CN110162209B - 电容式感测装置、环境事件检测方法及校正时机判断方法 - Google Patents

电容式感测装置、环境事件检测方法及校正时机判断方法 Download PDF

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Abstract

一种电容式感测装置、其量测环境的事件检测方法及其校正时机的判断方法适用于电容式感测装置，其利用信号仿真单元直接仿真一个触碰的信号强度或感测信号，再以仿真的信号强度或感测信号与实际量测到的感测信号判定量测条件是否适当，并适当地进行对应调整，由此提升电容式感测装置的准确度及/或辨认率。

Description

电容式感测装置、环境事件检测方法及校正时机判断方法
技术领域
本发明关于一种电容式感测技术，特别关于一种电容式感测装置、其量测环境的事件检测方法及其校正时机的判断方法。
背景技术
为了提升使用上的便利性，越来越多电子装置使用触碰屏幕(touch screen)作为操作界面，以让用户直接在触碰屏幕上点选画面来进行操作，由此提供更为便捷且人性化的操作模式。触控屏幕主要由提供显示功能的显示器以及提供触控功能的感测装置所组成。
一般而言，感测装置利用自电容(self-capacitance)感测技术及/或互电容(mutual capacitance)感测技术来得知面板是否有被使用者触碰。在感测过程中，当感测装置检测到某个坐标位置的电容值的变化时，感测装置判断此坐标位置有被用户触碰。因此，在动作时，感测装置会对每一个坐标位置都储存有未触碰的电容值，并且在后续接收到最新的电容值时，通过比对最新的电容值与未触碰的电容值来判断此电容值所对应的位置是否有被触碰。
感测装置的量测条件为决定感测值的重要因素。量测环境影响量测结果的效果，包括准确度、辨认率……等。感测装置的困难在于无法预知量测环境，因此常需引入人工校正的程序，以求得量测一致性。
发明内容
鉴于以上的问题，需要一检测机制以了解待量测环境对于电容式感测装置的量测数值的影响，并决定以何种信号参数进行量测才能得到正确的量测数值。
在一实施例中，电容式感测装置的量测环境的事件检测方法，其包括：依序选用多组信号参数中之一、以选用的各组信号参数进行量测环境的事件检测，以及在一储存单元中建置多组信号参数个别对应的标准参考集合。其中，以选用的各组信号参数进行量测环境的事件检测的步骤包括利用一信号传感器以选用的一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号、由一信号仿真单元产生一触碰仿真信号以及根据背景感测信号与触碰仿真信号以得到选用的一组信号参数所对应的一标准参考集合。
在一实施例中，一种电容式感测装置的校正时机的判断方法，其包括：利用一信号传感器以一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号、由一信号仿真单元产生一触碰仿真信号、整合背景感测信号与触碰仿真信号以得到一量测信号集合、根据一标准参考集合与量测信号集合计算一变动量、当变动量超出一阈值时，进行此组信号参数的调整、以及当变动量未超出阈值时，不进行此组信号参数的调整。
在一实施例中，一种电容式感测装置，包括：一信号传感器以及一信号处理电路。信号传感器包括：交错设置的多条第一电极与多条第二电极。信号处理电路电性连接信号传感器，并且信号处理电路执行：驱动信号传感器以一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号、产生仿真触控事件的一触碰仿真信号、整合背景感测信号与触碰仿真信号以得到一量测信号集合、根据一标准参考集合与量测信号集合计算一变动量、当变动量超出一阈值时，进行此组信号参数的调整、以及当变动量未超出阈值时，不进行此组信号参数的调整。
综上所述，根据本发明的电容式感测装置、其量测环境的事件检测方法及其校正时机的判断方法适用于电容式感测装置，其利用信号仿真单元(软件或硬件)直接仿真一个事件的信号强度，再以仿真的信号强度与实际量测到感测信号判定信号参数是否适当，并适时地进行对应调整，由此提升电容式感测装置的准确度及/或辨认率。
附图说明
图1为根据本发明一实施例的电容式感测装置的方块示意图。
