CN110336621A - 用于测试被测装置的测量系统和方法 - Google Patents

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Abstract

描述了一种用于测试被测装置(32)的测量系统(10)，其具有至少两个天线(26)、至少两个反射器(28)、信号生成和/或分析设备(34)以及测试位置(30)。每个天线(26)被分配给对应的反射器(28)。每个天线(26)被配置为发送/接收电磁信号，使得在相应的天线(26)和测试位置(30)之间提供光束路径(36)。电磁信号由相应的反射器(28)反射，使得电磁信号对应于平面波。光束路径(36)具有可调节的不同角度取向。至少一个天线(26)和对应的反射器(28)彼此耦合，使得建立了包括至少一个天线(26)和对应反射器(28)的集成光束路径调整单元(24)。此外，描述了一种测试方法。

Description

用于测试被测装置的测量系统和方法
技术领域
本发明涉及一种用于测试被测装置的测量系统以及用于测试被测装置的方法。
背景技术
在现有技术中，已知测量系统可用于测试被测装置，例如关于多输入多输出(MIMO)特性以及无线电资源管理(RRM)特性的移动通信设备。
通常，被测装置放置在屏蔽室或屏蔽腔中，其也称为多探头消声室(MPAC)。MPAC可以包括数百个天线，以用于测试被测装置的相应特性，例如被测装置的对应于定义被测装置性能的特性的远场特性。所使用的天线可以对应于所谓的平面波转换器(PWC)，使得可以适当地测试被测装置的远场特性，这是因为平面波用于与远场中的电磁波相对应的测试目的。
可替换地，远场腔室用于测试被测装置的远场特性。但是，这些测量系统所需的空间很大。
为了测试被测装置的角度性能特性，例如下行链路特性和/或上行链路特性，需要数百个天线来执行相应的测量。通常需要这些测试来测量在现实条件下被测装置的MIMO和/或RRM特性。然而，由于天线的数量，用于测量相应(远场)性能特性(特别是角度行为)的成本很高。
因此，需要以更便宜和更紧凑的方式测试关于MIMO和/或RRM特性的被测装置的可能性。
发明内容
本发明提供一种用于测试被测装置的测量系统，包括至少两个天线、至少两个反射器、信号生成和/或分析设备、以及被测装置的测试位置，其中至少两个天线中的每一个被分配给对应的反射器，其中至少两个天线中的每一个被配置为发送和/或接收电磁信号，使得在相应天线和测试位置之间提供光束路径，其中电磁信号通过相应的反射器反射，使得电磁信号对应于平面波，其中光束路径具有可调节的不同角度取向，并且其中至少一个天线和对应的反射器彼此耦合，使得建立包括至少一个天线和对应的反射器的集成光束路径调整单元。
此外，本发明提供了一种用于通过使用测量系统来测试在测试位置上放置的被测装置的方法，测量系统包括信号生成和/或分析设备以及至少一个集成光束路径调整单元(包括天线和与相应天线耦合的反射器)，该方法具有如下步骤：
-相对于被测装置调整光束路径调整单元，以便在被测装置和具有限定角度取向的光束路径调整单元的相应天线之间建立光束路径，
-由被测装置和/或信号生成设备生成电磁信号，以及
-接收通过信号分析设备和/或被测装置生成的电磁信号。
本发明基于以下发现：可以通过使用测量系统以更高效的方式完成相应的测量，即多输入多输出(MIMO)和/或无线电资源管理(RRM)测量，测量系统具有包括一个天线和对应的反射器的至少一个集成光束路径调整单元，该反射器使被测装置和对应天线之间交换的电磁信号适当地偏转。反射器确保了被测装置的远场特性(例如相应的接收和/或发送特性)可以由测量系统调查，即使测量系统比现有技术中已知的用于测试被测装置的远场特性的测量系统更紧凑。这可以确保，因为生成的电磁信号被反射器反射，从而提供对应于远场中的电磁波的平面波。
由于至少两个天线，例如馈电天线或测量天线，可以测试关于MIMO和/或RRM特性的被测装置的相应特性，这是因为可以模拟两个不同的基站以用于测试切换场景。此外，可以适当地测试如MIMO应用所使用的多层通信，也称为多层通信。
