CN110323132A - 一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 - Google Patents
一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110323132A CN110323132A CN201910590637.3A CN201910590637A CN110323132A CN 110323132 A CN110323132 A CN 110323132A CN 201910590637 A CN201910590637 A CN 201910590637A CN 110323132 A CN110323132 A CN 110323132A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- diamond
- hydrogen terminal
- ohmic contact
- hydrogen
- contact resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 70
- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 70
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 60
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 title claims abstract description 60
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 16
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 15
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 13
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000005554 pickling Methods 0.000 claims description 7
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims description 5
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 235000019441 ethanol Nutrition 0.000 claims description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 3
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 claims description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 abstract description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 abstract 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 abstract 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 6
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 239000004606 Fillers/Extenders Substances 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 2
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000013532 laser treatment Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/0405—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising semiconducting carbon, e.g. diamond, diamond-like carbon
- H01L21/0425—Making electrodes
- H01L21/043—Ohmic electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/26—Bombardment with radiation
- H01L21/263—Bombardment with radiation with high-energy radiation
- H01L21/268—Bombardment with radiation with high-energy radiation using electromagnetic radiation, e.g. laser radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/43—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/45—Ohmic electrodes
Abstract
一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,属于金刚石电子器件领域。本发明采用微波等离子体化学气相沉积,以甲烷、氢气为反应气体,在单晶金刚石衬底上外延一层金刚石薄膜,随后在氢等离子体氛围中处理,使金刚石表面形成氢终端,之后放置于大气环境中。然后根据线性传输模型,进行光刻工艺,调节飞秒激光器,使激光聚焦在样品表面以下1μm范围内,调整激光照射功率、频率范围、扫描周期,在氢终端金刚石亚表层产生石墨相。最后采用电子束蒸镀、热蒸镀或磁控溅射制备金属电极,之后进行快速退火处理,最终制得测试所需的欧姆电极图案。本发明方法结合了石墨的高电导性来降低金属与金刚石间的接触电阻,从而改善了金刚石基电子器件的欧姆接触特性。
