CN110621978B - 光检测系统和其使用方法 - Google Patents

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Abstract

描述了用于检测(例如，流动流中的)光的系统。根据实施方案的光检测系统包括两个或更多个光电检测器阵列，和定位在所述光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。还提供了用于测量由(例如，流动流中的)样本发射的光的系统和方法，以及具有两个或更多个光电检测器阵列和光学调整部件的套件。

Description

光检测系统和其使用方法
相关申请的交叉引用
按照35U.S.C.§119(e)，本申请要求在2017年2月27日提交的美国临时专利申请序列号62/464,282的申请日的优先权；所述申请的公开内容以引用的方式并入本文。
引言
例如当在诊断疾病或医疗状况的过程中使用样本(例如，生物样本)时，常常使用光检测来表征所述样本的成分。当照射样本时，光可能会被所述样本散射、透射穿过所述样本以及由所述样本发射(例如，通过荧光)。样本成分的变化，例如，形态、吸收率和荧光标记的存在，可能会导致被样本散射、透射或由样本发射的光的变化。这些变化可以用于表征和识别样本中的成分的存在。为了将这些变化定量，收集光并且将光引导到检测器的表面。到达检测器的光的量可能会影响由检测器输出的光学信号的总质量。可以通过增加检测器的表面积或者通过增加对来自样本的光的收集来提高到达检测器的光的量。
一种利用光检测来表征样本中的成分的技术是流式细胞术。使用从检测到的光产生的数据，可以记录成分的分布并且其中可以对所要的材料进行分类。流式细胞仪通常包括用于接收流体样本(例如，血液样本)的样本储器，和含有鞘流的鞘储器。流式细胞仪将作为细胞流的流体样本中的颗粒(包括细胞)运输到流动池，同时还将鞘流引导到所述流动池。在流动池内，在细胞流周围形成液体鞘以向所述细胞流赋予基本上一致的速度。所述流动池依靠水动力将细胞集中于所述流内，以通过流动池中的光源的中心。可以将来自光源的光检测为散射，或者通过透射光谱来检测所述光，或者所述光可能会被样本中的一种或多种成分吸收并且重新发射为冷光。
发明内容
本公开的各方面包括具有两个或更多个光电检测器阵列的光检测系统。根据某些实施方案的系统包括与第二光电检测器阵列光学连通的第一光电检测器阵列，每个光电检测器阵列具有两个或更多个光电检测器(例如，光电倍增管)和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在一些实施方案中，光学调整部件是校准光电检测器阵列之间的光的准直器。所述光学调整部件可以包括分束器或波长分离器。光学调整部件还可以邻近于光电检测器阵列中的一个或多个光电检测器而定位。在一些情况下，二色镜邻近于光电检测器阵列中的一个或多个光电检测器而定位。系统可以包括额外的光电检测器阵列，例如第三光电检测器阵列、第四光电检测器阵列、第五光电检测器阵列、第六光电检测器阵列、第七光电检测器阵列、第八光电检测器阵列、第九光电检测器阵列且包括第十光电检测器阵列。在这些系统中，光学调整部件(例如，准直器、分束器、波长分离器)可以定位在每个额外的光电检测器阵列之间。系统还可以包括用于对准的对准器和用于将两个光电检测器阵列耦合在一起的连接器。在实施方案中，主题光检测系统具有近端和远端，所述近端具有用于接收光的孔口。在一些情况下，所述光检测系统的所述近端是第一光电检测器阵列。
本公开的各方面还包括用于测量来自(例如，流动流中的)样本的光的系统。在某些实施方案中，系统包括光源和检测一种或多种波长的光的光检测系统，所述光检测系统具有与第二光电检测器阵列光学连通的第一光电检测器阵列，和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在一些实施方案中，系统还包括用于将光传播到所述光检测系统的光学收集系统。所述光学收集系统可以是自由空间光中继系统或者可以包括光纤，例如光纤光中继束。在一些实施方案中，所述系统是流式细胞仪。
本公开的各方面还包括用于使用光源来照射询问场中的(例如，流动流中的)样本的方法、用于使用主题光检测系统收集和检测来自样本的光的方法，和用于测量一种或多种波长下的检测到的光的方法。在一些实施方案中，通过自由空间光中继系统来收集光并且将光传播到光检测系统。在其他实施方案中，收集光并且通过光纤，例如光纤光中继束，将光传播到光检测系统。
还提供了包括主题光检测系统的一个或多个部件的套件。根据某些实施方案的套件包括两个或更多个光电检测器阵列以及用于定位在每个光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在实施方案中，所述光学调整部件包括准直器、分束器、波长分离器或其组合。套件还可以包括一个或多个光电检测器，例如光电倍增管(例如，金属包装光电倍增管)。
附图说明
当结合附图阅读时，通过以下详细描述可以最佳地理解本发明。在附图中包括了以下图：
图1描绘了根据某些实施方案的具有四个光电检测器阵列的光检测系统。
图2描绘了根据本公开的某些实施方案的光检测系统以及穿过光检测系统的示例性光学路径。
图3是根据本公开的某些实施方案的光检测系统的三维描绘。
图4描绘了根据本公开的另一实施方案的具有光电检测器阵列的布置的光检测系统。
图5描绘了根据本公开的另一实施方案的具有光电检测器阵列的布置的光检测系统。
具体实施方式
描述了用于检测(例如，流动流中的)光的系统。根据实施方案的光检测系统包括两个或更多个光电检测器阵列，和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。还提供了用于测量由(例如，流动流中的)样本发射的光的系统和方法，以及具有两个或更多个光电检测器阵列和光学调整部件的套件。
在更详细地描述本发明之前，将理解，本发明不限于所描述的特定实施方案，本身可变化。还将理解，本文使用的术语仅用于描述特定实施方案，并且无意具限制性，因为本发明的范围将仅受到所附权利要求限制。
在提供了值范围的情况下，应理解，在本发明内涵盖那个范围的上限与下限之间的直至下限的单位的十分之一的每个中介值(除非上下文另有清楚指示)，以及那个所陈述范围中的任何其他所陈述的值或中介值。这些较小范围的上限和下限可以独立地包括在较小的范围中，并且也包括在本发明内，受限于所陈述的范围中的任何明确排除的界限。在所陈述的范围包括所述界限中的一者或两者的情况下，排除了那些所包括的界限中的任一者或两者的范围也包括在本发明中。
除非另外界定，否则本文所使用的所有技术和科技术语具有与本发明所属的领域中的技术人员通常理解的含义相同的含义。虽然还可以在本发明的实践或测试中使用与本文描述的方法和材料类似或等效的方法和材料，但现在描述代表性说明性方法和材料。
在本说明书中引用的所有公布案和专利以引用的方式并入本文，如同特别且单独地指示每个个别的公布案或专利以引用的方式并入一样，并且在本文以引用的方式并入公布案和专利以公开和描述引用所述公布案所相关的方法和/或材料。对任何公布案的引用是针对所述公布案在申请日之前的公开内容，并且不应理解为承认本发明没有凭借先前发明而先于此类公布案的权利。此外，所提供的公布日期可以不同于可能需要独立确认的实际公布日期。
应注意，如本文使用和在所附权利要求中，单数形式“一(a)”、“一(an)”和“所述”包括复数参考物，除非上下文另有清楚规定。应进一步注意，所述权利要求可以被设计成排除任何任选的要素。因此，此声明意在用作结合权利要求要求的叙述或“否定”限制的使用而使用例如“单独”、“仅”等的排他性术语的前期基础。
本领域技术人员在阅读本公开之后将明白，本文描述和说明的个别实施方案中的每一者具有分立的部件和特征，在不脱离本发明的范围或精神的情况下，所述部件和特征可以容易与其他若干实施方案中的任一者的特征分开或组合。可以按照所叙述的事件的次序或者按照在逻辑上可能的任何其他次序来执行任何叙述的方法。
如上文概述，本公开提供了具有两个或更多个光电检测器阵列的光检测系统。在本公开的进一步描述的实施方案中，首先更详细地描述根据本发明的实施方案的光检测系统。接下来，描述了用于测量由(例如，流动流中的)样本发射的光的系统和方法，以及具有两个或更多个光电检测器阵列和光学调整部件的套件。还提供了套件，所述套件具有两个或更多个光电检测器阵列，和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。
光检测系统
本公开的各方面包括被配置成检测由(例如，流式细胞仪的流动流中的)样本发射的光的光检测系统。如在下文更详细地描述，光检测系统包括两个或更多个光电检测器阵列，每个光电检测器阵列具有光电检测器和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在一些实施方案中，系统包括与第二光电检测器阵列光学连通的第一光电检测器阵列，和定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在本公开的实施方案中，传播穿过光检测系统的光展现出很少甚至没有发散。换句话说，在光束从一个光电检测器阵列传播到主题光检测系统中的另一光电检测器阵列时，光束存在很少(如果有)的改变。在一些实施方案中，在光从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，传播穿过主题光检测系统的光的焦半径增加5％或更小，例如4％或更小，例如3％或更小，例如2％或更小，例如1％或更小，例如0.5％或更小，例如0.1％或更小，例如0.01％或更小，例如0.001％或更小且包括0.0001％或更小。在某些情况下，传播穿过主题光检测系统的光的焦半径完全不增加(即，焦半径未示出可测量的增加)，举例来说，依据传播穿过光检测系统的光束的大小，当光束从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，所述光束的直径增加2mm或更小，例如1.5mm或更小，例如1mm或更小，例如0.9mm或更小，例如0.8mm或更小，例如0.7mm或更小，例如0.6mm或更小，例如0.5mm或更小，例如0.4mm或更小，例如0.3mm或更小，例如0.2mm或更小，例如0.1mm或更小，例如0.05mm或更小，例如0.01mm或更小，例如0.001mm或更小，例如0.0001mm或更小且包括0.00001mm或更小。在某些情况下，当光束从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，光束的直径未展现出可测量的增加(即，增加0mm)。