图2为图1中信号传感器的一实施例的示意图。
图3为根据本发明一实施例的电容式感测装置的量测环境的事件检测方法的流程示意图。
图4为根据本发明一实施例的电容式感测装置的校正时机的判断方法的流程示意图。
图5为图1中信号仿真单元的一实施例的示意图。
图6为图1中信号仿真单元的另一实施例的示意图。
图7为图1中信号仿真单元的又一实施例的示意图。
图8为图4中步骤S11的一实施例的流程示意图。
附图标记说明
12 信号处理电路
14 信号传感器
121 驱动单元
122 检测单元
123 控制单元
125 信号仿真单元
127 储存单元
X1～Xn 第一电极
Y1～Ym 第二电极
C1 电容
S1～S3 开关
R1 电阻
Yi 感应电极
P(1,1)～P(n,m) 感测点
S01～S09 步骤
S11～S23 步骤
S111～S115 步骤
具体实施方式
首先，根据本发明任一实施例的电容式感测装置的校正时机的判断方法可适于电容式感测装置，例如但不限于触控面板、电子画板、手写板等。在一些实施例中，电容式感测装置还可与显示器整合成触控屏幕。并且，电容式感测装置的触碰可以是用手、触控笔、或触控画笔等触碰组件来发生。
图1为根据本发明一实施例的电容式感测装置的方块示意图。图2为图1中信号传感器的一实施例的示意图。请参考图1及图2，电容式感测装置包含一信号处理电路12以及一信号传感器14。信号传感器14连接信号处理电路12。
信号传感器14包括交错配置的多个电极(例如，第一电极X1～Xn以及第二电极Y1～Ym)。其中，n及m为正整数。n可等于m，也可不等于m。从俯视视角来看，第一电极X1～Xn与第二电极Y1～Ym相互交错，并且界定以一矩阵配置的多个感测点P(1,1)～P(n,m)。信号处理电路12包含驱动检测单元及控制单元123。控制单元123耦接驱动检测单元。驱动检测单元包含驱动单元121及检测单元122。在此，驱动单元121及检测单元122可以整合成单一组件，也可以采用两个组件来实现，在设计时根据现况来决定。驱动单元121用以输出驱动信号至电极，而检测单元122用以量测电极的电容值。在此，控制单元123能用以控制驱动单元121及检测单元122的动作并且根据背景值(未触控的电容值)与量测值判断各感测点的电容值变化。
信号处理电路12可以采用自电容(self-capacitance)检测技术，也可以采用互电容(mutual capacitance)检测技术进行触控检测。以自电容检测技术为例，在进行触控检测时，驱动单元121驱动某一电极后，检测单元122即可进行检测电极的自电容值，由此检测此电容值(相较于对应的背景值)的变化。在此，自电容值的检测可以是量测其充电到某个电压位准所花的时间来推估(例如，TCSV(Time to Charge to Set Voltage)法)、或在充电一特定时间之后的电压值来推估(例如，VACST(Voltage After charging for a SetTime)方法)。以互电容检测技术为例，在进行触控检测时，驱动单元121会选定某一第一电极及某一第二电极进行驱动，然后检测单元122量测选定的第一电极与第二电极间的互电容值，由此检测电容值的变化。在此，在量测到电容值产生变化达一定程度时，控制单元123可判定对应的感测点被触碰并基于判定结果决定是否回报对应的位置信号。
在此，电容式感测装置能通过主动执行根据本发明任一实施例的电容式感测装置的校正时机的判断方法，以使电容式感测装置的量测结果适应于量测环境，以避免量测环境的变化造成准确度降低、辨识率下降、误判等问题发生。
请再参考图1，信号处理电路12可还包括一信号仿真单元125以及储存单元127。控制单元123耦接储存单元127。信号仿真单元125电性连接在检测单元122并受控于控制单元123。在一实施例中，可通过在信号处理电路12中建制量规式软/硬件设施来实现信号仿真单元125的动作。
在控制单元123的控制下，电容式感测装置选择性进行正常程序与校正程序。
在正常程序下，检测单元122断开(信号不连接)信号仿真单元125，以由控制单元123直接对检测单元122的量测值进行信号处理，以判断各感测点的电容值变化。而在校正程序下，检测单元122导通信号仿真单元125。信号仿真单元125信号耦接检测单元122的输入。在此，信号仿真单元125用以产生判断是否进行校正所需的触碰仿真信号，并将触碰仿真信号与检测单元122利用信号传感器14所得到的电容值整合。