Description
技术领域
本发明涉及金刚石电子器件领域,尤其涉及一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法。
背景技术
未掺杂的氢终端金刚石具有负的电子亲合势,当进一步暴露于空气中时,可显示出高的p型表面电导率,这一发现使得基于金刚石的器件如场效应晶体管和pH传感器的制造成为可能。氢终端金刚石的导电性是基于表面C-H键的极化作用与表面的低化学势吸附层而形成的空穴导电层。其中,表面C-H键及表面吸附的活性离子层极易受到外界环境和金刚石表面微结构的影响,从而导致空穴浓度的变化。
飞秒激光是一种具有极短脉冲,超高能量的激光,持续时间从几个飞秒到几百飞秒范围,具有非常高的瞬时功率。对于10fs、10mJ的激光脉冲来讲,其瞬间功率可达1012w以上。当总激光强度F超过某一阈值时,非线性光学交互作用及晶格本征固有光吸收作用会使金刚石晶格温度迅速上升从而产生相变,形成石墨相。石墨的导电能力远高于金刚石,在电极接触区金刚石亚表面产生的石墨相将有助于降低其接触电阻,从而获得更为理想的欧姆接触。
文献(Diamond&Related Materials 92(2019)18-24)中提出了使用离子注入的方法使金刚石内部产生石墨化层,高能离子在注入过程中会对金刚石表面造成损伤,从而破坏金刚石的氢终端。利用C-C键(332kJ/mol)与C-H键(414kJ/mol)的键能差值,在氢终端金刚石表面进行飞秒激光辐照,产生的激光场可将金刚石内部的C-C键价电子激发到激发态,温度场将价电子激发到激发态的C-C键断裂,而C-H键保持完好。随后,在激光处理后的氢终端金刚石表面蒸镀电极,退火处理形成欧姆接触。相比于专利(CN201810602792.8)中金刚石石墨化的方法,本发明使用的飞秒激光辐照对金刚石材料内部产生的损伤较小,对氢终端金刚石表面本身的导电性影响也较小。
发明内容
本发明的目的是对氢终端金刚石表面进行飞秒激光辐照处理,使得金刚石亚表面层C-C键断裂形成石墨相,从而降低其与金属电极的欧姆接触电阻。
本发明的主要特点在于使用飞秒激光对氢终端金刚石进行辐照处理,保留C-H键而使得C-C键断裂产生石墨相,提高金刚石的电导率。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案及步骤。
一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)氢终端金刚石薄膜的制备
首先使用H2SO4:HNO3对单晶金刚石衬底酸洗,然后使用丙酮、乙醇、去离子水依次超声清洗。将清洗好的单晶金刚石衬底放入反应腔中,用氢等离子体刻蚀。然后通入CH4气体,维持温度生长一段时间后关闭CH4气体,用氢等离子体处理后关闭H2自然冷却至室温,形成氢终端。将生长后的氢终端金刚石放置于空气中24h以上。
2)飞秒激光辐照处理
根据线性传输模型,进行光刻工艺,调节飞秒激光器,使激光聚焦在氢终端金刚石亚表面,调整激光照射功率、频率范围、扫描周期,破坏氢终端金刚石亚表面C-C键,产生石墨相;
3)制作欧姆接触电极
采用电子束蒸镀、热蒸镀或磁控溅射制备金属电极,之后进行快速退火处理,最终制得测试所需的欧姆电极图案。
进一步地,所述H2SO4:HNO3的比例为3:1,酸洗时间为20-40min;所述超声清洗时间5-15min。所述氢等离子体刻蚀时间15-25min,H2流量为400-600sccm,温度为1000℃。所述通入CH4气体的流量为0.4-0.6sccm,生长温度在900℃左右,生长时间0.5-1.5h。所述氢等离子体处理时间5-15min。
进一步地,所述步骤2)中激光的脉宽为飞秒级。
进一步地,所述步骤2)中激光照射功率2w-4w,频率范围800Hz-1100Hz,扫描周期1-10。
进一步地,所述步骤2)中飞秒激光垂直作用于氢终端金刚石上表面。
进一步地,所述步骤2)中飞秒激光聚焦位置在样品表面以下1μm范围内。
进一步地,所述步骤3)中用于欧姆接触的电极材料为Ti、Pt、Au、Pd中的一种或多种金属。
进一步地,所述步骤3)中退火处理的氛围为氮气或真空条件下,退火温度500℃,退火时间30min。
本发明同现有技术相比,通过改变金刚石结构来根本性改善金刚石的导电性,使用飞秒激光技术的强脉冲高强度优点,十分有利于金刚石向石墨化的转变,同时对金刚石表面损伤小,效率高。此外,也大大拓宽了金属电极种类的选择,节约成本。
附图说明
图1为飞秒激光辐照金刚石示意图。
具体实施方式
现将本发明的具体实施例叙述于后。
实施例1
本实施例中的具体制备过程和步骤如下所述:
1)氢终端金刚石薄膜的制备
首先使用H2SO4:HNO3=3:1对(100)晶面单晶金刚石衬底酸洗30min,然后使用丙酮、乙醇、去离子水依次超声清洗10min。将清洗好的单晶金刚石衬底放入反应腔中,用氢等离子体刻蚀20min,H2流量为500sccm,温度为1000℃。然后通入0.5sccm的CH4气体,维持温度在900℃左右生长1h后关闭CH4气体,用氢等离子体处理10min,后关闭H2自然冷却至室温,形成氢终端。将生长后的氢终端金刚石放置于空气中24h以上。
2)飞秒激光辐照处理
设计TLM光刻图案,使用无掩膜光刻机DL-1000进行第一次曝光,显影,采用磁控溅射法沉积金属Au做十字定位标记,然后剥离光刻胶。溅射参数为:功率300W,时间5min,厚度100nm,保护气氛为Ar气。接着进行第二次光刻,使用氧气进行反应离子刻蚀做隔离,刻蚀功率为50W,氧气流量为100sccm,时间为90s。其次进行第三次光刻工艺,开启飞秒激光器的飞秒激光,飞秒激光经过准直透镜组、扩束透镜组后通过二相色镜反射到达聚焦物镜,聚焦在样品表面以下1μm范围内。调节激光强度、频率范围、扫描周期等参数进行辐照。相应参数为:激光照射功率4w,频率800Hz,扫描周期3次,波长800nm,脉冲宽度100fs,偏振方向为线偏振。
