷直至常温。
本申请还提供一种奥氏体晶粒度的检测方法，其包括：
采用上述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法对奥氏体试样进行渗碳，然后在金相显微镜下观察渗碳后的奥氏体试样。
承上所述，采用上述渗碳方法对奥氏体试样进行渗碳，可以得到均匀的渗碳层组织，可以更加准确地获取奥氏体晶粒尺寸。
在本实施例中，在金相显微镜下观察渗碳后的所述奥氏体试样步骤之前，还包括：切割渗碳后的奥氏体试样。切割后尺寸为长*宽*高10mm*10mm*10mm。
切割渗碳后的奥氏体试样，便于对不同深度渗碳层的观察。
以下结合实施例对本申请的特征和性能作进一步的详细描述。
实施例1-实施例5、对比例1-对比例6提供的渗碳剂均选自相同的渗碳剂，从中筛选不同的粒径混合得到。
实施例1
本实施例提供了一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂。其中，第一渗碳剂的质量百分数为30％，第二渗碳剂的质量百分数为70％。
实施例2
本实施例提供了一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为27％，第二渗碳剂的质量百分数为73％。
实施例3
本实施例提供了一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为28％，第二渗碳剂的质量百分数为72％。
实施例4
本实施例提供了一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为31％，第二渗碳剂的质量百分数为69％。
实施例5
本实施例提供了一种复合渗碳剂，复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；其中，第一渗碳剂的质量百分数为33％，第二渗碳剂的质量百分数为67％。
实施例6
本实施例提供了一种奥氏体晶粒度的渗碳方法和奥氏体晶粒度的检测方法。
奥氏体晶粒度的渗碳方法包括以下步骤：
选择带盖的渗碳灌，在渗碳灌底部平铺10mm厚的实施例1提供的符合渗碳剂，将奥氏体试样放置于渗碳剂上方，再用符合渗碳剂将试样覆盖，并保证试样上方的渗碳剂厚度12mm，密封渗碳灌。
将渗碳灌放置在加热炉内，对加热炉加热升温，升温到渗碳温度，保温一端时间后，渗碳灌随炉冷却，然后取出渗碳灌，出炉风冷直至常温。
奥氏体晶粒度的检测方法包括上述步骤，还包括：
切割出炉后的奥氏体试样，重新切割检测面，磨制检测面，然后在金相显微镜下观察渗层及晶粒度情况。
图2示出了实施例6的表面渗层金相显微镜图，图2中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
实施例7-实施例12
实施例7-实施例12提供了奥氏体晶粒度的渗碳方法和奥氏体晶粒度的检测方法。
请参阅实施例6提供的方法，实施例7-实施例12提供的方法与实施例6提供的方法的区别仅在于保温时间、升温时间、炉冷时间、渗碳温度以及使用的渗碳剂不同。具体参数见表1。
图3示出了实施例7的表面渗层金相显微镜图，图3中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
图4示出了实施例8的表面渗层金相显微镜图，图4中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
图5示出了实施例9的表面渗层金相显微镜图。图5中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
图6示出了实施例10的表面渗层金相显微镜图。图6中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
图7示出了实施例11的表面渗层金相显微镜图。图7中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
图8示出了实施例12的表面渗层金相显微镜图。图8中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
实施例13
对比例13提供一种奥氏体晶粒度的渗碳方法和奥氏体晶粒度的检测方法。该方法与实施例6提供的方法相同，区别仅在于保温时间、升温时间、炉冷时间、渗碳温度以及使用的渗碳剂不同。具体参数见表1。本实施例采用实施例1提供的复合渗碳剂。
图9示出了实施例13的表面渗层金相显微镜图，图9中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
表1 实施例6-实施例12中的工艺参数
Figure BDA0002252383300000121
Figure BDA0002252383300000131
对比例1
本对比例提供了一种渗碳剂，该渗碳剂的粒径均大于8.0mm，粒径在8.0～10mm范围内。
本对比例还提供一种奥氏体晶粒度的渗碳方法和奥氏体晶粒度的检测方法。该方法与实施例6提供的方法相同，区别仅在于保温时间、升温时间、炉冷时间、渗碳温度以及使用的渗碳剂不同，在本对比例中，渗碳剂即为本对比例提供的上述渗碳剂。
