CN110579492A - 一种硅基oled面板点亮检查方法 - Google Patents

一种硅基oled面板点亮检查方法 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种硅基OLED面板点亮检查方法，包括步骤：S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩，以及设置于所述外罩内的吸附台、探针卡匣、压接工作台和探针取放机构；S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台上；S3：纯化外罩内的惰性气体，使得所述外罩形成充满惰性气体的密闭腔体；S4：驱动所述吸附台移动至所述压接工作台并完成压接和点灯检测。本发明能够实现全过程自动化地对硅基OLED进行检查；具有可替换的探针组，对不同型号的硅基OLED进行检查，具有广泛的通用性。

Description

一种硅基OLED面板点亮检查方法
技术领域
本申请属于半导体检测技术领域，尤其是涉及一种硅基OLED面板点亮检查方法。
背景技术
随着VRVirtual Reality，虚拟现实和ARAugmented Reality，增强现实技术的应用，高像素密度的微型显示器的市场需求也越随之产生，其中硅基micro OLED显示器为常用的高像素密度的微型显示器之一。因VR和AR技术为较为新兴的技术，其使用的硅基microOLED等微信显示器也处于技术初期阶段，针对硅基micro OLED显示屏的显示品质检测也相对较少，目前尚未出现针对硅基micro OLED显示器的检测设备；基于对硅基micro OLED显示器的品质要求，亟待研发一种针对硅基micro OLED显示器的检测设备及提供相应的检测方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：为解决现有技术中硅基OLED检查的困难，从而提供一种硅基OLED面板点亮检查方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种硅基OLED面板点亮检查方法，包括步骤：
S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩，以及设置于所述外罩内的吸附台、探针卡匣、压接工作台和探针取放机构；
S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台上；
S3：纯化外罩内的惰性气体，使得所述外罩形成充满惰性气体的密闭腔体。
S4：驱动所述吸附台移动至所述压接工作台并完成压接和点灯检测。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S2包含步骤：
S21：驱动所述吸附台吸附所述硅基OLED面板，使得所述硅基OLED面板的制程面向下；
S22：对所述硅基OLED面板对位。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S3包含向所述外罩内充入惰性气体及去除非惰性气体的步骤。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S4包含步骤：
S41：驱动所述吸附台移动至所述压接工位上方并下压，将产品与探针压接导通；
S42：点亮所述硅基OLED面板，并对所述硅基OLED面板的检测画面拍照。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：调整所述压接工位的水平度。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：将所述探针卡匣内的探针与所述压接工位上的探针进行切换。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述切换探针的步骤还包含：驱动所述探针卡匣上升或下降，选取所述探针卡匣内与所述硅基OLED面板匹配的探针，并与所述压接工位上的探针进行切换。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：储存拍摄的检测画面的图像。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：对拍摄的图像进行算法处理。
优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S4还包含步骤S43：分析图像缺陷并储存缺陷图像。
本发明的有益效果是：能够实现全过程自动化地对硅基OLED进行检查；具有全自动更换探针的步骤，对不同型号的硅基OLED进行检查，具有广泛的通用性；设有纯化惰性气体工作环境的步骤，增加了检测的安全性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本申请的技术方案进一步说明。
图1是本申请实施例的硅基OLED点亮检查设备外部结构示意图；
图2是本申请实施例的硅基OLED点亮检查设备内部结构示意图；
图3是本申请实施例的吸附台和探针取放机构结构示意图；
图4是本申请实施例的探针卡匣结构示意图；
