CN110244270B - 一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法。该用于微波探测器的测试方法包括步骤:降低该微波探测器的探测距离,以使该微波探测器在非最大感应范围下工作;测量该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的有效探测距离;以及根据一预设换算模型,将所测量的该有效探测距离换算成该微波探测器的最大探测距离。
Description
技术领域
本发明涉及微波测试技术领域,特别是涉及一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法。
背景技术
微波探测器是一种将微波收发设备合置的探测器,其工作原理是基于多普勒效应。具体来说,微波的波长很短,通常在1mm至1000mm之间,穿透力较强,因此很容易穿透玻璃、木板、砖墙等非金属材料,而容易被金属物体或人体反射,并在遇到移动物体反射后会产生多普勒效应,即经反射后的微波信号与发射波信号的频率会产生微小的偏移,进而探测到移动的物体。
目前微波探测器已经在很多领域(例如在照明领域、监控领域等等)得到了广泛的应用,但在微波探测器出厂前需要经过严格的测试,以保证出厂产品的质量合格。而由于微波的穿透能力较强、且易于被金属物体或人体反射,因此传统的测试过程通常需要一个空旷场地,并且禁止无关人员在该场地内走动,以免对测试结果产生干扰。但由于测试人员需要手动操作各种测试设备、记录测试结果,因此传统的测试过程将不可避免地受到测试人员移动的干扰,导致测试结果容易出现偏差或错误。
此外,由于微波能够穿透诸如墙壁等非金属物质,因此即使在封闭的房间中进行测试,在房间外运动的物体也会对测试结果产生影响或干扰。特别是对于某些探测距离较大的微波探测器而言,所需要的测试场地将不得不变得很大,并且在该场地的内部区域和该场地附近的外部区域均不能设置任何金属的生产设备或办公设备,这就导致当不进行测试或测试探测距离较小的微波探测器时,该面积较大的测试场地将只能被闲置或者其空间的利用率极低。对大多数厂家而言,设置较大面积的测试场地将导致产品的测试成本急剧增大,这是不经济的,甚至是无法承担或接受的。
发明内容
本发明的一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其能够降低运动物体对测试结果的影响或干扰,有助于提高测试结果的准确性。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一示例中,所述感应测试装置通过设置吸波隔离单元来减少反射,隔离外界干扰,以防测试场地外的运动物体对测试产生不利影响。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置通过至少一吸波墙来隔离测试区域,有助于提高场地的空间利用率。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置能够大幅缩小所需的测试场地的面积,有利于降低微波探测器的测试成本。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置能够在较小的测试场地内对探测距离较大的微波探测器进行测试,有助于降低测试成本。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置能够通过灯光、声音或文字来展示微波探测器的测试结果,以便测试人员及时获知测试结果。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置能够准确地测量所述微波探测器的探测距离,以便依据测试标准准确地判断产品属于合格品或不良品。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置能够自动地记录测试结果,以便大幅地降低测试人员的劳动负担。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置的运动反射器能够模拟真实环境下运动的物体,有助于提高测试结果的可靠性。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置的所述运动反射器能够模拟线性运动或旋转运动,以便根据所述微波探测器的应用场景来选择具有不同运动状态的反射器,有助于进一步提升测试结果的可靠性。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中,在本发明的一实施例中,所述感应测试装置的所述运动反射器的反射头部具有锥形喇叭状结构,有助于提升所述运动反射器的反射效率。
本发明的另一目的在于提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,其中为了达到上述目的,在本发明中不需要采用昂贵的材料或复杂的结构。因此,本发明成功和有效地提供一解决方案,不只提供一种感应测试装置和用于微波探测器的测试方法,同时还增加了所述感应测试装置和用于微波探测器的测试方法的实用性和可靠性。
为了实现上述至少一发明目的或其他目的和优点,本发明提供了一种用于微波探测器的测试方法,包括步骤:
降低该微波探测器的探测灵敏度,以使该微波探测器在非最大感应范围下工作;
测量该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的有效探测距离;以及
根据一预设换算模型,将所测量的所述有效探测距离换算成该微波探测器的最大探测距离。
在本发明的一实施例中,所述的用于微波探测器的测试方法,还包括步骤:
比较所换算成的该微波探测器的该最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,在所述比较所换算成的该微波探测器的该最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断该微波探测器是否合格:
如果该最大探测距离大于或等于该测试标准距离时,判定该微波探测器合格;和
如果该最大探测距离小于该测试标准距离时,判定该微波探测器不合格。
在本发明的一实施例中,所述测量该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的有效探测距离的步骤,包括步骤:
藉由一感应测试装置的一测试控制单元,控制以调节该感应测试装置的一运动反射器与该微波探测器之间的距离;和
当该微波探测器恰好探测到该运动反射器运动时,藉由该感应测试装置的一距离测量单元,测量该微波探测器和该运动反射器之间的距离,以获得该微波探测器的该有效探测距离。
在本发明的一实施例中,所述感应测试装置的一吸波隔离单元用于隔离外界对该微波探测器的测试产生干扰。
根据本发明的另一方面,本发明进一步提供了一种感应测试装置,用于测试一微波探测器,其中所述感应测试装置包括:
一测试控制单元,其中所述测试控制单元用于监测该微波探测器;
一运动反射器,其中所述运动反射器与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下进行运动,并将来自该微波探测器发射的微波反射回该微波探测器;以及
一吸波隔离单元,其中所述吸波隔离单元被设置以对该微波探测器所在的区域进行微波隔离,用于隔离外界对该微波探测器的测试产生干扰。
在本发明的一实施例中,所述吸波隔离单元包括至少一吸波墙,其中所述吸波墙由角锥吸波材料制成。
在本发明的一实施例中,所述吸波墙的所述角锥吸波材料选自由电阻耗损型吸波材料、介质耗损型吸波材料和磁损耗型吸波材料所组成的组中一种或多种。
在本发明的一实施例中,所述吸波墙包围住该微波探测器所处的测试区域,以将所述测试区域隔离成独立区域。
