CN114137319B - 电磁反射信号测量装置、方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电磁反射信号测量装置、方法及系统，属于电磁信号测量领域。电磁反射信号测量装置包括：机座、电路板支撑件、距离与角度调节组件、信号反射件。其中，电路板支撑件设置于机座上，距离与角度调节组件的一端与所述机座连接，另一端与信号反射件连接，且信号发射件的角度、位置以及与待检测电路板之间的距离可调节，所述信号反射件围合形成一模拟壳体，容纳所述电路板支撑件。在测量时，调整信号反射件与待检测电路板的相对位置关系，从而改变电磁反射信号在待检测电路板上的影响区域，通过测量待检测电路板上的工作电路受影响状态从而得出信号反射件的角度、位置以及与待检测电路板之间的距离对电磁反射信号的关系。

Description

电磁反射信号测量装置、方法及系统

技术领域

本发明涉及一种电磁信号测量领域，特别涉及一种电磁反射信号测量装置、方法及系统。

背景技术

随着射频电路以及高速数字电路的普及，消费类电子产品采用铁壳、配重块或者屏蔽罩的设计越来越多，随着高频技术的发展和芯片最小制成工艺的不断突破，相关电路也越来越敏感。

由于射频电路和高速数字电路的特殊性，高速信号经过附近金属板会产生反射电磁波，如果反射波刚好经过敏感电路则会影响正常电路的工作。在设计电路时，需要预防反射电磁波影响敏感电路的情况发生，因此需要对电路中可能会受到反射电磁信号影响的区域进行系统性测量。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种电磁反射信号测量装置、方法及系统，旨在解决现有技术中不能对电路中受到电磁反射信号影响的区域进行系统性检测的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出的一种电磁反射信号测量装置、方法及系统，所述电磁反射信号测量装置包括：

机座；

电路板支撑件，所述电路板支撑件设置于所述机座，所述电路板支撑件具有支撑待检测电路板的支撑部；

至少3个距离与角度调节组件，所述距离与角度调节组件设置于所述机座，所述距离与角度调节组件的一端与所述机座连接；以及

至少3个信号反射件，所述信号反射件与所述距离与角度调节组件一一对应连接，所述信号反射件设置于所述距离与角度调节组件的另一端，且至少3个所述信号反射件围合形成一模拟空间，所述模拟空间用于容置所述待检测电路板。

