CN110596147A - 降低阵列电性测试机静电产生的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。本发明通过增加支架上升时间以及移动龙门架于玻璃上方，使离子棒作用于玻璃的时间增加，从而达到降低静电产生及避免击伤面板的目的。

Description

降低阵列电性测试机静电产生的方法
技术领域
本发明属于电性测试领域，尤其涉及一种降低阵列电性测试机静电产生的方法。
背景技术
目前由于阵列电性测试机(Array Tester，ATS)测试完成后，以支架上升来分离玻璃时，静电击伤产品的现象频频发生，ATS自身无法拦检，一旦发生静电击伤，只能到成盒制程或模组制程才会发现异常，这个时间差导致反馈发生异常时，已经造成大量的面板报废，严重影响了产品的良率。
因此需要对现有技术中的问题提出解决方法。
发明内容
本发明实施例提供一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，所述方法包括：设置支架的上升时间；控制所述支架凸出承载平台；分离玻璃于所述承载平台；移动龙门架于所述玻璃上方；以及控制离子棒吹向所述玻璃。
进一步地，在所述设置支架的上升时间的步骤之前还包括：接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动；以及通过光学检测头检测所述玻璃是否合格。
进一步地，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，所述离子棒包括第一离子棒和第二离子棒，且所述第一离子棒与所述第二离子棒对称设置。
进一步地，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，设置所述第一离子棒和所述第二离子棒于所述龙门架正下方，所述第一离子棒和所述第二离子棒均随所述龙门架移动而移动。
进一步地，在所述控制所述支架凸出承载平台及分离玻璃于所述承载平台的步骤中，通过所述支架上升带动所述玻璃上升，以至于所述玻璃分离于所述承载平台。
进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括第一光学检测头、第二光学检测头以及第三光学检测头。
进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，将所述第一光学检测头设于所述龙门架左侧，将所述第二光学检测头设于所述龙门架中间，将所述第三光学检测头设于所述龙门架右侧，所述第一光学检测头、所述第二光学检测头以及所述第三光学检测头均随所述龙门架移动而移动。
进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括镜头，所述镜头内填充有液晶。
进一步地，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，增加电压至所述玻璃，以使所述玻璃与所述镜头之间形成电场；通过所述镜头发射光源并获取反射光线，以判断所述玻璃是否合格。
进一步地，在所述通过所述镜头发射光源并获取反射光线，以判断所述玻璃是否合格的步骤中，当判断出所述反射光线偏离正常方向时，则判定所述玻璃为存有缺陷，当判断出所述反射光线未偏离正常方向时，则判定所述玻璃为合格。
进一步地，在所述接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动的步骤中，控制所述支架内凹于所述承载平台。
本发明通过设置支架的上升时间，使上升时间增加来减缓玻璃与承载平台的分离速度，减少静电的产生，并伴随移动龙门架至玻璃上方，使离子棒能够正面吹相玻璃以消除产生的静电，彻底改善ATS造成的静电击伤面板导致的良率下降的问题。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其有益效果显而易见。
图1是本发明实施例提供的降低阵列电性测试机静电产生的方法的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书以及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应当理解，这样描述的对象在适当情况下可以互换。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在发明文档中，下文论述的附图以及用来描述本发明公开的原理的各实施例仅用于说明，而不应解释为限制本发明公开的范围。所属领域的技术人员将理解，本发明的原理可在任何适当布置的系统中实施。将详细说明示例性实施方式，在附图中示出了这些实施方式的实例。此外，将参考附图详细描述根据示例性实施例的终端。附图中的相同附图标号指代相同的元件。
本发明说明书中使用的术语仅用来描述特定实施方式，而并不意图显示本发明的概念。除非上下文中有明确不同的意义，否则，以单数形式使用的表达涵盖复数形式的表达。在本发明说明书中，应理解，诸如“包括”、“具有”以及“含有”等术语意图说明存在本发明说明书中揭示的特征、数字、步骤、动作或其组合的可能性，而并不意图排除可存在或可添加一个或多个其他特征、数字、步骤、动作或其组合的可能性。附图中的相同参考标号指代相同部分。
如图1所示，降低阵列电性测试机静电产生的方法包括以下步骤：
步骤S10，接收玻璃于承载平台上，龙门架在玻璃上方平行移动。
固定在阵列电性测试机的承载平台上设有多个过孔，且阵列电性测试机的支架设于过孔的对应位置，并能够在过孔中上下移动。在接收玻璃于承载平台上时，支架为内凹于所述承载平台，便于将玻璃放置在承载平台上。
步骤S20，通过光学检测头检测玻璃是否合格。
在本实施例中，光学检测头包括第一光学检测头、第二光学检测头以及第三光学检测头。在其他部分实施例中，光学检测头的数量不限于此，例如二个光学检测头、四个光学检测头等。在本实施例中，将第一光学检测头设于龙门架左侧，检测左侧区域玻璃的合格情况；将第二光学检测头设于龙门架中间，检测中间区域玻璃的合格情况；将第三光学检测头设于龙门架右侧，检测左侧区域玻璃的合格情况。第一光学检测头、第二光学检测头以及第三光学检测头均随所述龙门架移动而移动，方便检测玻璃。
光学检测头包括镜头，镜头内填充有液晶，液晶在电场中会发生偏转。利用液晶的特性，增加电压至玻璃上，以使玻璃与镜头之间形成电场，在电场中都液晶就会产生偏转角。接着，通过镜头发射光源并获取反射光线，光源经过发生偏转后的液晶，会改变其方向，再根据反射光线的方向的改变，以判断玻璃是否合格。
当判断出反射光线偏离正常方向时，则判定玻璃为存有缺陷。当判断出反射光线未偏离正常方向时，则判定玻璃为合格。
在执行完检测操作后，准备将所述玻璃分离于所述承载平台。由于在分离的过程容易产生静电，为了减少静电的产生，避免击伤面板，因此，需要减缓玻璃与承载平台分离的速度，具体可以通过以下的步骤来实现。
步骤S30，移动龙门架于所述玻璃上方。
移动龙门架，使其位于玻璃的上方的中间位置，方便延长固定在龙门架上的离子棒对分离时的作用时间。
步骤S40，控制离子棒吹向所述玻璃。
在本实施例中，所述离子棒包括第一离子棒和第二离子棒，且第一离子棒与第二离子棒对称设置，当然离子棒的数量及设置位置不限于此。进一步，第一离子棒和第二离子棒均随龙门架移动而移动，在玻璃上方的中间位置时，正面吹向玻璃，以达到增强消除静电的目的。
步骤S50，设置支架的上升时间。
增加支架上升的时间，例如将上升时间4s增加至8s，可有效减缓玻璃与承载平台分离的速度，从而能减少静电的产生。
步骤S60，控制所述支架凸出承载平台。
步骤S70，分离玻璃于所述承载平台。
支架凸出于承载平台后，通过支架上升以带动玻璃上升，以至于玻璃分离于承载平台。
本发明的阵列电性测试机通过设置支架的上升时间，使上升时间增加来减缓玻璃与承载平台的分离速度，减少静电的产生，并伴随移动龙门架至玻璃上方，使离子棒能够正面吹相玻璃以消除产生的静电，彻底改善ATS造成的静电击伤面板导致的良率下降的问题。
以上对本发明实施例所提供的一种降低阵列电性测试机静电产生的方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (11)