图10示出了对比例1的表面渗层金相显微镜图，图10中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
对比例2
对比例2提供了一种渗碳剂，该渗碳剂的粒径均小于1.0mm；
对比例2还提供一种奥氏体晶粒度的渗碳方法和奥氏体晶粒度的检测方法。该方法与实施例6提供的方法相同，区别仅在于保温时间、升温时间、炉冷时间、渗碳温度以及使用的渗碳剂不同，在本对比例中，渗碳剂即为本对比例提供的上述渗碳剂。
图11示出了对比例2的表面渗层金相显微镜图，图11中左右两个图表示不同位置处表面渗层情况。
表2 对比例1-对比例6中的工艺参数
Figure BDA0002252383300000132
Figure BDA0002252383300000141
对实施例6-13、对比例1-2提供的奥氏体试样进行观察，观察后组织情况见表3。
表3 实施例6-13、对比例1-2的奥氏体试样组织情况
Figure BDA0002252383300000142
对实施例6-13、对比例1-2的渗层深度进行检测，以及对渗层情况进行观察。结果见表4。
表4 实施例6-13、对比例1-2的渗层情况
序号 渗碳总时间/min 渗层深度/mm 渗层情况
实施例6 456 1.4-1.6 均匀
实施例7 551 1.5-1.7 均匀
实施例8 650 1.4-1.7 均匀
实施例9 446 1.5-1.7 均匀
实施例10 457 1.4-1.6 均匀
实施例11 546 1.5-1.7 均匀
实施例12 649 1.5-1.7 均匀
实施例13 753 0.9-1.4 均匀
对比例1 752 0.7-1.3 不均匀
对比例2 749 ≤0.3 均匀
请一并参阅图2-图11以及表1-表4。从本申请提供的实施例以及对比例可以看出：
实施例13采用了实施例1提供的复合渗碳剂，在930℃的渗碳温度下保温480min，得到的渗层均匀，得到的渗层为0.9-1.4mm，满足中国国标要求，从实施例13和实施例6可以看出，提高渗碳温度至1030℃，缩短保温时间为120min，渗层仍然均匀，且渗层深度大于1.27mm。
根据对比例1以及对比例2可以看出，采用的渗碳剂的粒径小于1mm或者大于8mm，会存在渗层不均匀、氧化严重或者渗层太薄等问题。
以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种复合渗碳剂，其特征在于，所述复合渗碳剂包括粒径为1.0～3.0mm的第一渗碳剂和粒径为5.0～8.0mm的第二渗碳剂；
其中，所述第一渗碳剂的质量百分数为27％～33％。
2.根据权利要求1所述的复合渗碳剂，其特征在于，所述第一渗碳剂的质量百分数为29％～31％。
3.一种用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其特征在于，其包括：
采用权利要求1或2所述的复合渗碳剂对奥氏体试样进行渗碳处理。
4.根据权利要求3所述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其特征在于，其包括：
于所述奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的所述复合渗碳剂；然后在950℃～1050℃的渗碳温度下保温120min以上；炉冷至600℃以下后取出。
5.根据权利要求4所述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其特征在于，所述于所述奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的所述复合渗碳剂的步骤包括：
将所述奥氏体试样置于厚度大于等于10mm的所述复合渗碳剂上方，然后采用所述复合渗碳剂覆盖所述奥氏体试样，直到所述奥氏体试样上方的所述渗碳剂的厚度大于等于10mm。
6.根据权利要求4或5所述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其特征在于，所述于所述奥氏体试样四周覆盖厚度大于等于10mm的所述复合渗碳剂的步骤之前还包括：
对试样进行加工得到表面无脱碳层和无氧化层的所述奥氏体试样。
7.根据权利要求4或5所述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法，其特征在于，所述奥氏体试样的尺寸为15～20mm*10mm*10mm。
8.一种奥氏体晶粒度的检测方法，其特征在于，其包括：
采用权利要求3-7任一项所述的用于检测奥氏体晶粒度的渗碳方法对奥氏体试样进行渗碳，然后在金相显微镜下观察渗碳后的所述奥氏体试样。
9.根据权利要求8所述的奥氏体晶粒度的检测方法，其特征在于，对奥氏体试样进行渗碳步骤之后，在金相显微镜下观察渗碳后的所述奥氏体试样步骤之前，还包括：
切割渗碳后的所述奥氏体试样。
10.根据权利要求9所述的奥氏体晶粒度的检测方法，其特征在于，所述切割渗碳后的所述奥氏体试样的尺寸为长*宽*高10mm*10mm*10mm。
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