TWI697680B - 測試系統 - Google Patents

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TWI697680B
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Abstract

本發明揭露一種測試系統，包括雙線性極化天線、相位延遲器、分功器與高頻訊號收發機。雙線性極化天線將有關待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之圓形極化無線電波分成一第一高頻訊號與一第二高頻訊號，相位延遲器將第一高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號，且分功器接收或合成具相位延遲90度之第一高頻訊號與第二高頻訊號。同時，高頻訊號收發機量測具相位延遲90度之第一高頻訊號與第二高頻訊號之功率，以判斷待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態。藉此，本發明能加快待測物之量測速度。

Description

測試系統
本發明係關於一種測試系統，特別是指一種用於測試待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之測試系統。
傳統在例如毫米波(mm wave)封裝天線(Antenna in Package；AiP)之待測物上的天線具有兩個訊號之饋入點，分別為天線之水平極化訊號與垂直極化訊號之饋入點，且天線之水平極化訊號與垂直極化訊號會各自經由不同線路和銲料凸塊(Solder Bump)分別通過水平極化路徑與垂直極化路徑。
在待測物之FT(final test；最終測試)測試站內，因為水平極化訊號與垂直極化訊號兩者之電波具有正交的特性，故需要切換測試系統之量測探頭上之雙線性極化天線的兩個量測埠，以分別量測待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態，導致大幅降低待測物之量測速度。
另外，目前圓形極化無線電波大多用於衛星定位系統(GPS)等衛星應用，少見於例如第五代(5G)行動通訊傳輸，因正常環境中的行動通訊傳輸大都依賴多路徑反射才能傳遞訊號到室內的行動通訊裝置(如手機)，故未見於例如毫米波封裝天線之待測物的OTA(over the air；空中傳輸)測試。
因此，如何提供一種新穎或創新的測試系統，實已成為本領域技術人員之一大研究課題。
本發明提供一種測試系統，能一次同時測試待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑，以加快待測物之量測速度。
本發明之一測試系統包括：一雙線性極化天線，係接收來自待測物中有關水平極化路徑與垂直極化路徑之圓形極化無線電波，以將圓形極化無線電波分成一第一高頻訊號與一第二高頻訊號；一相位延遲器，係電性連接雙線性極化天線，以將來自雙線性極化天線之第一高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號；一分功器，係電性連接相位延遲器與雙線性極化天線，以接收或合成來自相位延遲器之具相位延遲90度之第一高頻訊號與來自雙線性極化天線之第二高頻訊號；以及一高頻訊號收發機，係電性連接分功器，以量測分功器所接收或合成之具相位延遲90度之第一高頻訊號與第二高頻訊號之功率，俾由高頻訊號收發機依據功率判斷待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態。