在其他实施方案中，当光束从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，所述光束的强度减小25％或更小，例如减小20％或更小，例如减小15％或更小，例如减小10％或更小，例如减小5％或更小，例如减小1％或更小，例如减小0.5％或更小，例如减小0.1％或更小，例如减小0.01％或更小且包括0.001％或更小。在某些情况下，传播穿过主题光检测系统的光的强度完全不减小(即，强度未示出可测量的减小)。举例来说，依据传播穿过光检测系统的光的量，当光束从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，光束的强度减小1mW/cm2或更小，例如0.5mW/cm2或更小，例如0.1mW/cm2或更小，例如0.05mW/cm2或更小，例如0.01mW/cm2或更小，例如0.005mW/cm2或更小，例如0.001mW/cm2或更小，例如0.0005mW/cm2或更小，例如0.0001mW/cm2或更小，例如0.00005mW/cm2或更小且包括0.00001mW/cm2或更小。在某些情况下，当光从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，光强度不存在可测量的减小(即，减小0mW/cm2)。
如上文概述，光检测系统包括两个或更多个光电检测器阵列。术语“光电检测器阵列”在其常规的意义上用于指两个或更多个被配置成检测光的光电检测器的布置或系列。在实施方案中，光电检测器阵列可以包括2个或更多个光电检测器，例如3个或更多个光电检测器，例如4个或更多个光电检测器，例如5个或更多个光电检测器，例如6个或更多个光电检测器，例如7个或更多个光电检测器，例如8个或更多个光电检测器，例如9个或更多个光电检测器，例如10个或更多个光电检测器，例如12个或更多个光电检测器且包括15个或更多个光电检测器。在某些实施方案中，光电检测器阵列包括5个光电检测器。所述光电检测器可以按照所期望的任何几何配置布置，其中所关注的布置包括(但不限于)正方形配置、矩形配置、梯形配置、三角形配置、六边形配置、七角形配置、八边形配置、九边形配置、十边形配置、十二边形配置、圆形配置、椭圆形配置以及不规则形状的配置。每个光电检测器阵列中的光电检测器可以相对于另一光电检测器(如在X-Z平面中参考)成角度定向，所述角度的范围是10°到180°，例如15°到170°，例如20°到160°，例如25°到150°，例如30°到120°且包括45°到90°。
可以通过任何方便的协议，例如使用镜子、分束器或透镜，来将每个光电检测器阵列内的光传播到所述阵列中的光电检测器。依据所述阵列中的光电检测器的数目，在一些实施方案中，光电检测器阵列包括二向色镜。在某些实施方案中，所关注的光电检测器阵列包括邻近于所述阵列中的光电检测器中的一者或多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的两者或更多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的三者或更多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的四者或更多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的五者或更多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的六者或更多者的二向色镜，例如邻近于所述阵列中的光电检测器中的七者或更多者的二向色镜且包括邻近于所述阵列中的光电检测器中的八者或更多者的二向色镜。在某些情况下，光电检测器阵列包括邻近于所述阵列中的光电检测器中的每一者的二向色镜。在其他实施方案中，光电检测器阵列包括一个或多个用于将光传播到所述光电检测器中的每一者的分束器。举例来说，所述光电检测器阵列可以包括两个或更多个分束器，例如三个或更多个分束器，例如四个或更多个分束器，例如五个或更多个分束器，例如六个或更多个分束器，例如七个或更多个分束器，例如八个或更多个分束器，例如九个或更多个分束器且包括十个或更多个分束器。
所述光电检测器可以是任何方便的光学传感器，例如，例如有源像素传感器(APS)、雪崩光电二极管、图像传感器、电荷耦合装置(CCD)、加强型电荷耦合装置(ICCD)、互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器或N型金属氧化物半导体(NMOS)图像传感器、发光二极管、光子计数器、测辐射热计、热电检测器、光敏电阻器、光伏电池、光电二极管、光电倍增管、光电晶体管、量子点光电导体或光电二极管和其组合，以及其他类型的光电检测器。在某些实施方案中，光电检测器阵列包括光电倍增管，例如金属包装光电倍增管。
所关注的光电检测器被配置成测量一种或多种波长下的所收集的光，例如2种或更多种波长下的所收集的光，例如5种或更多种不同波长下的所收集的光，例如10种或更多种不同波长下的所收集的光，例如25种或更多种不同波长下的所收集的光，例如50种或更多种不同波长下的所收集的光，例如100种或更多种不同波长下的所收集的光，例如200种或更多种不同波长下的所收集的光，例如300种或更多种不同波长下的所收集的光且包括测量由流动流中的样本发射的400种或更多种不同的波长下的光。
在一些实施方案中，光电检测器被配置成测量一定波长范围(例如，200nm至1000nm)内的所收集的光。在某些实施方案中，所关注的检测器被配置成收集一定波长范围内的光的光谱。举例来说，系统可以包括被配置成收集200nm至1000nm的波长范围中的一者或多者内的光的光谱的一个或多个检测器。在其他实施方案中，所关注的检测器被配置成测量由流动流中的样本发射的一种或多种特定波长下的光。举例来说，系统可以包括一个或多个被配置成测量以下各者中的一者或多者下的光的检测器：450nm、518nm、519nm、561nm、578nm、605nm、607nm、625nm、650nm、660nm、667nm、670nm、668nm、695nm、710nm、723nm、780nm、785nm、647nm、617nm和其任何组合。在某些实施方案中，一个或多个检测器可以被配置成与特定荧光团配对，例如在荧光测定中与样本一起使用的荧光团。
在实施方案中，光检测系统被配置成连续地或者以离散间隔测量光。在一些情况下，所关注的检测器被配置成连续地取得所收集的光的测量结果。在其他情况下，光检测系统被配置成以离散间隔取得测量结果，例如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒且包括每1000毫秒或以某一其他间隔测量光。
根据本公开的实施方案的光检测系统包括处于光学连通的两个或更多个光电检测器阵列。“处于光学连通”是指光电检测器阵列被配置成使得光在光电检测器阵列之间沿着一条或多条光学路径行进。举例来说，光可以在光电检测器阵列之间沿着两条或更多条光学路径行进，例如沿着三条或更多条光学路径，例如沿着四条或更多条光学路径且包括沿着五条或更多条光学路径。在某些实施方案中，光跨越光检测系统中的所有光电检测器阵列沿着单条光学路径行进。如在下文更详细地描述，光电检测器阵列可以布置成直线配置(即，沿着单个轴线)，且沿着单条光学路径将光传播到每个光电检测器阵列。在这些实施方案中，使光传播穿过一连串光电检测器阵列并且终止于最后一个光电检测器阵列(例如，使用光束止挡器)。
在本公开的实施方案中，每个光电检测器阵列之间的光学路径包括光学调整部件。“光学调整”是指当光从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时经过改变或调整。举例来说，光学调整可以是改变光束的轮廓、光束的焦点、光束传播的方向或使所述光束准直。
在一些情况下，光学调整包括使光准直。术语“准直”在其常规的意义上用于指光学调整光传播的共线性或者减少光从共同传播轴线的发散。在一些情况下，准直包括缩窄光束的空间横截面。在其他情况下，光学调整包括改变光束的方向，例如将光束的传播改变1°或更多，例如5°或更多，例如10°或更多，例如15°或更多，例如20°或更多，例如25°或更多，例如30°或更多，例如45°或更多，例如60°或更多，例如75°或更多且包括将光传播方向改变90°或更多。在其他情况下，光学调整是缩小协议，以便减小光(例如，束斑)的尺寸，例如将所述尺寸减小5％或更多，例如10％或更多，例如25％或更多，例如50％或更多且包括将所述尺寸减小75％或更多。
光学调整部件可以是向光束提供期望的改变的任何方便的装置或结构，且可以包括(但不限于)透镜、镜子、分束器、准直透镜、针孔、狭缝、光栅、光折射器和其任何组合。光检测系统可以在需要时包括一个或多个光学调整部件，例如两个或更多个，例如三个或更多个，例如四个或更多个且包括五个或更多个光学调整部件。