在本发明的一实施例中,所述测试控制单元位于所述测试区域之外,以通过所述吸波墙将所述测试控制单元所在的区域与该微波探测器所在的区域进行微波隔离。
在本发明的一实施例中,所述运动反射器为一平移式反射器或一旋转式反射器。
在本发明的一实施例中,所述运动反射器为一摇摆式反射器。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一提醒单元,其中所述提醒单元与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,提醒测试人员该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,所述提醒单元包括一指示灯,用于在所述测试控制单元的控制下,通过灯光来视觉地提醒该测试人员该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,所述提醒单元还包括一发声装置,用于在所述测试控制单元的控制下,通过声音来听觉地提醒该测试人员该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,所述提醒单元还包括一显示设备,其中所述显示设备与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,通过显示文字或图像来视觉地提醒该测试人员该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一测试平台单元,其中所述测试平台单元与所述测试控制单元可通信地连接,并且所述测试平台单元适于可通信地安装该微波探测器,以使该微波探测器在所述测试平台单元上被测试。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一固定作业台、一旋转式作业台、一循环式作业台或一往复式作业台。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一距离测量单元,其中所述距离测量单元用于测量该微波探测器与该运动反射器之间的距离,以获得该微波探测器的有效探测距离。
在本发明的一实施例中,所述测试控制单元包括一上电控制模块、一监测模块以及一运动控制模块,其中所述上电控制模块用于向该微波探测器发送上电信号,以控制该微波探测器的上电操作;其中所述监测模块用于检测该微波探测器的探测情况,以获得监测结果;其中所述运动控制模块与所述运动反射器可通信地连接,用于控制所述运动反射器的运动。
在本发明的一实施例中,所述测试控制单元还包括相互可通信地连接的一灵敏度控制模块和一距离换算模块,其中所述灵敏度控制模块用于控制该微波探测器的探测灵敏度,以使该微波探测器在非最大感应范围下工作,以通过所述距离测量单元测量出该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的所述有效探测距离;其中所述距离换算模块与所述距离测量单元可通信地连接,用于根据一预设换算模型,将该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的所述有效探测距离换算成该微波探测器的最大探测距离。
在本发明的一实施例中,所述测试控制单元还包括一比较模块,其中所述比较模块与所述距离换算模块可通信地连接,用于比较所换算成的该微波探测器的该最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断该微波探测器是否合格。
在本发明的一实施例中,所述预设换算模型为该微波探测器的有效探测距离与该微波探测器的探测灵敏度之间的比例关系。
根据本发明的另一方面,本发明进一步提供了一种运动反射器,用于反射经由一微波探测器发射的微波,其中所述运动反射器包括:
一驱动机构;和
至少一反射头,其中所述发射头耦接于所述驱动机构,以通过所述驱动机构驱动所述反射头相对于该微波探测器进行移动,其中所述反射头用于在移动的同时,将来自该微波探测器的微波反射回该微波探测器,以使该微波探测器接收和发射的微波产生频差。
在本发明的一实施例中,所述驱动机构为一压力驱动机构,所述反射头为由金属材料制成的一金属反射头,其中所述金属反射头被设置于所述压力驱动机构的一驱动端,以通过所述压力驱动机构驱动所述金属反射头进行平移,使得所述运动反射器为一平移式反射器。
在本发明的一实施例中,所述驱动机构为一电机驱动机构,所述反射头为由金属材料制成的一金属反射头,其中每所述金属反射头被设置于所述电机驱动机构的一驱动端,以通过所述电机驱动机构驱动所述金属反射头进行旋转,使得所述运动反射器为一旋转式反射器。
在本发明的一实施例中,所述旋转式反射器的所述电机驱动机构包括一电机和至少一旋转臂,其中每所述旋转臂自所述电机的转轴径向地向外延伸,并且每所述金属反射头被对应地设置于所述旋转臂的自由末端,其中所述金属反射头在所述电机的作用下,被所述旋转臂带动以绕着所述电机的转轴旋转。
在本发明的一实施例中,所述旋转式反射器包括四个所述旋转臂和四个所述金属反射头,其中所述旋转臂自所述电机的所述转轴对称地向外延伸,以形成十字架结构,其中所述金属反射头分别被对应地设置于所述旋转臂的所述自由末端。
在本发明的一实施例中,所述金属反射头具有一呈三角锥形的反射腔,以通过所述金属反射头的所述反射腔的侧壁反射微波。
在本发明的一实施例中,所述金属反射头的所述反射腔具有顶角呈直角的正三角锥形结构,以将经由该微波探测器发射的微波原路反射回该微波探测器。
在本发明的一实施例中,所述金属反射头包括三金属板,其中每所述金属板具有三角形结构,并且各所述金属板的其中一个角依次相连,以形成所述金属反射头的所述反射腔。
根据本发明的另一方面,本发明进一步提供了一种感应测试装置,用于测试一微波探测器,其中所述感应测试装置包括:
一测试控制单元,其中所述测试控制单元用于监测该微波探测器;和
上述任一所述的运动反射器,其中所述运动反射器包括一驱动机构和至少一与所述驱动机构耦接的反射头,其中所述驱动机构与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,驱动所述反射头相对于该微波探测器进行移动。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一吸波隔离单元,其中所述吸波隔离单元被设置以对该微波探测器所在的区域进行微波隔离,用于隔离外界对该微波探测器产生干扰。
在本发明的一实施例中,所述吸波隔离单元包括至少一吸波墙,其中所述吸波墙由角锥吸波材料制成,其中所述运动反射器被设置于所述吸波墙的顶部。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一提醒单元,其中所述提醒单元与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,提醒测试人员该微波探测器是否合格。
根据本发明的另一方面,本发明进一步提供了一种感应测试装置,用于测试一微波探测器,其中所述感应测试装置包括:
一测试平台单元,其中所述测试平台单元适于可通信地安装该微波探测器;
一测试控制单元,其中所述测试控制单元与所述测试平台单元可通信地连接,以使所述测试控制单元与被安装于所述测试平台单元的该微波探测器可通信地连接,用于监测该微波探测器;