本發明之另一測試系統包括：一雙線性極化天線，係接收來自待測物中有關水平極化路徑與垂直極化路徑之圓形極化無線電波，以將圓形極化無線電波分成一第一高頻訊號與一第二高頻訊號；一第一分功器與一第二分功器，係各自電性連接雙線性極化天線，以分別接收來自雙線性極化天線之第一高頻訊號與第二高頻訊號；一第一相位延遲器，係電性連接第一分功器，以將來自第一分功器之第一高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號；一第三分功器，係電性連接第一 相位延遲器與第二分功器，以接收或合成來自第一相位延遲器之具相位延遲90度之第一高頻訊號與來自第二分功器之第二高頻訊號；以及一第一功率錶，係電性連接第三分功器，以量測第三分功器所接收或合成之具相位延遲90度之第一高頻訊號與第二高頻訊號之功率，俾由第一功率錶依據功率判斷待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明。在以下描述內容中將部分闡述本發明之額外特徵及優點，且此等特徵及優點將部分自所述描述內容可得而知，或可藉由對本發明之實踐習得。本發明之特徵及優點借助於在申請專利範圍中特別指出的元件及組合來認識到並達到。應理解，前文一般描述與以下詳細描述兩者均僅為例示性及解釋性的，且不欲約束本發明所欲主張之範圍。
1、2、3‧‧‧測試系統
1'、2'‧‧‧測試模組
10‧‧‧雙線性極化天線
20‧‧‧相位延遲器
21‧‧‧第一相位延遲器
22‧‧‧第二相位延遲器
30‧‧‧分功器
31‧‧‧第一分功器
32‧‧‧第二分功器
33‧‧‧第三分功器
34‧‧‧第四分功器
40‧‧‧高頻訊號收發機
41‧‧‧第一功率錶
42‧‧‧第二功率錶
A‧‧‧待測物
B‧‧‧導電元件
H‧‧‧水平極化路徑
L‧‧‧傳輸線
M1、N1‧‧‧第一高頻訊號
M1'、N1'‧‧‧具相位延遲90度之第一高頻訊號
M2、N2‧‧‧第二高頻訊號
M3‧‧‧第三高頻訊號
M3'‧‧‧具相位延遲90度之第三高頻訊號
M4‧‧‧第四高頻訊號
Ma、Mb、Na、Nb‧‧‧高頻訊號
N2'‧‧‧具相位延遲90度之第二高頻訊號
SH‧‧‧水平極化訊號
SV‧‧‧垂直極化訊號
T‧‧‧天線
V‧‧‧垂直極化路徑
W1、W2‧‧‧圓形極化無線電波
ΦH、ΦV‧‧‧相位控制器
第1A圖與第1B圖為本發明之一測試系統的基本架構示意圖，其中，第1A圖為測試系統之接收模式，第1B圖為測試系統之發送模式；第2圖為本發明第1A圖與第1B圖之測試系統的實施例示意圖；第3圖為本發明之另一測試系統的基本架構示意圖；第4圖為本發明第3圖之測試系統的實施例示意圖；以及第5圖為本發明將第1A圖至第1B圖之測試模組與第3圖之測試模組整合成同一測試系統的實施例示意圖。
以下藉由特定的具體實施形態說明本發明之實施方式，熟悉此技術之人士可由本說明書所揭示之內容了解本發明之其他優點與功效，亦可因而藉由其他不同的具體等同實施形態加以施行或應用。
首先，水平極化與垂直極化的正交特性的物理意義在於，當發射天線與接收天線均為水平極化或垂直極化時，發射天線至接收天線之能量完全傳遞(100%)；以及當發射天線為水平極化而接收天線為垂直極化，或發射天線為垂直極化而接收天線為水平極化時，發射天線至接收天線之能量無法傳遞(0%)。因此，若同時在待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑上分別輸入水平極化訊號與垂直極化訊號，且水平極化訊號與垂直極化訊號兩者之相位相差90度(即時間差為1/4個波長)即可形成圓形極化無線電波。同時，依照水平極化訊號或垂直極化訊號為+90度或-90度的配置，可以形成左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波，且左旋圓形極化無線電波與右旋圓形極化無線電波兩者也具有互相正交的特性。
又，當電波入射待測物之導電元件(如金屬)之表面時會產生反射，依據入射電波之不同極性，可以得到反射電波之特性。例如，(1)入射電波為垂直線性極化，則反射電波為垂直線性極化；(2)入射電波為水平線性極化，則反射電波為水平線性極化；(3)入射電波為右旋圓形極化，則反射電波為左旋圓形極化；以及(4)入射電波為左旋圓形極化，則反射電波為右旋圓形極化。所以，結合正交特性，圓形極化無線電波具有抵抗第一次反射、第三次反射等奇數次反射的特性。
再者，由於圓形極化無線電波撞到待測物之導電元件(如金屬)後，反射電波會變成極化正交的物理特徵，故在待測物之OTA(空中傳 輸)測試中，因隔離箱(金屬隔離室)之牆面造成的第一次反射(反射能量最大)不會被天線(接收天線)接收，故不易對天線(接收天線)造成干擾。