在某些实施方案中，光检测系统包括每个光电检测器阵列之间的光学路径中的准直器。所述准直器可以是任何方便的准直协议，例如一个或多个镜子或弯曲透镜或其组合。举例来说，所述准直器在某些情况下是单个准直透镜。在其他情况下，所述准直器是准直镜。在其他情况下，所述准直器包括两个透镜。在其他情况下，所述准直器包括镜子和透镜。在所述准直器包括一个或多个透镜的情况下，准直透镜的焦距可以变化，变化范围是5mm到500mm，例如6mm到475mm，例如7mm到450mm，例如8mm到425mm，例如9mm到400mm，例如10mm到375mm，例如12.5mm到350mm且包括范围是15mm到300mm的焦距。在某些实施方案中，所述焦距的范围是400mm到500mm，例如405mm到475mm，例如410mm到450mm且包括410mm到425mm，例如410mm或420mm。
在某些实施方案中，光学调整部件包括波长分离器。术语“波长分离器”在本文在其常规的意义上用于指用于将多色光分离为其分量波长的光学协议。根据某些实施方案，波长分离可以包括选择性地通过或阻挡多色光的特定波长或波长范围。可以是主题流动池喷嘴的部分或与所述主题流动池喷嘴组合的所关注的波长分离协议包括(但不限于)彩色玻璃、带通滤波器、干扰滤波器、二向色镜、衍射光栅、单色器和其组合，以及其他波长分离协议。在一些实施方案中，波长分离器是滤光器。举例来说，所述滤光器可以是最小带宽范围是以下各者的带通滤波器：2nm到100nm，例如3nm到95nm，例如5nm到95nm，例如10nm到90nm，例如12nm到85nm，例如15nm到80nm且包括最小带宽范围是20nm到50nm的带通滤波器。
在主题光检测系统中，光学调整部件可以与光电检测器阵列分开，例如在光电检测器阵列之间的位置处，或者可以物理地耦合到光电检测器阵列中的一者或多者。在一个示例中，光学调整部件使用永久性或非永久性粘合剂耦合到光电检测器阵列中的一者或多者，或者使用紧固件附着到光电检测器阵列中的一者或多者，所述紧固件例如为钩和环紧固件、磁体、闩锁、螺丝、凹口、埋头锥孔、埋头直孔、凹槽、销、系链、铰链、魔术贴或其任何组合。在某些情况下，可释放地附接光学调整部件。术语“可释放地”在本文在其常规的意义上用于指可以从光检测系统自由地卸下并重新附接光学调整部件。在其他情况下，将光学调整部件共同模制到光电检测器阵列中的一者或多者。在另一示例中，将光学调整部件直接集成到光电检测器阵列中的一者或多者中。
在某些实施方案中，主题系统中的光电检测器阵列包括壳体，其中两个或更多个光电检测器定位在所述壳体内，其中所述壳体包括具有孔口的壁，所述孔口让光传播到光电检测器阵列的光电检测器。依据光电检测器阵列的大小，所述孔口的范围可以是0.01cm2到10cm2，例如0.05cm2到9cm2，例如0.1cm2到8cm2，例如0.5cm2到7cm2且包括1cm2到5cm2。在某些实施方案中，所述壳体具有一个或多个额外的孔口，以让光从光电检测器向外传播到主题光检测系统中的另一光电检测器阵列。举例来说，所述壳体可以包括具有孔口的第二壁，所述孔口让光传播到另一光电检测器阵列。如在下文更详细地描述，在某些实施方案中，可以卸下光电检测器阵列壳体的一个或多个壁以便将额外的光电检测器阵列连接到光检测系统。
光电检测器阵列可以在主题光检测系统中可释放地连接在一起。术语“可释放地”在本文在其常规的意义上使用，使得可以自由地卸下并重新附接每个光电检测器阵列。可以通过任何方便的协议连接光电检测器阵列。在某些实施方案中，使用紧固件将光电检测器阵列连接在一起，所述紧固件例如为钩和环紧固件、磁体、闩锁、凹口、埋头锥孔、埋头直孔、凹槽、销、系链、铰链、魔术贴、非永久性粘合剂或其组合。在某些情况下，第一光电检测器阵列通过螺丝连接到第二光电检测器阵列，所述螺丝将所述两个光电检测器阵列螺纹连接在一起。在其他情况下，第一光电检测器阵列通过使突出部槽配合到凹槽中而连接到第二光电检测器阵列。在其他情况下，第一光电检测器阵列通过一个或多个螺丝而连接到第二光电检测器阵列。
在一些实施方案中，为了将第一光电检测器阵列耦合到第二光电检测器阵列，将第一光电检测器阵列壳体的外壁上的对准器放置成与第二光电检测器阵列壳体上的对准器接触。光电检测器阵列的壳体可以包括2个或更多个对准器，例如3个或更多个对准器，例如4个或更多个对准器，例如5个或更多个对准器，例如7个或更多个对准器且包括10个或更多个对准器。可以采用任何合适类型的对准器，例如对准突出部、对准轨道、对准凹口、对准凹槽、对准狭槽、对准埋头锥孔、对准埋头直孔、对准凹部、对准孔或其组合。对准器的形状可以变化，其中所关注的横截面形状包括(但不限于)：直线横截面形状，例如正方形、矩形、梯形、三角形、六边形等；曲线横截面形状，例如圆形、椭圆形；以及不规则形状，例如耦合到平坦顶部部分的抛物线底部部分。在一些实施方案中，对准器是圆柱形形状。在其他实施方案中，对准器是球形。在其他实施方案中，对准器是多边形，例如正方形或矩形。每个对准器的宽度可以变化，在一些情况下，所述宽度范围是1mm到25mm，例如2mm到22mm，例如3mm到20mm，例如4mm到17mm且包括5mm到15mm。定位在底座的远端处的每个对准器的长度的范围是1mm到50mm，例如，例如2mm到45mm，例如3mm到40mm，例如4m到35mm，例如5mm到30mm且包括10mm到20mm。在所定位的对准器是对准凹部的情况下，例如凹口、埋头锥孔、埋头直孔、狭槽、凹槽或孔洞，对准器的深度的范围可以是1mm到50mm，例如2mm到45mm，例如3mm到40mm，例如4m到35mm，例如5mm到30mm且包括10mm到20mm。
在光电检测器阵列壳体包括一个以上对准器的情况下，每个对准器之间的距离可以变化，间隔开2mm或更多，例如间隔开3mm或更多，例如间隔开5mm或更多，例如间隔开7mm或更多，例如间隔开10mm或更多且包括间隔开25mm或更多。在光电检测器阵列壳体包括三个或更多个对准器的情况下，每个对准器之间的距离可以相同或不同或其组合。在一些实施方案中，每个对准器之间的距离是不同的。在其他实施方案中，每个对准器彼此等距间隔。在某些实施方案中，光电检测器阵列壳体包括沿着光电检测器壳体的壁的外边缘等距间隔地定位的4个对准器。
在一些实施方案中，当第一光电检测器阵列的对准器耦合到第二光电检测器阵列的对准器时，光电检测器阵列的光学部件光学对准并且形成光电检测器阵列之间的完整光学路径。换句话说，在当第一光电检测器阵列的对准器不耦合到第二光电检测器阵列的对准器时的这些实施方案中，第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列之间的完整光学路径是不完整的，并且光不从第一光电检测器阵列完全传播到第二光电检测器阵列的光电检测器。举例来说，当第一光电检测器阵列的对准器未充分耦合到第二光电检测器阵列的对准器时，来自第一光电检测器阵列的光可能仅传播到第二光电检测器阵列的90％或更少的光电检测器，例如80％或更少，例如70％或更少，例如60％或更少，例如50％或更少，例如40％或更少，例如30％或更少，例如25％或更少，例如20％或更少且包括第二光电检测器阵列的10％或更少的光电检测器。依据主题光电检测器阵列中的光电检测器的数目，光可能传播到第二光电检测器阵列中的10个或更少的光电检测器，例如9个或更少，例如8个或更少，例如7个或更少，例如6个或更少，例如5个或更少，例如4个或更少，例如3个或更少，例如2个或更少且包括1个或更少的光电检测器。在某些实施方案中，当第一光电检测器阵列的对准器未充分耦合到第二光电检测器阵列的对准器时，来自第一光电检测器阵列的光到达不了第二光电检测器阵列中的光电检测器中的任一者。
在一些实施方案中，当第一光电检测器阵列耦合到第二光电检测器阵列时，第一光电检测器阵列中的镜子与第二光电检测器阵列中的镜子光学对准，使得来自第一光电检测器阵列的光传播到第二光电检测器阵列中。在另一示例中，当第一光电检测器阵列耦合到第二光电检测器阵列时，第一光电检测器阵列中的分束器与第二光电检测器阵列中的镜子光学对准。在另一示例中，当第一光电检测器阵列耦合到第二光电检测器阵列时，光电检测器阵列中的镜子与第二光电检测器阵列中的准直透镜光学对准。
如上文概述，光检测系统包括两个或更多个光电检测器阵列。依据被检测的光的类型，光电检测器阵列的数目可以按需变化，并且可以是三个或更多个光电检测器阵列，例如四个或更多个，例如五个或更多个，例如六个或更多个，例如七个或更多个，例如八个或更多个，例如九个或更多个，例如十个或更多个，例如十一个或更多个，例如十二个或更多个，例如十三个或更多个，例如十四个或更多个且包括十五个或更多个光电检测器阵列。如上文概述，主题光检测系统中的光电检测器阵列处于光学连通。因此，来自每个光电检测器阵列的光传播到主题光检测系统中的其他光电检测器阵列。
光电检测器阵列可以按照所期望的任何几何配置布置，其中所关注的布置包括(但不限于)直线配置、星形配置、三角形配置、正方形配置、矩形配置、梯形配置、三角形配置、六边形配置、七角形配置、八边形配置、九边形配置、十边形配置、十二边形配置、圆形配置、椭圆形配置以及不规则形状的配置。
可以沿着一个或多个轴线布置光电检测器阵列。在实施方案中，光电检测器阵列可以相对于另一光电检测器阵列成角度定向(如在X-Z平面中参考)，所述角度的范围是0°到180°，例如10°到170°，例如20°到160°，例如25°到150°，例如30°到120°且包括45°到90°。在实施方案中，光电检测器阵列可以相对于彼此成角度布置，所述角度依据光电检测器阵列的数目以及定位在光电检测器阵列之间的光学调整部件而相同或不同。举例来说，在某些情况下，第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列之间的角度和第二光电检测器阵列与第三光电检测器阵列之间的角度相同。在一些实施方案中，第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列之间的角度不同于第二光电检测器阵列与第三光电检测器阵列之间的角度。