图5是本申请实施例的探针卡匣顶部结构示意图；
图6是图5的倒梯形槽位置局部放大图；
图7是本申请实施例的探针压接工位结构示意图；
图8是本申请实施例的硅基OLED检查过程进料状态示意图；
图9是本申请实施例的硅基OLED检查过程点亮检查示意图；
图10是本申请实施例的探针更换过程示意图。
图中的附图标记为：
1 外罩
2 吸附台
3 探针卡匣
4 压接工作台
5 探针取放机构
6 空气纯化器
7 光学检查相机
11 进出料口
12 回风管道
21 吸附机构
30 卡匣外壳
31 升降架
32 开口
41 台面
42 顶升驱动件
43 推动装置
44 压接底座
51 固定板
52 升降驱动件
53 升降板
54 卡爪
55 卡爪驱动件
301 卡紧杆
311 存放台
312 顶板
321 卡紧杆
411 探针端子插口
412 触点
3121 倒梯形槽
A 探针
B OLED面板。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明创造的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请的技术方案。
实施例
本实施例提供一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图1-3所示，包括：
吸附台2，用于放置并固定硅基OLED面板；
探针卡匣3，用于存储探针；
压接工作台4，用于硅基OLED面板的压接；
探针取放机构5，用于在所述探针卡匣3及所述压接工作台4之间取放探针；
外罩1，所述吸附台2、探针卡匣3、压接工作台4以及探针取放机构5设置于所述外罩1内；
其中，所述外罩1上设置有能够关闭的进出料口11，所述进出料口11关闭时，所述外罩1形成充满惰性气体的密闭腔体。在本实施例中，采用空气纯化器6通过管道与所述外罩内部连通，进行纯化惰性气体，使得所述外罩1形成充满惰性气体的密闭腔体。
本实施例的硅基OLED面板点亮检查设备，检测OLED面板B时，采用的方法是利用探针A压接OLED面板B，根据OLED面板B的被点亮后的显示画面是否存在瑕疵来判断OLED面板B的合格情况。使用本设备进行检测时，需要保持在氧气和水分均稀少的空间内，利用空气纯化器6对外罩内持续纯化，过滤掉空气中的氧气和水分；如图8所示，将待检测的硅基OLED面板B送入进出料口11内，吸附台2在活动组件的带动下靠近进料口11一侧，随后调整高度使吸附台2接触OLED面板B，并将OLED面板B吸住；如图9所示，吸附台2在驱动装置的带动下继续移动至压接工作台4的正上方，并使吸附台2和OLED面板B对齐压接工作台4上的探针A，随后吸附台2下降，使OLED面板B和探针A压接，之后根据OLED面板B的被点亮后的显示画面是否存在瑕疵来判断OLED面板B的合格情况。
本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，探针卡匣3内存放有不同型号的探针，探针取放机构5能够将探针卡匣3内的探针换到压接工作台4上，以便于进行不同的OLED面板的点亮测试。外罩1需要保证内部的气密性，以能够形成充满惰性气体的工作环境为标准。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图3所示，所述吸附台2包含下悬的吸附机构21，用于将OLED面板B的制程面向下吸附固定。其目的在于将OLED面板B的制程面朝向压接工作台4。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，所述吸附台2可在进出料工位及压接工位之间移动；所述进出料工位位于所述进出料口11处，所述压接工位位于所述压接工作台4上方。吸附台2靠近进出料工位便于OLED面板B的上料固定和出料，免于上料时需要将OLED面板B伸入到外罩1内部中心。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图4所示，所述探针卡匣3包含驱动件及升降架31；所述驱动件用于驱动所述升降架31沿竖直方向升降。升降架31上用于摆放各型号的探针A，在探针取放机构5更换探针时，可以驱动升降架31伸出，便于探针取放机构5从升降架31的某一层上取走待更换的探针A。如图10所示，所述探针卡匣3的顶面对应所述升降架31设置开口32供所述升降架31升降。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图3所示，所述探针取放机构5与所述吸附台2固定连接，能够在同一个驱动件的带动下活动。由于探针取放机构5与所述吸附台2都要经过压接工位，且两者均需要水平移动和升降移动，所以两者共用一个驱动件能够节省资源，同时对工作效率的影响也比较小。于一种具体的实施方式，本实施例的硅基OLED面板点亮检查设备，如图3所示，所述探针取放机构5包括：
固定板51，固定在所述吸附台2一侧；
升降驱动件52，安装在所述固定板51上；
升降板53，受所述升降驱动件52的驱动而能够升降；
一对卡爪54，设置在所述升降板53上；
卡爪驱动件55，用于驱动卡爪54相互靠近或者远离。