一运动反射器,其中所述运动反射器包括一驱动机构和至少一与所述驱动机构耦接的反射头,其中所述驱动机构与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,驱动所述反射头相对于该微波探测器进行移动。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一固定作业台,其中所述固定作业台用于定位地安装该微波探测器,以保证所述运动反射器的所述驱动机构与该微波探测器之间距离恒定。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一平移式作业台,其中所述平移式作业台与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,自动地平移被安装于所述平移式作业台的该微波探测器,以调节所述运动反射器的所述驱动机构与该微波探测器之间距离。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一吸波隔离单元,其中所述吸波隔离单元被设置以对该微波探测器所在的区域进行微波隔离,用于隔离外界对该微波探测器产生干扰。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一吸波隔离单元,其中所述吸波隔离单元被设置以隔离出单独的测试区域。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一旋转式作业台,其中所述旋转式作业台呈环形结构,用于环形地运输被安装其上的该微波探测器,其中所述旋转式作业台的一部分处于所述测试区域之内,并且所述旋转式作业台的另一部分处于所述测试区域之外。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一循环式作业台,其中所述循环式作业台具有一上游端部、一下游端部以及一位于所述上游端部和所述下游端部之间的中间测试部,其中所述循环式作业台的所述上游端部和所述下游端部均位于所述测试区域之内,并且所述循环式作业台的所述中间测试部位于所述测试区域之内,其中所述循环式作业台用于将该微波探测器从所述上游端部经由所述中间测试部循环地运输至所述下游端部。
在本发明的一实施例中,所述测试平台单元为一往复式作业台,其中所述往复式作业台呈直线型结构,并且所述往复式作业台具有一位于所述测试区域之外的更换端和一位于所述测试区域之内的测试端,其中所述往复式作业台用于将该微波探测器在所述更换端和所述测试端之间往复地运输。
在本发明的一实施例中,所述吸波隔离单元包括至少一吸波墙,其中所述吸波墙由角锥吸波材料制成,以通过所述吸波墙包围所述测试区域。
在本发明的一实施例中,所述运动反射器为一平移式反射器或一旋转式反射器。
在本发明的一实施例中,所述的感应测试装置,还包括一提醒单元,其中所述提醒单元与所述测试控制单元可通信地连接,用于在所述测试控制单元的控制下,提醒测试人员该微波探测器是否合格。
通过对随后的描述和附图的理解,本发明进一步的目的和优势将得以充分体现。
本发明的这些和其它目的、特点和优势,通过下述的详细说明,附图和权利要求得以充分体现。
附图说明
图1是根据本发明的一第一实施例的一种感应测试装置的框图示意图。
图2示出了根据本发明的上述第一实施例的所述感应测试装置的一平移式反射器的结构示意图。
图3示出了根据本发明的上述第一实施例的所述感应测试装置的测试场景之一的立体示意图。
图4示出了根据本发明的上述第一实施例的所述感应测试装置的一个变形实施方式。
图5是根据本发明的一第二实施例的一种感应测试装置的框图示意图。
图6示出了根据本发明的上述第二实施例的所述感应测试装置的一旋转式反射器的结构示意图。
图7示出了根据本发明的上述第二实施例的所述感应测试装置的测试场景的立体示意图。
图8是根据本发明的一第三实施例的一种感应测试装置的测试场景的立体示意图。
图9是根据本发明的所述第三实施例的所述感应测试装置的第一变形实施方式。
图10是根据本发明的所述第三实施例的所述感应测试装置的第二变形实施方式。
图11是根据本发明的一实施例的所述感应测试装置的一运动反射器的另一可选实施方式。
图12是根据本发明的一第四实施例的一种感应测试装置的框图示意图。
图13示出了根据本发明的一实施例的一种用于微波探测器的测试方法的流程示意图。
具体实施方式
以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例,本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。
本领域技术人员应理解的是,在本发明的揭露中,术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系,其仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此上述术语不能理解为对本发明的限制。
在本发明中,权利要求和说明书中术语“一”应理解为“一个或多个”,即在一个实施例,一个元件的数量可以为一个,而在另外的实施例中,该元件的数量可以为多个。除非在本发明的揭露中明确示意该元件的数量只有一个,否则术语“一”并不能理解为唯一或单一,术语“一”不能理解为对数量的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,属于“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或者暗示相对重要性。本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,属于“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接或者一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接连接,也可以是通过媒介间接连结。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
随着科学技术的飞速发展,智能控制也逐渐在各行各业得到广泛地应用。微波感应器作为智能控制中的核心部件之一,主要通过微波来检测/探测周边环境是否存在人体活动或人体活动的类型,其质量的好坏将直接决定着智能控制的有效性和可靠性的高低。因此,在微波感应器出厂前,均需要进行专门的性能测试,以确定其质量是否合格。然而,由于微波的穿透能力较强、且易于被金属物体或人体反射,因此传统的测试过程通常需要一个空旷场地,并且禁止无关人员或动物在该场地内走动,以免对测试结果产生干扰。但因为测试人员需要手动操作各种测试设备、记录测试结果,所以传统的测试过程将不可避免地受到测试人员移动的干扰,导致测试结果容易出现偏差或错误。
为了解决上述问题,参考附图1至图3所示,根据本发明的一第一实施例的一种感应测试装置被阐明,其能够降低其他运动物体对测试结果的影响或干扰,有助于提高对微波探测器进行测试的准确性。具体地,如图1所示,所述感应测试装置10用于测试一微波探测器20,其中所述感应测试装置10包括一测试控制单元11、一运动反射器12以及一吸波隔离单元13,其中所述测试控制单元11适于与所述运动反射器12和所述微波探测器20可通信地连接,用于控制所述运动反射器12的运动,并且监测所述微波探测器20;其中所述运动反射器12用于将经由所述微波探测器20发射的微波反射回所述微波探测器20,使得所述微波探测器20能够用来探测所述运动反射器12的运动,以生成探测信号。可以理解的是,当所述测试控制单元11监测到所述微波探测器20生成所述探测信号时,则表明所述微波探测器20能够正常工作(如质量合格);而当所述测试控制单元11监测到所述微波探测器20无法生成所述探测信号时,则表明所述微波探测器20不能正常工作(如质量不合格或不良)。
特别地,如图3所示,所述吸波隔离单元13被设置以对所述微波探测器20所在的区域进行微波隔离,用于隔离外界对所述微波探测器20产生干扰。换言之,所述吸波隔离单元13用于减少反射,以隔离外界干扰,使得所述微波探测器20能够在不受外界干扰的情况下工作,有助于提高所述感应测试装置10的测试准确性。