图4描绘了根据本公开的另一实施方案的具有光电检测器阵列的布置的光检测系统。光检测系统400包括五个光电检测器阵列401a、401b、401c、401d和401e。光电检测器阵列401a是具有穿过二向色镜403a的入射光收集部件(例如，光纤光收集器、自由空间中继收集器(未示出))的光学检测器，所述二向色镜通过准直器402a将光传递到光电检测器阵列401a。通过二向色镜403a的光传播到第二二向色镜403b，所述第二二向色镜将光传递到二向色镜403c和准直器402c以进入光电检测器阵列401c。来自二向色镜403c的光传播到准直器402b并进入光电检测器阵列401b，而通过二向色镜403c的光传播到二向色镜403d，所述二向色镜将所述光进一步传播穿过准直器402d并进入光电检测器阵列401d。穿过二向色镜403d的光传播到准直器402e并进入光电检测器阵列401e，所述光电检测器阵列可以还包括光束止挡器(未示出)。
在一些实施方案中，光电检测器阵列沿着两个或更多个平行轴线布置，例如沿着三个或更多个平行轴线，例如沿着四个或更多个平行轴线，例如沿着五个或更多个平行轴线，例如沿着六个或更多个平行轴线，例如沿着七个或更多个平行轴线，例如沿着八个或更多个平行轴线，例如沿着九个或更多个平行轴线且包括沿着十个或更多个平行轴线。在一些情况下，每个平行轴线可以包括相同数目个光电检测器阵列。在其他情况下，每个平行轴线可以包括不同数目个光电检测器阵列。每个轴线可以包括一个或多个光电检测器阵列，例如两个或更多个光电检测器阵列，例如三个或更多个光电检测器阵列，例如四个或更多个光电检测器阵列且包括五个或更多个光电检测器阵列。沿着不同的轴线定位的光电检测器阵列通过如上文描述的光学调整部件进行光学连通，所述光学调整部件例如为分束器或二向色镜。
在某些实施方案中，光检测系统包括同心布置的光电检测器阵列。术语同心在本文在其常规的意义上用于指一种布置，其中每个光电检测器阵列与主题光收集系统中的中心点等距地定位。在一些情况下，每个光电检测器阵列的中心与光检测系统的中心点是等距的。在其他情况下，进入每个光电检测器阵列的进入孔口与光检测系统的中心点是等距的。所述中心点可以包括一个或多个如上文描述的光学调整部件(例如，分束器、二向色镜、准直透镜等)。
在这些实施方案中，可以同心地布置三个或更多个光电检测器阵列，例如四个或更多个光电检测器阵列且包括五个或更多个同心布置的光电检测器阵列。在某些情况下，光检测系统中的所有光电检测器阵列都可以同心布置。在其他情况下，光检测系统可以包括同心布置的一组或多组光电检测器阵列和按照如上文描述的某一其他几何配置而布置的一组或多组光电检测器阵列。举例来说，在一些实施方案中，所关注的光检测系统包括同心布置的第一组光电检测器阵列和按照不同的配置而布置(例如，直线地布置)的第二组光电检测器阵列。
图5描绘了根据本公开的另一实施方案的具有光电检测器阵列的布置的光检测系统。光检测系统500包括在中心隔室504周围同心布置的五个光电检测器阵列501a、501b、501c、501d和501e，所述中心隔室具有将光中继到光电检测器阵列501a、501b、501c、501d和501e中的每一者的光学调整部件。每个光电检测器阵列包括光电检测器502a、502b、502c、502d和502e，其中二向色镜邻近于每个光电检测器而定位。如图示，光沿着光束路径503传播到光检测系统。依据光电检测器阵列的配置，当传播的光束从一个光电检测器阵列传播到另一光电检测器阵列时，所述光束的强度减小25％或更小，例如减小20％或更小，例如减小15％或更小，例如减小10％或更小，例如减小5％或更小，例如减小1％或更小，例如减小0.5％或更小，例如减小0.1％或更小，例如减小0.01％或更小且包括减小0.001％或更小。在某些情况下，传播穿过主题光检测系统的光的强度完全不减小(即，强度未示出可测量的减小)。在某些实施方案中，光电检测器阵列被布置成使得由每个光电检测器阵列的光电检测器检测到的光的强度将改变10％或更小，例如改变5％或更小，例如改变4％或更小，例如改变3％或更小，例如改变2％或更小，例如改变1％或更小，例如改变0.5％或更小，例如改变0.1％或更小，例如改变0.01％或更小且包括改变0.001％或更小。
在某些实施方案中，光电检测器阵列沿着单个轴线直线地布置。在这些实施方案中，光连续地传播穿过每个光电检测器阵列。例如，在一个示例中，主题光检测系统包括两个光电检测器阵列，并且光从第一光电检测器阵列传播到第二光电检测器阵列。在另一示例中，光检测系统包括三个光电检测器阵列，并且光从第一光电检测器阵列传播到第二光电检测器阵列且随后传播到第三光电检测器阵列。在另一示例中，光检测系统包括四个光电检测器阵列，并且光从第一光电检测器阵列传播到第二光电检测器阵列，再传播到第三光电检测器阵列且随后传播到第四光电检测器阵列。在某些实施方案中，所关注的光检测系统包括直线地布置的10个或更多个光电检测器阵列，并且光从第一光电检测器阵列连续地传播到直线布置中的最后一个光电检测器阵列。
在一些实施方案中，光检测系统使用沿着光电检测器阵列之间的光学路径的一个或多个二向色镜将光传播到光电检测器阵列中的每一者。举例来说，光检测系统可以包括2个或更多个二向色镜，例如3个或更多个二向色镜，例如4个或更多个二向色镜，例如5个或更多个二向色镜，例如6个或更多个二向色镜，例如7个或更多个二向色镜，例如8个或更多个二向色镜，例如9个或更多个二向色镜且包括10个或更多个二向色镜。在某些情况下，光电检测器阵列被布置成使得检测器的数目与沿着光电检测器阵列之间的光学路径而定位的二向色镜的数目的比率是3:1或更多，例如3.5:1或更多，例如4:1或更多，例如4.5:1或更多，例如5:1或更多，例如5.5:1或更多，例如6:1或更多，例如6.5:1或更多且包括7:1或更多的比率。在一个示例中，光检测系统包括16个检测器和沿着光学路径的4个二向色镜。在另一示例中，光检测系统包括32个检测器和沿着光学路径的5个二向色镜。在另一示例中，光检测系统包括25个检测器和沿着光学路径的8个二向色镜。
在一些实施方案中，可以通过光学收集系统将由第一光电检测器阵列接收的光输送到第一光电检测器阵列。所述光学收集系统可以是收集光并将光引导到第一光电检测器阵列的任何合适的光收集协议。在一些实施方案中，所述光学收集系统包括光纤，例如光纤光中继束。在其他实施方案中，所述光学收集系统是自由空间光中继系统。
在实施方案中，光学收集系统可以物理地耦合到第一光电检测器阵列，例如使用粘合剂耦合、共同模制在一起或集成到第一光电检测器阵列中。在某些实施方案中，将光学收集系统和第一光电检测器阵列集成为单个单元。在一些情况下，光学收集系统使用将光学收集系统紧固到第一光电检测器阵列的连接器，例如使用钩和环紧固件、磁体、闩锁、凹口、埋头锥孔、埋头直孔、凹槽、销、系链、铰链、魔术贴、非永久性粘合剂或其组合，而耦合到第一光电检测器阵列。
在其他实施方案中，所述第一光电检测器阵列和所述光学收集系统处于光学连通，但不物理接触。在实施方案中，所述光学收集系统可以定位成与第一光电检测器阵列相距0.001mm或更多，例如与第一光电检测器阵列相距0.005mm或更多，例如0.01mm或更多，例如0.05mm或更多，例如0.1mm或更多，例如0.5mm或更多，例如1mm或更多，例如10mm或更多，例如25mm或更多，例如50mm或更多且包括100mm或更多。
在某些实施方案中，所述光学收集系统包括光纤。举例来说，所述光学收集系统可以是光纤光中继束，且通过所述光纤光中继束将光输送到第一光电检测器阵列。可以采用任何光纤光中继系统以将光传播到第一光电检测器阵列。在某些实施方案中，用于将光传播到第一光电检测器阵列的合适的光纤光中继系统包括(但不限于)例如在美国专利No.6,809,804中描述的光纤光中继系统，所述专利的公开内容以引用的方式并入本文。
在其他实施方案中，所述光学收集系统是自由空间光中继系统。短语“自由空间光中继”在本文在其常规的意义上用于指采用一个或多个光学部件的一种配置的光传播，所述配置用于通过自由空间将光引导到第一光电检测器阵列。在某些实施方案中，所述自由空间光中继系统包括具有近端和远端的壳体，所述近端耦合到第一光电检测器阵列。所述自由空间中继系统可以包括不同的光学调整部件(例如，透镜、镜子、狭缝、针孔、波长分离器或其组合中的一者或多者)的任何组合。举例来说，在一些实施方案中，所关注的自由空间光中继系统包括一个或多个聚焦透镜。在其他实施方案中，主题自由空间光中继系统包括一个或多个镜子。在其他实施方案中，所述自由空间光中继系统包括准直透镜。在某些实施方案中，用于将光传播到第一光电检测器阵列的合适的自由空间光中继系统包括(但不限于)在美国专利No.7,643,142；No.7,728,974和No.8,223,445中描述的光中继系统，所述专利的公开内容以引用的方式并入本文。
图1描绘了根据某些实施方案的光检测系统100。通过光学收集系统102将光传播到光检测系统100的第一光电检测器阵列101a。光电检测器阵列101a包括五个光电检测器104a，每个光电检测器具有用于调整通过光电检测器阵列101a传播的光的一种或多种性质的光学调整部件107a。通过光学调整部件103将来自光电检测器阵列101a的光传播到第二光电检测器阵列101b。光电检测器阵列101b包括光电检测器104b和光调整部件107b。光电检测器阵列101a与光电检测器阵列101b对准并且使用紧固件105a物理地耦合到所述光电检测器阵列。通过光学调整部件103将来自光电检测器阵列101b的光进一步传播到第三光电检测器阵列101c。光电检测器阵列101c包括光电检测器104c和光调整部件107c。光电检测器阵列101b还与光电检测器阵列101c对准并且使用紧固件105b物理地耦合到所述光电检测器阵列。根据此实施方案的光检测系统100包括第四光电检测器阵列101d。通过光学调整部件103将来自光电检测器阵列101c的光传播到光电检测器阵列101d，通过光调整部件104d将所述光传播到光电检测器104b。紧固件105c使光电检测器阵列101d与光电检测器阵列101c对准并连接。
