KR101610577B1 - 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법 - Google Patents

터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101610577B1
KR101610577B1 KR1020150002872A KR20150002872A KR101610577B1 KR 101610577 B1 KR101610577 B1 KR 101610577B1 KR 1020150002872 A KR1020150002872 A KR 1020150002872A KR 20150002872 A KR20150002872 A KR 20150002872A KR 101610577 B1 KR101610577 B1 KR 101610577B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
impedance
waveform
pattern
conductive film
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020150002872A
Other languages
English (en)
Inventor
이동석
Original Assignee
이동석
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이동석 filed Critical 이동석
Priority to KR1020150002872A priority Critical patent/KR101610577B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101610577B1 publication Critical patent/KR101610577B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837—Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R31/02—
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

본 발명은 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치에 관한 것으로, 교류파형을 발생하여 터치스크린 패널의 도전막으로 출력하는 파형발생부와, 상기 도전막에서 출력되는 파형으로부터 임피던스를 측정하는 임피던스 측정부와, 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 상기 도전막의 패턴 불량 여부를 판단하는 신호처리 프로세서를 포함하여 구성되어, 터치스크린 패널에서 ITO의 불량 여부 검사 및 ITO 막의 두께 측정이 가능한 발명이다.

Description

터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법{Apparatus for measuring impedance of touch screen panel, and method for detecting fault therethrough}
본 발명은 터치스크린 패널의 임피던스 측정을 통해 ITO 패턴의 불량 여부를 검출하기 위한 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법에 관한 것이다.
최근 이동통신 단말기, 개인용 디지털 기기, 컴퓨터 등에 널리 적용되고 있는 터치스크린 패널(TSP: Touch Screen Panel)은 디스플레이 디바이스 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력장치로 최근 다양하게 이용되고 있다.
터치스크린 패널은 접촉된 부분을 감지하는 방식에 따라 저항막 방식, 정전용량 방식, 표면초음파 방식, 적외선 방식 등이 있으며, 제조 방식에 따라 In-cell 타입과 On-cell 타입 등이 있다.
In-cell 타입은 디스플레이 픽셀을 구동하는 박막트랜지스터(TFT)를 제조할 시에 디스플레이 윈도우필름 내부에 산화인듐(ITO)을 박막 증착하여 투명한 터치 센서를 내장시키는 타입이고, On-cell 타입은 디스플레이 윈도우필름 상부에 ITO를 박막 증착하여 투명한 터치 센서를 구성하는 타입이다.
정전용량 방식은 얇은 전도성 물질이 코팅된 투명기판을 이용한다. 일정량의 전류를 투명기판의 표면에 흐르게 하고, 사용자가 코팅된 투명기판의 표면을 터치하면, 일정량의 전류가 사용자의 체내에 흡수되며 접촉면의 전류량이 변경된 부분을 인식함으로써 터치된 부분을 확인하게 된다. 정전용량 방식의 터치스크린 패널은 접촉면에서의 접촉위치를 정확하게 판단하기 위해 X축 좌표 및 Y축 좌표를 인식하기 위한 두 종류의 터치 센서(감지 전극)를 갖는다.
터치 센서는 다수의 감지셀(픽셀)로 구성되며, 각 감지셀들은 ITO 입력전극과 출력전극, 그리고 두 전극 사이의 정전용량(Capacitance)로 구성된다.
한편, 터치스크린 패널의 제조 시에는 최종적으로 검사 공정을 거치게 되는데, 그 검사 공정을 통해 불량품을 선별한다. 그러나, 상기한 검사는 터치 여부에 따른 감지 기능을 검사하기 위한 것으로, 터치스크린 패널의 자체적인 구조에서 픽셀 간의 개방(open)이나 단락(short) 등의 오류가 전혀 발생하지 않는다는 가정 하에서 실시되는 것이다.
따라서, 터치스크린 패널의 터치 센서를 구성하는 각 감지셀(픽셀)에 대한 불량 여부의 검사가 요구되었다.