示例性地,所述吸波隔离单元13被设置于所述测试控制单元11和所述运动反射器12之间,并且所述运动反射器12与所述微波探测器20位于所述吸波隔离单元13的同一侧。其中所述吸波隔离单元13用于吸收微波以防止微波的穿透或反射,以将所述测试控制单元11所在的区域(以下简称:控制区域100)与所述运动反射器12和所述微波探测器20所在的区域(以下简称:测试区域200)进行微波隔离,也就是说,所述控制区域100和所述测试区域200分别位于所述吸波隔离单元13的相对两侧,从而能够有效地避免测试人员在操作所述测试控制单元11时对所述微波探测器20的测试产生干扰。可以理解的是,在本发明的其他示例中,所述运动反射器12也可以处于所述测试区域200之外,只需将所述微波探测器20发射的微波反射回所述微波探测器20即可。
此外,如图1所示,所述运动反射器12可以包括一驱动机构1201和至少一反射头1202,其中所述驱动机构1201与所述至少一反射头1202耦接,其中所述驱动机构1201与所述测试控制单元11可通信地连接,用于在所述测试控制单元11的控制下,驱动所述反射头1202相对于所述微波探测器20进行移动,其中所述反射头1202用于在移动的同时将来自所述微波探测器20的微波反射回所述微波探测器20,使得所述微波探测器20所接收到的微波与发射的微波之间产生频差(即多普勒效应),从而通过所述微波探测器20探测到所述反射头1202的运动。当然,在本发明的其他示例中,所述驱动机构1201也可以不与所述测试控制单元11可通信地连接,以自发地驱动所述反射头1202进行移动。
值得注意的是,在本发明的所述第一实施例中,如图3所示,所述吸波隔离单元13可以但不限于包括至少一吸波材料制成的吸波墙131,以通过所述吸波墙131将所述控制区域100与所述测试区域200隔离开来,以防止所述微波探测器20发射的微波穿透所述吸波墙131以到达所述控制区域100,进而防止被位于所述控制区域100的测试人员反射回所述测试区域200以干扰对所述微波探测器20的测试结果。与此同时,所述吸波墙131因吸收微波而避免将所述微波探测器20发射的微波反射回所述测试区域200,以防干扰对所述微波探测器20的测试结果。
优选地,如图3所示,所述吸波隔离单元13被实施为四面所述吸波墙131,其中所述吸波墙131包围在所述测试区域200的四周,以将所述测试区域200隔离成独立的区域,使得所述微波探测器20发射的微波不会因穿透所述吸波墙131而传播至所述测试区域200之外的其他区域,也不会被所述吸波墙131反射。这样不仅能够彻底避免处于所述测试区域200之外的人或物体对所述微波探测器20的测试产生干扰,而且还能够因在所述测试区域200之外布置作业设备而有利于提高空间利用率。
进一步地,所述吸波墙131具有角锥结构(即由角锥吸波材料制成),以提升所述吸波墙131的吸波能力,进而最大限度地吸收传播至所述吸波墙131上的微波。值得注意的是,所述吸波墙131的吸波材料可以但不限于选自由电阻损耗型、介质损耗型和磁损耗型吸波材料组成的组中的一种或多种。可以理解的是,本发明的所述吸波墙131的尺寸(诸如高度、厚度、长度等等)可以根据所述测试区域200的大小以及所述微波探测器20的探测距离进行设计。
示例性地,如图3所示,四面所述吸波墙131分别设置于所述测试区域200的四边,以将所述测试区域200围成独立的长方体空间,也就是说,所述吸波墙131包围住所述运动反射器12和所述微波探测单元20所处的测试区域200。换言之,所述测试区域200位于所述吸波墙131的内侧以被所述吸波墙131包围,以被隔离成独立区域;所述控制区域100位于所述吸波墙131的外侧,以与所述测试区域200相隔离。特别地,所述运动反射器12和所述微波探测器20分别位于所述测试区域200内相距较远的位置,例如:当所述运动反射器12被设置于某一所述吸波墙131的顶部时,所述微波探测器20被设置于相对的所述吸波墙131的底部,以使所述运动反射器12与所述微波探测器20之间的实际距离大于两个所述吸波墙131之间的水平距离,有助于提高所述测试区域200的空间利用率。
值得注意的是,大部分厂家在测试微波探测器时,通常先将所述微波探测器挂设在一个升降杆上,并设置与所述微波探测器相匹配的灯,在通过升降杆将微波探测器拉升之后,再通过所述微波探测器竖向地发射微波,测试人员在微波探测器下方走动,如果探测到人员走动则灯亮,以表明该微波探测器质量合格;反之灯不亮,表明该微波探测器不合格。这样,每测试完一个微波探测器之后,都需要将升降杆降下以更换待测的微波探测器,导致测试工序复杂且费时费力。此外,由于所述微波探测器20竖向地向下发射微波,因此在测试过程中,所述微波探测器20下方的一大片区域内存在任何的走动或物体移动都将干扰微波探测器的测试结果,常常导致测试结果不准确。而正是由于所述测试区域200被所述吸波墙131隔离,使得所述微波探测器20能够沿水平方向发射微波而不必担心吸波墙131外侧的人员走动对所述微波探测器20的测试结果产生干扰,因此本发明的所述感应测试装置10不必像传统的测试装置那样,先将所述微波探测器20提升至高空中,有利于大幅简化所述微波探测器20的测试工艺,省时省力。
值得一提的是,在本发明的所述第一实施例中,如图2和图3所示,所述感应探测装置10的所述运动反射器12可以但不限于被实施为一平移式反射器121,用于模拟平移运动(或线性运动)的物体以靠近或远离所述微波探测器20,以便测试所述微波探测器20对平移运动物体的探测效果。
优选地,如图2所示,所述平移式反射器121包括一压力驱动机构1211和一金属反射头1212,其中所述金属反射头1212被设置于所述压力驱动机构1211的一驱动端,以通过所述压力驱动机构1211驱动所述金属反射头1212平移,使得所述金属反射头1212靠近或远离所述微波探测器20。可以理解的是,所述平移式反射器121也可以包括诸如电力驱动、气力驱动或磁力驱动等等其他类型的驱动机构,只要能够驱动所述金属反射头1212做线性运动即可,例如藉由采用电力驱动的电动直线马达或步进电机实现往复平移驱动。特别地,所述压力驱动机构1211被设置为藉由气压或液压的压力驱动实现对所述金属反射头1212的往复平移驱动,如所述压力驱动机构1211被设置为采用液压驱动的液压驱动机构或采用气压驱动的气缸驱动机构。此外,所述平移式反射器121的反射头也可以由其他能够反射微波的材料制成,只要能够反射所述微波探测器20发射的微波即可,本发明对此不作限制。
换言之,所述运动反射器12的所述驱动机构1201被实施为所述压力驱动机构1211,并且所述运动反射器12的所述反射头1202被实施为所述金属反射头1212,其中所述金属反射头1212被设置于所述压力驱动机构1211的一驱动端,以通过所述压力驱动机构1211驱动所述金属反射头1212平移,以使所述运动反射器12被实施为所述平移式反射器121。
更优选地,如图2所示,所述金属反射头1212具有一呈三角锥形的反射腔1210,以通过所述金属反射头1212的所述反射腔1210的侧壁反射微波,提升所述金属反射头1212的反射能力。特别地,所述金属反射头1212的所述反射腔1210具有顶角呈直角的正三角锥形结构,以将经由所述微波探测器20发射的微波沿原路反射回所述微波探测器20,便于最大限度地提升所述金属反射头1212的反射能力。示例性地,所述金属反射头1212包括三块具有三角形结构的金属板,其中各所述金属板的其中一个角依次相连,以在所述金属反射头1212上形成顶角呈三角锥形结构的所述反射腔1210。
值得注意的是,在本发明的上述第一实施例中,所述平移式反射器121的所述金属反射头1212在所述微波探测器20的测试标准距离处运动,以测试所述微波探测器20的探测距离是否能够达到所述测试标准距离,如果能够达到,则认定所述微波探测器20合格,如果不能达到,则认定所述微波探测器20不合格。可以理解的是,所述微波探测器20的测试标准距离可以根据相关标准的规定进行选择,本发明对此不作限制。