1.一种降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，包括：
移动龙门架于所述玻璃上方；
控制离子棒吹向所述玻璃；
设置支架的上升时间；
控制所述支架凸出承载平台；以及
分离玻璃于所述承载平台。
2.根据权利要求1所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述移动龙门架于所述玻璃上方的步骤之前还包括：
接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动；以及
通过光学检测头检测所述玻璃是否合格。
3.根据权利要求1所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，所述离子棒包括第一离子棒和第二离子棒，且所述第一离子棒与所述第二离子棒对称设置。
4.根据权利要求3所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述控制离子棒吹向所述玻璃的步骤中，设置第一离子棒和第二离子棒于所述龙门架正下方，所述第一离子棒和所述第二离子棒均随所述龙门架移动而移动。
5.根据权利要求1所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述控制所述支架凸出承载平台及分离玻璃于所述承载平台的步骤中，通过所述支架上升带动所述玻璃上升，以至于所述玻璃分离于所述承载平台。
6.根据权利要求2所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括第一光学检测头、第二光学检测头以及第三光学检测头。
7.根据权利要求6所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，将所述第一光学检测头设于所述龙门架左侧，将所述第二光学检测头设于所述龙门架中间，将所述第三光学检测头设于所述龙门架右侧，所述第一光学检测头、所述第二光学检测头以及所述第三光学检测头均随所述龙门架移动而移动。
8.根据权利要求2所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，所述光学检测头包括镜头，所述镜头内填充有液晶。
9.根据权利要求8所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述通过光学检测头检测所述玻璃是否合格的步骤中，增加电压至所述玻璃，以使所述玻璃与所述镜头之间形成电场；通过所述镜头发射光源并获取反射光线，以判断所述玻璃是否合格。
10.根据权利要求9所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述通过所述镜头发射光源并获取反射光线以判断所述玻璃是否合格的步骤中，当判断出所述反射光线偏离正常方向时，则判定所述玻璃为存有缺陷，当判断出所述反射光线未偏离正常方向时，则判定所述玻璃为合格。
11.根据权利要求2所述的降低阵列电性测试机静电产生的方法，其特征在于，在所述接收所述玻璃于承载平台上，龙门架在所述玻璃上方平行移动的步骤中，控制所述支架内凹于所述承载平台。
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