그에 따라, 대한민국 특허출원 제10-2012-0126636호에서는 터치스크린 패널의 사양에 따른 용량 변화량을 감지하여, 터치 스크린 패널의 픽셀 간의 개방(open)이나 픽셀 간의 단락(short)을 검출하도록 해주는 기술을 개시하였다. 즉, 대한민국 특허출원 제10-2012-0126636호에서는 감지된 용량 변화량의 기울기와 전위차를 기준데이터(기준 기울기 및 기준 전위차)와 비교한 차이에 따라 픽셀 간의 개방(open) 시에 검출되는 용량 값과 픽셀 간에 단락(short) 시에 검출되는 용량 값을 검출하였다.
그러나 이러한 종래 기술은 정전용량 측정에 기반하여 터치스크린 패널의 불량 여부를 검사하는 것으로, ITO의 저항 특성은 전혀 고려하지 않았기 때문에 ITO 저항 특성에 따른 불량 여부를 검출할 수 없었다.
본 발명의 목적은 상기한 점을 감안하여 안출한 것으로, 특히 터치스크린 패널에서 ITO의 저항 특성을 고려하여 픽셀 간의 개방(open)이나 픽셀 간의 단락(short) 등의 불량 여부를 검사하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 다른 목적은, 터치스크린 패널에서 ITO의 저항 측정을 통해 ITO막의 두께도 측정하도록 해주는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법을 제공하는 데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 특징은, 교류파형을 발생하여 터치스크린 패널의 도전막으로 출력하는 파형발생부; 상기 도전막에서 출력되는 파형으로부터 임피던스를 측정하는 임피던스 측정부; 그리고 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 상기 도전막의 패턴 불량 여부를 판단하는 신호처리 프로세서를 포함하여 구성되는 것이다.
바람직하게, 상기 파형발생부는 정현파를 발생하여 출력할 수 있다.
바람직하게, 상기 도전막은 상기 터치스크린 패널의 터치 감지를 위한 ITO막일 수 있다.
바람직하게, 상기 파형발생부에서 발생된 교류파형을 터치스크린 패널의 도전막에 감지셀 별로 입력시키는 제1먹스와, 상기 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 파형을 상기 임피던스 측정부로 입력시키는 제2먹스를 더 포함할 수 있다.
바람직하게, 상기 파형발생부는 기준 파형을 발생시키는 오실레이터와, 상기 오실레이터에서 발생된 기준 파형에 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 주파수와 전압을 합하여 출력시키는 먹스와, 상기 먹스에서 출력되는 상기 기준 파형을 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 주파수와 전압으로 조절하여 합성하는 파형합성기(DDS)와, 상기 파형합성기의 출력을 아날로그 신호로 변환하는 신호변환기와, 상기 신호변환기의 출력을 증폭하는 증폭기를 포함할 수 있다.
바람직하게, 상기 임피던스 측정부는 상기 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 파형을 증폭하는 증폭기와, 상기 증폭기의 출력에 대해 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 이득으로 조절하는 이득조절기와, 상기 이득조절기의 출력을 필터링하는 대역필터와, 상기 대역필터의 출력을 디지털신호로 변환하는 신호변환기를 포함할 수 있다.
바람직하게, 상기 파형발생부에서 출력되는 상기 교류파형의 주파수와 전압을 상기 신호처리 프로세서를 통해 설정하기 위한 외부 입력장치 또는 통신모듈을 더 포함할 수 있다.
보다 바람직하게, 상기 통신모듈은 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴과 상기 기준 패턴을 비교한 결과를 외부로 송신할 수 있다.
바람직하게, 상기 신호처리 프로세서는 측정된 온도에 따라 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스 값을 보정할 수 있다.
바람직하게, 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴과 상기 기준 패턴을 비교한 결과를 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함할 수 있다.
바람직하게, 상기 신호처리 프로세서는 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 상기 도전막의 두께를 더 측정할 수 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정을 통한 불량 검출 방법의 특징은, 한 쌍의 전극 간에 정전용량을 구성하는 도전막에 대해 정현파를 사용하여 상기 전극의 임피던스 값을 측정하는 단계; 상기 측정된 임피던스 값에 대한 패턴을 정상적인 임피던스 패턴과 비교하는 단계; 그리고 상기 임피던스 패턴의 비교를 통한 차이에 기반하여 상기 도전막의 불량 여부를 판단하는 단계로 이루어지는 것이다.
바람직하게, 측정된 온도에 따라 상기 측정된 임피던스 값을 보정하는 단계를 더 포함하되, 상기 보정된 임피던스 값에 대한 패턴을 상기 정상적인 임피던스 패턴과 더 비교할 수 있다.
본 발명에 따르면, 터치스크린 패널에서 ITO의 저항을 측정하여 각 감지셀 단위로 개방(open)이나 단락(short) 등의 불량 여부를 검사할 수 있게 해준다.
또한, 터치스크린 패널에서 ITO의 저항을 측정하여 ITO 막의 두께를 추정하고, 그에 따라 비정상적인 두께를 가지는 ITO 막의 불량 여부를 검사할 수 있게 해준다.