可选地，所述距离与角度调节组件包括：

固定部，所述固定部与所述机座连接；以及

伸缩部，所述伸缩部可移动地设置于所述固定部，且所述伸缩部与所述信号反射件可转动地连接。

可选地，所述固定部与所述机座可转动地连接。

可选地，所述至少3个伸缩部包括：

两个第一伸缩部，所述第一伸缩部沿第一方向延伸，且两个所述第一伸缩部在所述第一方向上彼此间隔开；

所述支撑部设置于所述两个所述第一伸缩部之间，所述第一方向垂直于所述支撑部。

可选地，所述至少3个伸缩部还包括：

两个第二伸缩部，所述第二伸缩部沿第二方向延伸，且两个所述第二伸缩部在所述第二方向上彼此间隔开；

所述支撑部设置于所述两个所述第二伸缩部之间，所述第二方向平行于所述支撑部。

可选地，所述至少3个伸缩部还包括：

两个第三伸缩部，所述第三伸缩部沿第三方向延伸，且两个所述第三伸缩部在所述第三方向上彼此间隔开；

其中，所述支撑部设置于所述两个所述第三伸缩部之间，所述第一方向、第二方向与第三方向中任意两者均相互垂直。

可选地，所述信号反射件的朝向所述距离与角度调节组件的一侧的中部与所述伸缩部可转动地连接，所述信号反射件以所述伸缩部为轴可转动。

可选地，所述信号反射件具有反射平面，所述反射平面位于所述信号反射件的朝向所述支撑部的一侧。

第二方面，本发明还提供了一种基于上述电磁反射信号测量装置的控制方法，所述方法包括：

获取模拟空间的试验数据；

根据所述试验数据，确定至少3个所述距离与角度调节组件的目标工作状态参数；

根据所述目标工作状态参数，控制所述至少3个所述距离与角度调节组件调整至目标状态；

在所述至少3个所述距离与角度调节组件调整至目标状态之后，对待检测电路板的电磁反射信号进行测量，得到测量结果。

第三方面，本发明还提供了一种电磁反射信号测量系统，包括：

如上所述的电磁反射信号测量装置；

控制设备，控制设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电磁反射信号测量装置的控制程序，所述电磁反射信号测量装置的控制程序配置为实现如权利要求9所述的电磁反射信号测量装置的控制方法的步骤。

本发明技术方案通过采用电路板支撑件在机座内支撑待检测电路板，并采用至少3个一端设置于机座，另一端与至少3个信号反射件一一对应连接的距离与角度调节组件，至少3个信号反射件围合电路板支撑件形成一模拟空间，由于距离与角度调节组件可调节任一信号反射件与待检测电路板之间的相对位置，相较于现有的电磁反射信号测量方法，本发明可根据测试需要，调节待检测电路板三个方向上的信号反射件的位置，且三个方向上的信号反射的位置互相独立设置，以满足电磁反射信号测量的需要，测量电磁反射信号对待检测电路板上工作电路的影响。。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统一实施例的部分结构俯视图；

图2为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统一实施例的部分结构正视图；

图3为本发明图1的结构放大图；

图4为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统的控制方法第一实施例的流程示意图；

图5为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统的控制设备的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	机座	200	距离与角度调节组件
210	伸缩部	210a	第一伸缩部
				210b	第二伸缩部	210c	第三伸缩部
220	固定部	300	信号反射件
				400	电路板支撑件

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种电磁反射信号测量装置、方法及系统。

参照图1至3，图1为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统一实施例的部分结构俯视图，图2为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统一实施例的部分结构正视图，图3为本发明图1的结构放大图，图4为本发明电磁反射信号测量装置、方法及系统的控制方法第一实施例的流程示意图。

在本发明实施例中，该电磁反射信号测量装置、方法及系统，如图1所示：

本发明技术方案的电磁反射信号测量装置，包括：机座100、距离与角度调节组件200、信号反射件300以及电路板支撑件400。

参阅图1至图2，在本申请电磁反射信号测量装置的一实施例中，电路板支撑件400设置于机座100，用于放置待检测电路板。且电路板支撑件具有支撑待检测电路板的支撑部。

至少3个距离与角度调节组件200的一端与机座100连接。至少3个信号反射件300与距离与角度调节组件200的另一端连接，至少3个信号反射件300围合形成一模拟空间且所述模拟空间容置电路板支撑件400的至少部分。在所述模拟空间内，信号反射件300反射所述待检测电路板发射的电磁信号，在所述待检测电路板上可测得受电磁反射信号影响的区域。

具体而言，机座100可构造为一内部中空的壳体结构，其内部为电磁信号反射测试腔，用于容纳距离与角度调节组件200、信号反射件300以及电路板支撑件400。其中，电路板支撑件400用于支撑待检测电路板，一端可固定连接在机座的内壁上，如内底壁、内侧壁或者内顶壁上，另一端为支撑端，向电磁信号反射测试腔的中心位置处延伸。且支撑端可构造为一支撑座，具有一水平或者倾斜的支撑平面，以将待检测电路板固定或者支撑在电磁信号反射测试腔。信号反射件300可采用金属材料制成，以反射待检测电路板产生的电磁信号。信号反射件300可以为六边形、圆形和方形等多种形状，本实施例对此并不限制。且信号反射件300可通过距离与角度调节组件200调整其在电磁信号反射测试腔内的空间位置，如调整信号反射件300与待检测电路板之间的距离参数、角度参数，或者同时调整距离参数和角度参数。至少3个信号反射件300可形成一模拟空间，从而可以反射待检测电路板在某一模拟空间内发射的电磁信号。且可以理解的，该模拟空间的大小、具体形状构造可通过信号反射件300在电磁信号反射测试腔内的具体空间位置进行设置调整，从而可以模拟待检测电路板的多种工作环境。

相较于现有的电磁反射信号测量装置，现有的电磁反射信号测量装置只能在固定在信号发射源的一个方向上进行电磁信号反射，试验人员改变信号发射源与电磁信号反射装置的相对位置，从而测得发射源与电磁信号反射装置之间的距离对电磁反射信号的影响。本实施例提供的电磁反射信号测量装置可以在多个方向上反射待检测电路板发射的电磁信号，模拟空间可反射发射源在多个方向上发射出的电磁信号，且所述的信号反射件300通过距离与角度调节组件200可以调节与待检测电路板之间的距离参数、角度参数以及位置参数，可根据试验要求，测得信号反射件300在不同的位置参数条件下的电磁信号反射结果，以提供多个数据参照组，提高测量结果的可信度，从而为电路设计人员提供一种反推预防手段，用于预防电路板周围的金属件反射电路元件发射的电磁信号，使反射电磁信号对电路板上的电路元件产生干扰，便于电路设计人员进行电路结构设计、屏蔽罩设计以及散热片设计等，以避免设计误区。

参阅图3，在一实施例中，距离与角度调节组件200包括：伸缩部210和固定部220。固定部220与机座100连接，使距离与角度调节组件200固定在机座100上，伸缩部210可移动地设置于固定部220，伸缩部210沿可固定部220的轴向伸缩，以改变距离与角度调节组件200的长度。伸缩部210与信号反射件300可转动地连接，以调节信号反射件300与待检测电路板之间的角度。

具体而言，伸缩部210沿固定部220的轴向延伸，距离与角度调节组件200的长度伸长，使信号反射件300与电路板支撑件400之间的距离变短，伸缩部210沿固定部220的轴向收缩，距离与角度调节组件200的长度缩短，使信号反射件300与电路板支撑件400之间的距离变远。根据试验需要，可调节所述伸缩部210的长度，从而改变信号反射件300与待检测电路板之间的距离，以测得不同距离下的电磁信号反射对待检测电路板的影响。转动所述信号反射件300，即可改变信号反射件300与待检测电路板之间的相对角度，从而改变电磁信号的反射角度，以测得多个不同反射角度下电磁反射信号对待检测电路板的影响。通过调节距离与角度调节组件200的参数，可获得信号反射件300在不同位置参数设置下的电磁信号反射数据，便于实验人员根据多组对比数据得出试验结论。

参阅图1，在一实施例中，固定部220与机座100铰接，转动固定部220，固定部220带动距离与角度调节组件200整体与机座100间之间的角度改变，以使和距离与角度调节组件200连接的信号反射件300的位置改变，使在测量电磁反射信号时，信号反射件300能在多个位置上反射电磁信号。

参阅图3，在一实施例中，所述至少3个伸缩部210还包括：两个第一伸缩部210a，所述两个第一伸缩部210a沿第一方向延伸，且两个所述第一伸缩部210a在所述第一方向上彼此间隔开，电路板支撑件400的至少部分设置于所述两个第一伸缩部210a之间，所述第一方向垂直于电路板支撑件400的支撑部。

具体而言，第一方向可以是竖直方向，当待检测电路板水平放置时，电磁反射信号测量时，电路板支撑件400上的电路板在垂直于支撑部方向发射电磁信号，所述电磁信号被所述第一方向上设置的信号反射件300反射，延伸所述第一伸缩部210a，所述第一方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离缩短，缩短所述第一伸缩部210a，所述第一方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离变远，以测得信号反射件300在所述第一方向上的不同位置时，电磁反射信号对电路板的不同影响。

在一实施例中，所述至少3个伸缩部210还包括：两个第二伸缩部210b，所述两个第二伸缩部210b沿第二方向延伸，且两个所述第二伸缩部210b在所述第二方向上彼此间隔开，第二方向可以是水平方向，且与第一方向垂直，当待检测电路板水平放置时，电路板支撑件400的至少部分设置于所述两个第二伸缩部210b之间，所述第二方向垂直于电路板支撑件400的支撑部。电磁反射信号测量时，电路板支撑件400上的电路板在平行于支撑部方向发射电磁信号，所述电磁信号被所述第二方向上设置的信号反射件300反射，且延伸所述第二伸缩部210b，所述第二方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离缩短，缩短所述第二伸缩部210b，所述第二方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离变远，以测得信号反射件300在所述第二方向上的不同位置时，电磁反射信号对电路板的不同影响。

在一实施例中，所述至少3个伸缩部210还包括：两个第三伸缩部210c，所述两个第三伸缩部210c沿第三方向延伸，且两个所述第三伸缩部210c在所述第三方向上彼此间隔开，电路板支撑件400的至少部分设置于所述两个第三伸缩部210c之间，所述第三方向同时垂直与所述第一方向和第二方向，且所述第一方向、第二方向与第三方向中任意两者均相互垂直。电磁反射信号测量时，电路板支撑件400上的电路板在平行于支撑部方向发射电磁信号，所述电磁信号被所述第三方向上设置的信号反射件300反射，延伸所述第三伸缩部210c，所述第三方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离缩短，缩短所述第三伸缩部210c，所述第三方向上的信号反射件与待检测电路板之间的距离变远，以测得信号反射件300在所述第三方向上的不同位置时，电磁反射信号对电路板的不同影响。

其中，第一方向、第二方向和第三方向对应XYZ坐标轴，第一方向对应X轴方向，第二方向对应Y轴方向，第三方向对应Z轴方向，所述XYZ坐标轴的原点位于电路板支撑件400上，所述X轴垂直且穿过支撑部。通过第一方向、第二方向和第三方向与XYZ坐标轴一一对应，可以将机座100内的空间位置参数通过坐标定义，试验人员通过设定多组电磁反射信号装置的坐标参数，即可获得多个对照试验中的电磁反射信号装置的位置参数设置，易于操作且更加直观的体现信号反射件300与电磁反射信号影响区域之间的位置关系。

在一实施例中，信号反射件300朝向距离与角度调节组件200的一侧的中部与所述伸缩部210可转动地连接，信号反射件300以所述伸缩部210为轴可转动。

具体地，在信号反射件300与待检测电路板之间的距离固定时，转动信号反射件300，使信号反射件300与待检测电路板之间的角度改变，可对待检测电路板上的不同区域进行电磁信号反射，多次转动信号反射件300，改变信号反射件300与待检测电路板之间的角度，即可获得在信号反射件300与待检测电路板之间的距离固定的条件下，信号反射件300的反射角度对反射区域的影响的对比数据，便于实验人员根据对比数据对试验结果进行总结。

在一实施例中，信号反射件300具有反射平面，所述反射平面位于信号反射件300的背离所述距离与角度调节组件200的一侧，发射源发射的电磁信号被信号反射件300上的反射平面反射，接收源受到电磁反射信号的影响，会出现工作状态的改变，以使实验人员测量出电磁反射信号对工作电路的影响。相较于反射曲面，反射平面在同一反射角度，可以反射更大范围内的电磁信号，以使电磁反射信号覆盖待检测电路板上更多的区域，便于进行电磁反射信号检测。

基于上述结构，提出本申请实施例的一种电磁反射信号测量装置的控制方法。参阅图4，图4为本申请实施例的电磁反射信号测量装置的控制方法的流程示意图。

本实施例中，方法包括：

步骤S101、获取模拟空间的试验数据。

本实施例的执行主体为电磁反射信号测量装置的控制设备。在电磁反射信号测量装置被使用时，模拟空间的试验参数通过人机交互界面或者遥控终端的显示界面向用户输出可供选择的参数设置，如信号反射件300的角度、位置以及与待检测电路板之间的距离。然后，控制设备可通过人机交互界面或者遥控终端接收到用户输入的模拟空间的参数设置。

步骤S102、根据所述试验数据，确定至少3个所述距离与角度调节组件200的目标工作状态参数。

控制设备根据控制设备通过人机交互界面或者遥控终端输入的模拟空间的参数设置，对距离与角度调节组件200的试验参数进行调节。

如模拟空间在待检测电路板第一方向上反射电磁信号。此时，控制设备接收到操作指令为单独对所述待检测电路板的第一方向进行电磁信号反射测试时，可确定第一伸缩部210a调整位置，第二伸缩部210b和第三伸缩部210c位置不用调整。

或者，模拟空间在待检测电路板第一方向和第二方向上反射电磁信号。此时，控制设备接收到操作指令为对所述待检测电路板的第一方向和第二方向进行电磁信号反射测试时，可确定第一伸缩部210a和第二伸缩部210b调整位置，第三伸缩部210c位置不用调整。

或者，模拟空间在待检测电路板的第一方向、第二方向和第三方向上反射电磁信号。此时，控制设备接收到操作指令为对所述待检测电路板的第一方向、第二方向和第三方向同时进行电磁信号反射测试时，可确定第一伸缩部210a、第二伸缩部210b和第三伸缩部210c同时调整位置。

步骤S103、根据所述目标工作状态参数，控制所述至少3个所述距离与角度调节组件调整至目标状态

步骤S104、在所述至少3个所述距离与角度调节组件200调整至目标状态之后，对待检测电路板的电磁反射信号进行测量，得到测量结果。

在确定好模拟空间的位置调节参数之后，可通过距离与角度调节组件200控制相应方向上的信号反射件300调节位置参数，其他方向的信号反射件300位置不变，从而仅仅影响所需测试方向上的电磁反射信号，并得到电磁反射信号的测试数据结果。

如，模拟空间在待检测电路板第一方向上反射电磁信号。控制设备接收到操作指令为单独对所述待检测电路板的第一方向进行电磁信号反射测试时。控制设备接收到操作指令为单独对所述待检测电路板的第一方向进行电磁信号反射测试时，控制第一伸缩部210a调整位置，在待检测电路板上，测量处电磁反射信号影响区域，在人机交互界面得出电磁反射信号的测试数据。

在本实施例中，通过控制不同目标距离与角度调整组件200对应的信号反射组件，从而调整模拟空间的试验参数，在单独第一方向上，单独第二方向上、单独第三方向上或者同时三种方向上进行电磁信号反射的测量，以满足不同测试场景所需，丰富电磁反射信号测量装置的功能，提高试验数据的可信度。

作为一个实施例，本发明还提供了一种电磁反射信号测量系统，包括：

电磁反射信号测量装置；

控制设备，控制设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电磁反射信号测量装置的控制程序，所述电磁反射信号测量装置的控制程序配置为实现如上述实施例所述的电磁反射信号测量装置的控制方法的步骤。

该电磁反射信号测量装置的具体结构参照上述实施例，由于本电磁反射信号测量系统采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不一一赘述。

其中，参照图5，图5为本申请实施例方案涉及的控制设备的结构示意图。

如图5所示，该控制设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(WIreless-FIdelity，WI-FI)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)存储器，也可以是稳定的非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构并不构成对控制设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图5所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、数据存储模块、蓝牙通信模块、用户接口模块以及电磁反射信号测量装置控制程序。

在图5所示的控制设备中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互；本发明控制设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在控制设备中，控制设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的电磁反射信号测量装置控制程序，并执行本申请实施例提供的电磁反射信号测量装置控制方法。

此外，本发明实施例还提出一种计算机存储介质，存储介质上存储有电磁反射信号测量装置的控制程序，电磁反射信号测量装置的控制程序被处理器执行时实现如上文的电磁反射信号测量装置的控制方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个计算设备上执行，或者在位于一个地点的多个计算设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个计算设备上执行。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。

以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种电磁反射信号测量装置，其特征在于，所述电磁反射信号测量装置包括：

机座；

电路板支撑件，所述电路板支撑件设置于所述机座，所述电路板支撑件具有支撑待检测电路板的支撑部；

至少3个距离与角度调节组件，所述距离与角度调节组件设置于所述机座，所述距离与角度调节组件的一端与所述机座连接；以及

至少3个信号反射件，所述信号反射件与所述距离与角度调节组件一一对应连接，所述信号反射件设置于所述距离与角度调节组件的另一端，且至少3个所述信号反射件围合形成一模拟空间，所述模拟空间用于容置所述待检测电路板。

2.根据权利要求1所述的电磁反射信号测量装置，其特征在于，所述距离与角度调节组件包括：

固定部，所述固定部与所述机座连接；以及

伸缩部，所述伸缩部可移动地设置于所述固定部，且所述伸缩部与所述信号反射件可转动地连接。

3.根据权利要求2所述的电磁反射信号测量装置，其特征在于，所述固定部与所述机座可转动地连接。

4.根据权利要求2所述的电磁反射信号测量装置，其特征在于，

第一方向上设置的两个所述距离与角度调节组件的伸缩部均为第一伸缩部，所述第一伸缩部沿所述第一方向延伸，且两个所述第一伸缩部在所述第一方向上彼此间隔开；所述支撑部设置于两个所述第一伸缩部之间，所述第一方向垂直于所述支撑部；

第二方向上设置的两个所述距离与角度调节组件的伸缩部均为第二伸缩部，所述第二伸缩部沿所述第二方向延伸，且两个所述第二伸缩部在所述第二方向上彼此间隔开；所述支撑部设置于两个所述第二伸缩部之间，所述第二方向平行于所述支撑部；

第三方向上设置的两个所述距离与角度调节组件的伸缩部均为第三伸缩部，所述第三伸缩部沿所述第三方向延伸，且两个所述第三伸缩部在所述第三方向上彼此间隔开；其中，所述支撑部设置于两个所述第三伸缩部之间，所述第一方向、第二方向与第三方向中任意两者均相互垂直。

5.根据权利要求2所述的电磁反射信号测量装置，其特征在于，所述信号反射件的朝向所述距离与角度调节组件的一侧的中部与所述伸缩部可转动地连接，所述信号反射件以所述伸缩部为轴可转动。

6.根据权利要求1所述的电磁反射信号测量装置，其特征在于，所述信号反射件具有反射平面，所述反射平面位于所述信号反射件的背离所述距离与角度调节组件的一侧。

7.一种电磁反射信号测量方法，其特征在于，应用于如权利要求1至6任一项所述的电磁反射信号测量装置；

所述方法包括：

获取模拟空间的试验数据；

根据所述试验数据，确定至少3个所述距离与角度调节组件的目标工作状态参数；

根据所述目标工作状态参数，控制所述至少3个所述距离与角度调节组件调整至目标状态；

在所述至少3个所述距离与角度调节组件调整至目标状态之后，对待检测电路板的电磁反射信号进行测量，得到测量结果。

8.一种电磁反射信号测量系统，其特征在于，包括：

如权利要求1至6任一项所述的电磁反射信号测量装置；

控制设备，控制设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电磁反射信号测量装置的控制程序，所述电磁反射信号测量装置的控制程序配置为实现如权利要求7所述的电磁反射信号测量方法的步骤。