图2描绘了根据某些实施方案的光检测系统200，所述光检测系统示出了穿过所述光检测系统的示例性光学路径。第一光电检测器阵列201a通过光学收集系统202接收光。光电检测器阵列201a使用光电检测器204a检测光。通过光学调整部件203将来自光电检测器阵列201a的光传播到第二光电检测器阵列201b。光电检测器阵列201b包括光电检测器204b以检测所传播的光。光电检测器阵列201a与光电检测器阵列201b对准并且使用紧固件205a物理地耦合到所述光电检测器阵列。通过光学调整部件203将来自光电检测器阵列201b的光进一步传播到具有光电检测器204c的光电检测器阵列201c。光电检测器阵列201b还与光电检测器阵列201c对准并且使用紧固件205b物理地耦合到所述光电检测器阵列。光检测系统200包括第四光电检测器阵列201d。通过光学调整部件203将来自光电检测器阵列201c的光传播到光电检测器阵列201d，通过光调整部件204d将所述光传播到光电检测器204b。紧固件205c使光电检测器阵列201d与光电检测器阵列201c对准并连接。
图3是根据某些实施方案的光检测系统的三维描绘。光检测系统300被封围在壳体中，所述光检测系统具有四个直线地定位的光电检测器阵列301a、301b、301c和301d。光电检测器阵列301a检测来自光收集路径304的所接收的光并且使用光电检测器302a检测光。光传播穿过光电检测器阵列301b并且使用光电检测器302b进行检测，光传播穿过光电检测器阵列301c并且使用光电检测器302c进行检测，并且光传播到光电检测器阵列301d并且使用光电检测器302d进行检测。分别使用光调整部件303a、303b、303c和303d来调整由光电检测器302a、302b、302c和302d检测的光。光学调整部件(例如，准直器)定位在壳体(未示出)内部：在光电检测器阵列301a和301b之间；在光电检测器阵列301b和301c之间；以及在光电检测器阵列301c和301d之间。
用于测量由样本发射的光的系统
本公开的各方面还包括用于测量来自(例如，流式细胞仪中的流动流中的)样本的光的系统。在某些实施方案中，系统包括光源和如上文描述的具有两个或更多个光电检测器阵列的光检测系统。举例来说，所关注的系统可以包括光源和与第二光电检测器阵列光学连通的第一光电检测器阵列，每个光电检测器阵列具有两个或更多个光电检测器(例如，光电倍增管)和定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件。在一些实施方案中，所述系统是流式细胞仪。在一些情况下，将具有光电检测器阵列的光检测系统不可释放地集成到流式细胞仪中。在某些实施方案中，光检测系统通过光学收集系统(例如，光纤或自由空间光中继系统)与样本(例如，流式细胞仪中的流动流)的源光学连通。
用于测量来自样本的光的所关注系统包括光源。在实施方案中，所述光源可以是光的任何合适的宽带或窄带源。依据样本(例如，细胞、珠子、非蜂窝颗粒等)中的成分，光源可以被配置成发射多种波长的光，所述波长的范围是200nm到1500nm，例如250nm到1250nm，例如300nm到1000nm，例如350nm到900nm且包括400nm到800nm。举例来说，所述光源可以包括发射波长为200nm到900nm的光的宽带光源。在其他情况下，所述光源包括发射波长范围是200nm到900nm的窄带光源。举例来说，所述光源可以是发射波长范围是200nm到900nm的光的窄带LED(1nm-25nm)。在一些实施方案中，所述光源是激光器，例如连续波激光器。举例来说，所述激光器可以是氦-氖(HeNe)激光器。在某些实施方案中，所述光源是流式细胞仪中的激光器。
在其他实施方案中，所述光源是非激光器光源，例如灯，包括(但不限于)卤素灯、氘弧灯、氙弧灯、发光二极管，例如具有连续光谱的宽带LED、超发光二极管、半导体发光二极管、宽光谱LED白色光源、集成式多LED。在一些情况下，所述非激光器光源是稳定的光纤耦合宽带光源、白色光源，以及其他光源或其任何组合。
所述光源可以定位成与样本(例如，流式细胞仪中的流动流)相距任何合适的距离，例如与所述流动流相距0.001mm或更多的距离，例如相距0.005mm或更多，例如0.01mm或更多，例如0.05mm或更多，例如0.1mm或更多，例如0.5mm或更多，例如1mm或更多，例如5mm或更多，例如10mm或更多，例如25mm或更多且包括相距100mm或更多的距离。另外，所述光源以任何合适的角度(例如，相对于流动流的垂直轴线)照射所述样本，例如角度范围是10°到90°，例如15°到85°，例如20°到80°，例如25°到75°且包括30°到60°，例如以90°的角度。
所述光源可以被配置成连续地或以离散间隔照射所述样本。在一些情况下，系统包括被配置成连续地照射样本的光源，例如使用在流式细胞仪中的询问点处连续地照射流动流的连续波激光器。在其他情况下，所关注的系统包括被配置成以离散间隔照射样本的光源，所述间隔例如为每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒且包括每1000毫秒，或某一其他间隔。在所述光源被配置成以离散间隔照射样本的情况下，系统可以包括一个或多个额外的部件以实现使用所述光源对样本的断续照射。举例来说，这些实施方案中的主题系统可以包括一个或多个激光束截光器、手动控制或计算机控制的光束止挡器，以用于阻挡样本以及将样本暴露于光源。
在实施方案中，由样本发射的光传播到主题光检测系统(如上文描述)，所述光检测系统具有两个或更多个光电检测器阵列。如上文描述，主题光电检测器阵列中的光电检测器可以包括(但不限于)例如有源像素传感器(APS)的光学传感器、雪崩光电二极管、图像传感器、电荷耦合装置(CCD)、加强型电荷耦合装置(ICCD)、发光二极管、光子计数器、测辐射热计、热电检测器、光敏电阻器、光伏电池、光电二极管、光电倍增管、光电晶体管、量子点光电导体或光电二极管和其组合，以及其他光电检测器。举例来说，用于测量来自样本的光的光收集系统可以包括光电检测器阵列，所述光电检测器阵列具有2个光电检测器或更多，例如3个光电检测器或更多，例如4个光电检测器或更多，例如5个光电检测器或更多，例如10个光电检测器或更多，例如25个光电检测器或更多且包括50个光电检测器或更多。在某些实施方案中，系统包括具有5个光电检测器的光电检测器阵列。
在本公开的实施方案中，所关注的检测器被配置成测量一种或多种波长下的所收集的光，例如2种或更多种波长下的所收集的光，例如5种或更多种不同波长下的所收集的光，例如10种或更多种不同波长下的所收集的光，例如25种或更多种不同波长下的所收集的光，例如50种或更多种不同波长下的所收集的光，例如100种或更多种不同波长下的所收集的光，例如200种或更多种不同波长下的所收集的光，例如300种或更多种不同波长下的所收集的光且包括测量由流动流中的样本发射的400种或更多种不同波长下的光。
在一些实施方案中，所关注的检测器被配置成测量一定波长范围(例如，200nm至1000nm)内的所收集的光。在某些实施方案中，所关注的检测器被配置成收集一定波长范围内的光的光谱。举例来说，系统可以包括被配置成收集200nm-1000nm的波长范围中的一者或多者内的光的光谱的一个或多个检测器。在其他实施方案中，所关注的检测器被配置成测量由流动流中的样本发射的一种或多种特定波长下的光。举例来说，系统可以包括一个或多个被配置成测量以下各者中的一者或多者下的光的检测器：450nm、518nm、519nm、561nm、578nm、605nm、607nm、625nm、650nm、660nm、667nm、670nm、668nm、695nm、710nm、723nm、780nm、785nm、647nm、617nm和其任何组合。在某些实施方案中，一个或多个检测器可以被配置成与特定荧光团配对，例如在荧光测定中与样本一起使用的荧光团。
在实施方案中，所述检测器被配置成连续地或者以离散间隔测量光。在一些情况下，所关注的检测器被配置成连续地取得所收集的光的测量结果。在其他情况下，所关注的检测器被配置成以离散间隔取得测量结果，例如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒且包括每1000毫秒或以某一其他间隔测量光。
在一些实施方案中，用于测量来自样本的光的系统包括光收集系统，所述光收集系统用于收集来自样本源(例如，流动流)的光，并且将所述光引导到主题光检测系统的光电检测器阵列。所述光学收集系统可以物理地耦合到第一光电检测器阵列，例如使用粘合剂耦合、共同模制在一起或集成到第一光电检测器阵列中。在某些实施方案中，将光学收集系统和光检测系统集成为单个单元。在其他实施方案中，光学收集系统使用连接器，例如使用钩和环紧固件、磁体、闩锁、凹口、埋头锥孔、埋头直孔、凹槽、销、系链、铰链、魔术贴、非永久性粘合剂或其组合，而耦合到光检测系统的第一光电检测器阵列。
在其他实施方案中，所述光检测系统和所述光学收集系统处于光学连通，但不物理接触。举例来说，所述光学收集系统可以定位成与所述光检测系统相距0.001mm或更多，例如与第一光电检测器阵列相距0.005mm或更多，例如0.01mm或更多，例如0.05mm或更多，例如0.1mm或更多，例如0.5mm或更多，例如1mm或更多，例如10mm或更多，例如25mm或更多，例如50mm或更多且包括100mm或更多。
在一些实施方案中，所述光学收集系统包括光纤。举例来说，在一些情况下，所述光学收集系统可以是光纤光中继束，且通过所述光纤光中继束将光输送到第一光电检测器阵列。在其他实施方案中，所述光学收集系统是自由空间光中继系统。举例来说，所述自由空间光中继系统可以包括具有近端和远端的壳体，所述近端耦合到第一光电检测器阵列。所述自由空间中继系统可以包括不同的光学调整部件(例如，一个或多个透镜、镜子、狭缝、针孔、波长分离器或其组合)的任何组合。