도 1은 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램,
도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램, 그리고
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 터치스크린 패턴의 임피던스 측정을 통한 불량 검출 절차를 나타낸 플로우챠트이다.
본 발명의 다른 목적, 특징 및 이점들은 첨부한 도면을 참조한 실시 예들의 상세한 설명을 통해 명백해질 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예의 구성과 그 작용을 설명하며, 도면에 도시되고 또 이것에 의해서 설명되는 본 발명의 구성과 작용은 적어도 하나의 실시 예로서 설명되는 것이며, 이것에 의해서 상기한 본 발명의 기술적 사상과 그 핵심 구성 및 작용이 제한되지는 않는다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법의 바람직한 실시 예를 자세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램이고, 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램이고, 도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치의 구성을 나타낸 블록다이어그램이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치는 파형발생부(20)와 임피던스 측정부(30)와 신호처리프로세서(40)로 구성된다.
본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치는, 다수의 감지셀(픽셀)을 구성하는 터치 센서에서 각 감지셀의 임피던스를 측정하는 것으로, 각 감지셀에서 한 쌍의 전극 간에 정전용량을 구성하는 도전막에 대해 교류파형을 사용하여 전극의 임피던스 값을 측정하는 것이다. 여기서, 도전막은 터치스크린 패널의 터치 감지를 위한 ITO(Indium Tin Oxide) 막(10)이며, 각 감지셀에서 한 쌍의 전극은 ITO 입력전극과 출력전극일 수 있다.
파형발생부(20)는 교류파형을 발생하고, 터치스크린 패널의 도전막으로 그 교류파형을 출력한다. 파형발생부(20)는 신호처리프로세서(40)의 제어에 따라 교류파형의 주파수와 전압을 가변하며, ITO의 입력전극(Rx)에 그 가변된 교류파형을 인가한다. 여기서, 교류파형은 정현파인 것이 바람직하며, 그에 따라 파형발생부(20)는 정현파를 발생하고, 그 정현파를 신호처리프로세서(40)의 제어에 따라 주파수와 전압을 가변하여 출력한다.
파형발생부(20)의 구성에 대해 상세하면, 파형발생부(20)는 기준 파형을 발생시키는 오실레이터(Oscillator)와, 그 오실레이터에서 발생된 기준 파형에 신호처리 프로세서(40)의 제어에 따라 설정된 주파수와 전압을 합하여 출력시키는 먹스(Mux)와, 그 먹스에서 출력되는 기준 파형을 신호처리 프로세서(40)의 제어에 따라 설정된 주파수와 전압으로 조절하여 합성하는 파형합성기(DDS)와, 그 파형합성기의 출력을 아날로그 신호로 변환하는 신호변환기(DAC)와, 그 신호변환기(DAC)의 출력을 증폭하는 증폭기를 포함하여 구성될 수 있다.
임피던스 측정부(30)는 도전막에서 출력되는 신호파형으로부터 임피던스를 측정하는 것으로, ITO의 출력전극(Tx)에서 출력되는 신호파형으로부터 임피던스 값을 측정한다.
임피던스 측정부(30)의 구성에 대해 상세하면, 임피던스 측정부(30)는 터치스크린 패널의 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 파형을 증폭하는 증폭기와, 그 증폭기의 출력에 대해 신호처리 프로세서(40)에서 설정된 이득으로 조절하는 이득조절기와, 그 이득조절기의 출력을 필터링하는 대역필터(LPF)와, 그 대역필터(LPF)의 출력을 디지털신호로 변환하는 신호변환기(ADC)를 포함하여 구성될 수 있다.
신호처리프로세서(40)는 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 기준 임피던스 값과 비교하여 도전막의 각 감지셀에 대한 불량 여부를 판정한다. 특히, 신호처리프로세서(40)는 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값의 패턴을 기준 패턴과 비교하고, 그 비교 결과에 기반하여 도전막의 패턴 불량 여부를 판단할 수 있다. 이러한, 도전막의 패턴 불량 여부를 판정하기 위해, 신호처리프로세서(40)는 감지셀에 대한 불량 여부를 판정하기 위한 기준 패턴을 저장한다.
또한, 신호처리프로세서(40)는 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 터치스크린 패널의 도전막의 두께를 더 측정할 수 있다. 따라서, 신호처리프로세서(40)는 도전막의 두께에 따른 적어도 하나의 패턴들을 저장한다.
또한, 신호처리프로세서(40)는 파형발생부(20)에서 발생되는 교류파형의 주파수와 전압을 가변하기 위한 제어, 그리고 임피던스 측정부(30)에서 감지셀 별로 출력되는 파형의 이득을 조절하기 위한 제어를 수행한다.
신호처리프로세서(40)는 FPGA(Field Programmable Gate Array)와 MCU(Micro Control Unit)의 조합으로 구성될 수 있다. 신호처리프로세서(40)의 구성에서 FPGA는 CPLD(Complex Programmable Logic Device)로 구현될 수 있다.