升降驱动件52带动升降板53的升降，实现卡爪54的升降；两个卡爪驱动件55伸缩方向相反，使卡爪54能够形成一个抓取或松开的动作，用于对探针A的抓取。
于一种具体的实施方式，如图3所示，所述卡爪54的形状为L形，两侧的卡爪54对称设置形成爪形。L形的卡爪54便于和形状类似长方体的探针A架子卡合。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图5、10所示，所述升降架31的顶板312上排列多个倒梯形槽3121，所述开口32的边缘对应所述多个倒梯形槽3121设置有多个卡紧杆321；所述卡紧杆321可以在水平推力作用下卡入或脱离所述倒梯形槽3121。于一种具体的实施方式，如图5、10所示，所述开口32边缘设有一侧开口具有两条长边和一条短边的边框，两条所述长边的内侧排列有若干卡紧杆301；
所述顶板312的两边对应每个卡紧杆301设有倒梯形槽3121，所述卡紧杆301伸入于所述倒梯形槽3121内；
水平推动驱动件用于推动所述顶板312运动以使所述卡紧杆301在所述倒梯形槽3121内移动。
顶板312横向移动时，倒梯形槽3121的斜面与卡紧杆301的接触情况逐渐发生变化，当倒梯形槽3121的斜面与卡紧杆301产生挤压的时候，顶板312就和卡匣外壳30的顶部紧贴，实现对卡匣外壳30的顶部开口32的密封；而当倒梯形槽3121的斜面与卡紧杆301完全错开不接触时，卡紧杆301就不构成对顶板312的阻挡，即升降架31可以正常升降。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图7所示，所述压接工作台4包含台面41、顶升驱动件42以及压接底座44；所述台面41的一端与压接底座44转动连接，另一端连接所述顶升驱动件42。顶升驱动件42可以通过顶升或下降来调节台面41一端与另一端的高度差，即调整台面41的倾斜角度，当探针A放置在台面41时，通过台面41自身的倾斜，使探针A的接触点保证水平。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，如图7所示，所述压接工作台4还包含推动装置43，所述推动装置43连接供电模块，所述台面41上设置有探针端子插口411，所述推动装置43可带动所述供电模块的触点412插入所述探针端子插口411。推动装置43伸缩时带动所述触点412活动，进行与探针A的电连接或脱离。
优选地，本实施例的一种硅基OLED面板点亮检查设备，还包含光学检查相机7，所述光学检查相机7设置于所述进出料口11下方。光学检查相机7对点亮情况拍摄，识别OLED面板B是否被点亮以及对显示画面进行拍摄，并通过系统算法判断OLED面板B是否存在瑕疵。检测完的OLED面板B由吸附台2带到进出料口11一侧，随后可取走。
于一具体的实施例中，如图4所示，探针卡匣3具有至少一个用于摆放探针的存放台311。本实施例的硅基OLED面板点亮检查设备更换探针的方法，如图10所示，存放台311受驱动件的顶升升起，进入探针取放机构5的抓取范围内，探针取放机构5先将台面41上待更换的探针A抓起并放置到一个空的存放台311上，随后抓取与待检测OLED面板型号匹配的探针A，将该探针A放置到台面41上；随后，存放台311随驱动件的驱动下降复位，探针更换完成。
于一种具体的实施方式，本实施例的硅基OLED点亮检查设备，如图1所示，所述机架的底面设置有减震器。减震器能够减少设备的震颤，避免对外罩1内元件的损伤以及减少震动对压接和检测效果的影响等。
于一种具体的实施方式，本实施例的硅基OLED点亮检查设备，如图1所示，所述外罩的内设有用于过滤灰尘的空气过滤净化单元，所述密闭腔体具有出气口和进气口，出气口和进气口通过管道与所述空气纯化器6连接，形成所述密闭腔体到所述空气纯化器6再到所述密闭腔体的气流循环；所述外罩的侧壁还设有连通所述密闭腔体上下端的回风管道12。回风管道12能够让纯化过的气体在外罩内重复循环，增大纯化气流的利用率。
于一种具体的实施方式，本实施例的硅基OLED点亮检查设备，如图2所示，所述探针抓取机械手设置在能够做x轴、y轴、z轴方向移动的活动件和绕z轴转动4自由度运动机构上；所述光学检查相机7设置在能够做x轴、y轴、z轴方向移动的3自由度运动机构上。满足吸附台2和光学检查相机7的活动需求。
本实施例提供一种硅基OLED面板点亮检查方法，包括步骤：
S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩1，以及设置于所述外罩1内的吸附台2、探针卡匣3、压接工作台4和探针取放机构5；
S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台2上；
S3：纯化外罩1内的惰性气体，使得所述外罩1形成充满惰性气体的密闭腔体。
S4：驱动所述吸附台2移动至所述压接工作台4并完成压接和点灯检测。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S2包含步骤：
S21：驱动所述吸附台2吸附所述硅基OLED面板，使得所述硅基OLED面板的制程面向下；
S22：对所述硅基OLED面板对位。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S3包含向所述外罩1内充入惰性气体及去除非惰性气体的步骤。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S4包含步骤：
S41：驱动所述吸附台2移动至所述压接工位4上方并下压，将产品与探针压接导通；
S42：点亮所述硅基OLED面板，并对所述硅基OLED面板的检测画面拍照。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：调整所述压接工位4的水平度。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：将所述探针卡匣3内的探针与所述压接工位4上的探针进行切换。于一具体的实施例中，提供一种存放探针的探针卡匣3，所述探针卡匣3包含驱动件及升降架31，所述驱动件用于驱动所述升降架31沿竖直方向升降。升降架31在驱动件的驱动下伸入外罩1内，随后用探针取放机构5更换探针。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述切换探针的步骤还包含：驱动所述探针卡匣3上升或下降，选取所述探针卡匣3内与所述硅基OLED面板匹配的探针，并与所述压接工位4上的探针进行切换。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：储存拍摄的检测画面的图像。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：对拍摄的图像进行算法处理。
优选地，本实施例的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S4还包含步骤S43：分析图像缺陷并储存缺陷图像。
以上述依据本申请的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项申请技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项申请的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (10)

1.一种硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，包括步骤：
S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩(1)，以及设置于所述外罩(1)内的吸附台(2)、探针卡匣(3)、压接工作台(4)和探针取放机构(5)；
S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台(2)上；
S3：纯化外罩(1)内的惰性气体，使得所述外罩(1)形成充满惰性气体的密闭腔体；
S4：驱动所述吸附台(2)移动至所述压接工作台(4)并完成压接和点灯检测。
2.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S2包含步骤：
S21：驱动所述吸附台(2)吸附所述硅基OLED面板，使得所述硅基OLED面板的制程面向下；
S22：对所述硅基OLED面板对位。
3.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S3包含向所述外罩(1)内充入惰性气体及去除非惰性气体的步骤。
4.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S4包含步骤：
S41：驱动所述吸附台(2)移动至所述压接工位(4)上方并下压，将产品与探针压接导通；
S42：点亮所述硅基OLED面板，并对所述硅基OLED面板的检测画面拍照。
5.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S41还包含步骤：调整所述压接工位(4)的水平度。
6.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S41还包含步骤：将所述探针卡匣(3)内的探针与所述压接工位(4)上的探针进行切换。
7.根据权利要求6所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述切换探针的步骤还包含：驱动所述探针卡匣(3)上升或下降，选取所述探针卡匣(3)内与所述硅基OLED面板匹配的探针，并与所述压接工位(4)上的探针进行切换。
8.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S42还包含步骤：储存拍摄的检测画面的图像。
9.根据权利要求4-8任一项所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S42还包含步骤：对拍摄的图像进行算法处理。
10.根据权利要求4-9任一项所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S4还包含步骤S43：分析图像缺陷并储存缺陷图像。
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