通常，集成光束路径调整单元确保天线和对应的反射器可以在彼此之间具有预定关系，从而可以容易地设置某些设置。这确保了天线和对应的反射器彼此(机械地)耦合，从而确保了如果需要则可以调整的预定义的空间关系。实际上，集成光束路径调整单元是单个单元。
因此，当安装集成光束路径调整单元时，同时安装相应的天线和对应的反射器。
因此，简化了用于测试被测装置的机构(setup)，从而可以更快地并且以更具成本效益的方式完成测量，这是因为与测试被测装置相关的整体努力减少了，特别是提供了不同的测试机构。换句话说，测量系统(特别是集成光束路径调整单元)易于使用，使得测量系统的用户能够以具有时效性且因此具有成本效益的方式执行相应的测量。
相应的反射器可以具有适当的形状，以便确保在相应的电磁信号被反射时提供平面波。因此，提供了成形反射器。反射器可用于聚焦适当偏转的一个或多个电磁信号。
信号生成和/或分析设备可以由信号处理设备建立，该信号处理设备可以包括信号生成单元和/或信号分析单元。因此，信号处理设备可以是信号生成设备和信号分析设备中的至少一个。
可以调整集成光束路径调整单元，使得与集成光束路径调整单元相关的光束路径具有与由另一天线(例如可以分配给(固定的)反射器的(固定的)天线)提供的光束路径不同的角度取向。
根据一个方面，每个反射器位于对应的光束路径中，其中每个反射器被配置为生成和/或准直平面波。因此，反射器确保了被测装置的远场特性可以由测量系统测量，即使测量系统不要求测量系统通常要求的空间来测试被测装置的远场特性。(适当形状的)反射器确保了生成和/或准直平面波，其对应于远场中的电磁波。因此，位于对应光束路径内的反射器适应或更确切地转换电磁信号，从而可获得远场特性。
根据另一方面，光束路径调整单元包括用于反射器和/或天线的旋转运动的旋转调整构件。因此，相应光束路径的角度取向尤其可以通过光束路径调整单元(特别是分配给旋转调整构件的相应组件)的旋转运动来调整。旋转调整构件可以分配给集成光束路径调整单元的一个组件，例如反射器或天线，使得仅该组件可以适当地旋转。然而，旋转调整构件也可以同时分配给两个组件。可替换地，可以提供用于两个组件的两个旋转调整构件。
例如，至少一个旋转调整构件由万向节或关节建立。
此外，光束路径调整单元可以包括用于调整反射器和/或天线的线性位置的线性调整构件。线性调整构件可以用于调整反射器和/或天线相对于测试位置的相对(线性的或更确切的说轴向的)位置。因此，可以通过线性调整构件适当地调整集成光束路径调整单元的一个相应组件相对于位于测试位置处的被测装置的相对位置。因此，集成光束路径调整单元的线性调整构件尤其可以用于调整相应光束路径的角度取向。线性调整构件也可以同时分配给两个组件。可替换地，可以提供用于两个组件的两个线性调整构件。
线性调整构件还可以用于调整反射器和/或天线相对于彼此的相对(线性的或更确切的说轴向的)位置。
线性调整构件可以由线性轨道建立，沿着该线性轨道，集成光束路径调整单元的相应组件(即天线和/或反射器)可以以线性方式移位。
通常，线性调整构件(例如线性轨道)和旋转调整构件(例如万向节)确保集成光束路径调整单元的至少一个组件相对于被测装置的线性运动和旋转运动是可能的。因此，在天线和被测装置之间建立的光束路径可以相对于其角度取向而被适当地调节。
例如，提供两个光束路径调整单元，其中两个光束路径调整单元的线性调整构件在平面图中(特别是在测试位置的区域中)彼此相交。线性调整构件可以分配给不同的平面，使得线性调整构件在测量系统上的平面图中彼此相交。实际上，各个线性调整构件至少部分地彼此堆叠。例如，线性调整构件通过接头或轴承在交叉区域中彼此连接。
线性调整构件的交叉点可以对应于测试位置的区域，即被测装置，使得被测装置对应于两个集成光束路径调整单元的固定点。因此，相应的集成光束路径调整单元的至少一个组件的线性移动是相对于是固定点的被测装置完成的。
根据另一方面，提供了两个光束路径调整单元，其中两个光束路径调整单元可以彼此独立地围绕相同轴移动。因此，两个光束路径调整单元可以围绕对应于旋转轴的相同轴旋转。换句话说，两个光束路径调整单元可以相对于相同轴以圆形方式移动。轴可以对应于测试位置的中心，在其上放置被测装置以用于测试目的。