在某些实施方案中，主题系统是采用上文描述的用于检测由流动流中的样本发射的光的光检测系统的流式细胞术系统。用于分析样本的合适的流式细胞术系统和方法包括(但不限于)在以下文献中描述的流式细胞术系统和方法：Ormerod(ed.)的FlowCytometry:A Practical Approach，Oxford Univ.Press(1997)；Jaroszeski等(eds.)的Flow Cytometry Protocols,Methods in Molecular Biology No.91,Humana Press(1997)；Practical Flow Cytometry,第三版,Wiley-Liss(1995)；Virgo等的(2012)的AnnClin Biochem.Jan；49(pt1):17-28；Linden等的Semin Throm Hemost.2004Oct；30(5):502-11；Alison等的J Pathol,2010Dec；222(4):335-344；以及Herbig等的(2007)Crit RevTher Drug Carrier Syst.24(3):203-255；以上文献的公开内容以引用的方式并入本文。在某些情况下，所关注的流式细胞术系统包括BD Biosciences FACSCantoTM流式细胞仪、BDBiosciences FACSVantageTM系统、BD Biosciences FACSortTM系统、BD BiosciencesFACSCountTM系统、BD Biosciences FACScanTM系统以及BD Biosciences FACSCaliburTM系统、BD Biosciences InfluxTM细胞分类器、BD Biosciences JazzTM细胞分类器和BDBiosciences AriaTM细胞分类器等。
在某些实施方案中，主题系统是并入有流式细胞仪的一个或多个部件的流式细胞仪系统，所述一个或多个部件描述于以下美国专利中：No.3,960,449；No.4,347,935；No.4,667,830；No.4,704,891；No.4,770,992；No.5,030,002；No.5,040,890；No.5,047,321；No.5,245,318；No.5,317,162；No.5,464,581；No.5,483,469；No.5,602,039；No.5,620,842；No.5,627,040；No.5,643,796；No.5,700,692；No.6,372,506；No.6,809,804；No.6,813,017；No.6,821,740；No.7,129,505；No.7,201,875；No.7,544,326；No.8,140,300；No.8,233,146；No.8,753,573；No.8,975,595；No.9,092,034；No.9,095,494和No.9,097,640；所述专利的公开内容以引用的方式并入本文。
用于测量从被照射的样本收集的光的方法
本公开的各方面还包括用于测量来自(例如，流式细胞仪中的流动流中的)样本的光的方法。在实践根据实施方案的方法的过程中，使用光源照射样本，并且使用如上文描述的具有两个或更多个光电检测器阵列的光检测系统来检测所述样本。在一些实施方案中，所述样本是生物样本。术语“生物样本”在其常规的意义上用于指整个有机体、植物、真菌或动物组织的子集，或在某些情况下可以在血液、粘液、淋巴流体、滑液脑脊髓液、唾液、支气管肺泡灌洗、羊水、羊膜脐带血、尿液、阴道分泌物和精液中发现的细胞或组成部分。因此，“生物样本”是指天然生物体或其组织的子集，并且是指从生物体或其组织的子集制备的匀浆、溶菌产物或提取物，包括(但不限于)，例如血浆、血清、脊髓液、淋巴流体、皮肤、呼吸系统、胃肠道、心血管道和泌尿生殖道的区段、眼泪、唾液、乳汁、血细胞、肿瘤、器官。生物样本可以是任何类型的组织，包括健康组织和患病组织(例如，生癌组织、恶性组织、坏死组织等)。在某些实施方案中，生物样本是液体样本，例如血液或其衍生物，例如血浆、眼泪、尿液、精液等，其中在一些情况下，所述样本是血液样本，包括全血，例如通过静脉穿刺或手指针刺获得的血液(其中所述血液可以在测定之前与或不与任何试剂组合，所述试剂例如为防腐剂、抗凝血剂等)。
在某些实施方案中，样本源是“哺乳动物”或“哺乳类”，其中这些术语用于在广义上描述属于类哺乳动物的生物体，包括食肉动物(例如，狗和猫)、啮齿目(例如，小鼠、豚鼠和大鼠)以及灵长类动物(例如，人类、黑猩猩和猴子)。在一些情况下，受试者是人类。可以将所述方法应用于两种性别和在任何发展阶段(即，新生儿、婴儿、少年、青少年、成人)的人类受试者获得的样本，其中在某些实施方案中，人类受试者是少年、青少年或成人。虽然可以将本发明应用于来自人类受试者的样本，但将理解，还可以对来自其他动物受试者(即，在“非人类受试者”中)的样本实施所述方法，所述动物受试者例如为(但不限于)鸟、小鼠、大鼠、狗、猫、牲畜和马。
在实践主题方法的过程中，使用来自光源的光来照射(例如，流式细胞仪的流动流中的)样本。在一些实施方案中，所述光源是宽带光源，从而发射具有较广范围的波长的光，例如跨越50nm或更多，例如100nm或更多，例如150nm或更多，例如200nm或更多，例如250nm或更多，例如300nm或更多，例如350nm或更多，例如400nm或更多且包括跨越500nm或更多。举例来说，一种合适的宽带光源发射波长为200nm到1500nm的光。合适的宽带光源的另一示例包括发射波长为400nm到1000nm的光的光源。其中方法包括使用宽带光源进行照射，所关注的宽带光源协议可以包括(但不限于)卤素灯、氘弧灯、氙弧灯、稳定的光纤耦合宽带光源、具有连续光谱的宽带LED、超发光二极管、半导体发光二极管、宽光谱LED白色光源、多LED集成式白色光源，以及其他宽带光源或其任何组合。
在其他实施方案中，方法包括使用发射特定波长或较窄范围的波长的窄带光源进行照射，例如使用发射较窄范围的的波长的光的光源进行照射，所述范围比如是以下范围：50nm或更小，例如40nm或更小，例如30nm或更小，例如25nm或更小，例如20nm或更小，例如15nm或更小，例如10nm或更小，例如5nm或更小，例如2nm或更小且包括发射特定波长的光(即，单色光)的光源。在方法包括使用窄带光源进行照射的情况下，所关注的窄带光源协议可以包括(但不限于)：窄波长LED、激光二极管或耦合到一个或多个光学带通滤波器的宽带光源、衍射光栅、单色器或其任何组合。
在某些实施方案中，方法包括使用一个或多个激光器来照射样本。如上文所论述，激光器的类型和数目将依据样本以及所期望收集的光而变，并且可以是气体激光器，例如氦-氖激光器、氩激光器、氪激光器、氙激光器、氮激光器、CO2激光器、CO激光器、氩-氟(ArF)准分子激光器、氪-氟(KrF)准分子激光器、氙氯(XeCl)准分子激光器或氙-氟(XeF)准分子激光器或其组合。在其他情况下，所述方法包括使用染料激光器，例如二苯乙烯激光器、香豆素激光器或罗丹明激光器，来照射流动流。在其他情况下，方法包括使用金属蒸气激光器，例如氦-镉(HeCd)激光器、氦-汞(HeHg)激光器、氦-硒(HeSe)激光器、氦-银(HeAg)激光器、锶激光器、氖-铜(NeCu)激光器、铜激光器或金激光器和其组合，来照射流动流。在其他情况下，方法包括使用固态激光器，例如红宝石激光器、Nd:YAG激光器、NdCrYAG激光器、Er:YAG激光器、Nd:YLF激光器、Nd:YVO4激光器、Nd:YCa4O(BO3)3激光器、Nd:YCOB激光器、钛蓝宝石激光器、铥YAG激光器、镱YAG激光器、镱2O3激光器或掺铈激光器和其组合。
可以使用上文提及的光源中的一者或多者进行照射，例如使用2个或更多个光源，例如3个或更多个光源，例如4个或更多个光源，例如5个或更多个光源且包括10个或更多个光源。所述光源可以包括多种类型的光源的任何组合。举例来说，在一些实施方案中，所述方法包括使用激光器阵列，例如具有一个或多个气体激光器、一个或多个染料激光器和一个或多个固态激光器的阵列，来照射流动流中的样本。
可以使用范围是200nm到1500nm的波长来照射样本，例如250nm到1250nm，例如300nm到1000nm，例如350nm到900nm且包括400nm到800nm。举例来说，在光源是宽带光源的情况下，可以使用200nm到900nm的波长来照射样本。在其他情况下，在光源包括多个窄带光源的情况下，可以使用范围是200nm到900nm的特定波长来照射样本。举例来说，所述光源可以是多个窄带LED(1nm–25nm)，每个LED独立地发射波长范围是200nm到900nm的光。在其他实施方案中，窄带光源包括一个或多个激光器(例如，激光器阵列)，并且使用范围是200nm到700nm的特定波长照射样本，例如使用具有如上文描述的气体激光器、准分子激光器、染料激光器、金属蒸气激光器和固态激光器的激光器阵列。
在采用一个以上光源的情况下，可以使用光源同时地或循序地或其组合来照射样本。举例来说，可以使用所述光源中的每一者同时照射样本。在其他实施方案中，使用所述光源中的每一者循序地照射流动流。在采用一个以上光源以循序地照射样本的情况下，每个光源独立地照射样本的时间可以是0.001微秒或更多，例如0.01微秒或更多，例如0.1微秒或更多，例如1微秒或更多，例如5微秒或更多，例如10微秒或更多，例如30微秒或更多且包括60微秒或更多。举例来说，方法可以包括使用光源(例如，激光器)将样本照射一定持续时间，所述持续时间的范围是0.001微秒到100微秒，例如0.01微秒到75微秒，例如0.1微秒到50微秒，例如1微秒到25微秒且包括5微秒到10微秒。在使用两个或更多个光源循序地照射样本的实施方案中，每个光源照射样本的持续时间可以相同或不同。
每个光源的照射之间的时间周期也可以在需要时变化，独立地相隔0.001微秒或更多的延迟，例如0.01微秒或更多，例如0.1微秒或更多，例如1微秒或更多，例如5微秒或更多，例如10微秒或更多，例如15微秒或更多，例如30微秒或更多且包括60微秒或更多。举例来说，每个光源的照射之间的时间周期的范围可以是0.001微秒到60微秒，例如0.01微秒到50微秒，例如0.1微秒到35微秒，例如1微秒到25微秒且包括5微秒到10微秒。在某些实施方案中，每个光源的照射之间的时间周期是10微秒。在通过多于两个(即，3个或更多个)光源循序地照射样本的实施方案中，每个光源的照射之间的延迟可以相同或不同。