綜合上述特性，本發明提供下列兩種測試系統，可用於例如待測物之FT(最終測試)測試站的設備中，並能依照待測物之量測需求選用任一測試系統。同時，本發明之測試系統之測試電路能一次同時測試待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑，免除分別切換水平極化路徑或垂直極化路徑的時間，以加快待測物之量測速度(如二倍速度)，進而節省大約一半的測試時間。
第1A圖與第1B圖為本發明之測試系統1的基本架構示意圖，其中，第1A圖為測試系統1之接收模式，第1B圖為測試系統1之發送模式。如圖所示，測試系統1可包括設置於同一測試模組1'中之一雙線性極化天線10、一相位延遲器20、一分功器30與一高頻訊號收發機40，相位延遲器20電性連接雙線性極化天線10，分功器30電性連接相位延遲器20與雙線性極化天線10，且高頻訊號收發機40電性連接分功器30。
如第1A圖所示，在測試系統1之接收模式時，雙線性極化天線10可接收來自待測物A中有關水平極化路徑H與垂直極化路徑V之圓形極化無線電波W1，以由雙線性極化天線10將圓形極化無線電波W1分成一第一高頻訊號M1與一第二高頻訊號M2。相位延遲器20可將來自雙線性極化天線10之第一高頻訊號M1之相位延遲90度(即±90度或時間差為1/4個波長)而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號M1'。而且，分功器30可接收或合成來自相位延遲器20之具相位延遲90度之第一高頻訊號M1'與來自雙線性極化天線10之第二高頻訊號M2兩者，例如將兩者合成為高頻訊號Ma。同時，高頻訊號收發機40可量測分功器30所接收或合成之具相位延遲90度之第一高頻訊號M1'與第二高頻訊號M2之功率，俾 由高頻訊號收發機40依據功率判斷待測物A之水平極化路徑H與垂直極化路徑V之狀態或其上之導電元件B之品質。例如，當功率高於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V為良好、無異常，或導電元件B為無缺陷、接合品質佳；反之，當功率低於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V其中至少一者為不良、異常，或導電元件B有缺陷、接合品質差。
待測物A可為具有天線T、水平極化路徑H、垂直極化路徑V、導電元件B、相位控制器ΦH與相位控制器ΦV之半導體裝置、天線裝置或行動通訊裝置等。天線T可依據來自水平極化路徑H之水平極化訊號SH與來自垂直極化路徑V之垂直極化訊號SV形成圓形極化無線電波W1，再將圓形極化無線電波W1發送至雙線性極化天線10。又，相位控制器ΦH可控制或調整水平極化訊號SH之相位，而相位控制器ΦV可控制或調整垂直極化訊號SV之相位。
圓形極化無線電波W1可為左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波等。天線T可為平板(patch)天線等，導電元件B可為導電凸塊、銲球或錫球等。半導體裝置可為半導體封裝件、半導體結構或晶片封裝件等。天線裝置可為封裝天線等，如毫米波封裝天線。行動通訊裝置可例如為第五代行動通訊裝置等。但是，本發明並不以此為限。
如第1B圖所示，在測試系統1之發送模式時，高頻訊號收發機40可發送一高頻訊號Mb，以由分功器30將來自高頻訊號收發機40之高頻訊號Mb分成一第三高頻訊號M3與一第四高頻訊號M4，再由相位延遲器20將來自分功器30之第三高頻訊號M3之相位延遲90度(即±90度或時間差為1/4個波長)而形成一具相位延遲90度之第三高頻訊號M3'。又，雙線性極化天線10可依據來自相位延遲器20之具相位延遲90度之第 三高頻訊號M3'與來自分功器30之第四高頻訊號M4形成另一圓形極化無線電波W1，以將該另一圓形極化無線電波W1發送至待測物A之天線T，再由天線T將該另一圓形極化無線電波W1分成水平極化訊號SH與垂直極化訊號SV以分別通過水平極化路徑H與垂直極化路徑V。