CN112804017A - 执行空中测试的测量系统和方法 - Google Patents

Abstract

一种用于测试被测设备的测量系统包括信号生成和/或分析设备、多个天线、多个反射器和被测设备的测试位置。天线以信号传输的方式与信号生成和/或分析设备连接。天线中的每个天线被配置成传输和/或接收电磁信号，使得波束路径被提供在相应的天线和测试位置之间。电磁信号被相应的反射器反射，使得电磁信号对应于平面波。每个天线和相对应的反射器一起被配置成在测试位置处提供相对应的静区。所提供的静区中的至少一个大于至少一个其他静区，和/或天线中的至少一个天线被配置为以与至少一个其他天线相比不同的频率操作。进一步，描述了一种执行被测设备的空中测试的方法。

Description

执行空中测试的测量系统和方法

技术领域

本发明涉及一种用于对被测设备进行空中测试的测量系统。另外，本发明涉及一种执行被测设备的空中测试的方法。

背景技术

在现有技术中，已知测量系统用于在被测设备的空中特性(OTA特性)方面对被测设备进行测试。被测设备通常涉及使用现代电信标准与另一通信设备(例如移动设备或基站)通信的通信设备。为了测试被测设备，至少一个测量天线指向将由测量系统测试的被测设备，其中这个测量天线位于被测设备的远场中。因此，确保了被测设备的远场特性能够以适当的方式进行测试。

另外，已知使用位于远场中的多个测量天线，以便以更精确的方式测试被测设备的远场特性。例如，可以通过多个测量天线来测试切换场景。

典型地，不同的测量装置(例如在重新布置由测量系统提供的反射器之后)用于根据不同的测试场景测试被测设备。这些不同的测试场景可能涉及需要不同设置的无线电资源管理(RRM)、多输入多输出(MIMO)和/或射频(RF)测量。

因此，有必要使相应的测量系统在其相应的设置方面进行适配，或者更确切地说，使用不同的测量系统来执行相应的测量。

显然，通过适配测量系统或使用完全不同的测量系统来适配测量装置是耗时的。因此，需要对被测设备执行不同的测试的更有效的可能性。

发明内容

本发明提供了一种用于对被测设备进行空中(over-the-air，OTA)测试的测量装置，其包括信号生成和/或分析设备、多个天线、多个反射器以及被测设备的测试位置。天线以信号传输的方式与信号生成和/或分析设备连接。天线中的每个被配置成传输和/或接收电磁信号，使得波束路径被提供在相应的天线和测试位置之间。电磁信号被相应的反射器反射，使得电磁信号对应于平面波。每个天线和相对应的反射器一起被配置为在测试位置处提供相对应的静区(quiet zone)。进一步，所提供的静区中的至少一个大于至少一个其他静区。可替选地或附加地，天线中的至少一个被配置为以与至少一个其他天线相比不同的频率操作。

进一步，本发明提供了一种执行被测设备的空中测试的方法，具有以下步骤：

-提供用于对被测设备进行空中测试的测量系统，其中该测量系统包括多个天线以及被定向为朝向被测设备的测试位置的多个反射器，其中每个天线被分配给一个相应的反射器，使得波束路径被提供在相应的天线和测试位置之间，并且其中每个天线和相对应的反射器一起在测试位置处提供相对应的静区，

-将被测设备定位在测试位置处，以及

-使用反射器中的至少一个和相对应的天线进行射频测量，而其他反射器中的至少一个和相对应的天线用于无线电资源管理或多输入多输出测量，和/

或以与至少一个其他天线相比不同的频率操作天线中的至少一个。

本发明基于这样的发现，即单个测量系统可以用于以相应的测量系统的相同测试设置同时执行不同的测量，即RRM、MIMO和RF测量，因为测量系统同时具有不同大小的静区和/或相应的电磁信号具有不同的频率。因此，没有必要为了执行以上提及的那些不同的测量而适配测量系统或更确切地说其设置。换句话说，不再需要分离的测量系统或更确切地说相同测量系统的分离的测试设置。而且，不再需要为了获得不同的测试设置而重新布置相应的反射器，从而允许通过相同的测量系统来执行那些不同的测量。