至少两个光束路径调整单元的独立运动(特别是各个光束路径调整单元的线性调整构件的独立运动)可以通过接头、轴承和/或确保相对运动的任何其它合适的构件来确保。两个集成光束路径调整单元可以通过接头、轴承或所使用的其它合适的构件彼此连接。
测量系统，特别是集成光束路径调整单元以及测试位置可以以集成方式形成，这是因为集成光束路径调整单元经由它们的线性调整构件彼此连接。
反射器可以对应于线性调整构件的相应第一端，而被测装置的轴和/或测试位置被分配给线性调整构件的相应第二端，其中第一端和第二端彼此相对。
通常，反射器将各个光束路径分成两部分，即对应于天线的第一部分和对应于测试位置的第二部分。因此，各个光束路径的第一部分被分配给反射器和天线之间的部分，而各个光束路径的第二部分被分配给反射器和被测装置和/或测试位置之间的部分。
另一方面提供了光束路径调整单元包括用于调整反射器和/或天线的高度的高度调整构件。因此，可以进一步调整所建立的光束路径的角度取向。可以适当地调整天线的高度，以便考虑关于测试位置上放置的被测装置的不同反射器高度。可以关于待测试的不同被测装置来调整反射器的高度。
此外，每个反射器可以设计成使得它可以考虑被测装置的不同高度。因此，反射器本身可以关于它们相应的高度而用于不同的被测装置。然而，可以适当调整相关联的天线的高度。
此外，远程无线电头可以分配给光束路径调整单元。例如，远程无线电头(也称为远程无线电单元)被放置在相应的线性调整构件下方，使得远程无线电头位于天线附近。这确保了如果远程无线电头位于相对于天线的特定距离处则可能生成的路径损耗减少。通常，远程无线电头对应于经由接口连接到无线电控制单元的收发器。无线电控制单元可以由信号生成和/或分析设备提供。例如，远程无线电头包括相应的电路、相应的转换器(A/D转换器和/或D/A转换器)和/或相应的变频器(上变频器和/或下变频器)。
此外，测试位置的角度取向可以是可调整的。换句话说，测试位置包括旋转轴，测试位置(和被测装置)可以围绕该旋转轴旋转。
被测装置本身可以围绕旋转轴旋转，使得由于被测装置的运动(特别是被测装置的旋转运动)，可以设置光束路径的不同角度取向。
被测装置可以围绕其旋转的旋转轴可以与线性调整构件可以围绕其转动或更确切的说旋转的轴重合。
如已经提到的，线性调整构件可以彼此堆叠，其中被测装置的测试位置被分配给堆叠。因此，可以为光束路径调整单元(特别是线性调整构件和被测装置)提供共同的旋转轴。
根据另一方面，测量系统包括屏蔽空间，其包围至少两个天线、至少两个反射器和/或测试位置。因此，可以适当地屏蔽妨碍被测装置的测试的干扰信号，从而确保测试结果可靠。
例如，集成光束路径调整单元位于屏蔽空间的壁，特别是侧壁、底壁或顶棚。因此，各个集成光束路径调整单元(即天线以及对应的反射器)被附接到屏蔽空间的壁。例如，集成光束路径调整单元可以通过特定固定构件(诸如螺钉、夹子或任何其它合适的固定构件)而被安装在壁上。
此外，集成光束路径调整单元可以放置在屏蔽空间内的台上，例如放置在光学台上。
根据一个实施例，两个天线被配置为处理用于空间多输入多输出测试的单独数据流和/或处理用于无线电资源管理测试的相同数据流。因此，由于分配给具有不同角度取向的各个光束路径的天线，可以测试基站切换场景，特别是与其相关的被测装置的特性。可以定义固定角度的切换测试场景，以用于测试被测装置，例如30°、60°和/或90°的固定角度。
此外，天线可以是双极化天线。两个双极化天线能够对被测装置进行四层多输入多输出测试。
例如，双极化天线可以相对于被测装置以不同的偏移角度移动，使得可以执行相应的测量以用于测试被测装置的角度行为。
根据一个方面，当执行用于测试被测装置的方法时，使用如上所述的测量系统。因此，上述优点也以与该方法类似的方式应用。
用于测试被测装置的测量系统对应于(可移动的)紧凑型天线测试范围(CATR)系统，其可以用于多输入多输出测试以及被测装置的无线电资源管理测试。
附图说明