본 발명의 장치는 파형발생부(20)에서 발생된 교류파형을 터치스크린 패널의 도전막에 감지셀 별로 입력시키는 제1먹스(70)와, 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 신호파형을 임피던스 측정부(30)로 입력시키는 제2먹스(71)를 더 구비할 수 있다. 제1먹스(70)는 직렬로 입력되는 교류파형을 감지셀 별로 병렬 출력하며, 제2먹스(71)는 감지셀 별로 병렬 출력되는 신호파형을 직렬로 출력한다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 장치는 신호처리프로세서(40)와 연동하여 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스의 패턴과 기준 패턴을 비교한 결과, 그 비교 결과에 따른 도전막의 패턴 불량 여부의 판단 결과 또는 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 외부로 송신하는 통신모듈(50)을 더 구비할 수 있다.
통신모듈(50)은 또한 의해 파형발생부(20)에서 발생되는 교류파형의 주파수와 전압을 가변하기 위한 제어명령을 수신하여 신호처리프로세서(40)에 제공할 수 있다. 즉, 통신모듈(50)은 파형발생부(20)에서 출력되는 교류파형의 주파수와 전압을 신호처리 프로세서(40)를 통해 설정하기 위한 제어명령을 수신할 수 있다.
한편, 파형발생부(20)에서 출력되는 교류파형의 주파수와 전압을 신호처리 프로세서(40)를 통해 설정하기 위한 제어명령이 입력되는 외부 입력장치(미도시)를 더 구비할 수도 있다. 그에 따라, 신호처리프로세서(40)는 외부 입력장치(미도시)를 통해 주파수와 전압의 가변을 위한 제어명령이 입력됨에 따라, 파형발생부(20)의 출력 파형을 제어한다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 장치는 신호처리프로세서(40)와 연동하여 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스의 패턴과 기준 패턴을 비교한 결과, 그 비교 결과에 따른 도전막의 패턴 불량 여부의 판단 결과 또는 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 디스플레이하는 디스플레이부(60)를 더 구비할 수 있다.
또한 본 발명의 장치에서 신호처리프로세서(40)는 측정된 임피던스와 기준 임피던스 간의 비교를 통해 도전막의 불량 여부를 판단할 시에 온도에 따른 오차를 보정하기 위한 수단을 더 구비하며, 그에 따라 측정된 온도에 따라 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 보정한 후 도전막의 불량 여부를 판단한다. 즉, 신호처리프로세서(40)는 온도센서(80)에 의해 측정된 온도에 따라 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 보정하고, 그 보정된 임피던스 값에 의한 패턴을 기준이 되는 정상적인 임피던스 패턴과 비교하고, 그 비교 결과가 설정된 오차(차이)를 벗어나는 경우에 해당 감지셀을 불량으로 판정한다.
따라서, 본 발명의 장치는 온도 측정을 위한 온도센서(80)를 더 구비하며, 신호처리프로세서(40)는 온도센서(80)에 의해 측정된 온도에 따라 임피던스 측정부(30)에서 측정된 임피던스 값을 보정한다. 여기서, 온도센서(80)는 터치스크린 패널의 주변 온도를 측정한다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 터치스크린 패턴의 임피던스 측정을 통한 불량 검출 절차를 나타낸 플로우챠트로서, 도 1 내지 3의 장치 구성에 기반하여 한 쌍의 전극 간에 정전용량을 구성하는 도전막에 대해 각 감지셀 별로 불량 여부를 검출하는 절차이다.
도 4를 참조하면, 한 쌍의 전극 간에 정전용량을 구성하는 도전막에 대해 정현파와 같은 교류파형을 사용하여 상기한 전극의 임피던스 값을 측정한다(S10).
이어, 측정된 임피던스 값에 대한 패턴을 정상적인 임피던스 패턴과 비교한다(S30). 여기서, 패턴 간의 비교 이전에 온도센서에 의해 측정된 온도에 따라 측정된 임피던스 값을 보정할 수 있다(S20).
이어, 측정된 임피던스 값에 대한 패턴과 정상적인 임피던스 패턴을 비교한 결과 또는 보정된 임피던스 값에 대한 패턴과 정상적인 임피던스 패턴을 비교한 결과에 따른 비교 차이(오차)에 기반하여 도전막의 각 감지셀 별로 불량 여부를 판단한다(S30,S40). 보다 상세하게, 패턴 비교 결과에 따른 차이(오차)가 기준 값의 범위를 벗어나는 경우에 해당 감지셀을 불량으로 판정한다.
상기와 같은 본 발명에 따른 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법은 터치스크린 패널 뿐만 아니라 ITO막과 같은 도전막을 사용하여 터치를 감지하는 디바이스에서 그 도전막의 감지셀 별 불량과 두께를 계측하는데 적용될 수 있다.
지금까지 본 발명의 바람직한 실시 예에 대해 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위 내에서 변형된 형태로 구현할 수 있을 것이다.
그러므로 여기서 설명한 본 발명의 실시 예는 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 하고, 본 발명의 범위는 상술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
10: ITO막
20: 파형발생부
30: 임피던스 측정부
40: 신호처리 프로세서
50: 통신모듈

Claims (13)

  1. 교류파형을 발생하여 터치스크린 패널의 도전막으로 출력하는 파형발생부;
    상기 도전막에서 출력되는 파형으로부터 임피던스를 측정하는 임피던스 측정부; 그리고
    상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 상기 도전막의 패턴 불량 여부를 판단하는 신호처리 프로세서를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 파형발생부는,
    정현파를 발생하여 출력하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 도전막은,
    상기 터치스크린 패널의 터치 감지를 위한 ITO막인 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 파형발생부에서 발생된 교류파형을 터치스크린 패널의 도전막에 감지셀 별로 입력시키는 제1먹스와,
    상기 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 파형을 상기 임피던스 측정부로 입력시키는 제2먹스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 파형발생부는,
    기준 파형을 발생시키는 오실레이터와,
    상기 오실레이터에서 발생된 기준 파형에 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 주파수와 전압을 합하여 출력시키는 먹스와,
    상기 먹스에서 출력되는 상기 기준 파형을 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 주파수와 전압으로 조절하여 합성하는 파형합성기(DDS)와,
    상기 파형합성기의 출력을 아날로그 신호로 변환하는 신호변환기와,
    상기 신호변환기의 출력을 증폭하는 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 임피던스 측정부는,
    상기 도전막으로부터 감지셀 별로 출력되는 파형을 증폭하는 증폭기와,
    상기 증폭기의 출력에 대해 상기 신호처리 프로세서에서 설정된 이득으로 조절하는 이득조절기와,
    상기 이득조절기의 출력을 필터링하는 대역필터와,
    상기 대역필터의 출력을 디지털신호로 변환하는 신호변환기를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 파형발생부에서 출력되는 상기 교류파형의 주파수와 전압을 상기 신호처리 프로세서를 통해 설정하기 위한 외부 입력장치 또는 통신모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 통신모듈은,
    상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴과 상기 기준 패턴을 비교한 결과를 외부로 송신하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호처리 프로세서는 측정된 온도에 따라 상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스 값을 보정하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴과 상기 기준 패턴을 비교한 결과를 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호처리 프로세서는,
    상기 임피던스 측정부에서 측정된 임피던스의 패턴을 기준 패턴과 비교하여 상기 도전막의 두께를 더 측정하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치.
  12. 한 쌍의 전극 간에 정전용량을 구성하는 도전막에 대해 정현파를 사용하여 상기 전극의 임피던스 값을 측정하는 단계;
    상기 측정된 임피던스 값에 대한 패턴을 정상적인 임피던스 패턴과 비교하는 단계; 그리고
    상기 임피던스 패턴의 비교를 통한 차이에 기반하여 상기 도전막의 불량 여부를 판단하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정을 통한 불량 검출 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    측정된 온도에 따라 상기 측정된 임피던스 값을 보정하는 단계를 더 포함하되, 상기 보정된 임피던스 값에 대한 패턴을 상기 정상적인 임피던스 패턴과 더 비교하는 것을 특징으로 하는 터치스크린 패널의 임피던스 측정을 통한 불량 검출 방법.
KR1020150002872A 2015-01-08 2015-01-08 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법 Active KR101610577B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150002872A KR101610577B1 (ko) 2015-01-08 2015-01-08 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150002872A KR101610577B1 (ko) 2015-01-08 2015-01-08 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101610577B1 true KR101610577B1 (ko) 2016-04-07