因此，执行与不同测试场景相关联的不同测量所需的总测量时间显著减少，这产生了更低的测试成本。

相应的天线和相对应的反射器一起确保在测试位置处提供间接远场(indirectfar-field，IFF)条件。所获得的间接远场(IFF)条件确保提供了包含测试位置(以及测试期间位于测试位置的被测设备)的相应静区。

一般而言，测量系统包括被(物理上)不同地成形的反射器，即至少一个较大的反射器(也称为射频(RF)反射器)以及至少一个较小的反射器(也称为无线电资源管理(RRM)或更确切地说多输入多输出(MIMO)反射器)。事实上，至少一个RF反射器用于执行相应的RF测量，而至少一个RRM/MIMO反射器用于执行相应的RRM/MIMO测量。

测量系统可以包括多个反射器，例如三个、四个或五个反射器。因此，可以包括至少一个反射器的第一反射器子集与也可以包括至少一个反射器的第二反射器子集相比，在物理上可能较大。例如，第二子集包括除了分配给第一子集的反射器之外的所有反射器。

测量系统可以被配置为同时执行带内(in-band，IB)和带外(out-of-band，OOB)测量。IB和OOB测量通常与射频(RF)测量相关。

而且，至少两个反射器可以在测试位置处提供不同尺寸的静区。例如，在只有两个反射器的情况下，第一反射器相比于第二反射器(即另一反射器)与更大的静区相关联。

由相应的天线和相对应的反射器提供的至少一个较大的静区可以大于通过测量系统获得的典型的直接远场(direct far-field，DFF)静区。

因为测量系统可以包括多个反射器，所以与第二反射器子集相比，第一反射器子集也可以与更大的静区相关联。

一般而言，反射器的子集可以具有它们各自反射器的不同特性。

进一步，在天线可以在不同的频率下操作使得具有不同频率的电磁信号照射在相对应的反射器上的情况下，可以通过测量系统同时测量不同的频带。换句话说，同时测量不同的频带。在这种特殊情况下，即使反射器具有不同的物理尺寸，静区也可以具有相同的尺寸。

一般而言，静区可能与其中被测设备暴露于具有几乎一致的振幅和相位的电磁波的体积有关。通常，与以上提及的理想情形的微小偏差是允许的，其中振幅和相位在该体积内是一致的。

例如，源自天线的相应电磁信号被相对应的反射器反射，使得电磁信号与测试位置处的平面波相关。

一般而言，测量系统对应于紧缩天线测试场(CATR)，因为测量系统确保被测设备在其测试位置处(即在相应的静区内)的平面波暴露。在真实环境中，通过长的远场范围获得相应的静区。然而，紧缩天线测试场确保在短距离处获得相同的特性，即静区。如前所提及那样，间接远场(IFF)条件是由于反射来自/朝向测试位置的电磁信号的所提供的一个或多个反射器提供的。

可以成形相应的反射器。例如，以抛物面的方式成形反射器。因此，提供了抛物面形状的反射器。

一般而言，测量系统的天线对应于馈电天线(feed antenna)。因此，用于测试被测设备的电磁信号源自相应的天线。

根据一方面，反射器中的至少一个大于至少一个其他的反射器。因此，反射器的相应的物理尺寸是不同的。这可能会产生不同尺寸的静区。例如，较大尺寸的反射器的静区在20cm和40cm之间，例如(大约)30cm，而至少一个其他反射器具有尺寸在10cm和30cm之间，特别地(大约)20cm的静区。

另一方面提供了反射器中的至少一个与至少一个其他反射器相比具有不同的焦距。焦距通常允许提供更大的静区，同时在测试位置和相应的反射器之间具有相同的距离。由于至少一个反射器的不同焦距，与其他对的反射器和天线相比，相对应的天线具有到具有不同的焦距的相应的反射器的不同距离。然而，可以使用不同的焦距来确保相应的静区比其他静区更大。

事实上，天线中的至少一个相对于其相对应的反射器移动，以便补偿反射器的不同焦距。

物理尺寸和/或焦距与相应的反射器的特性相关。

一般而言，不同的反射器和/或相对应的天线相对于测试位置以不同的角度偏移放置。

例如，多个反射器和/或多个天线沿着测试位置位于其中心的圆形或椭圆形弧定位。在不同的反射器位于圆形弧上的情况下，不同的反射器可以相对于测试位置的距离间隔相同的距离(半径)。