可以连续地或者以离散间隔照射样本。在一些情况下，方法包括使用光源连续地照射样本中的样本。在其他情况下，使用光源以离散间隔照射样本，例如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒且包括每1000毫秒或以某一其他间隔进行照射。
依据光源，可以相距变化的一定距离照射样本，例如0.01mm或更多，例如0.05mm或更多，例如0.1mm或更多，例如0.5mm或更多，例如1mm或更多，例如2.5mm或更多，例如5mm或更多，例如10mm或更多，例如15mm或更多，例如25mm或更多且包括50mm或更多。而且，照射的角度也可以变化，范围是10°到90°，例如15°到85°，例如20°到80°，例如25°到75°且包括30°到60°，例如以90°的角度。
如上文所论述，在实施方案中，将来自被照射的样本的光输送到如本文描述的光检测系统且由一个或多个光电检测器进行测量。在实践主题方法的过程中，将光传播到光检测系统中的第一光电检测器阵列。通过定位在光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件将光进一步传播到每个额外的光电检测器阵列。将光引导到光电检测器阵列中的每个光电检测器，所述光电检测器测量一种或多种波长下的所收集的光，例如5种或更多种不同波长下的所收集的光，例如10种或更多种不同波长下的所收集的光，例如25种或更多种不同波长下的所收集的光，例如50种或更多种不同波长下的所收集的光，例如100种或更多种不同波长下的所收集的光，例如200种或更多种不同波长下的所收集的光，例如300种或更多种不同波长下的所收集的光且包括测量400种或更多种不同的波长下的所收集的光。
在一些实施方案中，方法包括测量一定波长范围内的所收集的光(例如，200nm–1000nm)。举例来说，方法可以包括收集200nm–1000nm的波长范围中的一者或多者内的光的光谱。在其他实施方案中，方法包括测量一种或多种特定波长下的所收集的光。举例来说，可以测量以下各者中的一者或多者下的所收集的光：450nm、518nm、519nm、561nm、578nm、605nm、607nm、625nm、650nm、660nm、667nm、670nm、668nm、695nm、710nm、723nm、780nm、785nm、647nm、617nm和其任何组合。在某些实施方案中，方法包括测量与特定荧光团的荧光峰波长相对应的波长的光。
可以连续地或者以离散间隔测量所收集的光。在一些情况下，方法包括连续地取得光的测量结果。在其他情况下，以离散间隔测量光，例如每0.001毫秒、每0.01毫秒、每0.1毫秒、每1毫秒、每10毫秒、每100毫秒且包括每1000毫秒或以某一其他间隔测量光。
可以在主题方法期间一次或多次地取得所收集的光的测量结果，例如2次或更多次，例如3次或更多次，例如5次或更多次且包括10次或更多次。在某些实施方案中，测量2次或更多次光传播，其中在某些情况下对数据求平均。
在一些实施方案中，方法包括先调整光，之后使用主题光检测系统检测光。举例来说，可以使来自样本源的光通过一个或多个透镜、镜子、针孔、狭缝、光栅、光折射器和其任何组合。在一些情况下，使所收集的光通过一个或多个聚焦透镜，以便减小被引导到如上文描述的光检测系统或光学收集系统的光的轮廓。在其他情况下，使来自样本的所发射的光通过一个或多个准直仪以减小输送到光检测系统的光束发散度。
套件
本发明的各方面还包括套件，其中套件包括包括两个或更多个光电检测器阵列，每个光电检测器阵列具有两个或更多个光电检测器和用于定位在每个光电检测器阵列之间的光学路径中的光学调整部件(例如，分束器、准直透镜、镜子、波长分离器、针孔等)。套件还可以包括光学收集部件，例如光纤(例如，光纤中继束)或用于自由空间中继系统的部件。在一些情况下，套件还包括一个或多个光电检测器，例如光电倍增管(例如，金属包装光电倍增管)。
在一些实施方案中，套件包括本文公开的光检测系统的部件中的2者或更多者，例如3者或更多者且包括5者或更多者。在一些情况下，所述套件可以包括一个或多个测定部件(例如，例如上文描述的标记试剂、缓冲液等)。在一些情况下，所述套件在需要时可以还包括样本收集装置，例如被配置成扎破皮肤以获得全血样本的柳叶刀或针、移液管等。
所述套件的各种测定部件可以存在于单独的容器中，或者它们中的一些或全部可以预先组合。举例来说，在一些情况下，所述套件的一个或多个部件，例如连接器、孔板，存在于密封袋(例如，无菌箔袋或封套)中。
除了以上部件之外，主题套件可以还包括(在某些实施方案中)用于实践主题方法的指令。这些指令可以呈多种形式存在于主题套件中，所述指令中的一者或多者可以存在于所述套件中。这些指令可以存在的一种形式是作为合适的介质或基底上的打印信息(例如，上面打印了信息的一张或数张纸)、套件包装中的打印信息、包装说明书中的打印信息等。另一种形式的这些指令是上面已经记录了信息的计算机可读介质，例如软磁盘、高密度磁盘(CD)、便携式快闪驱动器等。可能存在的另一种形式的这些指令是可以经由互联网使用以访问移除站点处的信息的网站地址。
效用
在需要通过光学性质表征样本的情况下，具体来说在收集低水平的光的情况下，主题光检测系统获得应用。在一些实施方案中，本文描述的系统和方法在使用荧光标签标记的生物样本的流式细胞术表征中获得应用。在其他实施方案中，所述系统和方法在透射或散射的光的光谱学中获得应用。另外，主题系统和方法在增加来自从(例如，流动流中的)样本收集的光的可得信号中获得应用。在某些情况下，本公开可以用于增强从在流式细胞仪中的流动流中照射的样本收集的光的测量。在需要增强流式细胞术中的发射测量的效能的情况下，例如在研究和高吞吐量实验室测试中，本公开的实施方案获得应用。在需要提供具有提高的细胞分类准确度的流式细胞仪、增强的颗粒收集、减少的能量消耗、颗粒装载效率、更准确的颗粒装载和细胞分类期间的增强的颗粒偏转的情况下，本公开也获得应用。
本公开还在可能需要从生物样本制备的细胞以用于研究、实验室测试或用于治疗的应用中获得应用。在一些实施方案中，主题方法和装置可以促进获得从目标流体或组织生物样本制备的个体细胞。举例来说，主题方法和系统促进从流体或组织样品获得细胞以用作例如癌症等疾病的研究或诊断标本。同样地，主题方法和系统促进从流体或组织样品获得细胞以用于治疗。本公开的方法和装置允许与传统的流式细胞术系统相比以增强的效率和低成本使细胞与生物样本(例如，器官、组织、组织片段、流体)分离并收集所述细胞。
尽管有附加条款，本文陈述的公开内容还由以下条款界定：
1.一种光检测系统，所述光检测系统包括：
第一光电检测器阵列，所述第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列光学连通，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列各自包括两个或更多个光电检测器；以及
光学调整部件，所述光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光学路径中。
2.根据条款1的光检测系统，其中所述光学调整部件包括准直器，所述准直器使所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光准直。
3.根据条款1-2中任一项的光检测系统，其中所述光学调整部件包括分束器。
4.根据条款1-3中任一项的光检测系统，其中所述光学调整部件包括波长分离器。
5.根据条款1-4中任一项的光检测系统，其中所述光学调整部件包括二向色镜。
6.根据条款1-5中任一项的光检测系统，其中两个或更多个光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间。
7.根据条款6的光检测系统，其中光学调整部件包括二向色镜和准直器。
8.根据条款1-7中任一项的光检测系统，其中二向色镜邻近于每个光电检测器阵列中的一个或多个光电检测器而定位。
9.根据条款1-8中任一项的光检测系统，其中所述系统还包括：
第三光电检测器阵列；以及
光学调整部件，所述光学调整部件定位在所述第二光电检测器阵列与所述第三光电检测器阵列之间的光学路径中。
10.根据条款9的光检测系统，其中光学调整部件包括准直器。
11.根据条款9-10中任一项的光检测系统，其中所述光学调整部件包括二向色镜。
12.根据条款1-11中任一项的光检测系统，其中所述系统包括10个或更多个光电检测器阵列。
13.根据条款1-11中任一项的光检测系统，其中所述光电检测器阵列沿着单个轴线而定位。
14.根据条款1-11中任一项的光检测系统，其中所述光电检测器阵列沿着一个以上轴线而定位。
15.根据条款1-11中任一项的光检测系统，其中所述光电检测器阵列沿着两个或更多个平行轴线而定位。
16.根据条款1-11中任一项的光检测系统，其中所述光电检测器阵列在所述光检测系统中具有多边形配置。
17.根据条款16的光检测系统，其中所述光电检测器阵列具有七角形配置或八边形配置。
18.根据条款1-17中任一项的光检测系统，其中每个光电检测器阵列包括用于对准两个或更多个光电检测器阵列的对准器。
19.根据条款1-18中任一项的光检测系统，其中每个光电检测器阵列包括用于耦合两个或更多个光电检测器阵列的连接器。
20.根据条款1-19中任一项的光检测系统，其中所述光检测系统包括近端和远端，其中：
所述近端包括用于接收光的孔口；以及
所述远端包括光束止挡器。
21.根据条款1-20中任一项的光检测系统，其中所述光电检测器是光电倍增管。
22.根据条款21的光检测系统，其中所述光电倍增管是金属包装光电倍增管。