当结合附图时通过参考以下详细描述，将更容易领会所要求保护的主题的前述方面和许多附带优点，同样变得更好理解，在附图中：
-图1示意性地示出了根据本发明实施例的测量系统，
-图2示出了根据本发明实施例的测量系统的透视图，并且
-图3示出了图3的测量系统的平面图。
具体实施方式
以下结合附图(其中相同的附图标记表示相同的元件)阐述的详细描述，旨在作为所公开主题的各种实施例的描述，而不旨在表示仅有的实施例。本公开中描述的每个实施例仅作为示例或说明提供，并且不应被解释为比其它实施例优选或有利。本文提供的说明性示例不旨在穷举或将所要求保护的主题限制为所公开的精确形式。
在图1中，示出了测量系统10，其包括由可移动装置14提供的屏蔽空间12，可移动装置14限定了可以经由可密封开口16进入的腔室。通常，屏蔽空间12由底壁18、多个侧壁20(特别是四个侧壁20)以及顶棚22限制。
测量系统10还包括两个集成光束路径调整单元24，它们分别位于侧壁20和顶棚22中的一个。如稍后将描述的，集成光束路径调整单元24可以分别沿着侧壁20和顶棚22移动。
通常，集成光束路径调整单元24也可以位于腔室或者更确切地说屏蔽空间12的任何其它壁处。
每个集成光束路径调整单元24包括一个天线26以及分配给天线26的反射器28。天线26和反射器28相对于彼此定位，使得由天线26传送的信号由对应的反射器28偏转，如图1中示意性示出的。
天线26和分配给相应天线26的对应的反射器28彼此(机械地)耦合，使得集成光束路径调整单元24是单个单元，其可以安装在屏蔽空间12的相应壁18至22上。
当集成光束路径调整单元24安装在屏蔽空间12的相应壁18至22上时，两个组件(即天线26和反射器28)同时安装在屏蔽空间12的相应壁18至22上。
此外，测量系统10包括测试位置30，可以由测量系统10测试的被测装置32放置在测试位置30上。
被测装置32可以是移动通信设备，例如移动电话、平板电脑或任何其它合适的移动终端设备。
此外，测量系统10包括信号生成和/或分析设备34，其被分配给集成光束路径调整单元24和/或被测装置32。
信号生成和/或分析设备34可以经由接口(例如电接口)连接到可移动装置14。
通常，测量系统10被配置为测试被测装置32的发送特性和/或被测装置32的接收特性。
因此，信号生成和/或分析设备34可以被配置为生成电磁信号，经由集成光束路径调整单元24朝向被测装置32(特别是相应的天线26)发送电磁信号，以便测试被测装置32的接收特性。
可替换地或另外地，信号生成和/或分析设备34被配置为分析经由集成光束路径调整单元24(特别是各个天线26)接收到的电磁信号(已经由被测装置32发送)，使得被测装置32的发送特性可以被适当地测量。
实际上，在每个光束路径调整单元24(特别是各个天线26)和测试位置30上放置的被测装置32之间提供光束路径36。如上所述，光束路径36可以源自集成光束路径调整单元24，特别是各个天线26，如图1中示意性地示出的，或者它们可以源自被测装置32。
不管电磁信号的来源如何，信号都被反射器28朝向被测装置32或者更确切地说与相应反射器28相关联的天线26反射。因此，反射器28位于光束路径36中。
由于集成光束路径调整单元24可以以线性方式移动(如相应的箭头所示)，因此可以调节相应光束路径36相对于被测装置32的角度取向。
线性运动由线性调整构件38建立，线性调整构件38确保天线26和反射器28可以沿着相应壁以线性方式移动。在所示实施例中，线性调整构件38对应于附接到屏蔽空间12的相应壁的线性轨道。
天线26和反射器28两者都被分配给线性调整构件38，使得它们可以相对于被测装置32移动。因此，集成光束路径调整单元24的两个组件，即天线26和反射器28可以同时沿着相应壁以线性方式移动。
除了这种线性运动之外，集成光束路径调整单元24包括旋转调整构件40，其确保反射器28和/或天线26的旋转运动。
因此，通过以期望的方式调整旋转调整构件40，可以适当地调节集成光束路径调整单元24的角度取向。
例如，旋转调整构件40由万向节建立。