相对应的天线也可以位于圆形弧上，使得每个天线和相对应的反射器之间的距离相同。

反射器中的一个反射器可能比另一反射器大，从而导致更大的静区。

更大的反射器可以用于射频(RF)测量，例如带内(IB)测量和带外(OOB)测量，而更小的一个或多个反射器用于无线电资源管理(RRM)和/或多输入多输出(MIMO)测量。

一般而言，相应的测量可以同时或随后进行。

除了圆形弧，天线和/或反射器也可以位于椭圆形弧上。

如果反射器中的一个的焦距，特别是物理上更大的反射器的焦距不同于其它反射器，则反射器仍可能位于成形的弧上，其中分配给具有不同焦距的反射器的相应天线相对于位于成形的弧上的其它天线移位。换句话说，在分配给具有不同焦距的反射器的天线相对于反射器移动时，所有天线不再位于相同的弧上。

特别地，圆形或椭圆形弧最大覆盖180°的角度区域。这个角度区域对于针对切换场景测试被测设备足够了。覆盖180°的角度区域的圆形弧对应于半圆。

如上所提及那样，天线和/或反射器相对于测试位置以不同的角度偏移放置。因此，可以覆盖小于180°的角度区域。

根据另一方面，至少反射器被各自分配给相对应的调节单元，该调节单元被配置为调节相应的反射器的位置和/或取向。因此，反射器可以在它们的位置和/或取向方面进行调节，特别是在测试位置或确切地说相对应的天线方面进行调节。换句话说，在调节位置和/或方向的同时，通过相应的反射器在天线和测试位置之间提供的波束路径可以被适配或者更确切地说是通过调节单元来调节。

特别地，相应的天线和相对应的反射器通过调节单元彼此机械耦合。调节单元可以包括调节构件，天线和相应的反射器位于该调节构件上。特别地，天线和相对应的反射器以可移位的方式与调节构件机械耦合。因此，天线和相对应的反射器之间的相应距离可以通过调节单元通过简单地使天线和/或反射器相对于彼此移位(特别地以线性方式移位)来调节。

调节单元可以包括接合部，其中反射器与接合部机械耦合。因此，可以通过接合部容易地调节反射器的取向。

另外，天线也可以通过可移位的接合部耦合到调节构件。因此，天线的取向也可以很容易地进行调节。

此外，调节单元可以被配置成沿着包围测试位置的球体或椭球体定位多个反射器。在简单的测试设置中，相应的反射器位于台上，或者更确切地说是地板上，从而导致水平布置。

然而，相应的反射器和/或相对应的天线也可以以不同的方式定向，例如以竖直的方式(相对于水平面成90°)或以相对于水平面的任何其他角度倾斜定向。事实上，可以由反射器和/或天线的不同合适位置覆盖整个球体或整个椭球体。

反射器可以通过支撑件(例如轨道或者更确切地说是杆)相互连接。特别地，支撑件被成形为像圆形弧或椭圆弧一样。相应的支撑件可以被枢转，或者更确切地说，从水平面进行设置，从而导致反射器以相对于水平面的一定角度倾斜定位。

在非均匀分布的反射器的情况下，至少一个平衡配重被设置在支撑件上，特别是在相应的反射器由于其各自的重量导致的成角度的取向或者更确切地说竖直取向的情况下。

以类似的方式，天线可以通过支撑件(例如轨道或者更确切地说是杆)彼此连接。特别地，支撑件被成形为像圆形弧或椭圆弧一样。相应的支撑件可以被枢转，或者更确切地说，从水平面进行设置，从而导致天线以相对于水平面的一定角度倾斜定位。

根据另一方面，在位于反射器和测试位置之间的波束路径部分的延伸处是无反射器的。这意味着在源自反射器朝向测试位置的相应的波束路径部分的延伸内没有提供其他反射器。因此，有效地防止了电磁信号的反射部分(这将导致驻波，即谐振)。

另一方面提供了至少一个吸收挡板。至少一个吸收挡板可以位于相邻的反射器之间。可替选地或附加地，至少一个吸收挡板位于至少一个反射器和测试位置之间。可替选地或附加地，至少一个吸收挡板为至少一个天线提供部分打开的壳体。可替选地或附加地，至少一个吸收挡板位于反射器位于其相对端处的线的第一端处。测试位置被定位在相应的线上，特别是定位在线的中部。