Family

ID=55790018

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150002872A Active KR101610577B1 (ko) 2015-01-08 2015-01-08 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101610577B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220064507A (ko) 2020-11-12 2022-05-19 와이테크 주식회사 차량용 터치 모듈 검사 장치 및 검사 시스템, 이를 이용한 터치 모듈 검사방법
US12074427B2 (en) 2021-08-03 2024-08-27 Samsung Display Co., Ltd. Input sensor short-circuit inspection module and input sensor short-circuit inspection method using the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101353509B1 (ko) 2012-11-09 2014-01-21 (주)제이디 터치 스크린 패널의 용량 측정 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101353509B1 (ko) 2012-11-09 2014-01-21 (주)제이디 터치 스크린 패널의 용량 측정 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220064507A (ko) 2020-11-12 2022-05-19 와이테크 주식회사 차량용 터치 모듈 검사 장치 및 검사 시스템, 이를 이용한 터치 모듈 검사방법
US12074427B2 (en) 2021-08-03 2024-08-27 Samsung Display Co., Ltd. Input sensor short-circuit inspection module and input sensor short-circuit inspection method using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3185748U (ja) タッチセンサパネルに対する圧力の影響を較正するための装置
CN102819476B (zh) 触控屏幕控制器、触控屏幕的控制装置与检测方法
KR102030635B1 (ko) 터치 패널의 검사 장치 및 그 방법
US20130320994A1 (en) Electrode testing apparatus
US9921668B1 (en) Touch panel controller integrated with host processor for dynamic baseline image update
KR20070112750A (ko) 터치 패널 장치 및 이의 접촉위치 검출방법
JP5863992B2 (ja) タッチスクリーンパネルの容量測定装置
US20170285832A1 (en) Integral sensing apparatus for touch and force sensing and method for the same
CN104111763A (zh) 有故障检测装置的采用多频电容检测的多点触控触敏装置
JP2013152581A (ja) 検出装置、検出方法、および表示装置
US20120293336A1 (en) Apparatus, and associated method, for testing a touch sensing device
US8416215B2 (en) Implementation of multi-touch gestures using a resistive touch display
TWI459267B (zh) 觸摸屏觸摸點之感測方法
US9612704B2 (en) Apparatus and method for sensing touch
KR101610577B1 (ko) 터치스크린 패널의 임피던스 측정 장치 및 그를 통한 불량 검출 방법
TW201736814A (zh) 壓力測量方法以及壓力測量裝置
KR101929323B1 (ko) 정전용량방식의 터치스크린패널 검사장치
TWI537807B (zh) 電容式感測裝置及其方法
US10402015B2 (en) Touch sensitive processing apparatus, electronic system and method thereof for configuring interconnection parameters with touch panel
US20120287078A1 (en) Multi-touch detection method and device thereof
TW201702842A (zh) 增強型３ｄ偵測模組的偵測方法
KR101738928B1 (ko) 인셀 타입 터치 센서의 오픈 불량 감지방법
KR101713184B1 (ko) 자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법
US10824273B2 (en) Method for correcting measurement threshold of capacitive sensing apparatus and capacitive sensing apparatus
KR20180078954A (ko) 터치센싱시스템 및 이를 포함한 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20150108

PA0201 Request for examination
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20160203

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20160401

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20160401

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190401

Year of fee payment: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20190401

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20200504

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20210217

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20220208

Start annual number: 7

End annual number: 7

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20230330

Start annual number: 8

End annual number: 8