3)制作欧姆接触电极
采用电子束蒸发蒸镀金属电极Au150nm,剥离光刻胶后形成TLM图案,使用RTA退火炉在500℃下对样品进行真空退火30min,形成欧姆接触。
实施例2
1)氢终端金刚石薄膜的制备
首先使用H2SO4:HNO3=3:1对(100)晶面单晶金刚石衬底酸洗30min,然后使用丙酮、乙醇、去离子水依次超声清洗10min。将清洗好的单晶金刚石衬底放入反应腔中,用氢等离子体刻蚀20min,H2流量为500sccm,温度为1000℃。然后通入0.5sccm的CH4气体,维持温度在900℃左右生长1h后关闭CH4气体,用氢等离子体处理10min,后关闭H2自然冷却至室温,形成氢终端。将生长后的氢终端金刚石放置于空气中24h以上。
2)飞秒激光辐照处理
设计TLM光刻图案,使用无掩膜光刻机DL-1000进行第一次曝光,显影,采用磁控溅射法沉积金属Ti做十字定位标记,然后剥离光刻胶。溅射参数为:功率300W,时间10min,厚度200nm,保护气氛为Ar气。接着进行第二次光刻,使用氧气进行反应离子刻蚀做隔离,刻蚀功率为50W,氧气流量为100sccm,时间为90s。其次进行第三次光刻工艺,开启飞秒激光器的飞秒激光,飞秒激光经过准直透镜组、扩束透镜组后通过二相色镜反射到达聚焦物镜,聚焦在样品表面以下1μm范围内。调节激光强度、频率范围、扫描周期等参数进行辐照。相应参数为:激光照射功率3w,频率900Hz,扫描周期4次,波长800nm,脉冲宽度100fs,偏振方向为线偏振。
3)制作欧姆接触电极
采用热蒸发法蒸镀复合金属电极Ti10nm/Au150nm,剥离光刻胶后形成TLM图案,使用RTA退火炉在500℃下对样品进行真空退火30min,形成欧姆接触。
实施例3
1)氢终端金刚石薄膜的制备
首先使用H2SO4:HNO3=3:1对(100)晶面单晶金刚石衬底酸洗30min,然后使用丙酮、乙醇、去离子水依次超声清洗10min。将清洗好的单晶金刚石衬底放入反应腔中,用氢等离子体刻蚀20min,H2流量为500sccm,温度为1000℃。然后通入0.5sccm的CH4气体,维持温度在900℃左右生长1h后关闭CH4气体,用氢等离子体处理10min,后关闭H2自然冷却至室温,形成氢终端。将生长后的氢终端金刚石放置于空气中24h以上。
2)飞秒激光辐照处理
设计TLM光刻图案,使用无掩膜光刻机DL-1000进行第一次曝光,显影,采用磁控溅射法沉积金属Au做十字定位标记,然后剥离光刻胶。溅射参数为:功率300W,时间5min,厚度100nm,保护气氛为Ar气。接着进行第二次光刻,使用氧气进行反应离子刻蚀做隔离,刻蚀功率为50W,氧气流量为100sccm,时间为90s。其次进行第三次光刻工艺,开启飞秒激光器的飞秒激光,飞秒激光经过准直透镜组、扩束透镜组后通过二相色镜反射到达聚焦物镜,聚焦在样品表面以下1μm范围内。调节激光强度、频率范围、扫描周期等参数进行辐照。相应参数为:激光照射功率2w,频率1000Hz,扫描周期6次,波长800nm,脉冲宽度100fs,偏振方向为线偏振。
3)制作欧姆接触电极
采用电子束蒸发法蒸镀复合金属电极Ti10nm/Pt10nm/Au150nm,剥离光刻胶后形成TLM图案,使用RTA退火炉在500℃下对样品进行真空退火30min,形成欧姆接触。
Claims (8)
1.一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)氢终端金刚石薄膜的制备
首先使用H2SO4:HNO3对单晶金刚石衬底酸洗,然后使用丙酮、乙醇、去离子水依次超声清洗;将清洗好的单晶金刚石衬底放入反应腔中,用氢等离子体刻蚀;然后通入CH4气体,维持温度生长一段时间后关闭CH4气体,用氢等离子体处理后关闭H2自然冷却至室温,形成氢终端;将生长后的氢终端金刚石放置于空气中24h以上;
2)飞秒激光辐照处理
根据线性传输模型,进行光刻工艺,调节飞秒激光器,使激光聚焦在氢终端金刚石亚表面,调整激光照射功率、频率范围、扫描周期,破坏氢终端金刚石亚表面C-C键,产生石墨相;
3)制作欧姆接触电极
采用电子束蒸镀、热蒸镀或磁控溅射制备金属电极,之后进行快速退火处理,最终制得测试所需的欧姆电极图案。
2.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,步骤1)中所述H2SO4:HNO3的比例为3:1,酸洗时间为20-40min;所述超声清洗时间5-15min;所述氢等离子体刻蚀时间15-25min,H2流量为400-600sccm,温度为1000℃;所述通入CH4气体的流量为0.4-0.6sccm,生长温度为900℃,生长时间0.5-1.5h;所述氢等离子体处理时间5-15min。
3.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤2)中激光的脉宽为飞秒级。
4.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤2)中激光照射功率2w-4w,频率范围800Hz-1100Hz,扫描周期1-10。
5.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤2)中飞秒激光垂直作用于氢终端金刚石上表面。
6.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤2)中飞秒激光聚焦位置在样品表面以下1μm范围内。
7.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤3)中用于欧姆接触的电极材料为Ti、Pt、Au、Pd中的一种或多种金属。
8.根据权利要求1所述的降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法,其特征在于,所述步骤3)中退火处理的氛围为氮气或真空条件下,退火温度500℃,退火时间30min。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910590637.3A CN110323132B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910590637.3A CN110323132B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110323132A true CN110323132A (zh) | 2019-10-11 |