一般而言，吸收器挡板减少了测量装置的相应部件(特别是反射器和它们的相对应的天线)之间的耦合和/或散射效应。另外，吸收挡板提供屏蔽，使得没有外部干扰信号可以干扰相应的测量。

以类似的方式，位于相同空间的其他测量设备在各自的测量期间不受到由测量系统提供的电磁信号干扰。

此外，至少一个吸收挡板可以在天线周围建立孔口，使得相应的天线瞄准相对应的反射器，特别是瞄准其中心。

另外，位于反射器和测试位置之间的波束路径部分的延伸可以在至少一个吸收挡板处结束，从而确保不会发生可能损害测量的反射(例如提供驻波(共振))。

另一方面提供了位于测试位置处的被测设备。测量系统可以用于适当地测试被测设备。为此，可以生产电磁信号并将电磁信号朝向被测设备传输。

根据另一方面，测量系统包括测试位置被设置在其上的定位器。定位器可以是旋转定位器和/或三维定位器。相应的定位器确保可以通过将被测设备旋转通过在静区内或更确切地说在测试位置处的平面波条件下获得的场，针对每个角度分离地测量被测设备的行为。

因此，可以在执行相应的测量的同时使用移动的被测设备，以便在移动的同时测试被测设备的性能特性。例如，可以验证被测设备能够在不同基站之间切换(切换场景)的速度。

此外，可以使用中心馈电反射器。因此，相应的天线、相对应的反射器的中心以及静区在直线上。

附图说明

从下面的描述和附图中，本发明的另外的优点和各方面将变得更加容易理解，在附图中

-图1示出了根据本发明的第一实施例的测量系统的顶视图，

-图2示出了根据本发明的第二实施例的测量系统的顶视图，

-图3示出了根据本发明的第三实施例的测量系统的顶视图，以及

-图4示意性示出了根据特定实施例的测量系统的调节单元。

具体实施方式

下面结合附图下面结合附图阐述的详细描述旨在作为对所公开的主题的各种实施例的描述，而不旨在代表唯一的实施例，在附图中，相同的标号指代相同的元件。本公开中描述的每个实施例仅作为示例或图示提供，并且不应被解释为优选于或优于其他实施例。本文提供的说明性示例并不旨在是穷举性的或将所要求保护的主题限制到所公开的精确形式。

出于本公开的目的，短语“A、B和C中的至少一个”例如意味着(A)、(B)、(C)、(A和B)、(A和C)、(B和C)或(A、B和C)，包括当列出多于三个元素时的所有其他可能的排列。换句话说，术语“A和B中的至少一个”一般而言是指“A和/或B”，即“仅A”、“仅B”或“A和B”。

在图1中，示出了测量系统10，该测量系统用于对被测设备12进行空中测试，其也被称为DUT。

测量系统10包括定位器14，该定位器限定被测设备12的测试位置16。被测设备12被安装在定位器14上，特别是安装在测试位置16处。

在所示的实施例中，定位器14由旋转定位器建立，该旋转定位器被配置为在平面内围绕旋转轴线旋转被测设备12。然而，定位器14也可以被建立为三维定位器，确保被测设备12的三维运动。

进一步，测量系统10包括信号生成和/或分析设备18。

信号生成和/或分析设备18与定位器14连接，以便在测试期间通过定位器14控制被测设备12的定位。特别地，信号生成和/或分析设备18发出相应的控制信号，以便控制被测设备12的位置。

此外，信号生成和/或分析设备18以信号传输方式与多个天线20连接。因此，由天线20接收的测量信号被转发到信号生成和/或分析设备18。以类似的方式，待发射的信号通过信号生成和/或分析设备18被转发到天线20。

在所示的实施例中，信号生成和/或分析设备18包括信号生成装置(例如所谓的汽车雷达回波发生器(Automotive Radar Echo Generators，AREG))、以及控制平台(例如开放式开关和控制平台(Open Switch and Control Platform，OSP))。OSP可以与分析模块(analyzing module，AM)连接。

事实上，每个天线20被分配给它自己的信号生成装置，即它自己的AREG。因此，每个天线20可以接收要发射的分别生成的电磁信号。因此，要发射的信号由信号生成和/或分析设备18的信号生成装置生成，并被路由到天线20，以便朝向被测设备12发射。

此外，测量系统10包括多个成形的反射器22，特别是抛物面反射器。

反射器22中的每个被分配给一个相对应的天线20，使得相应的天线20和相对应的反射器22一起建立成一对。

一般而言，波束路径24被提供在相应的天线20和测试位置16之间，电磁信号沿着该波束路径传播。所提供的多个波束路径24中的一个在图1中由相应的虚线示意性示出。

波束路径24包括位于测试位置16和反射器22之间的第一部分26，以及建立在反射器22和相对应的天线20之间的第二部分28。

事实上，电磁信号被相应的反射器22反射，而不管电磁信号源自何处，即被测设备12或者更确切地说相应的天线20。

在任何情况下，波束路径24确保了电磁信号对应于测试位置16或者更确切地说相应的天线20处的平面波。

一般而言，天线20可以涉及通过其发射电磁信号的馈电天线。

因此，由天线20发射的电磁信号在沿着波束路径24的第二部分28行进之后照射在反射器22上。相应反射器22将源自天线20的进入的电磁信号反射朝向测试位置16以及位于该测试位置16的被测设备12。因此，反射的电磁信号沿着波束路径24的第一部分26行进。

一般而言，测量系统10被配置为测试被测设备12的远场特性，即使相应天线20和测试位置16之间的距离很小。

为了确保测试位置16处的远场特性，相应的电磁信号被反射器22反射，如上所提及那样。因此，提供了所谓的间接远场(IFF)条件。

因此，每个天线20和相对应的反射器22一起(即相应对)在测试位置16处提供专用的静区30，从而确保可以精确测量被测设备12的远场特性。

在图1中，一个静区30由虚线示意性示出。如图1所示，相应的静区30分别包含被测设备12和测试位置16。

一般而言，测量系统10对应于所谓的紧缩天线测试场(CATR)，因为测量系统10确保被测设备12在测试位置16处或者更确切地说在一个或多个相应的静区30内的平面波暴露。

在图1中示出的实施例中，多个反射器22以及多个天线20各自沿着测试位置16或者更确切地说被测设备12位于其中心的相应圆形弧32、34定位。然而，相应弧32、34具有不同的半径，因为天线20被定位为比反射器22更靠近测试位置16或者更确切地说被测设备12。

相应弧32、34各自覆盖150°的角度区域。然而，例如，一般而言可以覆盖高达180°的角度区域，这对于测试被测设备12的切换场景足够了。

而且，每个反射器22和相对应的天线20通过调节单元36彼此机械耦合，该调节单元在图4中更详细地示出。

调节单元36包括调节构件38、天线20和反射器22以可移位的方式位于该调节构件上，使得天线20和相对应的反射器22之间的距离可以被调节(如果需要的话)。

事实上，天线20被放置在设置在调节构件38内的狭槽40内，使得天线20可以沿着狭槽40的长度沿着调节构件38移动。因此，天线20可以以线性方式朝向反射器22或背离反射器22移动，如箭头所示那样。

反射器22被分配给线性调节构件42，通过该线性调节构件，可以特别是通过螺旋机构对反射器22的相对于天线20的距离进行微调。事实上，反射器22也可以线性方式朝向天线20或背离天线20移动，如箭头所示那样。

进一步，调节单元36具有接合部44，反射器22与该接合部机械耦合，使得反射器22的取向可以被容易地调节。

而且，天线20还通过可移位的接合部46与调节构件38机械耦合。

因此，每个调节单元36通常被配置成调节相应天线20相对于相对应的反射器22的相对取向和/或位置。

然而，天线20和/或反射器22相对于测试位置16的相对取向和/或位置也可以通过相应的调节单元36来调节。

而且，调节单元36还被配置成沿着包围测试位置16的球体或椭球体定位多个反射器22。在所示的顶视图中，相应的反射器22位于台上，或者更确切地说地板上，导致整个测量系统10的水平布置。

然而，相应的反射器22和/或天线20也可以相对于水平面倾斜，例如以竖直方式(相对于水平面成90°)或以相对于水平面的任何其他角度倾斜。

相应的弧32可以由支撑件(例如轨道或者更确切地说是杆)建立，反射器22通过该支撑件彼此连接。为了使反射器22倾斜，相应的支撑件被枢转，或者更确切地说，从水平面进行设置，从而使反射器22相对于水平面以一定角度倾斜定位。

以类似的方式，与天线20相关联的相应的弧34可以由支撑件(例如轨道或者更确切地说杆)建立。

因此，反射器22和/或天线20的不同合适位置可以覆盖整个球体或整个椭球体。

在非均匀分布的反射器22的情况下，至少一个平衡配重被设置在相应的支撑件上，特别是在相应反射器22由于反射器22的重量导致的成角度的取向或者更确切地说竖直取向的情况下。

另外，图1显示了测量系统10包括位于不同位置处的多个吸收挡板48，以便提供屏蔽和/或减少耦合效应或更确切地说散射效应。

如图1所示，吸收挡板48位于相邻的反射器22之间，即每对相邻反射器22之间，以减少任何耦合和/或散射效应。

另外，吸收挡板48相对于测试位置16与每个反射器22的相反定位，从而确保在从相应的反射器22朝向测试位置16传播的电磁信号已经通过测试位置16之后，借助于反射器22吸收电磁信号。换句话说，相应的吸收挡板48位于相应的反射器22位于其相对端处的线的第一端处，其中测试位置16被定位在该线上。

此外，吸收挡板48位于每个天线20和相对应的反射器22之间的底部上，特别是位于调节单元36上，使得减少散射和/或耦合效应。

而且，吸收挡板48还为位于由吸收挡板材料形成的壳体50内的相应天线20形成部分打开的壳体50。因此，相应天线20可以聚焦在相对应的反射器22上。换句话说，吸收挡板48为天线20建立了孔口。

在图2中，示出了测量系统10的另一个实施例，其与图1中示出的实施例的不同之处在于天线20以及反射器22分别位于椭圆形弧52、54上。

进一步，与图1中示出的实施例相比，在图2中示出的实施例中提供了更少的天线20(即三个而不是四个)、更少的反射器22(即三个而不是四个)、以及更少的吸收挡板48。

一般而言，测量系统10可以用于同时或者更确切地说是随后执行不同的测量。

图1至图3中示出的实施例包括一个反射器22，与其他反射器22(其各自可以具有仅20cm的静区30)相比，该反射器具有更大的静区30，例如30cm的静区。

例如，具有较大静区30的反射器22的焦距也不同于其他反射器22。

因此，反射器22具有不同的特性。

然后，由于相应的反射器22的不同焦距，分配给具有不同焦距的反射器22的相对应的天线20被移动。因此，分配给具有不同焦距的反射器22的相应天线20相对于位于圆形或椭圆形弧34、54上的其他天线20移位。

换句话说，在与具有不同焦距的反射器22相关联的天线20背离相应的弧34、54移动时，多个天线20不再位于相同的弧34、54上。

然而，保持了反射器22和测试位置16之间的距离。因此，所有反射器22到测试位置16的距离相同。换句话说，反射器22仍然位于圆形或椭圆形弧32、52上。

相应的天线20的潜在线性移动在图1和图2中由相应的箭头指示。事实上，天线20沿着调节单元36移动，如上所讨论那样。

在另一实施例中，对于所有反射器22而言，焦距可以是相同的。

然而，由于反射器22的不同物理尺寸，获得了不同尺寸的静区30。事实上，一个反射器22比其他反射器22更大，从而导致这个特定反射器22的更大的静区30。

一般而言，具有更大静区30的相应反射器22可以竖直地定向在被测设备12的上方或水平地靠近该被测设备。与之相反，具有较小静区30的反射器22以与大反射器22不同的角度偏移进行放置。

而且，具有更大的静区30的反射器22可以用于射频(RF)测量，例如带内(IB)测量和带外(OOB)测量，而具有更小的静区30的反射器22用于无线电资源管理(RRM)和/或多输入多输出(MIMO)测量。

另一实施例提供了所有反射器22具有相同的焦距以及设置在测试位置16处的相同尺寸的相应静区30。然而，反射器22可以具有不同的物理尺寸。

事实上，反射器22的相对应的天线20以不同的频率操作。

因为可以同时测量不同的频带，因此这允许在单个带测量时进行宽带测量，即同时测量多个不同的频带。

一般而言，以上提及不同的测量可以同时或随后进行。

Claims (15)

1.一种用于对被测设备(12)进行空中测试的测量系统(10)，包括信号生成和/或分析设备(18)、多个天线(20)、多个反射器(22)和所述被测设备(12)的测试位置(16)，

其中，所述天线(20)以信号传输的方式与所述信号生成和/或分析设备(18)连接，

其中，所述天线(20)中的每个天线被配置成传输和/或接收电磁信号，使得波束路径(24)被提供在相应的天线(20)和所述测试位置(16)之间，

其中，所述电磁信号被相应的反射器(22)反射，使得所述电磁信号对应于平面波，

其中，每个天线(20)和相对应的反射器(22)一起被配置成在所述测试位置(16)处提供相对应的静区(30)，并且

其中，所提供的所述静区(30)中的至少一个静区大于至少一个其他静区(30)，和/或所述天线(20)中的至少一个天线被配置为以与至少一个其他天线(20)相比不同的频率操作。

2.根据权利要求1所述的测量系统(10)，其中所述反射器(22)中的至少一个反射器大于至少一个其他反射器(22)。

3.根据权利要求1或2所述的测量系统(10)，其中，所述反射器(22)中的至少一个反射器与所述至少一个其他反射器(22)相比具有不同的焦距。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，所述多个反射器(22)和/或所述多个天线(20)被定位为沿着所述测试位置(16)位于其中心的圆形或椭圆形弧(32，34)。

5.根据权利要求4所述的测量系统(10)，其中，所述圆形或椭圆形弧(32，34)最大覆盖180°的角度区域。

6.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，至少所述反射器(22)被各自分配给相对应的调节单元(36)，所述调节单元被配置为调节所述相应的反射器(22)的位置和/或取向。

7.根据权利要求6所述的测量系统(10)，其中，所述相应的天线(20)和相对应的反射器(22)通过所述调节单元(36)彼此机械耦合。

8.根据权利要求6或7所述的测量系统(10)，其中，所述调节单元被配置为沿着包围所述测试位置的球体或椭球体定位所述多个反射器。

9.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，在位于所述反射器(22)和所述测试位置(16)之间的波束路径部分(26)的延伸处是无反射器的。

10.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，提供至少一个吸收挡板(48)，其中所述至少一个吸收挡板(48)位于相邻的反射器(22)之间，和/或其中所述至少一个吸收挡板(48)位于至少一个反射器(22)和所述测试位置(16)之间，和/或其中所述至少一个吸收挡板(48)为至少一个天线(20)提供部分打开的壳体(42)，和/或其中所述至少一个吸收挡板(48)位于所述反射器(22)位于其相对端处的线的第一端处。

11.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，提供位于所述测试位置(16)处的被测设备(12)，和/或其中所述测量系统(10)包括所述测试位置(16)被设置在其上的定位器(14)，特别地，其中所述定位器(14)是旋转定位器和/或三维定位器。

12.根据前述权利要求中任一项所述的测量系统(10)，其中，中心馈电反射器被使用。

13.一种执行被测设备(12)的空中测试的方法，具有以下步骤：

-提供用于对被测设备(12)进行空中测试的测量系统(10)，其中所述测量系统(10)包括多个天线(20)以及被定向为朝向所述被测设备(12)的测试位置(16)的多个反射器(22)，其中每个天线(20)被分配给一个相应的反射器(22)，使得波束路径(24)被提供在相应的天线(20)和所述测试位置(16)之间，并且其中每个天线(20)和相对应的反射器(22)一起在所述测试位置(16)处提供相对应的静区(30)，

-将所述被测设备(12)定位在所述测试位置(16)处，以及

-使用所述反射器(22)中的至少一个反射器和相对应的天线(20)进行射频测量，而其他反射器(22)中的至少一个反射器和相对应的天线(20)用于无线电资源管理或多输入多输出测量，和/或以与至少一个其他天线(20)相比不同的频率操作所述天线(20)中的至少一个天线。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述天线(20)中的至少一个天线相对于其相对应的反射器(22)移动，以用于补偿所述反射器(22)的不同焦距。

15.根据权利要求13或14所述的方法，其中，不同的频带被同时测量。

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