CN110496798A - 精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，包括输料筒、分料盘和承接筒，所述承接筒的内部中心位置同心设置有分料盘，且分料盘的顶部设置有输料筒，所述分料盘的中心位置处焊接有连接管，且连接管与输料筒之间转动连接，所述分料盘上焊接有多个导料槽。本发明中，驱动电机驱动分料盘进行转动，大米通过导料槽向外部抛出，导料槽出口端的光学检测装置对大米成色进行检测，并传输至处理器中，通过处理器的处理后反馈至电磁机构中，电磁机构连通，对铁块进行作用，使得阻隔板与承接筒之间出现间隙，成色较差的大米通过间隙落至漏料盘中，以此即完成对于大米的色选操作。
Description
技术领域
本发明涉及大米加工技术领域，尤其涉及精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法。
背景技术
大米色选是根据大米光学特性的差异，利用光电技术将大米中的异色颗粒自动分拣出来，从而达到提升大米品质，去除杂质的效果。
现有的大米生产过程中需要对米粒进行色选，从而保证大米的质量，然而现有的大米色选装置大多采用多个通道进行组合的方式进行大米色选，不仅效率不够高，并且存在一定的堵塞的可能性，导致大米色选的速率低下，通过增加色选通道的方式，会导致装置的体积增大化，从而占用过大的空间。
发明内容
本发明的目的在于：为了解决现有色选装置效率低下且扩容会使装置体积扩大化不利于生产的问题，而提出的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，包括输料筒、分料盘和承接筒，所述承接筒的内部中心位置同心设置有分料盘，且分料盘的顶部设置有输料筒，所述分料盘的中心位置处焊接有连接管，且连接管与输料筒之间转动连接，所述分料盘上焊接有多个导料槽，且导料槽与连接管底端连通，所述多个导料槽的出口端均设置有光学检测装置，且光学检测装置的顶部固定连接有电磁机构，所述分料盘下方设置有驱动电机，且驱动电机的输出轴与分料盘的底部中心位置处传动连接，所述承接筒外壁上转动连接有多个阻隔板，且阻隔板的内侧固定连接有铁块，所述承接筒的外部套设有限位环，且限位环的底部焊接有漏料槽。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述多个导料槽均呈弧形设置，且导料槽的弧形方向与分料盘转动方向一致，并且多个导料槽之间环形阵列。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述电磁机构的一端通过L形连接杆与光学检测装置的顶部固定连接，且L 形连接杆的弯折方向与导料槽的弯折方向相同。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述漏料槽的一侧开设有漏料口，且漏料槽向漏料口一侧倾斜设置。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述输料筒的底部外侧套设有轴承套，且输料筒通过轴承套与连接管之间转动连接。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述承接筒的顶端外壁开设有多个限位槽，且多个限位槽的内侧均转动连接有阻隔板，并且多个阻隔板的顶端四分之一位置处与限位槽之间转动连接。
本案中精米生产工艺中的色选方法，包括以下步骤：
步骤一、送料：
a、将待色选的大米加入至输料筒中，输料筒中大米漏至连接管的内部；
b、驱动电机通过输出轴传动分料盘进行匀速转动，分料盘上焊接的导料槽即随之进行转动；
c、在离心力的作用下，连接管内部的大米进入导料槽中，并沿导料槽进行向外侧的运动，被抛出；
步骤二、色选及出料：
a、通过光学检测装置对导料槽中流过的大米进行检测；
b、光学检测装置将检测的数据传输至外部的处理器，通过处理器的处理分析，与预先输入的预设值进行对比，从而判断大米成色是否合格，并将处理后结果反馈至电磁机构中；
c、当大米成色检测数据大于预设值时：说明大米成色合格，此时的电磁机构不做出动作，抛出后的大米与承接筒的内壁接触后，沿承接筒内壁发生掉落，从承接筒的底部进行输出；
d、当大米成色检测数据小于预设值时：说明大米成色不合格，处理器将信息传输至电磁机构后，电磁机构导通，具有磁性，通过电磁机构与铁块的相互吸引作用，阻隔板绕销轴转动，阻隔板与承接筒之间出现间隙，不合格的大米通过间隙被抛送至限位环的内侧，并掉落至漏料盘中排出。
作为上述技术方案的进一步描述：
所述光学检测装置的输出端与处理器输入端电性连接，处理器输出端与电磁机构输入端电性连接。
综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：
本发明中，驱动电机驱动分料盘进行转动，在离心力的作用下，大米通过导料槽向外部抛出，导料槽出口端的光学检测装置对大米成色进行检测，并传输至处理器中，通过处理器的处理后反馈至电磁机构中，当电磁机构连通，对铁块进行作用，使得阻隔板与承接筒之间出现间隙，成色较差的大米通过间隙落至漏料盘中，当电磁机构不作出动作时，大米与承接盘的内壁进行碰撞后，沿内壁向下进行排出，以此即完成对于大米的色选操作，通过环形设置的分料盘有限减小了其面积的同时，由于驱动电机的驱动作用，减小出现堵塞的可能性。
附图说明
图1示出了根据本发明实施例提供的等轴测图；
图2示出了根据本发明实施例提供的爆炸图；
图3示出了根据本发明实施例提供的分料盘等轴测图；
图4示出了根据本发明实施例提供的分料盘局部剖视图；
图5示出了根据本发明实施例提供的承接筒局部剖视图；
图6示出了根据本发明实施例提供的电性连接图；
图例说明：
1、输料筒；101、轴承套；2、分料盘；3、连接管；4、承接筒；401、限位槽；5、漏料盘；6、限位环；7、导料槽；8、光学检测装置；9、电磁机构；10、驱动电机；11、阻隔板；12、铁块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一，请参阅图1-6，本发明提供一种技术方案：精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，包括输料筒1、分料盘2和承接筒4，承接筒4的内部中心位置同心设置有分料盘2，且分料盘2的顶部设置有输料筒1，分料盘2 的中心位置处焊接有连接管3，且连接管3与输料筒1之间转动连接，输料筒1 的底部外侧套设有轴承套101，且输料筒1通过轴承套101与连接管3之间转动连接，在底部的粉料盘2进行转动的过程中，由于轴承套101的设置，输料筒1 不会跟随分料盘2一同进行转动，分料盘2上焊接有多个导料槽7，且导料槽7与连接管3底端连通，分料盘2进行转动时，由于离心力的作用，使得连接管3 中的大米通过导料槽7向外部进行运动，由于导料槽7的宽度设置，使得一次只能通过一颗大米，防止相互之间出现堆叠，影响识别效果，多个导料槽7均呈弧形设置，且导料槽7的弧形方向与分料盘2转动方向一致，并且多个导料槽7之间环形阵列，分料盘2进行转动时，大米从导料槽7的一端抛出，做抛物线运动，由于摩擦力，大米质量相差无几，从而大米与承接筒4的内壁接触点位置不会发生较大的偏差，多个导料槽7的出口端均设置有光学检测装置8，且光学检测装置8的顶部固定连接有电磁机构9，光学检测装置8的输出端与处理器输入端电性连接，处理器输出端与电磁机构输入端9电性连接，对处理器中进行成色值的预设，从而与光学检测装置8检测数值进行比较，进而对电磁机构9进行控制，电磁机构9的一端通过L形连接杆与光学检测装置8的顶部固定连接，且L形连接杆的弯折方向与导料槽7的弯折方向相同，分料盘2进行转动时，大米被向后进行抛出，由于与承接筒4之间存在一定的间隙，从而位置会偏向前方，由于承接筒4内部空气阻力较小，从而可以对大米掉落位置进行较为精准的预判，从而对L形连接杆的水平长度进行预设，使得大米在与承接筒4进行接触瞬间，电磁机构9对铁块12进行作用，从而使得阻隔板11进行转动，其底部与承接筒4之间出现间隙，成色较差的大米通过间隙掉落至限位环6内侧，随后电磁机构9断开连接，由于自身重力作用，阻隔板11恢复至原始位置，从而对后续的大米继续进行阻隔，防止成色好的大米被丢入限位环6中，分料盘2下方设置有驱动电机10，且驱动电机10的输出轴与分料盘2的底部中心位置处传动连接，驱动电机10为分料盘2提供动力，从而使得其对顶部的大米具有向外的离心力，承接筒4外壁上转动连接有多个阻隔板11，承接筒4的顶端外壁开设有多个限位槽 401，且多个限位槽401的内侧均转动连接有阻隔板11，并且多个阻隔板11的顶端四分之一位置处与限位槽401之间转动连接，且阻隔板11的内侧固定连接有铁块12，承接筒4的外部套设有限位环6，且限位环6的底部焊接有漏料槽5，漏料槽5的一侧开设有漏料口，且漏料槽5向漏料口一侧倾斜设置，掉落至漏料槽5中的大米沿倾斜向漏料口一侧进行运动，排出；
精米生产工艺中的色选方法，包括以下步骤：
步骤一、送料：
a、将待色选的大米加入至输料筒1中，输料筒1中大米漏至连接管3的内部；
b、驱动电机10通过输出轴传动分料盘2进行匀速转动，分料盘2上焊接的导料槽7即随之进行转动；
c、在离心力的作用下，连接管3内部的大米进入导料槽7中，并沿导料槽7 进行向外侧的运动，被抛出；
步骤二、色选及出料：
a、通过光学检测装置8对导料槽7中流过的大米进行检测；
b、光学检测装置8将检测的数据传输至外部的处理器，通过处理器的处理分析，与预先输入的预设值进行对比，从而判断大米成色是否合格，并将处理后结果反馈至电磁机构9中；
c、当大米成色检测数据大于预设值时：说明大米成色合格，此时的电磁机构9不做出动作，抛出后的大米与承接筒4的内壁接触后，沿承接筒4内壁发生掉落，从承接筒4的底部进行输出；
d、当大米成色检测数据小于预设值时：说明大米成色不合格，处理器将信息传输至电磁机构9后，电磁机构9导通，具有磁性，通过电磁机构9与铁块12 的相互吸引作用，阻隔板11绕销轴转动，阻隔板11与承接筒4之间出现间隙，不合格的大米通过间隙被抛送至限位环6的内侧，并掉落至漏料盘5中排出。
工作原理：使用时，驱动电机10驱动分料盘2进行转动，在离心力的作用下，大米通过导料槽7向外部抛出，导料槽7出口端的光学检测装置8对大米成色进行检测，并传输至处理器中，通过处理器的处理后反馈至电磁机构9中，当电磁机构9连通，对铁块12进行作用，使得阻隔板11与承接筒4之间出现间隙，成色较差的大米通过间隙落至漏料盘5中，当电磁机构9不作出动作时，大米与承接盘4的内壁进行碰撞后，沿内壁向下进行排出，以此即完成对于大米的色选操作，通过环形设置的分料盘2有限减小了其面积的同时，由于驱动电机10的驱动作用，减小出现堵塞的可能性。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，包括输料筒(1)、分料盘(2)和承接筒(4)，其特征在于，所述承接筒(4)的内部中心位置同心设置有分料盘(2)，且分料盘(2)的顶部设置有输料筒(1)，所述分料盘(2)的中心位置处焊接有连接管(3)，且连接管(3)与输料筒(1)之间转动连接，所述分料盘(2)上焊接有多个导料槽(7)，且导料槽(7)与连接管(3)底端连通，所述多个导料槽(7)的出口端均设置有光学检测装置(8)，且光学检测装置(8)的顶部固定连接有电磁机构(9)，所述分料盘(2)下方设置有驱动电机(10)，且驱动电机(10)的输出轴与分料盘(2)的底部中心位置处传动连接，所述承接筒(4)外壁上转动连接有多个阻隔板(11)，且阻隔板(11)的内侧固定连接有铁块(12)，所述承接筒(4)的外部套设有限位环(6)，且限位环(6)的底部焊接有漏料盘(5)。
2.根据权利要求1所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述多个导料槽(7)均呈弧形设置，且导料槽(7)的弧形方向与分料盘(2)转动方向一致，并且多个导料槽(7)之间环形阵列。
3.根据权利要求2所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述电磁机构(9)的一端通过L形连接杆与光学检测装置(8)的顶部固定连接，且L形连接杆的弯折方向与导料槽(7)的弯折方向相同。
4.根据权利要求1所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述漏料盘(5)的一侧开设有漏料口，且漏料盘(5)向漏料口一侧倾斜设置。
5.根据权利要求1所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述输料筒(1)的底部外侧套设有轴承套(101)，且输料筒(1)通过轴承套(101)与连接管(3)之间转动连接。
6.根据权利要求1所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述承接筒(4)的顶端外壁开设有多个限位槽(401)，且多个限位槽(401)的内侧均转动连接有阻隔板(11)，并且多个阻隔板(11)的顶端四分之一位置处与限位槽(401)之间转动连接。
7.精米生产工艺中的色选方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一、送料：
a、将待色选的大米加入至输料筒(1)中，输料筒(1)中大米漏至连接管(3)的内部；
b、驱动电机(10)通过输出轴传动分料盘(2)进行匀速转动，分料盘(2)上焊接的导料槽(7)即随之进行转动；
c、在离心力的作用下，连接管(3)内部的大米进入导料槽(7)中，并沿导料槽(7)进行向外侧的运动，被抛出；
步骤二、色选及出料：
a、通过光学检测装置(8)对导料槽(7)中流过的大米进行检测；
b、光学检测装置(8)将检测的数据传输至外部的处理器，通过处理器的处理分析，与预先输入的预设值进行对比，从而判断大米成色是否合格，并将处理后结果反馈至电磁机构(9)中；
c、当大米成色检测数据大于预设值时：说明大米成色合格，此时的电磁机构(9)不做出动作，抛出后的大米与承接筒(4)的内壁接触后，沿承接筒(4)内壁发生掉落，从承接筒(4)的底部进行输出；
d、当大米成色检测数据小于预设值时：说明大米成色不合格，处理器将信息传输至电磁机构(9)后，电磁机构(9)导通，具有磁性，通过电磁机构(9)与铁块(12)的相互吸引作用，阻隔板(11)绕销轴转动，阻隔板(11)与承接筒(4)之间出现间隙，不合格的大米通过间隙被抛送至限位环(6)的内侧，并掉落至漏料盘(5)中排出。
8.根据权利要求7所述的精米生产工艺中的坏米粒色选装置及色选方法，其特征在于，所述光学检测装置(8)的输出端与处理器输入端电性连接，处理器输出端与电磁机构输入端(9)电性连接。
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