CN110323132B CN110323132B (zh) | 2024-02-13 |
Family
ID=68122367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910590637.3A Active CN110323132B (zh) | 2019-07-02 | 2019-07-02 | 一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN110323132B (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112828449A (zh) * | 2021-01-06 | 2021-05-25 | 天津大学 | 用激光加工金刚石材料制备的元器件及其制备方法 |
CN113130697A (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-16 | 西安电子科技大学 | 一种赝竖式氢氧终端金刚石核探测器及其制备方法 |
CN113725076A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-11-30 | 西安电子科技大学芜湖研究院 | 一种氢终端金刚石隧穿欧姆接触电阻的制备方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991017282A1 (en) * | 1990-05-09 | 1991-11-14 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Diamond-like carbon material produced by laser plasma deposition |
JPH10247624A (ja) * | 1997-03-05 | 1998-09-14 | Asahi Chem Ind Co Ltd | n型単結晶ダイヤモンドおよびその製造方法、人工ダイヤモンドの製造方法 |
JP2003188191A (ja) * | 1995-11-17 | 2003-07-04 | Tokyo Gas Co Ltd | 水素終端ダイヤモンドデプレッション型mesfetおよび該デプレッション型mesfetの製造方法 |
WO2004106595A1 (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-09 | Japan Science And Technology Agency | レーザーアブレーション法による極平坦微結晶ダイヤモンド薄膜の作製方法 |
CN102403209A (zh) * | 2011-11-10 | 2012-04-04 | 上海大学 | 一种基于金刚石薄膜场效应晶体管欧姆接触电极的制备方法 |
JP2014167475A (ja) * | 2011-03-10 | 2014-09-11 | Yokogawa Electric Corp | 半導体装置、歪ゲージ、圧力センサおよび半導体装置の製造方法 |
CN204413401U (zh) * | 2015-01-17 | 2015-06-24 | 王宏兴 | 用于在金刚石表层下形成非金刚石层的装置 |
CN106783558A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-05-31 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 一种低导通电阻氢终端金刚石场效应晶体管及其制备方法 |
-
2019
- 2019-07-02 CN CN201910590637.3A patent/CN110323132B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991017282A1 (en) * | 1990-05-09 | 1991-11-14 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Diamond-like carbon material produced by laser plasma deposition |
JP2003188191A (ja) * | 1995-11-17 | 2003-07-04 | Tokyo Gas Co Ltd | 水素終端ダイヤモンドデプレッション型mesfetおよび該デプレッション型mesfetの製造方法 |
JPH10247624A (ja) * | 1997-03-05 | 1998-09-14 | Asahi Chem Ind Co Ltd | n型単結晶ダイヤモンドおよびその製造方法、人工ダイヤモンドの製造方法 |
WO2004106595A1 (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-09 | Japan Science And Technology Agency | レーザーアブレーション法による極平坦微結晶ダイヤモンド薄膜の作製方法 |
JP2014167475A (ja) * | 2011-03-10 | 2014-09-11 | Yokogawa Electric Corp | 半導体装置、歪ゲージ、圧力センサおよび半導体装置の製造方法 |
CN102403209A (zh) * | 2011-11-10 | 2012-04-04 | 上海大学 | 一种基于金刚石薄膜场效应晶体管欧姆接触电极的制备方法 |