然後，高頻訊號收發機40可通過至少一傳輸線L分別接收通過待測物A之水平極化路徑H與垂直極化路徑V之水平極化訊號SH與垂直極化訊號SV，以依據水平極化訊號SH與垂直極化訊號SV之功率判斷待測物A之水平極化路徑H與垂直極化路徑V之狀態或其上之導電元件B之品質。例如，當功率高於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V為良好、無異常，或導電元件B為無缺陷、接合品質佳；反之，當功率低於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V其中至少一者為不良、異常，或導電元件B有缺陷、接合品質差。
例如，第1A圖或第1B圖中，當待測物A之天線T之電波與雙線性極化天線10之圓形極化無線電波匹配時，高頻訊號收發機40會讀取到功率之最大值，表示待測物A之導電元件B無缺陷。反之，當待測物A之天線T之電波與雙線性極化天線10之圓形極化無線電波不匹配時，高頻訊號收發機40會讀取到功率呈靈敏變化(大幅變化)之數值，表示可能是待測物A之導電元件B有缺陷。
在上述第1A圖至第1B圖中，測試系統1需搭配待測物A之相位控制，各天線T分別連接至不同水平路徑極化H及垂直極化路徑V兩者之電路，且電路上設有相位控制器ΦH與相位控制器ΦV以分別設定水平極化訊號SH與垂直極化訊號SV兩者之相位。例如，將各天線T分別連接至不同相位控制器ΦH與相位控制器ΦV，並將待測物A之相位設定成公式ΦH=ΦV+90或公式ΦH=ΦV-90，且此設定須匹配測試系統1之左旋圓形 極化無線電波或右旋圓形極化無線電波。
第2圖為本發明第1A圖與第1B圖之測試系統1的實施例示意圖。如第2圖所示，在本實施例之主要技術內容中，測試系統1可包含複數具有雙線性極化天線10、相位延遲器20、分功器30與高頻訊號收發機40之測試模組1'，其餘技術內容如同上述第1A圖與第1B圖之詳細說明。
第3圖為本發明之另一測試系統2的基本架構示意圖。如圖所示，測試系統2係至少包括一雙線性極化天線10、一第一分功器31、一第二分功器32、一第一相位延遲器21、一第三分功器33與一第一功率錶41，第一分功器31與一第二分功器32各自電性連接雙線性極化天線10，第一相位延遲器21電性連接第一分功器31，第三分功器33電性連接第一相位延遲器21與第二分功器32，且第一功率錶41電性連接第三分功器33。
雙線性極化天線10可接收來自待測物A中有關水平極化路徑H與垂直極化路徑V之圓形極化無線電波W2，以由雙線性極化天線10將圓形極化無線電波W2分成一第一高頻訊號N1與一第二高頻訊號N2。第一分功器31與第二分功器32可分別接收來自雙線性極化天線10之第一高頻訊號N1與第二高頻訊號N2，第一相位延遲器21可將來自第一分功器31之第一高頻訊號N1之相位延遲90度(即±90度或時間差為1/4個波長)而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號N1'，且第三分功器33可接收或合成來自第一相位延遲器21之具相位延遲90度之第一高頻訊號N1'與來自第二分功器32之第二高頻訊號N2兩者，例如將兩者合成為高頻訊號Na。同時，第一功率錶41可量測第三分功器33所接收或合成之具相位延遲90度之第一高頻訊號N1'與第二高頻訊號N2之功率，以由第一功率錶41依據功率判斷待測物A之水平極化路徑H與垂直極化路徑V之狀態 或其上之導電元件B之品質。例如，當功率高於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V為良好、無異常，或導電元件B為無缺陷、接合品質佳；反之，當功率低於門檻值時，表示水平極化路徑H與垂直極化路徑V其中至少一者為不良、異常，或導電元件B有缺陷、接合品質差。
待測物A可為具有天線T、水平極化路徑H、垂直極化路徑V、導電元件B、相位控制器ΦH與相位控制器ΦV之半導體裝置、天線裝置或行動通訊裝置等。天線T可依據來自水平極化路徑H之水平極化訊號SH與來自垂直極化路徑V之垂直極化訊號SV形成圓形極化無線電波W2，再將圓形極化無線電波W2發送至雙線性極化天線10。又，相位控制器ΦH可控制或調整水平極化訊號SH之相位，而相位控制器ΦV可控制或調整垂直極化訊號SV之相位。
圓形極化無線電波W2可為左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波等。天線T可為平板天線等，導電元件B可為導電凸塊、銲料凸塊、銲球或錫球等。半導體裝置可為半導體封裝件、半導體結構或晶片封裝件等。天線裝置可為封裝天線等，如毫米波封裝天線。行動通訊裝置可例如為第五代行動通訊裝置等。但是，本發明並不以此為限。
測試系統2復可包括一第二相位延遲器22，且第二相位延遲器22電性連接第二分功器32，以將來自第二分功器32之第二高頻訊號N2之相位延遲90度(即±90度或時間差為1/4個波長)而形成一具相位延遲90度之第二高頻訊號N2'。
測試系統2復可包括一第四分功器34，且第四分功器34電性連接第二相位延遲器22與第一分功器31，以接收或合成來自第二相位延遲器22之具相位延遲90度之第二高頻訊號N2'與來自第一分功器31之第一高頻訊號N1兩者，例如將兩者合成為高頻訊號Nb。
測試系統2復可包括一第二功率錶42，且第二功率錶42電性連接第四分功器34，以量測第四分功器34所接收或合成之具相位延遲90度之第二高頻訊號N2'與第一高頻訊號N1之功率，俾由第二功率錶42依據功率判斷待測物A之水平極化路徑H或垂直極化路徑V上之導電元件B的缺陷。
例如，第3圖中，當待測物A之天線T之電波與雙線性極化天線10之圓形極化無線電波匹配時，第一功率錶41或第二功率錶42讀取到功率或其增益之最大值，表示待測物A之導電元件B無缺陷。或者，當待測物A之天線T之電波與雙線性極化天線10之圓形極化無線電波不匹配時，第一功率錶41或第二功率錶42讀取到功率或其增益呈靈敏變化(大幅變化)之數值，表示可能是待測物A之導電元件B有缺陷。
在上述第3圖中，測試系統2需搭配待測物A之相位控制，各天線T分別連接至不同水平路徑極化H及垂直極化路徑V兩者之電路，且電路上設有相位控制器ΦH與相位控制器ΦV以分別設定水平極化訊號SH與垂直極化訊號SV兩者之相位。例如，將各天線T分別連接至不同相位控制器ΦH與相位控制器ΦV，並將待測物A之相位設定成公式ΦH=ΦV+90或公式ΦH=ΦV-90，且此設定須匹配測試系統2之左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波。
第4圖為本發明第3圖之測試系統2的實施例示意圖。如第4圖所示，在本實施例之主要技術內容中，測試系統2可由複數具有雙線性極化天線10、第一相位延遲器21、第二相位延遲器22、第一分功器31、第二分功器32、第三分功器33、第四分功器34、第一功率錶41與第二功率錶42之測試模組2'所構成，其餘技術內容如同上述第3圖之詳細說明。
第5圖為本發明將第1A圖至第1B圖之測試模組1'與第3 圖之測試模組2'整合成同一測試系統3的實施例示意圖。如第5圖所示，在本實施例之主要技術內容中，測試系統3可由第1A圖至第1B圖之測試模組1'(測試系統1)與第3圖之測試模組2'(測試系統2)所構成，其餘技術內容如同上述第1A圖至第1B圖與第3圖之詳細說明。
此外，當使用本發明第1A圖至第1B圖或第2圖之測試系統1時，理想上待測物A之所有導電元件B皆完美的情況下，待測物A之天線T上之電波應與測試系統1之圓形極化無線電波匹配，高頻訊號收發機40會讀到功率或增益之最大值。但是，當部份導電元件B有缺陷時，水平極化路徑H或垂直極化路徑V之通道能量受到衰減，則圓形極化無線電波變成不匹配，使得高頻訊號無法進入高頻訊號收發機40，因而高頻訊號收發機40之功率或增益之讀值呈靈敏變化(大幅變化)。藉此，本發明能一次性完成待測物A之水平極化路徑H與垂直極化路徑V之量測，以節省測試時間。
同時，當使用本發明第3圖或第4圖之測試系統2時，除可同時得到上述測試系統1的結果外，測試系統2還能讀取到另一個不匹配圓形極化無線電波之功率或增益之數值，此數值能提供另一特徵(理想值接近0)，以供判斷待測物A之導電元件B之品質，故測試系統2能提供更加精準之判斷，以利分析導電元件B之缺陷。