储存单元127储存有校正所需的阈值及多组信号参数个别对应的标准参考集合。换言之，每一组信号参数代表使用各种频率、增益、波形及电压等组合成的一种驱动方式。在此，阈值及标准参考集合能在干净的环境(如，出厂前的测试室)下通过反复实验来决定并预先储存于储存单元127中。
其中，各标准参考集合对应于一组信号参数，且各标准参考集合包括一触碰感测信号的容许(接受)范围，以及一背景感测信号(base signal)的容许(接受)范围。
在一些实施例中，标准参考集合是在干净的环境(如出厂前的测试室)下通过反复实验并依据有使用触碰仿真信号和无使用触碰仿真信号分别记录而生成。换言之，电容式感测装置能在干净的环境(即，量测环境中的事件是受到控制的)下进行量测环境的事件检测，以建置多组信号参数个别对应的标准参考集合。其中，此些组信号参数中任一组信号参数至少存在一个信号参数的值不同于其他组信号参数。本文所指的「事件」是指触碰、压力、温度等环境因素对在各检测点的量测值的影响且以量测值变化呈现。
在一实施例中，标准参考集合是在工厂环境下，信号传感器14在无任何触碰组件的状态下以对应的一组信号参数进行触控检测所生成的背景感测信号并搭配信号仿真单元125所产生的触碰仿真信号而生成。
在另一实施例中，标准参考集合是在工厂环境下，信号传感器14在无任何触碰组件的状态下以对应的一组信号参数进行触控检测所生成的背景感测信号并搭配在一触碰组件于其上的状态下以对应的一组信号参数进行触控检测而生成。
以下进一步详细说明电容式感测装置中的标准参考集合的建置程序。
请同时参照图1至图3。在一些实施例中，电容式感测装置在干净的环境下利用一信号传感器14以一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号(步骤S01)。在此，在控制单元123的驱动控制下，驱动单元121生成具有一组信号参数的驱动信号给信号传感器14，并且检测单元122对信号传感器14进行未触碰的电容值的量测，由此接收信号传感器14生成的一背景感测信号。换言之，在进行未触碰的电容值的量测时，信号传感器14上无存在任何触碰组件(例如，手、触控笔或触控画笔等)。
信号仿真单元125产生仿真触控事件的一触碰仿真信号(步骤S03)。控制单元123根据背景感测信号与触碰仿真信号得到一标准参考集合(步骤S05)。在步骤S05中，信号仿真单元125可将触碰仿真信号迭加于背景感测信号上，以形成表现有一触碰组件造成一触碰点发生的触碰感测信号。在一些实施例中，控制单元123可通过进行所有的感测点P(1,1)～P(n,m)的背景量测值(其构成背景感测信号)的统计运算以界定出背景感测信号的容许(接受)范围，并且通过进行中所有的感测点P(1,1)～P(n,m)的触碰量测值(其构成触碰感测信号)的统计运算以界定出触碰感测信号的容许(接受)范围，因而据此得到此组信号参数的标准参考集合。在另一些实施例中，同一组信号参数可反复执行S01多次，以致得到多个背景感测信号及由此些背景感测信号个别迭加触碰仿真信号后所形成的多个触碰感测信号。控制单元123可通过进行多个背景感测信号的统计运算以界定出背景感测信号的容许(接受)范围，并且通过进行多个触碰感测信号的统计运算以界定出触碰感测信号的容许(接受)范围，因而据此得到此组信号参数的标准参考集合。
然后，控制单元123再选用下一组信号参数(步骤S07)，并重新执行步骤S01～S05以得到新的一组信号参数所对应的标准参考集合。依此类推，直至得到所有组别的信号参数所个别对应的标准参考集合。控制单元123则以所有组别的信号参数所个别对应的标准参考集合在储存单元127中建置一事件参考信息(步骤S09)，即，储存所有组别的信号参数所个别对应的标准参考集合。
以下进一步详细说明电容式感测装置的校正程序。
图4为根据本发明一实施例的电容式感测装置的校正时机的判断方法的流程示意图。
请同时参照图1、图2及图4。电容式感测装置利用一信号传感器14以一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号(步骤S11)。在此，在控制单元123的驱动控制下，驱动单元121生成具有一组信号参数的驱动信号给信号传感器14，并且检测单元122对信号传感器14进行未触碰的电容值的量测，由此接收信号传感器14生成的一背景感测信号。换言之，在进行未触碰的电容值的量测时，信号传感器14上无存在任何触碰组件(例如，手、触控笔或触控画笔等)。
信号仿真单元125产生仿真触控事件的一触碰仿真信号(步骤S13)。控制单元123根据背景感测信号与触碰仿真信号得到一量测信号集合(步骤S15)并据此进行信号比对。其中，量测信号集合包括有触碰点发生的信号以及无触碰点发生的信号。在此实施例中，触碰仿真信号相当于一个触碰事件的发生。举例来说，触碰仿真信号是仿真一手指信号的信号强度。信号仿真单元125将此手指信号(触碰仿真信号)迭加于背景感测信号上，以形成表现有一触碰组件造成一触碰点发生的触碰感测信号。并且，以背景感测信号(无触碰点发生的信号)与触碰感测信号(有触碰点发生的信号)构成量测信号集合。此外，在另一示范例中，触碰仿真信号也可是仿真一导电异物(如，水)的信号强度。
控制单元123根据标准参考集合与量测信号集合计算一变动量(以下称当前变动量)(步骤S17)，并确认变动量是否超出阈值(步骤S19)。在一些实施例中，标准参考集合可为数字信号，即包括电容、电压或电流等模拟的量测信号经由模拟数字转换器转化得的信号。此时，控制单元123可先将接收到的模拟的量测信号转为数字的量测信号，再与标准参考集合中对应的标准信号进行比较。
当变动量超出阈值时，控制单元123根进行电容式感测装置所使用的一组信号参数的调整(步骤S21)。在步骤S21之后，返回以调整后的信号参数重新执行步骤S11并接着执行后续步骤，直至变动量未超出阈值。当变动量未超出阈值时，控制单元123不进行信号参数的调整(步骤S22)，即完成校正。在一实施例中，阈值可为由上限和下限所构成的一容许范围。此时，变动量落入上限和下限之间表示变动量未超出阈值；反之，变动量未落入上限和下限之间表示变动量超出阈值。在另一实施例中，阈值可为一既定数值。此时，变动量小于或等于此既定数值表示变动量未超出阈值；反之，变动量大于此既定数值表示变动量超出阈值。
在一些实施例中，控制单元123可依序选用不同组信号参数进行判断，直至选用的一组信号参数所得到的变动量未超出阈值。
在后续的正常程序中，信号传感器14以当前使用的一组信号参数(即，校正程序完成后的信号参数)进行触碰检测(步骤S23)。
在一些实施例中，信号仿真单元125可以电路或软件实现。
在一示范例中，信号仿真单元125可以是仿信号传感器14的阻抗开关电路，并且可通过导通或断开(跨过)其中的串联电阻来模仿有触控发生或无触控发生。
举例来说，以驱动电极Xj与感应电极Yi所界定的一个感测点P(j,i)为例，参照图5，信号仿真单元125可包括一组或多组开关S1与电阻R1的组合。在此，驱动检测单元以电容开关电路为例，检测单元122的输入经由电阻R1耦接感应电极Yi，而开关S1耦接对应的电阻R1的二端。其中，驱动电极Xj可为第一电极X1～Xn其中任一者，即j可为1～n其中任一者。感应电极Yi可为第二电极Y1～Ym其中任一者，即i可为1～m其中任一者。
在正常程序下，开关S1导通电阻R1的两端，检测单元122直接量测感应电极Yi对驱动电极Xj的感应电容并且将量测值输出给控制单元123。在校正程序下，开关S1断开，以致电阻R1与检测单元122信号连接；此时，检测单元122对感应电极Yi对驱动电极Xj的感应电容的量测值会经由电阻R1产生对应的压降(触碰仿真信号)而形成触碰感测信号，再输出给控制单元123。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有多组开关S1与电阻R1的组合时，由开关S1控制耦接电阻R1的数量来提供相当不同电容值的触碰仿真信号，即不同阻值代表不同触控组件(如，手指、水等)所造成触碰的信号反应。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有单一组开关S1与电阻R1的组合时，电阻R1可为可变电阻，并且控制单元123可通过调控可变电阻的阻值，以使电阻R1提供代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的信号反应。
在另一示范例中，信号仿真单元125可以是仿信号传感器14的电容开关电路，并且可通过导通或断开其中的并联电容来模仿有触控发生或无触控发生。
举例来说，以驱动电极Xj与感应电极Yi所界定的一个感测点P(j,i)为例，参照图6，信号仿真单元125可包括一组或多组开关S2与电容C1的组合。在此，驱动检测单元以电容开关电路为例，检测单元122的输入耦接感应电极Yi，而电容C1经由对应的开关S2耦接在检测单元122的输入。换言之，当开关S2导通时，电容C1与感应电极Yi对驱动电极Xj的感应电容并联。其中，驱动电极Xj可为第一电极X1～Xn其中任一者，即j可为1～n其中任一者。感应电极Yi可为第二电极Y1～Ym其中任一者，即i可为1～m其中任一者。
在正常程序下，开关S2断开，检测单元122直接量测的感应电极Yi的感应电容的电容值，并输出给控制单元123。在校正程序下，开关S2导通，以致电容C1与感应电极Yi的感应电容并联。检测单元122量测感应电极Yi对驱动电极Xj的感应电容的电容值与电容C1的电容值(触碰仿真信号)的总和(触碰感测信号)后，再输出给控制单元123。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有多组开关S2与电容C1的组合时，由开关S2控制并联电容C1的数量来提供相当不同电容值的触碰仿真信号，即不同电容值代表不同触控组件(如，手指、水等)所造成触碰的触碰感测信号。在一些实施例中，当信号仿真单元125具有单一组开关S2与电容C1的组合时，电容C1可为可变电容，并且控制单元123可通过调控可变电容的电容值，以使电容C1提供代表不同触控组件(如，手指、水或异物等)所造成触碰的信号反应。
在又一示范例中，参照图7，信号仿真单元125可为一信号发生器，并且信号发生器经由开关S3耦接在检测单元122的输入。在正常程序下，开关S3断开。在校正程序下，开关S3导通，信号发生器可以软件形式产生触碰仿真信号，并且检测单元122量测感应电极Yi对驱动电极Xj的感应电容的电容值与触碰仿真信号的总和(触碰感测信号)后，再输出给控制单元123。
在步骤S11的一些实施例中，参照图8，在校正程序下，控制单元123会先从储存单元127读出一组出厂参数设定(步骤S111)、以读出的此组出厂参数设定重置当前所使用的一组信号参数(步骤S113)，然后利用信号传感器14以重置后的信号参数进行触碰检测以生成背景感测信号(步骤S115)。
应当可理解的是，各步骤的执行顺序并不限于前述描述顺序，可依据步骤的执行内容适当地调配执行顺序。
在一些实施例中，此组信号参数为可驱动信号的频率、驱动信号的振幅、驱动信号的波形、驱动信号的增益、驱动信号的电压或其任意组合。
在一些实施例中，信号仿真单元125内建于电容式感测装置的芯片内并且与电容式感测装置的外界环境隔离；换言之，相对于信号传感器14而言，信号仿真单元125封装在内部且手指无法接触或靠近(足以影响其电性)，因此不易受到外界噪声的干扰。其中，建置信号仿真单元125的芯片可为无实现其他组件(控制单元、驱动检测单元及路径选择单元)的独立芯片，或是同时实现信号仿真单元125与其他组件(控制单元、驱动检测单元、路径选择单元或其任意组合)的多功能芯片。换言之，信号处理电路12可由一个或多个芯片实现。在另一些实施例中，信号仿真单元125可内建于电容式感测装置的电路板上，但与电容式感测装置的外界环境隔离。
在一些实施例中，储存单元127用以储存相关的软件/固件程序、数据、数据及其组合等。在此，储存单元127可由一个或多个内存实现。
综上所述，根据本发明的电容式感测装置、其量测环境的事件检测方法及其校正时机的判断方法适用于电容式感测装置，其利用信号仿真单元125(软件或硬件)直接仿真一个触碰的信号强度或感测信号，再以仿真的信号强度或感测信号与实际量测到感测信号判定信号参数是否适当，并适当地进行对应调整，由此提升电容式感测装置的准确度及/或辨认率。

Claims (8)

1.一种电容式感测装置的量测环境的事件检测方法，其特征在于，包括：
依序选用多组信号参数中之一，其中该多组信号参数中的任一组信号参数至少有一个信号参数与其他组信号参数不同；
以选用的各该组信号参数进行量测环境的事件检测，包括：
利用一信号传感器以选用的该组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号，其中利用该信号传感器以选用的该组信号参数进行触控检测以生成该背景感测信号的步骤包括：提供具有该组信号参数的一驱动信号给该信号传感器并量测该信号传感器以得到该背景感测信号；
由一信号仿真单元产生一触碰仿真信号；
以该背景感测信号与该触碰仿真信号形成表现有一触碰元件造成触碰的一触碰感测信号；以及
根据该背景感测信号界定该背景感测信号的容许范围并根据该触碰感测信号界定该触碰感测信号的容许范围以得到选用的该组信号参数所对应的一标准参考集合；以及
在一储存单元中建置该多组信号参数个别对应的该标准参考集合。
2.如权利要求1所述的电容式感测装置的量测环境的事件检测方法，其特征在于，该标准参考集合包括该背景感测信号的该容许范围以及该触碰感测信号的该容许范围。
3.如权利要求1所述的电容式感测装置的量测环境的事件检测方法，其特征在于，各该组信号参数为该驱动信号的频率、该驱动信号的振幅、该驱动信号的波形、该驱动信号的增益、该驱动信号的电压或其任意组合。
4.一种电容式感测装置的校正时机的判断方法，其特征在于，包括：
利用一信号传感器以多组信号参数中的一组信号参数进行触控检测以生成一背景感测信号，其中由该信号传感器以该多组信号参数中的该组信号参数进行触控检测以生成该背景感测信号的步骤包括：提供具有该组信号参数的一驱动信号给该信号传感器并量测该信号传感器以得到该背景感测信号；
由一信号仿真单元产生一触碰仿真信号；
根据该背景感测信号与该触碰仿真信号得到一量测信号集合，其中该量测信号集合包括该背景感测信号以及由该背景感测信号与该触碰仿真信号构成的一触碰感测信号；
根据该组信号参数所对应的一标准参考集合与该量测信号集合计算一变动量，其中该标准参考集合包括该背景感测信号的容许范围以及该触碰感测信号的容许范围；
当该变动量超出一阈值时，进行该组信号参数的调整；以及
当该变动量未超出该阈值时，不进行该组信号参数的调整，并进入一正常程序，其中在该正常程序中，该信号传感器是以当前的该组信号参数驱动来进行触碰检测；
其中，该多组信号参数中的任一组信号参数至少有一个信号参数与其他组信号参数不同。
5.如权利要求4所述的电容式感测装置的校正时机的判断方法，其特征在于，由该信号传感器以该多组信号参数中的该组信号参数进行触控检测以生成该背景感测信号的步骤还包括：
读出一组出厂参数设定；以及
以该组出厂参数设定重置该组信号参数。
6.如权利要求4所述的电容式感测装置的校正时机的判断方法，其特征在于，该组信号参数为该驱动信号的频率、该驱动信号的振幅、该驱动信号的波形、该驱动信号的增益、该驱动信号的电压或其任意组合。
7.如权利要求4所述的电容式感测装置的校正时机的判断方法，其特征在于，该触碰仿真信号相当于一个触碰事件的发生。
8.一种电容式感测装置，其特征在于，包括：
一信号传感器，包括：交错设置的多条第一电极与多条第二电极；以及
一信号处理电路，电性连接该信号传感器，其中该信号处理电路具有一储存单元，该储存单元储存有多组信号参数与其个别对应的标准参考集合，该多组信号参数中的任一组信号参数至少有一个信号参数与其他组信号参数不同，以及该信号处理电路执行：
以一驱动信号驱动该信号传感器并量测该信号传感器以得到一背景感测信号，其中该驱动信号的信号参数为该多组信号参数其中的一组信号参数；
产生仿真触控事件的一触碰仿真信号；
根据该背景感测信号与该触碰仿真信号得到一量测信号集合，其中该量测信号集合包括该背景感测信号以及由该背景感测信号与该触碰仿真信号构成的一触碰感测信号；
根据该组信号参数所对应的该标准参考集合与该量测信号集合计算一变动量，其中该标准参考集合包括该背景感测信号的容许范围以及该触碰感测信号的容许范围；
当该变动量超出一阈值时，进行该组信号参数的调整；以及
当该变动量未超出该阈值时，不进行该组信号参数的调整，并进入一正常程序，其中在该正常程序中，该信号处理电路是以具有当前的该组信号参数的该驱动信号驱动该信号传感器进行触碰检测。
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