23.一种系统，所述系统包括：
光源；以及
光检测系统，所述光检测系统包括：
第一光电检测器阵列，所述第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列光学连通，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列各自包括两个或更多个光电检测器；以及
光学调整部件，所述光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光学路径中。
24.根据条款23的系统，其中所述光源是激光器。
25.根据条款23-24中任一项的系统，其中所述系统是流式细胞仪。
26.根据条款23-25中任一项的系统，所述系统还包括用于将光传播到所述光检测系统的光学收集系统。
27.根据条款26的系统，其中所述光学收集部件包括光纤。
28.根据条款27的系统，其中所述光学收集部件是光纤光中继束。
29.根据条款27的系统，其中所述光学收集部件是自由空间光中继系统。
30.根据条款23-29中任一项的系统，其中所述光学调整部件包括准直器，所述准直器使所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光准直。
31.根据条款23-30中任一项的系统，其中所述光学调整部件包括分束器。
32.根据条款23-31中任一项的系统，其中所述光学调整部件包括二向色镜。
33.根据条款23-32中任一项的系统，其中所述光学调整部件包括波长分离器。
34.根据条款23-33中任一项的系统，其中两个或更多个光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间。
35.根据条款34的系统，其中光学调整部件包括二向色镜和准直器。
36.根据条款23-35中任一项的系统，其中二向色镜邻近于每个光电检测器阵列中的一个或多个光电检测器而定位。
37.根据条款23-36中任一项的系统，其中所述光检测系统还包括：
第三光电检测器阵列；以及
光学调整部件，所述光学调整部件定位在所述第二光电检测器阵列与所述第三光电检测器阵列之间的光学路径中。
38.根据条款37的系统，其中光学调整部件包括准直器。
39.根据条款36-38中任一项的系统，其中所述光学调整部件包括二向色镜。
40.根据条款23-39中任一项的系统，其中所述光检测系统包括10个或更多个光电检测器阵列。
41.根据条款23-40中任一项的系统，其中所述光电检测器阵列沿着单个轴线而定位。
42.根据条款23-41中任一项的系统，其中所述光电检测器阵列沿着一个以上轴线而定位。
43.根据条款23-42中任一项的系统，其中所述光电检测器阵列沿着两个或更多个平行轴线而定位。
44.根据条款23-42中任一项的系统，其中所述光电检测器阵列在所述光检测系统中具有多边形配置。
45.根据条款44的系统，其中所述光电检测器阵列具有七角形配置或八边形配置。
46.根据条款23-45中任一项的系统，其中每个光电检测器阵列包括用于对准两个或更多个光电检测器阵列的对准器。
47.根据条款23-46中任一项的系统，其中每个光电检测器阵列包括用于耦合两个或更多个光电检测器阵列的连接器。
48.根据条款23-46中任一项的系统，其中所述光检测系统包括近端和远端，其中：
所述近端包括用于接收从被光源照射的样本传播的光的孔口；并且
所述远端包括光束止挡器。
49.根据条款23-48中任一项的系统，其中所述光电检测器是光电倍增管。
50.根据条款49的系统，其中所述光电倍增管是金属包装光电倍增管。
51.一种方法，所述方法包括：
使用光检测系统来检测来自流动流的光，所述光检测系统包括：
第一光电检测器阵列，所述第一光电检测器阵列与第二光电检测器阵列光学连通，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列各自包括两个或更多个光电检测器；以及
光学调整部件，所述光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光学路径中。
52.根据条款51的方法，所述方法还包括使用光源照射询问场中的流动流中的样本。
53.根据条款51-52中任一项的方法，其中使用波长为200nm到800nm的光源照射所述流动流。
54.根据条款52-53中任一项的方法，其中所述光源是激光器。
55.根据条款52-54中任一项的方法，其中使用光学收集部件将来自所述流动流的光传播到所述光检测系统。
56.根据条款55的方法，其中所述光学收集部件包括光纤。
57.根据条款56的方法，其中所述光学收集部件包括光纤光中继束。
58.根据条款55的方法，其中所述光学收集部件包括自由空间光中继系统。
59.根据条款51的方法，所述方法还包括测量一种或多种波长下的检测到的光。
60.一种套件，所述套件包括：
两个或更多个光电检测器阵列，每个光电检测器阵列包括两个或更多个光电检测器；以及
光学调整部件，所述光学调整部件被配置成定位在每个光电检测器阵列之间的光学路径中。
61.根据条款60的套件，其中所述光学调整部件包括准直器。
62.根据条款60-61中任一项的套件，其中所述光学调整部件包括分束器。
63.根据条款60-62中任一项的套件，其中所述光学调整部件包括二向色镜。
64.根据条款60-63中任一项的套件，其中所述光电检测器是光电倍增管。
65.根据条款60-64中任一项的系统，其中所述光电倍增管是金属包装光电倍增管。
虽然已经出于理解清楚起见而通过图解和示例稍为详细地描述了前述发明，但本领域技术人员鉴于本公开的教导将容易明白，在不脱离所附权利要求的精神或范围的情况下可以对前述发明作出特定改变和修改。
因此，前面内容仅仅说明本发明的原理。将了解，本领域技术人员将能够构想各种布置，所述布置虽然在本文未明确描述或示出但却体现出本发明的原理，并且包括在本发明的精神和范围内。此外，本文叙述的所有示例性和条件性语言主要希望辅助读者理解本发明的原理，而非限制于此类具体叙述的示例和条件。另外，叙述本发明的原理、方面和实施方案以及其特定示例的所有语句意在涵盖其结构和功能等效物。另外，期望此类等效物包括当前已知的等效物和在未来开发的等效物两者，所述在未来开发的等效物即为执行相同功能的所开发的任何要素而不管结构如何。因此，本发明的范围无意受限于本文所示出和描述的示例性实施方案。而是，本发明的范围和精神由所附权利要求体现。

Claims (15)

1.一种光检测系统，所述光检测系统包括：
第一光电检测器阵列，其包括：
第一光电检测器和第二光电检测器；和
第一光学调整部件，被配置为将光的第一部分直接传播到第一光电检测器并将光的第二部分传播到第二光电检测器；
所述第一光电检测器阵列与包括两个或更多个光电检测器的第二光电检测器阵列光学连通；以及
第二光学调整部件，其定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光学路径中，其中所述第二光学调整部件被配置为将光从第一光电检测器阵列传播到第二光电检测器阵列。
2.根据权利要求1所述的光检测系统，其中所述第二光学调整部件包括准直器，所述准直器使所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的光准直。
3.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第二光学调整部件包括分束器。
4.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第二光学调整部件包括波长分离器。
5.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第二光学调整部件包括二向色镜。
6.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中两个或更多个光学调整部件定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间。
7.根据权利要求6所述的光检测系统，其中定位在所述第一光电检测器阵列与所述第二光电检测器阵列之间的所述两个或更多个光学调整部件包括二向色镜和准直器。
8.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第一光学调整部件包括邻近于所述第一光电检测器阵列中的第一光电检测器而定位的二向色镜。
9.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述系统还包括：
第三光电检测器阵列；以及
第三光学调整部件，所述第三光学调整部件定位在所述第二光电检测器阵列与所述第三光电检测器阵列之间的光学路径中。
10.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列沿着单个轴线或沿着一个以上轴线而定位。
11.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列在所述光检测系统中具有多边形配置。
12.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中每个光电检测器阵列包括用于对准两个或更多个光电检测器阵列的对准器。
13.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统，其中所述第一光电检测器阵列和所述第二光电检测器阵列中的每个光电检测器是光电倍增管。
14.一种系统，所述系统包括：
光源；以及
根据权利要求1至13中任一项所述的光检测系统。
15.一种方法，所述方法包括：
使用根据权利要求1至13中任一项所述的光检测系统来检测来自流动流的光。
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