值得一提的是,在本发明的上述第一实施例中,如图1和图3所示,所述感应测试装置10还可以包括一提醒单元14,其中所述提醒单元14与所述测试控制单元11可通信地连接,用于在所述测试控制单元11的控制下,提醒测试人员所述微波探测器20是否合格,以便测试人员及时掌握测试结果。
优选地,如图3所示,所述提醒单元14可以但不限于包括一指示灯141,其中所述指示灯141与所述测试控制单元11可通信地连接,用于在所述测试控制单元11的控制下,通过灯光来视觉地提醒测试人员所述微波探测器20是否合格。例如,当所述微波探测器20在测试标准距离处探测到所述运动反射器12运动时,所述指示灯141被控制发光,以提醒测试人员所述微波探测器20属于合格品;而当所述微波探测器20在测试标准距离处无法探测到所述运动反射器12运动时,所述指示灯141被控制不发光(或熄灭),以提醒测试人员所述微波探测器20所述微波探测器20属于不合格品。当然,在本发明的其他示例中,所述提醒单元14可以包括多个具有不同颜色的所述指示灯(例如红灯、绿灯),以通过发出不同颜色的灯光来提醒测试人员所述微波探测器20是否合格。
进一步地,如图3所示,所述提醒单元14还可以包括一发声装置142,例如但不限于被设置为扬声器或蜂鸣器的所述发声装置142,其中所述发声装置142与所述测试控制单元11可通信地连接,用于在所述测试控制单元11的控制下,通过声音来听觉地提醒用户所述微波探测器20的探测结果。例如,当所述微波探测器20在测试标准距离处探测到所述运动反射器12的运动时,所述发声装置142被控制以发出“合格”或代表“合格”的声音提醒;当所述微波探测器20在测试标准距离处无法探测到所述运动反射器12的运动时,所述发声装置142被控制以发出“不合格”或代表“不合格”声音提醒。可以理解的是,所述发声装置142可以单独使用,也可以与所述指示灯141配合使用,以便视觉地且听觉地提醒测试人员,确保测试人员能够清晰地得到准确的测试结果。
值得注意的是,在本发明的其他示例中,所述所述提醒单元14还可以包括诸如触摸屏、LED屏等等之类的显示设备(图中未示出),其中所述显示设备与所述测试控制单元11可通信地连接,用于在所述测试控制单元11的控制下,通过诸如文字、影像等来视觉地提醒用户所述微波探测器20的测试结果(如合格或不合格)。当然,在本发明的一些示例中,所述提醒单元14的所述显示设备可以单独使用,也可以分别与所述指示灯141或所述发声装置142配合使用,本发明对此不作进一步限制。
值得一提的是,如图1和图3所示,本发明的所述第一实施例的所述感应测试装置10还可以包括一测试平台单元15,其中所述测试平台单元15与所述测试控制单元11可通信地连接,并且所述测试平台单元15适于可通信地安装所述微波探测器20,以通过所述测试平台单元15将所述微波探测器20与所述测试平台单元15可通信地连接。这样,在测试所述微波探测器20时,只需将所述微波探测器20安装于所述测试平台单元15,就可以实现所述微波探测器20与所述测试控制单元11的可通信地连接。
优选地,如图3所示,所述测试平台单元15被实施为一固定作业台151,用于定位地安装所述微波探测器20,当所述微波探测器20被安装至所述固定作业台151时,所述微波探测器20所处的位置与所述平移反射器121所安装的位置之间的距离保持恒定,以便根据所述平移反射器121的所述金属反射头1212的平移距离,方便地计算出所述金属反射头1212与所述微波探测器20之间的实际距离。
根据本发明的上述第一实施例,如图1所示,所述感应测试装置10的所述测试控制单元11可以但不限于包括一上电控制模块111、一监测模块112、以及一运动控制模块113,其中所述上电控制模块111适于与所述微波探测器20可通信地连接,用于向所述微波探测器20发送上电信号,以控制所述微波探测器20的上电操作,使得所述微波探测器20开始工作;其中所述监测模块112适于与所述微波探测器20可通信地连接,用于监测所述微波探测器20的探测情况,以获得监测结果;其中所述运动控制模块113与所述运动反射器12可通信地连接,用于控制所述运动反射器12的运动。
进一步地,如图1所示,所述测试控制单元11还可以包括一提醒控制模块114,其中所述提醒控制模块114分别与所述监测模块112和所述提醒单元14可通信地连接,用于基于所述监测结果,发出提醒信息。
更进一步地,如图1所示,所述测试控制单元11还可以包括一错误分析模块115,其中所述错误分析模块115与所述监测模块112可通信地连接,用于分析经由所述监测模块112监测到的所述监测结果,以在测试出错时迅速地确定错误位置,便于及时纠错或后续维修。示例性地,当所述监测结果为所述微波探测器20为不合格品时,所述错误分析模块115首先分析所述微波探测器20是否能正常发送微波,如果不能正常发送微波,则给出错误分析结果为所述微波探测器20的微波发射部件出现问题;如果能够正常发送微波,再分析所述微波探测器20是否能正常接收微波,如果不能接收微波,则给出错误分析结果为所述微波探测器20的微波接收部件出现问题;如果能够正常接收微波,则给出错误分析结果为所述微波探测器20的频差信号处理部件出现问题,以便测试人员根据具体的错误分析结果来快速排查出错位置,降低维修成本,避免因某些小错误而导致整个产品报废。
值得注意的是,对于不同型号的所述微波探测器20,其有效探测距离通常也不相同,甚至对于相同型号的不同微波探测器,其有效探测距离也会有所差异。因此,为了测试所述微波探测器20的有效探测距离时,本发明进一步提供了根据本发明的上述第一实施例的所述感应测试装置10的一个变形实施方式,如图4所示,其中所述感应测试装置10还可以包括一距离测量单元16,其中所述距离测量单元16用于测量所述微波探测器20和所述平移式反射器121的所述金属反射头1212之间的距离,其中当所述平移式反射器121的所述金属反射头1212被平移,以改变所述金属反射头1212与所述微波探测器20之间的距离,使得所述微波探测器20刚好能够探测到所述金属反射头1212的移动时,通过所述感应测试装置10的所述距离测量单元16测量出所述金属反射头1212与所述微波探测器20之间的距离,以获得所述微波探测器20的有效探测距离。可以理解的是,在本发明的这个实施例中,所述微波探测器20的有效探测距离可以但不限于被实施为所述微波探测器20的最大探测距离,也就是说,所述微波探测器20的有效探测距离可以为所述微波探测器20在最大感应范围下工作且能够探测到物体运动的情况下所述微波探测器20与所述金属反射头1212之间的最大距离。
值得注意的是,所述距离测量单元16可以但不限于被实施为一激光测距仪,用于准确地测量所述微波探测器20与所述金属反射器121之间的距离。当然,在本发明的其他示例中,所述距离测量单元16也可以被实施为诸如卷尺或直尺等其他类型的测距仪器。特别地,在本发明的一些示例中,所述感应测试装置10的所述距离测量单元16也可以被实施为所述微波探测器20中的测距部件,以通过所述微波探测器20自身来测量所述微波探测器20与所述金属反射器121之间的距离,以获得所述微波探测器20的有效探测距离。
进一步地,在本发明的这个变形实施方式中,由于所述平移式反射器121的所述金属反射头1212可以平移,以改变其与所述微波探测器20的距离,因此本发明的所述感应测试装置10就可以通过平移所述金属反射头1212,测试出所述微波探测器20的有效探测距离,进而通过比较所述微波探测器20的所述有效探测距离与所述测试标准距离之间的大小,来判断所述微波探测器20是否合格。