CN204413401U (zh) * | 2015-01-17 | 2015-06-24 | 王宏兴 | 用于在金刚石表层下形成非金刚石层的装置 |
CN106783558A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-05-31 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 一种低导通电阻氢终端金刚石场效应晶体管及其制备方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113130697A (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-16 | 西安电子科技大学 | 一种赝竖式氢氧终端金刚石核探测器及其制备方法 |
CN113130697B (zh) * | 2019-12-31 | 2024-01-23 | 西安电子科技大学 | 一种赝竖式氢氧终端金刚石核探测器及其制备方法 |
CN112828449A (zh) * | 2021-01-06 | 2021-05-25 | 天津大学 | 用激光加工金刚石材料制备的元器件及其制备方法 |
CN113725076A (zh) * | 2021-07-13 | 2021-11-30 | 西安电子科技大学芜湖研究院 | 一种氢终端金刚石隧穿欧姆接触电阻的制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110323132B (zh) | 2024-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110323132A (zh) | 一种降低氢终端金刚石欧姆接触电阻的方法 | |
US4024029A (en) | Electrodeposition | |
CN103173720B (zh) | 一种防水性激光薄膜的制备方法 | |
Okoshi et al. | Pulsed laser deposition of ZnO thin films using a femtosecond laser | |
Kosarian et al. | Role of sputtering power on the microstructural and electro‐optical properties of ITO thin films deposited using DC sputtering technique | |
DE112007001605T5 (de) | Zinkoxiddünnfilm vom p-Typ und Verfahren zur Ausbildung desselben | |
Stinnett et al. | Thermal surface treatment using intense, pulsed ion beams | |
JP4134315B2 (ja) | 炭素薄膜及びその製造方法 | |
CN108231565A (zh) | 氮化镓高电子迁移率晶体管的欧姆接触的制备方法 | |
US20080202798A1 (en) | Transparent substrate with thin film and method for manufacturing transparent substrate with circuit pattern wherein such transparent substrate with thin film is used | |
CN114836836A (zh) | 一种铌酸锂晶片/钽酸锂晶片局域快速黑化方法 | |
CN112420871B (zh) | 台面型铟镓砷探测器芯片及其制备方法 | |
Shafeev | Laser activation and metallisation of insulators | |
Oraby et al. | Laser annealing of ohmic contacts on GaAs | |
WO2019109747A1 (zh) | 氮化镓电子器件的欧姆接触的制备方法 | |
Hannah et al. | Metal photocathodes preparation for compact linear accelerator at Daresbury Laboratory | |
CN111063739A (zh) | 基于SiO2电流阻挡层的氮化铝CAVET器件及制作方法 | |
Sinclair et al. | Iron Oxide—An Inorganic Photoresist and Mask Material | |
Colligon et al. | Applications of dynamic recoil mixing (DRM) | |
Eryu et al. | Formation of an ohmic electrode in SiC using a pulsed laser irradiation method | |
CN108220887B (zh) | 一种反应堆中锆合金元件腐蚀防护薄膜的制备方法 | |
JP4131405B2 (ja) | オーミック電極の製造方法 | |
Waytena et al. | The optimization of the double mask system to minimize the contact resistance of a Ti/Pt/Au contact | |
Ledukhovskaya et al. | New type of current collectors with modified near-surface layer | |
Halim | Physical characteristics of laser processed hydrogenated amorphous silicon |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |