TWI709897B - 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組 - Google Patents

觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組 Download PDF

Info

Publication number
TWI709897B
TWI709897B TW108118744A TW108118744A TWI709897B TW I709897 B TWI709897 B TW I709897B TW 108118744 A TW108118744 A TW 108118744A TW 108118744 A TW108118744 A TW 108118744A TW I709897 B TWI709897 B TW I709897B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
sensing
value
electrode
sensing electrode
electrodes
Prior art date
Application number
TW108118744A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202004473A (zh
Inventor
李尚禮
Original Assignee
李尚禮
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 李尚禮 filed Critical 李尚禮
Publication of TW202004473A publication Critical patent/TW202004473A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI709897B publication Critical patent/TWI709897B/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

一種觸控辨識裝置之感測方法，其中觸控辨識裝置包括複數個感測電極及複數個驅動電極，感測方法包括以下步驟：選定複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極；進行一量測循環，以得到感測值；判斷第一感測電極是否異常；當第一感測電極被判斷異常時，則改選定複數個感測電極中的一第二感測電極並設為參考電極，以進行量測循環；以及，通過預存向量差，以替換感測值。

Description

觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組
本發明關於一種觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組，特別是關於一種判斷觸控訊號讀取時，若有手指或異物位於觸控辨識裝置上的參考電極之感測方法及其感測模組，以校正並提高整體感測精確度。
觸控面板或觸控螢幕是主要的現代人機介面之一，作為一種位置辨識裝置，能夠巧妙的結合輸入和顯示介面，故具有節省裝置空間和操作人性化的優點，目前已非常廣泛應用在各式消費性或者工業性電子產品上。舉例：個人數位助理(personal digital assistant，PDA)、掌上型電腦(palm-sized PC)、平板電腦(tablet computer)、行動電話(mobile phone)、資訊家電(Information Appliance)、銷售櫃員機(Point-Of-Sale，POS)等裝置上。
現有電容式觸控面板包括資料處理模組、驅動電極及感應電極等，其中驅動電極及感應電極分別經由各自之介面與資料處理模組電性連結。驅動電極係由相互平行的複數個驅動電極條所組成，感應電極係由複數個相互平行的感應電極條所組成，其中各驅動電極條與各感應電極條係互相垂直配置而形成複數個交叉處。當驅動電極受到驅動電壓之驅動 時，其與感應電極之間形成電場，使得感應電極產生感應電荷，而具有一交互電容，複數個驅動電極條與複數個感應電極條即形成複數個電場，因此可擬似每一該交叉處即具有一交互電容，複數個交叉處即形成交互電容陣列。交互電容陣列在穩態之環境下，具有一穩定之電容量(以下稱基底電容)，使得感應電極產生一感應電壓(此時之感應電壓稱為基底電壓)，資料處理模組經由其介面讀取感應電壓。當手指或其他導電物質接近交叉處時，將改變該處之電場，造成感應電壓變化。變化之感應電壓向資料處理模組傳輸後，由類比對數位轉換器轉換成數位訊號後，再經由演算法辨識其是否為一觸控訊號，決定是否進行觸碰位置之演算，進而處理形成向主機端輸出的觸碰資訊輸入資料。其中，主機端為具有至少一中央處理器(CPU)控制的設備，例如電腦、PDA等。
由於驅動電極與感應電極之間所形成的電場容易受到外來電磁波等的干擾，導致不能準確地量測手指等導電性物質所引起的電容性充電轉移之電荷量的變化。
因此現有技術有利用訊號相減的方式將此一雜訊減除的方法，其重複進行一量測循環，得到二個以上不同的感測電壓訊號再相減之。藉由差分法(deferential)處理二個以上不同的感測電壓訊號，以得到消除基底雜訊(common mode noise)的觸控訊號。採用一般差分法雖然可以消除基底雜訊，但是需要兩兩成對的感測訊號來計算出差分值，可能在量測過程中有異物觸碰而造成精確度或解析度下降。
鑑於上述發明背景，本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之採用參考電極進行感測方法及其感測模組，通過週期性或即時性穿插執行一判斷程序於執行感測方法的一般週期波差異比較運算中，讀取分辨判斷一第一參考電極之受擾及其受擾區段，另藉一選取方法，找到一第二感測電極其於前述受擾區段為受擾者，供給接續作為更替的第二參考電極；以此第二參考電極對該原本受擾區進行讀取，且以預存該第一與第二參考電極之差值，定義為一預存向量差，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，且全幀(FRAME)得以取得正確歸原之讀值。此法消除參考電極受擾的誤動作，亦以補償方式，在最短時間內，正確獲得全幀歸原之讀值，快速解決參考電極雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
為了達到上述之一或部份或全部目的或是其他目的，本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之採用參考電極進行感測方法，其中觸控辨識裝置包括複數個感測電極及複數個驅動電極。
觸控辨識裝置預先設定正確觸碰與無觸碰等之閾限值，並以相對另一獨立的第三感測電極，為一第一感測電極與一第二感測電極之讀取，以此經計算取得第一與一第二感測電極之預存向量差。此第一與第二感測電極，分別可作為第一與第二參考電極，並因需要，可以同法選定複數個參考電極與其間之預存向量差。前項設置完成，可開始常規量測，其係基於採用第一參考電極所得知一組讀取之感測值；前項動作之接續為一預設閾限值檢驗程序以標示受擾區段，也就是利用此預設閾限值檢驗程序以判斷第一感測電極(第一參考電極)是否異常；若無受擾，則反覆進行如前 述之常規讀取，否則對受擾區段，根據閾限值，在該區段之各驅動電極確定一感測電極其為合於無受擾條件者，令其為一第二參考電極，並以此第二參考電極，為二次讀取之參考電極；以預存向量差在一次與二次讀取中做校正，獲得全幀歸原的正確讀值；回復常態讀取。
其中，在共用一感測電極為取得第一參考電極與第二參考電極的情況下，此感測電極可暫稱為獨立的第三參考電極，其作為對第一與第二參考電極之參考依據，因此取得的讀值可經計算建立一預存向量差，為了常規讀取時，所需更替參考電極狀況下之校正值。
在本實施例中，感測方法包括以下步驟：選定複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極；進行一量測循環，以得到一第一感測值；判斷第一感測電極是否異常；當第一感測電極被判斷異常時，則改選定複數個感測電極中的一第二感測電極並設為參考電極，以進行量測循環；以及，通過一預存向量值校正，以替換第一感測值為一第二感測值。
在一實施例中，感測方法更包括判斷第一感測電極是否異常的步驟，也就是所述預設閾限值檢驗程序，檢驗之判斷步驟包括：比較同一個驅動電極上的每一節點之讀值分別與第一感測電極與相同驅動電極上節點之一第一讀值的一差異值；檢查任一差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若差異值高於或低於閾限值，則判斷第一感測電極為異常。
在一實施例中，第一感測值包括第一感測電極上節點的第一讀值，以及第一感測電極以外的其他感測電極上節點的複數個讀值。
為了達到上述之一或部份或全部目的或是其他目的，本發明實施例提供另一種觸控辨識裝置之感測方法，其中觸控辨識裝置包括複數 個感測電極及複數個驅動電極，感測方法包括以下步驟：執行一第一預存量測，以得到一第一初始值，其中複數個感測電極中的一第一感測電極被設為第一參考電極；執行一第二預存量測，以得到一第二初始值，其中複數個感測電極中不同於第一感測電極的一第二感測電極被設為第二參考電極；執行一第三預存量測，以得到一第三初始值，其中複數個感測電極中不同於第一/第二感測電極的一第三感測電極被設為第三參考電極並用以正向量測；通過第一初始值、第二初始值及第三初始值，計算得到第一感測電極及第二感測電極之間的一預存向量差；通過第一感測電極設為參考電極時進行一量測循環，以得到一第一感測值；當該第一感測電極被判斷異常時，則改將第二感測電極設為參考電極進行量測循環；以及，通過預存向量差，以替換第一感測值為一第二感測值。
在一實施例中，更包括判斷第一感測電極(第一參考電極)是否異常的步驟，也就是所述預設閾限值檢驗程序，檢驗之判斷步驟包括：比較同一個驅動電極上的每一節點之讀值分別與第一感測電極與相同驅動電極上節點的一第一讀值的一差異值，其中第一感測值包括第一感測電極上節點的第一讀值，以及第一感測電極以外的其他感測電極上節點的複數個讀值；檢查任一差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若差異值高於或低於閾限值，則判斷第一感測電極為異常。
在一實施例中，當第一感測電極被判斷異常時，則停止通過第一感測電極設為參考電極所進行的量測循環。
在一實施例中，執行第一預存量測時，第一感測電極電性連接一模擬電壓變化產生的完美指令，使得第一初始值包括一第一基底值及 一通過完美指令所產生的一第一完美值。執行第二預存量測時，第二感測電極電性連接完美指令，使得第二初始值包括一第二基底值及一通過完美指令所產生的一第二完美值。其中第三初始值包括一第三基底值。第三初始值與第一初始值具有一第一向量差，以及第三初始值與第二初始值具有一第二向量差，預存向量差定義為第一向量差與第二向量差之間的向量差。
100‧‧‧感測模組
110‧‧‧處理單元
120、D1-D7‧‧‧驅動電極
130、S1-S4‧‧‧感測電極
D1S1、D1S2、D1S3、D1S4、D2S1、D2S2...‧‧‧節點
圖1為本發明第一實施例中一種應用於觸控辨識裝置之感測模組的示意圖。
圖2為本發明實施例中一種應用於觸控辨識裝置之感測方法的流程圖。
圖3為本發明實施例中一種應用於觸控辨識裝置之感測方法中判斷是否異常的流程圖。
圖4為本發明實施例中另一種應用於觸控辨識裝置之感測方法的流程圖，其配合執行預存量測來得到預存向量差。
有關本發明前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之一較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。以下實施例中所提到的方向用語，例如：上、下、左、右、前或後等，僅是用於參照隨附圖式的方向。因此，該等方向用語僅是用於說明並非是用於限制本發明。
請參照圖1，是本發明第一實施例中的一種觸控辨識裝置之 感測模組100。一種觸控辨識裝置之感測模組100包括一處理單元110、複數個驅動電極120及複數個感測電極130。於本實施例中，驅動電極120包括至少7條驅動電極D1-D7，感測電極130包括至少4條感測電極S1-S4。複數個驅動電極120與複數個感測電極130交會而具有複數個節點D1S1、D1S2、D1S3、D1S4、D2S1、D2S2...等。處理單元110電性連接感測電極130及驅動電極120，用以驅動驅動電極120並感測感測電極130上的電容變化，以得到複數個節點的複數個讀值。
上述感測模組100用以執行以下本發明實施例中的一種觸控辨識裝置之感測方法。
請參照圖2至圖3，是本發明實施例中一種觸控辨識裝置之感測方法的流程示意圖，並配合圖1說明。本發明實施例的感測方法包括以下步驟S100-S160來執行預設閾限值檢驗之判斷程序並配合執行常規的觸控量測。
步驟S100：觸控辨識裝置預先設定一預存向量值或產生一預存向量差，用以後續當感測電極上判斷有異常時，也就是當判斷參考電極之受擾及其受擾區段，可立即校正前一次量測循環所得到的感測值，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，而不必重新量測。此預存向量值或預存向量差可消除參考電極受擾的誤動作所產生的錯誤讀值；以補償方式，在最短時間內，正確獲得全幀歸原之讀值，快速解決參考電極雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
步驟S110：選定複數個感測電極S1-S4中的一第一感測電極。於本實施例中預先選定感測電極S1為第一感測電極，並設定感測電極 S1作為參考電極來使用。第一感測電極S1與複數個驅動電極D1-D7交會而具有複數個第一節點D1S1、D2S1、D3S1...等。其中設定感測電極S1作為參考電極的步驟包括將感測電極S1電性連接至一參考電極電路，使得處理單元110在此一量測循環中，可將經由第一感測電極S1所收到的訊號進行反向處理，例如乘上一負號，以節省運算時間。在一實施例中，前述設定步驟更包括將感測電極S1電性連接至一模擬電壓變化產生的完美指令，以產生通過完美指令所產生的完美值。
步驟S120：進行一量測循環，以得到一第一組感測值。量測循環包括驅動一個或一個以上的驅動電極，量測第一感測電極以得到一個或一個以上第一節點的第一讀值，再量測第一感測電極以外的其他感測電極，以得到其他複數個節點的複數個讀值。在本實施例中，第一組感測值包括上述複數個節點的讀值或第一節點的第一讀值，且其為週期波驅動所產生的變異值。
在一實施例中，得到第一讀值及複數個讀值之步驟更包括：驅動驅動電極的其一者或一部份者；量測第一感測電極以得到一個或一個以上第一節點的第一讀值，再同時或依序量測第一感測電極以外的其他感測電極，以得到複數個節點之讀值的一者或一部份者；停止驅動；驅動複數個驅動電極的另一者或其餘部分者；量測第一感測電極以得到一個或一個以上第一節點的第一讀值，再同時或依序量測第一感測電極以外的其他感測電極，以得到複數個節點之讀值的另一者或其餘部分者；以及，重複上述驅動動作，以得到全部節點的讀值。
如圖1所示，先驅動驅動電極D1，依序得到不同節點D1S1、 D1S2、D1S3、D1S4的讀值，其中包含第一節點D1S1的第一讀值。接著，跟著箭頭方向依序驅動驅動電極D2，而得到不同節點D2S1、D2S2、D2S3、D2S4的讀值，其中包含第一節點D2S1的讀值。然後，依序驅動驅動電極D3及D4，而得到所有節點D3S1、D3S2、D3S3、D3S4、D4S1、D4S2、D4S3、D4S4的讀值。
在上述實施例中，本發明並不限定於此步驟中依序得到全部的讀值。可先執行驅動驅動電極的其一者或一部份者，並得到第一感測電極上第一節點的第一讀值及感測電極的其一者或一部份的複數個節點的讀值，即可接續下個步驟S130，先執行判斷感測電極是否異常的程序。
在另一實施例中，再一次參酌圖1，第一次先驅動驅動電極D1，依序得到不同節點D1S1、D1S2、D1S3、D1S4的讀值，其中包含第一節點D1S1的一第一讀值。接著，跟著黑色大箭頭方向，第二次直接跳選驅動驅動電極D4，而得到不同節點D4S1、D4S2、D4S3、D4S4的讀值，其中包含第一節點D4S1的第一讀值。然後，繼續跳選驅動其他驅動電極。其中，第二次驅動可直接跳選驅動電極D4，也就是距離第一次驅動驅動電極D1處，相差隔了3條驅動電極；本發明並不限定此實施例，抑或是可跳選相差隔了4-5條的驅動電極D5或D6，來加快整體感測方法的反應時間。
在另一實施例中，得到第一節點的第一讀值及複數個節點的讀值之步驟更包括：同時驅動複數個驅動電極的全部者；以及，量測第一感測電極以得到全部第一節點的第一讀值，再同時量測第一感測電極以外的其他感測電極，以得到全部節點的複數個讀值。
步驟S130：執行預設閾限值檢驗程序以標示受擾區段，也 就是判斷第一參考電極是否異常。本步驟的判斷程序請參照圖3，其包括步驟S131-S134。
步驟S131：比較同一個驅動電極上節點的每一讀值分別與第一節點之第一讀值的一差異值。如圖1所示的實施例中，驅動驅動電極D1後，依序求出第一節點D1S1的第一讀值分別與其他節點D1S2、D1S3、D1S4讀值的差異值，然後進行步驟S132；或是再驅動驅動電極D2後，依序求出第一節點D2S1的第一讀值分別與其他節點D2S2、D2S3、D2S4之讀值的差異值，再進行步驟S132。
步驟S132：檢查步驟S131所得到的差異值是否高於或低於感測模組所設定的一閾限值。上述感測電極所感應的讀值是週期波驅動所產生之變異。當無指向物件如手指或觸控筆等觸碰感測模組時，若感測模組要判別是否有其他異物觸碰，也就是判別感測電極是否有受擾及其受擾區段，則是進行週期波驅動變異衰減比較，因其感測值會被其他導電物質或極性物質等異物質的非指向物件(例如水漬)造成衰減，因此上述步驟是為了觀察判斷此衰減是否由非指向物件所引起。若任一差異值高於閾限值，則判斷有指向物件觸碰第一感測電極；若差異值低於閾限值，則判斷一非指向物件觸碰第一感測電極，也就是第一感測電極為受擾者。
步驟S133：若任一差異值高於或低於閾限值，則判斷第一感測電極為異常。如圖1所示，由於節點D1S2及D4S3之讀值分別與第一節點D1S1及D4S1之讀值的差異值高於或低於閾限值，因此判斷第一感測電極S1為異常，其異常可能是第一感測電極S1遭到手指觸碰或是有異物於其上。
步驟S134：當至少一個差異值高於或低於閾限值時，停止 本次將第一感測電極設為參考電極的觸控量測。在一較佳實施例中，同一驅動電極上差異值高於或低於閾限值的節點數量為至少兩個，則停止觸控量測。
當判斷第一感測電極遭到手指觸碰或是有異物於其上時，一般感測方法是將先前所獲得的感測值訊號，以新讀的感測值，覆蓋舊讀的感測值；或是，直接將舊的感測值丟棄不使用。然而，上述方法皆會浪費先前量測所花費的時間，難以解決整體感測時間縮短的問題。因此，本發明中的感測方法藉由預存校正方式，以交替式量測或交替預存值來排除異物讀取。利用另選第二參考電極對該原本受擾區進行讀取，且以預存第一與第二參考電極之預存向量差，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，且全幀(FRAME)得以取得正確歸原之讀值。此法消除參考電極受擾的誤動作，亦以補償方式，在最短時間內，正確獲得全幀歸原之讀值，快速解決參考電極雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
步驟S140：接續步驟S130，當第一感測電極被判斷有異常時，則改選定一第二感測電極並設為參考電極。於本實施例中，改選設定第二感測電極S4作為參考電極的步驟包括將感測電極S4電性連接至參考電極電路，使得處理單元110在此一量測循環中，可將經由第二感測電極S4所收到的訊號進行反向處理，例如乘上一負號，以節省運算時間。在一實施例中，前述設定步驟更包括將感測電極S4電性連接至一模擬電壓變化產生的完美指令，以產生通過完美指令所產生的完美值。
步驟S150：通過改設定第二感測電極作為參考電極以進行量測循環，得到第二組感測值。
步驟S155：於步驟S150進行的同時，可通過步驟S100中的預存向量值或是預存向量差，將前述量測所得的第一組感測值替換為第二組感測值。因此，進行步驟S150時，可不必重頭全新進行量測，進而提升整體量測速度。
步驟S160：接續步驟S130，當第一感測電極判斷無任何異常時，則持續進行一般觸控量測。
請參照圖4，是本發明實施例中另一種觸控辨識裝置之感測方法的流程示意圖。其感測方法包括以下步驟S100-S160來執行判斷程序並配合執行觸控量測。
步驟S100：觸控辨識裝置預先設定一預存向量值或產生一預存向量差，用以後續當感測電極上判斷有異常時，也就是當判斷參考電極之受擾及其受擾區段，可立即校正前一次量測循環所得到的感測值，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，而不必重新量測。此預存向量值或預存向量差可消除參考電極受擾的誤動作所產生的錯誤讀值；以補償方式，在最短時間內，正確獲得全幀歸原之讀值，快速解決參考電極雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
步驟S101：執行一第一預存量測，以得到一第一初始值。其中執行第一預存量測時，通過第一感測電極被設為第一參考電極來進行量測。在一實施例中，第一感測電極電性連接一模擬電壓變化產生的完美指令，使得第一初始值包括一第一基底值及一通過完美指令所產生的一第一完美值。
步驟S102：執行一第二預存量測，以得到一第二初始值。 其中執行第二預存量測時，通過不同於第一感測電極的第二感測電極被設為第二參考電極來進行量測。在一實施例中，第二感測電極電性連接完美指令，使得第二初始值包括一第二基底值及一通過完美指令所產生的一第二完美值。
步驟S103：執行一第三預存量測，以得到一第三初始值。在一實施例中，執行第三預存量測時，通過不同於第一感測電極及第二感測電極的第三感測電極被設為第三參考電極以進行正向量測。其中第三初始值僅包括一第三基底值。
步驟S104：通過第一初始值、第二初始值及第三初始值，計算得到第一感測電極及第二感測電極之間的一預存向量差。在一實施例中，第三初始值與第一初始值具有一第一向量差，以及第三初始值與第二初始值具有一第二向量差，預存向量差定義為第一向量差與第二向量差之間的向量差。
步驟S110：選定第一感測電極設為參考電極。
步驟S120：通過第一感測電極設為參考電極時進行一量測循環，以得到一第一組感測值。
步驟S130：執行預設閾限值檢驗程序以標示受擾區段，也就是判斷第一感測電極是否異常。其判斷步驟包括：比較同一個驅動電極上的每一節點之讀值分別與第一感測電極上第一節點的一第一讀值的一差異值，其中第一感測值包括第一感測電極上第一節點的第一讀值，以及第一感測電極以外的其他感測電極上節點的複數個節點讀值；檢查任一差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若差異值高於或低於閾限值，則判斷 第一感測電極S1為異常。
步驟S140：當第一感測電極S1被判斷異常時，則改將第二感測電極設為參考電極。同時，停止通過第一感測電極設為參考電極所進行的量測循環。
步驟S150：通過第二感測電極設為參考電極時進行量測循環，得到第二組感測值。。
步驟S155：通過步驟S104所得到的預存向量差，做為替換第一組感測值為一第二組感測值後之差異補償。
本發明實施例提供一種觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組，通過週期性或即時性穿插執行一判斷程序於執行感測方法的一般週期波差異比較運算中，讀取分辨判斷第一參考電極之受擾及其受擾區段，另藉一選取方法，找到一第二感測電極其於前述受擾區段為受擾者，供給接續作為更替的第二參考電極；以此第二參考電極對該原本受擾區進行讀取，且以預存該第一與第二參考電極之差值，定義為一預存向量差，對受擾區段做運算補償，補足受擾區段為正確讀取值，且全幀(FRAME)得以取得正確歸原之讀值。此法消除參考電極受擾的誤動作，亦以補償方式，在最短時間內，正確獲得全幀歸原之讀值，快速解決參考電極雜訊干涉，進而提高整體感測精確度。
S100-S160‧‧‧步驟

Claims (10)

  1. 一種觸控辨識裝置之感測方法，其中該觸控辨識裝置包括複數個感測電極及複數個驅動電極，該複數個感測電極及該複數個驅動電極之間具有複數個節點，該感測方法包括以下步驟：執行一第一預存量測，以得到一第一初始值，其中該複數個感測電極中的一第一感測電極被設為一第一參考電極；執行一第二預存量測，以得到一第二初始值，其中該複數個感測電極中不同於該第一感測電極的一第二感測電極被設為一第二參考電極；執行一第三預存量測，以得到一第三初始值，其中該複數個感測電極中不同於該第一感測電極及該第二感測電極的的一第三感測電極被設為一第三參考電極；通過該第一初始值、該第二初始值及該第三初始值，計算得到該第一感測電極及該第二感測電極之間的一預存向量差；通過該第一感測電極設為該第一參考電極時進行一量測循環，以得到一第一感測值；當該第一感測電極被判斷異常時，則改採該第二參考電極進行該量測循環；以及，通過該預存向量差，以替換該第一感測值為一第二感測值。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中執行該第一預存量測時，該第一感測電極電性連接一模擬電壓變化產生的完美指令，使得第一初始值包括一第一基底值及一通過該完美指令所產生的一第一完美值。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的感測方法，其中執行該第二預存量測時，該第二感測電極電性連接該完美指令，使得第二初始值包括一第二基底值及一通過該完美指令所產生的一第二完美值。
  4. 如申請專利範圍第3項所述的感測方法，其中該第三初始值包括一第三基底值。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的感測方法，其中該第三初始值與該第一初始值具有一第一向量差，以及該第三初始值與該第二初始值具有一第二向量差，該預存向量差定義為該第一向量差與該第二向量差之間的向量差。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，更包括判斷該第一感測電極是否異常的步驟，判斷步驟包括：比較同一個該驅動電極上的每一該節點的讀值分別與該第一感測電極上該節點之一第一讀值的一差異值，其中該第一感測值包括該第一感測電極上的該第一讀值，以及該第一感測電極以外的其他該感測電極上該節點的複數個讀值；檢查任一該差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若該差異值高於或低於該閾限值，則判斷該第一感測電極為異常。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的感測方法，其中當該第一感測電極被判斷異常時，則停止通過該第一感測電極設為參考電極所進行的該量測循環。
  8. 一種觸控辨識裝置之感測方法，其中該觸控辨識裝置包括複數個感測電極及複數個驅動電極，該複數個感測電極及該複數個驅動電極之間具有複數個節點，該感測方法包括以下步驟：選定該複數個感測電極中的一第一感測電極並設為參考電極； 進行一量測循環，以得到一第一感測值；判斷該第一感測電極是否異常；當該第一感測電極被判斷異常時，則改選定該複數個感測電極中的一第二感測電極並設為參考電極，以進行該量測循環；以及，通過一預存向量值，以替換該第一感測值為一第二感測值。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的感測方法，其中該第一感測值包括該第一感測電極上該節點的一第一讀值，以及該第一感測電極以外的其他該感測電極上該節點的複數個讀值。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的感測方法，更包括判斷該第一感測電極是否異常的步驟，判斷步驟包括：比較同一個該驅動電極上的每一該節點之讀值分別與該第一感測電極上該節點之該第一讀值的一差異值；檢查任一該差異值是否高於或低於一閾限值；以及，若該差異值高於或低於該閾限值，則判斷該第一感測電極為異常。
TW108118744A 2018-05-31 2019-05-30 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組 TWI709897B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107118791 2018-05-31
TW107118791 2018-05-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW202004473A TW202004473A (zh) 2020-01-16
TWI709897B true TWI709897B (zh) 2020-11-11

Family

ID=68736355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW108118744A TWI709897B (zh) 2018-05-31 2019-05-30 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN110554812B (zh)
TW (1) TWI709897B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI737318B (zh) * 2020-05-27 2021-08-21 禾瑞亞科技股份有限公司 觸控處理方法、裝置與觸控系統

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140225850A1 (en) * 2008-12-26 2014-08-14 Luben Hristov Multiple Electrode Touch Sensitive Device
CN104205025A (zh) * 2012-03-30 2014-12-10 夏普株式会社 互电容触摸屏装置和用于创建互电容触摸屏装置的方法
US20150002448A1 (en) * 2013-06-28 2015-01-01 Samuel Brunet Pseudo Driven Shield
TW201543297A (zh) * 2014-01-03 2015-11-16 3M Innovative Properties Co 使用差動信號技術之電容式觸控系統及方法
TW201809993A (zh) * 2016-09-01 2018-03-16 凌巨科技股份有限公司 檢測方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200701651A (en) * 2005-06-21 2007-01-01 Via Tech Inc Reference circuit and signal adjusting circuit
KR101327888B1 (ko) * 2011-06-21 2013-11-11 (주)멜파스 터치 패널 시스템의 믹서 회로 및 방법
KR101288191B1 (ko) * 2011-11-04 2013-07-18 삼성전기주식회사 접촉 감지 방법 및 접촉 감지 장치
TWI499959B (zh) * 2013-02-07 2015-09-11 Au Optronics Corp 觸控晶片及採用此觸控晶片之觸控裝置
TWI530856B (zh) * 2014-12-19 2016-04-21 創為精密材料股份有限公司 電容式感測裝置及其方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140225850A1 (en) * 2008-12-26 2014-08-14 Luben Hristov Multiple Electrode Touch Sensitive Device
CN104205025A (zh) * 2012-03-30 2014-12-10 夏普株式会社 互电容触摸屏装置和用于创建互电容触摸屏装置的方法
US20150002448A1 (en) * 2013-06-28 2015-01-01 Samuel Brunet Pseudo Driven Shield
US20170205916A1 (en) * 2013-06-28 2017-07-20 Atmel Corporation Pseudo Driven Shield
TW201543297A (zh) * 2014-01-03 2015-11-16 3M Innovative Properties Co 使用差動信號技術之電容式觸控系統及方法
TW201809993A (zh) * 2016-09-01 2018-03-16 凌巨科技股份有限公司 檢測方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110554812B (zh) 2023-04-21
TW202004473A (zh) 2020-01-16
CN110554812A (zh) 2019-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11853496B2 (en) Using electrical resistance to estimate force on an electrode during temperature changes
AU2010202693B2 (en) Negative pixel compensation
KR20120112799A (ko) 터치 센서 패널 네거티브 픽셀 보상
US9367190B2 (en) Touch recognition method and system for a capacitive touch apparatus
US9921668B1 (en) Touch panel controller integrated with host processor for dynamic baseline image update
TWI530856B (zh) 電容式感測裝置及其方法
TWI709897B (zh) 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組
TWI537807B (zh) 電容式感測裝置及其方法
TWI524255B (zh) 電容式感測裝置的背景雜訊的偵測方法
JP2021530007A (ja) データ検出方法および装置、記憶媒体、タッチ装置
TWI604356B (zh) 觸控系統及其觸控偵測方法
TWI530851B (zh) 觸控電路以及控制觸控電路的方法
CN110389680B (zh) 触摸感测装置
TWI763859B (zh) 觸控辨識裝置之感測方法及其感測模組
CN110633020B (zh) 触控辨识装置的感测方法及其感测模块
CN108334217B (zh) 触控系统的侦测更新方法
TWI507960B (zh) 觸控系統及其座標修正方法
CN110580117B (zh) 触控感测装置及其感测方法
TWI525498B (zh) 觸控軌跡的偵測裝置、系統及其方法
CN111831142A (zh) 触控面板的信号补偿方法
TW201409328A (zh) 信號處理器、觸碰判斷裝置及觸碰判斷方法
TW202101177A (zh) 觸控面板及其出廠設定方法
TW202004469A (zh) 電容式觸控板上之液體檢測方法及其控制器