具体地,如图4所示,所述感应测试装置10的所述测试控制单元11还可以包括一比较模块116,其中所述比较模块116与所述距离测量单元16可通信地连接,用于比较所述微波探测器20的有效探测距离与测试标准距离之间的大小,以判断所述微波探测器20是否合格。例如,当所述微波探测器20的有效探测距离大于或等于测试标准距离时,则认定所述微波探测器20属于合格品;当所述微波探测器20的有效探测距离小于所述测试标准距离时,则认定所述微波探测器20属于不合格品或不良品。当然,在本发明的其他示例中,所述微波探测器20是否合格的判断还可以选择其他参数作为测试标准,本发明对此不再赘述。
附图5至图7示出了根据本发明的一第二实施例的所述感应测试装置,用于对微波探测器20进行测试。具体地,如图5和图7所示,相比于根据本发明的上述第一实施例,根据本发明的所述第二实施例的所述感应测试装置10A的区别在于:所述感应测试装置10A的所述运动反射器12A被实施为一旋转式反射器121A,用于模拟旋转运动(或非线性运动)的物体对微波的反射效果,以便测试所述微波探测器20对旋转运动物体的探测效果。
优选地,如图6所示,所述旋转式反射器121A包括一电机驱动机构1211A和至少一金属反射头1212,其中所述金属反射头1212被设置于所述电机驱动机构1211A的一驱动端,以通过所述电机驱动机构1211A驱动所述金属反射头1212旋转,使得所述金属反射头1212在所述微波探测器20的有效探测范围内做旋转运动。可以理解的是,所述旋转式反射器121A也可以包括诸如液压驱动、气力驱动或磁力驱动等等其他类型的驱动机构,只要能够驱动所述金属反射头1212做旋转运动即可。换言之,在本发明的这个实施例中,所述运动反射器12的所述驱动机构1201被实施为所述电机驱动机构1211A,所述运动反射器12的所述反射头1202被实施为由金属材料制成的所述金属反射头1212,其中所述金属反射头1212被设置于所述电机驱动机构1211A的一驱动端,使得所述运动反射器12被实施为所述旋转反射器121A。
更优选地,如图6所示,所述电机驱动机构1211A包括一电机12111A和至少一旋转臂12112A,其中每所述旋转臂12112A自所述电机12111A的转轴径向地向外延伸,其中每所述金属反射头1212被对应地设置于每所述旋转臂12112A的自由末端,其中所述金属反射头1212在所述电机的作用下被所述旋转臂12112A带动以绕着所述电机12111A的所述转轴转动,从而实现所述金属反射头1212的旋转运动。特别地,所述金属反射头1212的所述反射腔1210的开口向外,并朝向所述电机12111A的转轴的径向方向,以将经由所述微波探测器20发射的微波沿原路反射回所述微波探测器20。
示例性地,如图6和图7所示,所述电机驱动机构1211A包括一个所述电机12111A和四个所述旋转臂12112A,其中四个所述旋转臂12112A自所述电机12111A的转轴对称地且径向地向外延伸,以形成十字架结构。四个所述金属反射头1212分别被设置于四个所述旋转臂12112A的末端,以使任意相邻的两个所述金属反射头1212之间的间距相等,以便确保所述金属反射头1212被旋转时,始终存在一个所述金属反射头1212能够将经由所述微波探测器20发射的微波沿原路反射回所述微波探测器20,进而保证所述感应测试装置10能够时刻处于正常工作的状态。
值得一提的是,在本发明的所述第二实施例中,如图5和图7所示,所述感应测试装置10A的所述测试平台单元15A可以被实施为一平移式作业台151A,其中所述平移式作业台151A除了用于将被安装其上的所述微波探测器20与所述测试控制单元11A可通信地连接之外,还用于平移所述微波探测器20,以改变所述微波探测器20与所述旋转式反射器121A之间的距离。这样,虽然所述旋转式反射器121A的所述金属反射头1212不能大幅地靠近或远离所述微波探测器20,但是在所述平移式作业台151A的作用下,所述微波探测器20能够主动地靠近或远离所述微波探测器20,有助于测量出所述微波探测器20的有效探测距离。
优选地,所述平移式作业台151A可以根据所述微波探测器20的实际需求,自定义调整所述微波探测器20的位置,以改变所述微波探测器20与所述旋转式反射器121A之间的距离。例如,所述平移式作业台151A可以根据所述微波探测器20的测试标准距离,调整所述微波探测器20的位置,以使所述微波探测器20与所述旋转式反射器121A的所述金属反射头1212之间的距离等于所述测试标准距离。这样如果所述微波探测器20能够探测到所述金属反射头1212的运动,则表明所述微波探测器20是合格品;如果所述微波探测器20不能探测到所述金属反射头1212的运动,则表明所述微波他侧器20是不合格品。
更优选地,如图5所示,所述感应测试装置10A的所述测试控制单元11A还可以包括一平台控制模块117A,其中所述平台控制模块117A与所述平移式作业台151A可通信地连接,用于控制所述平移式作业台151A自动地平移所述微波探测器20,以便自动地调整所述微波探测器20与所述旋转式反射器121A之间的距离。这样,测试人员在不需要进入所述测试区域200的情况下,就能够操作以调节所述微波探测器20的位置,有助于解放劳动力,降低测试成本。
值得注意的是,虽然本发明的上述第一和第二实施例的所述感应测试装置10、10A在一定程度上实现了自动化,提高了工作效率,降低了测试成本,但每测完一个所述微波探测器20之后,都需要测试人员进入所述测试区域200以更换新的所述微波探测器20,也就是说,测试人员需要不断地进入所述测试区域200以逐次更换待测试的微波探测器,而一旦测试人员进入所述测试区域200,则所有的测试工作都需要停止(以防测试人员对测试结果产生干扰),这就需要耗费大量的劳动力和时间。为了解决上述问题,本发明进一步提供了一种感应测试装置,使得测试人员不需要进入所述测试区域200,就能够更换所述微波探测器20,以避免测试人员进入所述测试区域200而对测试结果产生干扰。
具体地,参考附图8所示,根据本发明的一第三实施例的一种感应测试装置10B被阐明。相比于根据本发明的上述第一实施例,根据本发明的所述第三实施例的所述感应测试装置10B的不同之处在于:如图8所示,所述感应测试装置10B的所述测试平台单元15B被实施为一旋转式作业台151B,其中所述旋转式作业台151B呈环形结构,以环形地运输被安装其上的所述微波探测器20,其中所述旋转式作业台151B的一部分位于所述吸波墙131的内侧(即处于所述测试区域200之内),并且所述旋转式作业台151B的另一部分位于所述吸波墙131的外侧(即处于所述测试区域200之外),其中所述微波探测器20适于在所述测试区域200之外被安装至所述旋转式作业台151B,以通过所述旋转式作业台151B将所述微波探测器20环形地运输至所述测试区域200之内时,所述感应测试装置10B对所述微波探测器20进行测试。接着,所述微波探测器20被所述旋转式作业台151B运输至所述测试区域200之外,以在所述测试区域200之外更换待测的所述微波探测器20,进而实现流水线工作,以便大幅提高所述感应测试装置10B的测试效率。可以理解的是,所述旋转式作业台151B可以但不限于被实施为具有环形结构的自动化拉台,以便使所述感应测试装置10B融入其他流水线工作(如上游的生产流水线,或下游的包装流水线等等),有助于节省劳动力,提升工作效率。
示例性地,如图8所示,所述旋转式作业台151B围绕一面所述吸波墙131以环绕着所述吸波墙131旋转,并且所述旋转式作业台151B能够同时安装超过一个所述微波探测器20,使得所述旋转式作业台151B的一半位于所述吸波墙131的内侧,以便对位于所述吸波墙131的内侧的所述微波探测器20进行测试;与此同时,所述旋转式作业台151B的另一半位于所述吸波墙131的外侧,以便更换位于所述吸波墙131的外侧的所述微波探测器20。换言之,所述感应测试装置10B在对所述微波探测器20进行测试的同时,也能够更换新的所述微波探测器20,以缩短测试的整体时间,大幅地提升工作效率。
值得注意的是,在整个测试过程中,测试人员在不进入所述测试区域200的情况下,就能够更换所述微波探测器20,以防测试人员进入所述测试区域200而对测试结果产生干扰。此外,正是由于所述吸波墙131的存在,使得位于所述吸波墙131之外的测试人员不会对测试结果产生影响,因此在对一个所述微波探测器20进行测试的同时,测试人员能够随意更换另一个所述微波探测器20而不必担心因更换动作而对测试结果产生不利影响,有助于大幅提升所述感应测试装置10B的测试效率。
附图9示出了根据本发明的上述第三实施例的所述感应测试装置10B的第一变形实施方式,其中所述感应测试装置10B的所述测试平台单元15B可以包括一循环式作业台152B,其中所述循环式作业台152B呈直线型结构,并且所述循环式作业台152B具有一上游端部1521B、一下游端部1522B以及一位于所述上游端部1521B和所述下游端部1522B之间的中间测试部1523B,其中所述循环式作业台152B的所述上游端部1521B和所述下游端部1522B均位于所述测试区域200之外(即均位于所述吸波墙131的外侧),所述循环式作业台152B的所述中间测试部1523B位于所述测试区域200之内(即位于所述吸波墙131的内侧),其中所述循环式作业台152B进行循环地转动,以将所述微波探测器20从所述上游端部1521B经由所述中间测试部1523B循环地运输至所述下游端部1522B。
示例性地,如图9所示,所述循环式作业台152B的所述上游端部1521B适于安装来自上游工序的所述微波探测器20,当所述微波探测器20被所述循环式作业台152B由所述上游端部1521B运输至所述中间测试部1523B时,所述感应测试装置10B对所述微波探测器20进行测试,并在测试后通过所述循环式作业台152B将所述微波探测器20从所述中间测试部1523B运输至所述下游端部1522B,所述循环式作业台152B的所述下游端部1522B适于取下所述微波探测器20,以使所述微波探测器20进入下游程序。可以理解的是,所述循环式作业台152B可以但不限于被实施为一循环式皮带输送线,以连续不断地将所述微波探测器20由上游输送至下游,使得所述感应测试装置10B能够在输送的过程中对所述微波探测器20进行测试,以实现流水线工作。
附图10示出了根据本发明的上述第三实施例的所述感应测试装置10B的第二变形实施方式,其中所述感应测试装置10B的所述测试平台单元15B可以包括一往复式作业台153B,其中所述往复式作业台153B呈直线型结构,并且所述往复式作业台153B具有一更换端1531B和一测试端1532B,其中所述往复式作业台153B的所述更换端1531B位于所述测试区域200之外(即所述吸波墙131的外侧),并且所述往复式作业台153B的所述测试端1532B位于所述测试区域200之内(即所述吸波墙131的内侧),其中所述往复式作业台153B进行往复移动,以将所述微波探测器20在所述更换端1531B和所述测试端1532B之间往复地运输。
示例性地,如图10所示,所述往复式作业台153B的所述更换端1531B适于更换所述微波探测器20,所述往复式作业台153的所述测试端1532B适于进行所述微波探测器20的测试。这样,首先,在所述微波探测器20被安装至所述往复式作业台153B的所述更换端1531B之后,所述往复式作业台153B将所述微波探测器20从所述更换端1531B运输至所述测试端1532B,以进行所述微波探测器20的测试。接着,所述往复式作业台153B将所述微波探测器20从所述测试端1532B运输回所述更换端1531B,以在所述更换端1531B更换新的所述微波探测器20,如此往复,以实现流水线作业,有助于提高工作效率。
值得注意的是,在本发明的所述第二变形实施方式中,所述往复式作业台153B可以但不限于被实施为一往复式皮带输送线(图中未示出),以将所述微波探测器20在所述更换端1531B和所述测试端1532B之间往复地输送。当然,在本发明的其他示例中,所述往复式作业台153B也可以被实施为一往复式平移台,其中所述往复式平移台可以往复地进出所述测试区域200,当所述往复式平移台移动至所述测试区域200之外时,所述微波探测器20被更换地安装至所述往复式平移台;当所述往复式平移台移动至所述测试区域200之内时,对所述微波探测器20进行测试,如此往复,以实现流水线作业,有助于提升工作效率。
值得一提的是,虽然所述吸波墙131可以将所述测试区域200隔离成单独的区域,以防所述测试区域200之外的运动物体对所述微波探测器20的测试结果产生干扰,但是随着所述微波探测器20的有效探测距离增大,所述测试区域200的面积也随之变大,不仅占用较大的空间,而且需要更多的所述吸波墙131来隔离所述测试区域200,这将导致所述微波探测器20的测试成本急剧变大。因此,如何在有限的区域内测试探测距离较大的所述微波探测器20已经成为当下极其棘手的问题。
参考附图11,区别于所述平移式反射器121和所述旋转式反射器121A,根据本发明的一实施例的所述感应测试装置的一运动反射器12的另一可选实施方式方式被图示说明,其中所述运动反射器12被实施为一摇摆式反射器121B,所述摇摆式反射器121B包括一电机驱动机构1211B和所述金属反射头1212,具体地,所述电机驱动机构1211B包括一电机12111B,一驱动臂12112B,一摆臂12113B以及一联动臂12114B,其中所述驱动臂12112B的一端被固定于所述电机12111B的转轴而在所述电机12111B转动时被驱动,所述驱动臂12112B的另一端与所述联动臂12114B的一端被可枢转地连接,其中所述摆臂12113B的一端被可枢转地固定而具有与该端相对的一自由端121131B,同时所述联动臂12114B的另一端被可枢转地设置于所述摆臂12113B的两端之间,即所述联动臂12114B的两端分别被可枢转地设置于所述驱动臂12112B和所述摆臂12113B,特别地,所述驱动臂12112B的两端之间的距离小于所述摆臂12113B的与所述联动臂12114B枢转相连处至摆臂12113B的被可枢转地固定的一端的距离,如此以在所述电机12111B转动时,所述驱动臂12112B的与所述联动臂12114B枢转相连的一端做圆周运动而经所述联动臂12114B驱动所述摆臂12113B的所述自由端121131B摇摆运动,其中所述金属反射头1212被设置于所述摆臂12113B的所述自由端121131B,则所述金属反射头1212能够在所述电机12111B的驱动下做摇摆运动。
进一步地,所述联动臂12114B被可伸缩调节地设置,以允许调节所述联动臂12114B的长度地调节所述摆臂12113B的摇摆角度。
特别地,所述金属反射头1212于所述摆臂12113B的所述自由端121131B的设置方位并不限制,即通过改变所述金属反射头1212于所述自由端121131B的安装方位的方式改变所述反射腔1210的朝向,所述金属反射头1212能够在所述摆臂12113B摇摆时,相对于所述反射腔1210的朝向左右摇摆或前后摇摆,本发明对此并不限制。
参考附图12,根据本发明的一第四实施例的一种感应测试装置被阐明。具体地,相比于根据本发明的上述第一实施例,根据本发明的所述第四实施例的所述感应测试装置10C不同之处在于:如图12所示,所述感应测试装置10C的所述测试控制单元11C还可以包括一灵敏度控制模块118C和一距离换算模块119C,其中所述灵敏度控制模块118C适于与所述微波探测器20可通信地连接,用于控制所述微波探测器20的探测灵敏度,以降低所述微波探测器20的探测灵敏度,使得所述微波探测器20在非最大感应范围下工作,进而通过所述距离测量单元16测量出所述微波探测器20在所述非最大感应范围下工作的有效探测距离。所述距离换算模块119C与所述距离测量单元16和所述灵敏度控制模块118C可通信地连接,用于根据一预设换算模型,将所述微波探测器20在所述非最大感应范围下工作的有效探测距离换算成所述微波探测器20在最大感应范围下工作的有效探测距离(即所述微波探测器20的最大探测距离)。所述测试控制单元11C的所述比较模块116与所述距离换算模块119C可通信地连接,用于比较经由所述距离换算模块119C换算成的所述最大探测距离与所述微波探测器20的所述测试标准距离之间的大小,以判断所述微波探测器20是否合格。