綜上，本發明之測試系統可具有例如下列之特色、優點或技術功效。
一、本發明之測試系統能一次同時測試待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑，免除分別切換水平極化路徑或垂直極化路徑的時間，以加快待測物之量測速度(如二倍速度)，進而節省大約一半的測試時間。
二、本發明之測試系統能快速測試待測物之水平極化路徑、 垂直極化路徑之狀態或其上之導電元件之品質。例如，水平極化路徑與垂直極化路徑有無不良、異常，或導電元件有無缺陷、不良接合品質。
三、本發明之測試系統能用於待測物為例如毫米波封裝天線(AiP)之OTA(空中傳輸)量測。
四、本發明之測試系統能降低隔離箱(金屬隔離室)之吸波能力需求或規格需求，從而減少隔離箱之設置成本。
上述實施形態僅例示性說明本發明之原理、特點及其功效，並非用以限制本發明之可實施範疇，任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述實施形態進行修飾與改變。任何運用本發明所揭示內容而完成之等效改變及修飾，均仍應為申請專利範圍所涵蓋。因此，本發明之權利保護範圍，應如申請專利範圍所列。
1‧‧‧測試系統
1'‧‧‧測試模組
10‧‧‧雙線性極化天線
20‧‧‧相位延遲器
30‧‧‧分功器
40‧‧‧高頻訊號收發機
A‧‧‧待測物
B‧‧‧導電元件
H‧‧‧水平極化路徑
M1‧‧‧第一高頻訊號
M1'‧‧‧具相位延遲90度之第一高頻訊號
M2‧‧‧第二高頻訊號
Ma‧‧‧高頻訊號
SH‧‧‧水平極化訊號
SV‧‧‧垂直極化訊號
T‧‧‧天線
V‧‧‧垂直極化路徑
W1‧‧‧圓形極化無線電波
ΦH、ΦV‧‧‧相位控制器

Claims (15)

  1. 一種測試系統，包括：一雙線性極化天線，係接收來自待測物中有關水平極化路徑與垂直極化路徑之圓形極化無線電波，以由該雙線性極化天線將該圓形極化無線電波分成一第一高頻訊號與一第二高頻訊號；一相位延遲器，係電性連接該雙線性極化天線，以由該相位延遲器將來自該雙線性極化天線對該圓形極化無線電波所分成之該第一高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號；一分功器，係電性連接該相位延遲器與該雙線性極化天線，以由該分功器接收或合成來自該相位延遲器之該具相位延遲90度之第一高頻訊號與來自該雙線性極化天線對該圓形極化無線電波所分成之該第二高頻訊號；以及一高頻訊號收發機，係電性連接該分功器，以由該高頻訊號收發機量測將電性連接該雙線性極化天線之該分功器所接收或合成之該具相位延遲90度之第一高頻訊號與該第二高頻訊號之功率，俾由該高頻訊號收發機依據該功率判斷該待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該圓形極化無線電波為左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該待測物為具有該水平極化路徑、垂直極化路徑與天線之半導體裝置、天線裝置或行動通訊裝置，且該天線依據來自該水平極化路徑之水平極化訊號與來自該 垂直極化路徑之垂直極化訊號形成該圓形極化無線電波，再將該圓形極化無線電波發送至該雙線性極化天線。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，在該測試系統之發送模式時，該高頻訊號收發機發送一高頻訊號，以由該分功器將該高頻訊號分成一第三高頻訊號與一第四高頻訊號，再由該相位延遲器將來自該分功器之該第三高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第三高頻訊號。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試系統，其中，該雙線性極化天線更依據來自該相位延遲器之該具相位延遲90度之第三高頻訊號與來自該分功器之該第四高頻訊號形成另一圓形極化無線電波，以將該另一圓形極化無線電波發送至該待測物之天線，再由該天線將該另一圓形極化無線電波分成水平極化訊號與垂直極化訊號以分別通過該水平極化路徑與垂直極化路徑。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，當該待測物之天線之電波與該雙線性極化天線之圓形極化無線電波匹配時，該高頻訊號收發機讀取到該功率或其增益之最大值，而當該待測物之天線之電波與該雙線性極化天線之圓形極化無線電波不匹配時，該高頻訊號收發機讀取到該功率或其增益呈靈敏變化之數值。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之測試系統，其中，該雙線性極化天線、相位延遲器、分功器與高頻訊號收發機構成一測試模組，且該測試系統係包含有複數該測試模組。
  8. 一種測試系統，包括： 一雙線性極化天線，係接收來自待測物中有關水平極化路徑與垂直極化路徑之圓形極化無線電波，以將該圓形極化無線電波分成一第一高頻訊號與一第二高頻訊號；一第一分功器與一第二分功器，係各自電性連接該雙線性極化天線，以分別接收來自該雙線性極化天線之該第一高頻訊號與該第二高頻訊號；一第一相位延遲器，係電性連接該第一分功器，以將來自該第一分功器之該第一高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第一高頻訊號；一第三分功器，係電性連接該第一相位延遲器與該第二分功器，以接收或合成來自該第一相位延遲器之該具相位延遲90度之第一高頻訊號與來自該第二分功器之該第二高頻訊號；以及一第一功率錶，係電性連接該第三分功器，以量測該第三分功器所接收或合成之該具相位延遲90度之第一高頻訊號與該第二高頻訊號之功率，俾由該第一功率錶依據該功率判斷該待測物之水平極化路徑與垂直極化路徑之狀態。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中，該圓形極化無線電波為左旋圓形極化無線電波或右旋圓形極化無線電波。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中，該待測物為具有該水平極化路徑、垂直極化路徑與天線之半導體裝置、天線裝置或行動通訊裝置，且該天線依據來自該水平極化路徑之水平極化訊號與來自該垂直極化路徑之垂直極化訊號形成該圓形極化無線電波，再將該圓形極化無線電波發送至該雙線性極化天線。
  11. 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，更包括一第二相位延遲器，係電性連接該第二分功器，以將來自該第二分功器之該第二高頻訊號之相位延遲90度而形成一具相位延遲90度之第二高頻訊號。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之測試系統，更包括一第四分功器，係電性連接該第二相位延遲器與該第一分功器，以接收或合成來自該第二相位延遲器之該具相位延遲90度之第二高頻訊號與來自該第一分功器之該第一高頻訊號。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之測試系統，更包括一第二功率錶，係電性連接該第四分功器，以量測該第四分功器所接收或合成之該具相位延遲90度之第二高頻訊號與該第一高頻訊號之功率。
  14. 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中，當該待測物之天線之電波與該雙線性極化天線之圓形極化無線電波匹配時，該第一功率錶讀取到該功率或其增益之最大值，而當該待測物之天線之電波與該雙線性極化天線之圓形極化無線電波不匹配時，該第一功率錶讀取到該功率或其增益呈靈敏變化之數值。
  15. 如申請專利範圍第8項所述之測試系統，其中，該雙線性極化天線、第一分功器、第二分功器、第一相位延遲器、第三分功器與第一功率錶構成一測試模組，且該測試系統係包含有複數該測試模組。
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