在所示实施例中，旋转调整构件40被分配给线性调整构件38，使得集成光束路径调整单元24的两个组件，即天线26和反射器28可以适当地旋转。
根据另一个实施例，旋转调整构件40可以位于天线26和反射器28之间，使得天线26可以相对于对应的反射器28旋转。可替换地，反射器28可以相对于对应的天线26旋转。
通常，集成光束路径调整单元24的旋转和/或线性移动确保了相应光束路径36的角度取向可以被适当地调节。
角度取向可以对应于球面坐标系中的角度θ和φ。
在图1所示的实施例中，测试位置30也以可移动的方式设置，这是因为测试位置30的角度取向和因此测试位置30上放置的被测装置32的角度取向可以被适当地调整。这由箭头指示，该箭头示出了限定围绕旋转轴A的测试位置30的台的旋转运动。
因此，可以通过调节光束路径调整单元24和/或被测装置32本身的相对位置来调节光束路径36的角度取向。
另外，测量系统10可以具有高度调整构件42，其被分配给相应的集成光束路径调整单元24。例如，高度与所示实施例中的天线26和对应的反射器28之间的距离有关，使得该距离可以被适当地调整。
在所示的实施例中，反射器28可以沿连接构件44移位，天线26经由连接构件44连接到线性调整构件38和/或旋转调整构件40。因此，反射器28可以相对于固定在连接构件44的端部的天线26移位。
连接构件44还提供反射器28和天线26之间的机械耦合。
此外，测量系统10，特别是每个集成光束路径调整单元24，可以包括被分配给一个或多个相应天线26的远程无线电头46。
例如，远程无线电头46位于相应的线性调整构件38下方，使得它位于靠近相应天线26。因此，与远程无线电头46将位于相对于天线26一定距离处将发生的路径损耗相比，可以减少路径损耗。
因此，远程无线电头46被分配给对应的集成光束路径调整单元24。
如图1所示，各个反射器28成形，特别是弯曲或更确切地说弧形，使得由反射器28偏转的电磁信号被转换成对应于远场中的电磁波的平面波。实际上，反射器28生成和/或准直平面波。
即使被测装置32与相应天线26之间的距离与Fraunhofer距离相比较小，也可以通过测量系统10在屏蔽空间12内测量被测装置32的远场特性。
因此，提供了一种用于测试被测装置32的远场特性的紧凑型测量系统10。
天线26可以由双极化天线建立，使得至少两个天线26可以用于被测装置32的四层多输入多输出(MIMO)测试。因此，测量系统10(特别是天线26)被配置为处理单独的数据流，以用于被测装置32的空间多输入多输出测试。
此外，(双极化)天线26可以用于被测装置32的无线电资源管理(RRM)测试，例如被测装置32在两个基站之间的由(双极化)天线26模拟的切换场景的测试。因此，测量系统10(特别是天线26)被配置为处理相同的数据流。
实际上，测量系统10包括至少两个天线26、两个对应的反射器28、信号生成和/或分析设备34以及被测装置32的测试位置。如图1所示，至少两个天线26、反射器28以及测试位置30被分配给屏蔽空间12，使得屏蔽空间12包围测量系统10的这些单元，从而确保屏蔽可能妨碍被测装置32的测试的干扰信号。
在图2和3中，示出了用于测试被测装置32的测量系统10的另一个实施例。
在该实施例中，每个集成光束路径调整单元24包括分配给天线26的线性调整构件38，其中线性调整构件38由线性轨道48建立，沿着该线性轨道48，相应天线26可以至少部分地线性移动。
因此，线性轨道48确保安装在其上的相应天线26可以相对于对应的反射器28以线性方式移动，对应的反射器28也被安装在第一端50处的相应线性轨道48上。
两个集成光束路径调整单元24的线性轨道48在与测试位置30的区域相关的特定点处彼此相交。
测试位置30的区域被分配给相应线性轨道48的第二端52。线性轨道48的第二端52与第一端50相对。因此，反射器28被分配给线性轨道48的一端，而测试位置30被分配给线性轨道48的相对端。
实际上，两个线性轨道48在对应于测试位置30的中心轴的轴A上彼此相交。该轴A可以对应于被测装置32的旋转轴，被测装置32可以围绕该旋转轴旋转(如果需要的话)。
而且，两个光束路径调整单元24可以围绕该轴A彼此独立地旋转。因此，还确保了光束路径调整单元24相对于被测装置32的旋转运动。
光束路径调整单元24，特别是它们的线性轨道48，可以通过在分配给轴A的相应区域中的接头和/或轴承而彼此连接，其中两个线性轨道48位于不同的平面中，使得它们可以相对于彼此并彼此独立地移动。
实际上，线性轨道48对应于钟表臂，这是因为它们可以围绕相同的轴(即旋转轴A)以旋转的方式彼此独立地移动。
还示出了线性调整构件38被分配给每个反射器28，使得反射器28相对于天线26的(线性)位置也可以被适当地调节。分配给反射器28的线性调整构件38可以包括调整螺钉54，以用于微调反射器28相对于天线26的相应位置。
此外，旋转调整构件40被分配给每个反射器28和每个天线26，使得天线26和/或反射器28可以被适当地旋转。例如，旋转调整构件40由万向节、接头或允许旋转运动的任何其它合适的构件建立。
另外，集成光束路径调整单元24每个都包括高度调整构件42，使得可以适当地设置反射器28的高度。在所示实施例中，高度基本上垂直于线性方向，该线性方向被分配给相同的集成光束路径调整单元24的天线26和反射器28之间的距离。
测量系统10，特别是相应的光束路径调整单元24，还可以包括分配给线性轨道48(特别是位于线性轨道48下方)的一个或多个远程无线电头46。因此，远程无线电头46位于靠近相应天线26，减少了天线26和远程无线电头46之间的路径损耗。
如已经提到的，由每个光束路径调整单元24提供的光束路径36包括两个部分，即在反射器28和天线26之间建立的第一部分以及在反射器28和被测装置32之间建立的第二部分。
因此，由天线26发送的电磁信号被反射器28朝向被测装置32偏转或更确切地说反射。以类似的方式，由被测装置32发送的电磁信号被反射器28朝向天线26偏转或更确切地说反射。
图2和图3中所示的测量系统10可以位于屏蔽空间内的台上，例如光学台，其在相应的图中未示出。
所示的两个实施例都可以用于测试已经放置在测试位置30上的被测装置32。
取决于测试场景，调整单元24的角度取向相对于被测装置32进行调整，以便在被测装置32和相应天线26之间建立两个光束路径36。建立的光束路径36可以具有不同的角度取向。
一旦设置了角度取向，信号生成设备34(用于测试被测装置32的接收特性)或被测装置32(用于测试被测装置32的发送特性)生成至少一个电磁信号。
取决于测试场景，经由被测装置32或者更确切地说信号分析设备34接收所生成的相应电磁信号。
然后，适当地分析所接收的电磁信号。在被测装置32接收所生成的电磁信号的情况下，可以通过可以连接到被测装置32的信号分析设备34完成分析。
还可以通过仅使用一个集成光束路径调整单元24来调整与集成光束路径调整单元24相关的相应光束路径36的角度取向来执行该方法。
例如，提供另一个天线26(以及与其相关联的反射器28)，其建立角度取向不能被调节的固定的光束路径。
然而，可以完成MIMO和RRM测试，这是因为至少一个光束路径36(即与集成光束路径调整单元24相关联的光束路径)可以被调节以用于测试目的，特别是该光束路径36的角度取向。
另外，测量系统10还可以包括两个以上的集成光束路径调整单元24，从而可以模拟两个以上的基站以用于测试目的。
因此，提供了紧凑型测量系统10，其以便宜且高效的方式确保被测装置32的空中(OTA)测量。
此外，由于两个天线26，因此可以在屏蔽空间12内生成两个紧凑型天线测试范围静区。
通常，提供至少两个远场源，即天线26(与对应的反射器28组合)，使得可以适当地执行切换场景以及被测装置32的多层MIMO测试。

Claims (15)

1.一种用于测试被测装置(32)的测量系统(10)，包括至少两个天线(26)、至少两个反射器(28)、信号生成和/或分析设备(34)、以及所述被测装置(32)的测试位置(30)，其中所述至少两个天线(26)中的每一个被分配给对应的反射器(28)，其中所述至少两个天线(26)中的每一个被配置为发送和/或接收电磁信号，使得在相应的天线(26)和所述测试位置(30)之间提供光束路径(36)，其中所述电磁信号被相应的反射器(28)反射，使得所述电磁信号对应于平面波，其中所述光束路径(36)具有能调节的不同角度取向，并且其中至少一个天线(26)和所述对应的反射器(28)彼此耦合，使得建立了包括至少一个天线(26)和所述对应的反射器(28)的集成光束路径调整单元(24)。
2.根据权利要求1所述的测量系统(10)，其中所述反射器(28)中的每个位于对应的光束路径(36)中，并且其中所述反射器(28)中的每个被配置为生成和/或准直平面波。
3.根据权利要求1或2所述的测量系统(10)，其中所述光束路径调整单元(24)包括用于所述反射器(28)和/或所述天线(26)的旋转运动的旋转调整构件(40)。
4.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中所述光束路径调整单元(24)包括用于调整所述反射器(28)和/或所述天线(26)的线性位置的线性调整构件(38)。
5.根据权利要求4所述的测量系统(10)，其中提供了两个光束路径调整单元(24)，并且其中两个光束路径调整单元(24)的线性调整构件(38)在平面图中彼此相交，特别是在所述测试位置(30)的区域中彼此相交。
6.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中提供了两个光束路径调整单元(24)，并且其中两个光束路径调整单元(24)能够彼此独立地围绕相同的轴(A)移动。
7.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中所述光束路径调整单元(24)包括用于调整所述反射器(28)和/或所述天线(26)的高度的高度调整构件(42)。
8.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中远程无线电头(46)被分配给所述光束路径调整单元(24)。
9.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中所述测试位置(30)的角度取向是能调节的。
10.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中所述测量系统(10)包括屏蔽空间(12)，所述屏蔽空间(12)包围所述至少两个天线(26)、所述至少两个反射器(28)和/或所述测试位置(30)。
11.根据权利要求10所述的测量系统(10)，其中所述集成光束路径调整单元(24)位于所述屏蔽空间(12)的壁上，特别是侧壁(20)、底壁(18)或顶棚(22)。
12.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中两个天线(26)被配置为处理用于空间多输入多输出测试的单独数据流和/或处理用于无线电资源管理测试的相同数据流。
13.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中所述天线(26)是双极化天线。
14.一种用于通过使用测量系统(10)来测试被放置在测试位置(30)上的被测装置(32)的方法，所述测量系统(10)包括信号生成和/或分析设备(34)和至少一个集成光束路径调整单元(24)，所述至少一个集成光束路径调整单元(24)包括天线(26)和与相应天线(26)耦合的反射器(28)，所述方法具有以下步骤：
-相对于所述被测装置(32)调整所述光束路径调整单元(24)，使得在所述被测装置(32)和具有被限定的角度取向的所述光束路径调整单元(24)的相应天线(26)之间建立光束路径(36)，
-由所述被测装置(32)和/或信号生成设备(34)生成电磁信号，以及
-接收经由所述信号分析设备(34)和/或所述被测装置(32)生成的电磁信号。
15.根据权利要求14所述的方法，其中使用根据权利要求1至13中任一项所述的测量系统(10)。
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