值得注意的是,所述预设换算模型被实施为所述微波探测器20的有效探测距离与所述微波探测器20的探测灵敏度之间的比例关系。可以理解的是,所述预设换算模型可以通过理论推导而获得,也可以通过有限次实验而获得,本发明对此不作限制。例如,所述预设换算模型可以被实施为一线性换算模型或一非线性换算模型。
值得一提的是,由于所述微波探测器20的有效探测距离随着所述微波探测器20的探测灵敏度减小而变小,也就是说,所述微波探测器20的有效探测距离与所述微波探测器20的探测灵敏度呈正相关,因此当所述微波探测器20在较低的探测灵敏度(即非最大感应范围)下工作时,所述微波探测器20的有效探测距离将大幅地减小,使得本发明的所述感应测试装置10C能够在较小的测试区域200内完成所述微波探测器20的测试。
本领域技术人员应当理解,通过调节所述微波探测器20的探测灵敏度的方式,所述微波探测器20的有效探测距离能够被调节,而由于所述微波探测器20的发射功率并没有发生变化,所述微波探测器20的实际探测距离(即所述微波探测器20发射的微波所覆盖的区域大小)不会发生变化,因此,在本发明的一些实施例中,能够通过控制所述微波探测器20的发射功率的方式,调节所述微波探测器20的实际探测距离,并基于所述微波探测器20的实际探测距离与所述微波探测器20的发射功率之间的比例关系预设所述预设换算模型,进而将所述微波探测器20在非最大感应范围下工作的实际探测距离换算成所述微波探测器20在最大感应范围下工作的实际探测距离,本发明对此不作限制。
根据本发明的另一方面,本发明的一实施例进一步提供了一种用于微波探测器的测试方法。具体地,如图13所示,所述用于微波探测器的测试方法,包括步骤:
S410:降低所述微波探测器20的探测灵敏度,以使所述微波探测器20在非最大感应范围下工作;
S420:测量所述微波探测器20在所述非最大感应范围下工作时的有效探测距离;以及
S430:根据一预设换算模型,将所测量的所述有效探测距离换算成所述微波探测器20的最大探测距离。
值得注意的是,在本发明的这个实施例中,所述微波探测器20的有效探测距离被实施为所述微波探测器20在某一非最大感应范围下工作且探测到运动物体时的探测距离。
可以理解的是,可等效替换地,在所述步骤S410中,降低所述微波探测器的发射功率,以使所述微波探测器20在非最大感应范围下工作。也就是说,在所述步骤S410中,降低所述微波探测器20的探测距离,如通过降低所述微波探测器20的探测灵敏度的方式降低所述微波探测器20的有效探测距离,或通过降低所述微波探测器20的发射功率的方式降低所述微波探测器20的实际探测距离,从而使所述微波探测器20在非最大感应范围下工作。
进一步地,如图13所示,在本发明的所述实施例中,所述用于微波探测器的测试方法,还可以包括步骤:
S440:比较所述微波探测器20的所述最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断所述微波探测器20是否合格。
优选地,在本发明的所述步骤S440中:如果该最大探测距离大于或等于该测试标准距离时,判定该微波探测器20合格;和
如果该最大探测距离小于该测试标准距离时,判定该微波探测器20不合格。
值得注意的是,在本发明的一示例中,所述步骤S420包括步骤:
藉由一感应测试装置10C的一测试控制单元11,控制以调节所述感应测试装置10C的一运动反射器12与所述微波探测器20之间距离;和
当所述微波探测器20恰好探测到所述运动反射器12运动时,藉由所述感应测试装置10C的一距离测量单元16,测量所述微波探测器20与所述运动反射器12之间的距离,以获得所述微波探测器20的所述有效探测距离。
进一步地,在本发明的一示例中,所述感应测试装置10C的一吸波隔离单元13对该微波探测器所在的区域进行微波隔离,用于隔离外界对该微波探测器产生干扰。
本领域的技术人员应理解,上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明,在没有背离所述原理下,本发明的实施方式可以有任何变形或修改。
Claims (5)
1.一种用于微波探测器的测试方法,其特征在于,包括步骤:
降低该微波探测器的探测距离,以使该微波探测器在非最大感应范围下工作;
测量该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的有效探测距离;以及
根据一预设换算模型,将所测量的所述有效探测距离换算成该微波探测器的最大探测距离。
2.如权利要求1所述的用于微波探测器的测试方法,还包括步骤:
比较所换算成的该微波探测器的该最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断该微波探测器是否合格。
3.如权利要求2所述的用于微波探测器的测试方法,其中,在所述比较所换算成的该微波探测器的该最大探测距离与该微波探测器的一测试标准距离之间的大小,以判断该微波探测器是否合格:
如果该最大探测距离大于或等于该测试标准距离时,判定该微波探测器合格;和
如果该最大探测距离小于该测试标准距离时,判定该微波探测器不合格。
4.如权利要求1至3中任一所述的用于微波探测器的测试方法,其中,所述测量该微波探测器在该非最大感应范围下工作时的有效探测距离的步骤,包括步骤:
藉由一感应测试装置的一测试控制单元,控制以调节该感应测试装置的一运动反射器与该微波探测器之间的距离;和
当该微波探测器恰好探测到该运动反射器运动时,藉由该感应测试装置的一距离测量单元,测量该微波探测器和该运动反射器之间的距离,以获得该微波探测器的该有效探测距离。
5.如权利要求4所述的用于微波探测器的测试方法,其中,所述感应测试装置的一吸波隔离单元用于隔离外界对该微波探测器的测试产生干扰。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 518106 room 101-1101, building 17, diandaguyuan Industrial Park, mashantou community, Matian street, Guangming District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: SHENZHEN MERRYTEK TECHNOLOGY Co.,Ltd. Address before: 2 / F and 3 / F, building 3, 380 Xiangshan Avenue, Luotian community, Yanluo street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province 518127 Applicant before: SHENZHEN MERRYTEK TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
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CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant |