CN110072031A - 电子设备及记录介质 - Google Patents

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CN110072031A CN201910042960.7A CN201910042960A CN110072031A CN 110072031 A CN110072031 A CN 110072031A CN 201910042960 A CN201910042960 A CN 201910042960A CN 110072031 A CN110072031 A CN 110072031A
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Abstract

本发明的电子设备及记录介质早期且理智地判断是否满足产品保证期间。系统控制部在将写入保证值设为(Wmax)、将写入总量设为(Wsum)、将差的每单位期间的平均值设为(Ave.)、将每单位期间的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证期间设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)‑(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出剩余保证期间，并在将经过期间设为(Dpast)、将使用可能预测期间设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出使用可能预测期间，在将非易失性存储器保证的保证期间设为(Dguarantee)时，在(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下判断为超量写入。由此，能够在使用可能预测期间(Dprediction)不满保证期间(Dguarantee)的情况下判断为超量写入。

Description

电子设备及记录介质
技术领域
本发明涉及适于非易失性存储器的管理的电子设备及记录介质。
背景技术
例如，在作为电子设备之一的、复合机等MFP(Multifunction Peripheral，多功能打印机)即图像形成装置中，存在能够搭载HDD(Hard Disk Drive，硬盘驱动器)、SSD(SolidState Drive，固态硬盘)、SD(Secure Digital Card，安全数字卡)卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的机种。
然而，在是这些非易失性存储器中的HDD、和SSD的情况下，搭载有称为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology，自我检测分析与报告技术)的自我诊断功能。另外，在是搭载有自我诊断功能的非易失性存储器的情况下，通过使用SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)接口，能够获得被称为TBW(Tera Byte Written，万亿字节写入)的表示写入了几万亿字节的数据的写入量。
相对于此，在是SD卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的情况下，由于未搭载有称为S.M.A.R.T.的自我诊断功能，因此，不能获得称为TBW的写入保证值。这样，在不能获得写入保证值的情况下，检测非易失性存储器的寿命就变得困难。另外，若不能获得写入保证值的非易失性存储器在使用过程中达到了寿命，则有时图像形成装置不能正常地工作。
为了消除这样的不理想情况，典型的技术中，存在如下的数据存储控制装置：由计数部件，以分区单位，对针对写入保证值表示的保证次数较少的第1非易失性存储器的数据写入次数进行计数，若应该写入数据的第1非易失性存储器的分区的写入次数超过规定次数，则由控制部件将需要写入的数据存储到改写保证次数较多的第2非易失性存储器。
发明内容
发明要解决的问题
在上述的典型的技术中的数据存储控制装置中，以分区单位，对针对改写保证次数较少的第1非易失性存储器的数据写入次数进行计数，在第1非易失性存储器达到寿命之前，将数据向改写保证次数较多的第2非易失性存储器写入，因此，能够确保数据的可靠性。
然而，对于SD卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的寿命，根据产品保证年数能够某种程度地进行预测。但是，由于数据的改写次数、数据的写入量、数据的写入间隔等使用条件不同，非易失性存储器的寿命也会发生变化。
因此，如典型的技术中的数据存储控制装置那样，若仅以第1非易失性存储器的分区的写入次数对第1非易失性存储器的寿命进行检测，则不能在写入次数超过规定次数之前检测出第1非易失性存储器的寿命。这样，若不能在写入次数超过规定次数之前检测出第1非易失性存储器的寿命，则存在不能早期预测成为不满足产品保证年数的状态这一情况的问题。
本发明是鉴于这样的情况而完成的，其目的在于，提供能够解决上述问题的电子设备及记录介质。
解决问题的方案
本发明的电子设备的特征在于，具备：非易失性存储器，其具有多个存储单元；设计值管理表，其用于将基于产品保证期间的、每单位期间每个所述存储单元的写入预测量作为设计值进行管理；差管理表，其用于对每个所述存储单元的所述设计值的合计与每个所述存储单元的数据的写入量的合计之差进行管理；以及系统控制部，其获得所述单位期间的每个所述存储单元的所述数据的写入量，并将所述差登记在所述差管理表中，所述系统控制部获得自所述非易失性存储器的使用开始起的数据的写入总量，在将写入保证值设为(Wmax)、将所述写入总量设为(Wsum)、将所述差的每所述单位期间的平均值设为(Ave.)、将每所述单位期间的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证期间设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)-(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出所述剩余保证期间，并且，在将经过期间设为(Dpast)、将使用可能预测期间设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出所述使用可能预测期间，在将所述非易失性存储器保证的保证期间设为(Dguarantee)时，在成为(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入。
本发明的记录介质是保存存储器控制程序的记录介质，该存储器控制程序由对搭载具有多个存储单元的非易失性存储器的电子设备进行控制的计算机执行，该记录介质的特征在于，所述存储器控制程序利用设计值管理表将基于产品保证期间的、每单位期间每个所述存储单元的写入预测量作为设计值进行管理，所述存储器控制程序利用差管理表，对每个所述存储单元的所述设计值的合计与每个所述存储单元的数据的写入量的合计之差进行管理，所述存储器控制程序利用系统控制部，获得所述单位期间的每个所述存储单元的所述数据的写入量，并将所述差登记在所述差管理表中，并且，所述系统控制部获得自所述非易失性存储器的使用开始起的数据的写入总量，在将写入保证值设为(Wmax)、将所述写入总量设为(Wsum)、将所述差的每所述单位期间的平均值设为(Ave.)、将每所述单位期间的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证期间设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)-(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出所述剩余保证期间，并且，在将经过期间设为(Dpast)，将使用可能预测期间设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出所述使用可能预测期间，在将所述非易失性存储器保证的保证期间设为(Dguarantee)时，在成为(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入。
发明效果
根据本发明的电子设备及记录介质，由于能够在使用可能预测期间(Dprediction)不满保证期间(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入，因此能够早期且理智地判断是否满足产品保证期间。
附图简要说明
图1是用于说明将本发明的电子设备适用于MFP的情况下的一实施方式的图。
图2是对图1的SSD的结构的一例进行说明的图，且图2中(a)是表示SSD具有的分区的图，图2中(b)是表示对各个分区进行管理的内核管理区域的图。
图3是说明图1的非易失性存储器的管理信息的图，图3中(a)是表示设计值管理表的图，图3中(b)是表示差管理表的图。
图4是用于对图1的管理服务器侧进行的非易失性存储器的寿命预测的一例进行说明的图。
图5是用于对图1的管理服务器侧进行的非易失性存储器的寿命预测的其他例进行说明的图。
图6是用于对图1的非易失性存储器的管理中的差管理和超量写入检测进行说明的流程图。
图7是用于对图1的非易失性存储器的管理中的警报通知进行说明的流程图。
具体实施方式
下面，参照图1～图7对本发明的电子设备的一实施方式进行说明。此外，作为下面的说明中的电子设备的一例，例如设为是搭载有印刷功能、复印功能、FAX功能、经由网络的数据发送接收功能等的复合的外围设备即MFP(Multifunction Peripheral，多功能数码复合一体机)。
首先，如图1所示，MFP100通过互联网或公司内部LAN(Local Area Network，局域网)等网络300，与管理MFP100的管理服务器200连接。管理服务器200基于从MFP100收到的后述的图3中(b)所示的差管理表113的写入差平均值(Ave.)，进行不能获得被称为TBW(Tera Byte Written，万亿字节写入)的表示直到寿命为止能够写入几万亿字节的数据的写入保证值的非易失性存储器的寿命预测等。
MFP100具备对扫描仪部101、打印机部102、FAX(Facsimile，传真)部103、I/F(接口)104、DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)105、面板部106、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)存储器107、SSD(solid state drive，固态硬盘)108、SD卡109、闪存存储器(Flash存储器)(注册商标)110进行控制的控制部120。此外，作为非易失性存储器的USB存储器107相对于MFP100的主体自由插拔。相对于此，作为非易失性存储器的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110以不能相对于MFP100的主体拔出的方式安装于MFP100的主体。另外，闪存存储器(注册商标)110例如表示NOR闪存、NAND闪存等。另外，也可以设置未图示的HDD(Hard Disk Drive，硬盘驱动器)。
扫描仪部101是将由图像传感器(省略图示)读取的原稿的图像转换为数字的图像数据，并输入到控制部120的器件。打印机部102是基于从控制部120输出的印刷数据，在纸张上印刷图像的器件。FAX部103是将从控制部120输出的数据通过电话线向对方传真机发送，另外，接收来自对方传真机的数据并向控制部120输入的器件。
I/F104是通过公司内部LAN(Local Area Network，局域网)或互联网等网络负责与管理服务器200、其他用户终端、内容服务器、网站服务器等之间的通信的网络接口卡等器件。DRAM105是用于执行程序的工作存储器。另外，DRAM105存储由后述的图像处理部127进行了图像处理(光栅化)的印刷数据等。面板部106例如显示针对作为非易失性存储器的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的超量写入的检测结果等。
USB存储器107在将各种设定信息或印刷数据等登记到MFP100中时等使用。SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110具有后述的图2所示的存储用户数据或应用程序(以下称为应用)数据等的分区。此外，在是SSD108的情况下，搭载有称为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology，自我检测分析与报告技术)的自我诊断功能。另外，在是搭载有自我诊断功能的非易失性存储器的情况下，通过使用SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)接口，能够获得被称为TBW(Tera Byte Written，万亿字节写入)的表示写入了几万亿字节的数据的写入量。相对于此，在是SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的情况下，由于未搭载有称为S.M.A.R.T.的自我诊断功能，因此，不能获得称为TBW的写入量。然而，在本实施方式中，由于未搭载有SATA接口，因此不能获得来自SSD108的TBW，从而，将超量写入的检测对象设为作为非易失性的半导体存储器(以后简记为“非易失性存储器”。)的SSD108、SD卡109、及闪存存储器(注册商标)110。
控制部120是执行图像形成程序或控制程序等来控制MFP100整体的动作的处理器。控制部120具备扫描仪控制部121、打印机控制部122、FAX控制部123、通信控制部124、DRAM控制部125、ROM(Read-Only Memory，只读存储器)126、图像处理部127、面板操作控制部128、USBHOST控制部129、SD控制部130、闪存控制部131、和系统控制部132。另外，这些与数据总线133连接。
扫描仪控制部121对扫描仪部101的读取动作进行控制。打印机控制部122对打印机部102的印刷动作进行控制。FAX控制部123对FAX部103的数据的发送接收动作进行控制。通信控制部124通过I/F104进行经由网络的数据等的发送接收的控制。
DRAM105是用于执行程序的工作存储器。另外，DRAM105存储由图像处理部127进行了图像处理(光栅化)的印刷数据等。在ROM126中存储有进行各部的动作检查等的控制程序。图像处理部127例如进行针对扫描仪部101读取到的图像数据的图像处理(光栅化)。面板操作控制部128对面板部106的显示动作进行控制。另外，面板操作控制部128通过面板部106接受印刷、复印、FAX、经由互联网的数据发送接收等的开始等。另外，若系统控制部132检测到例如针对作为非易失性存储器的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的超量写入，则面板操作控制部128按照系统控制部132的指示，使告知伴随超量写入的成为不满足产品保证期间的状态这一情况的警报等显示。
USBHOST控制部129控制针对USB存储器107及SSD108的、数据的读取及写入等。SD控制部130控制针对SD卡109的、数据的读取及写入等。闪存控制部131控制针对闪存存储器(注册商标)110的、数据的读取及写入等。系统控制部132对各部的协作动作等进行控制。另外，详细内容后述，系统控制部132对后述的图3中(a)所示的设计值管理表112、同图3中(b)所示的差管理表113进行管理，检测例如针对作为非易失性存储器的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的超量写入，并通过面板操作控制部128，使面板部106显示告知伴随超量写入的成为不满足产品保证期间的状态这一情况的警报等。
接着，参照图2对SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的结构进行说明。此外，在下面，SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的结构几乎相同，因此，以SSD108为代表进行说明。
首先，图2中(a)所示的SSD108具有分区A～E作为存储单元。此外，分区A～E的数量是任意的，不是如图示那样限定于5个。图2中(b)所示的内核管理区域111是系统控制部132管理的，示出对SSD108的分区A～E进行管理的区域。即，系统控制部132执行针对各分区A～E的挂载(mount)处理，例如，将分区A作为用户数据区域111a进行管理，将分区B作为应用数据区域111b进行管理，将分区C作为数据库区域111c进行管理，将分区D作为暂存区域111d进行管理，将分区E作为备用区域111e进行管理。此外，被作为备用区域111e管理的SSD108的分区E例如当在任意一个分区A～D发生了超量写入的情况下，被作为代替写入区域使用。
接着，参照图3，对系统控制部132管理的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的表进行说明。此外，在下面设为，SSD108具有分区A～E，SD卡109具有分区A～B，闪存存储器(注册商标)110具有分区A～E
首先，图3中(a)表示SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的设计值管理表112的一例。设计值管理表112被存储在USB存储器107及SSD108中。设计值管理表112对表示单位期间(本实施方式中为1天)的写入预测量的设计值进行管理，该单位期间的写入预测量基于SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的作为产品保证期间的产品保证年数(例如5年)。即，在是SSD108的情况下，对将分区A设为200MB、将分区B设为300MB、将分区C设为150MB、将分区D设为200MB、将分区E设为300MB的设计值进行管理。在是SD卡109的情况下，对将分区A设为50MB、将分区B设为100MB的设计值进行管理。在是闪存存储器(注册商标)110的情况下，对将分区A设为3MB、将分区B设为25MB、将分区C设为1MB、将分区D设为10MB、将分区E设为5MB的设计值进行管理。此外，关于单位期间，不限定于天数，可以任意地改变。另外，关于各个分区中的设计值，不限定于图3中(a)的容量，可以任意地改变。
接着，图3中(b)示出差管理表113的一例，该差管理表113例如对关于SSD108的10天的相对于分区A～E整体的设计值的、差量的平均值进行管理。差管理表113被存储在USB存储器107及SSD108中。差管理表113对各个分区A～E中的数据的写入量的合计与各个分区A～E的设计值的合计之差、和差的每单位期间(1天)的平均值进行管理。即，对于针对SSD108的数据的写入量，例如，从伴随MFP100的电源接通的系统启动开始起，每2天(也就是隔1天)获得。也就是，在系统启动开始日的第2天获得第1天的数据的写入量，以后，隔1天依次获得。此外，系统管理部132将针对各个分区A～E的数据的写入发生时的写入量存储在USB存储器107及SSD108中，在单位期间中，对每个分区A～E进行累计来进行管理。
此外，对于相对于分区A～E整体的设计值的、差的每单位期间(1天)的平均值的获得，例如，在进行了特定次数(本实施方式中10次(10天))的数据的写入量的获得的时间点执行。另外，对于差的每单位期间的平均值的获得，按每单位期间的整数倍的期间进行即可，但是，需要至少按每与特定次数对应的期间进行。另外，特定次数不限于10次(10天)，可以任意地改变。特别地，根据使用状况，有时任意一个分区A～E中的数据写入量会暂时地示出比设计值还高的值。在该情况下，通过将平均值的获得从10次(10天)增长为20次(20天)，可以避免暂时变高的数据写入量的影响。另外，数据写入量的获得的间隔(获得间隔)不限于每2天(隔1天)，可以任意地改变。另外，关于数据写入量的获得，也可以没有间隔而每天进行。另外，数据写入量的获得开始的时机不限于伴随电源接通的系统启动开始，也可以基于MFP100具有的系统时刻。
在此，差管理表113示出10天的差量的合计的平均值为-40030[KB]的情况。这样，在平均值为负的情况下，系统控制部132判断为满足产品保证年数。相对于此，在平均值为正的情况下，系统控制部132判断为是超量写入。在该情况下，预测为成为不满足产品保证年数的状态。
接着，图4示出对MFP100进行管理的管理服务器200进行的非易失性存储器的寿命预测的一例。即，图4示出从MFP100得到的、针对各分区A～E的写入量的合计的累计值、即从非易失性存储器的写入开始(即，使用开始)起的数据的写入总量的推移。此外，系统管理部132基于各个针对各分区A～E的数据写入量的合计和数据写入量的获得间隔，对数据写入总量进行更新，并存储在USB存储器107及SSD108中。对于数据写入总量的更新，至少在相对于分区A～E整体的设计值的、差的每单位期间的平均值的获得时机执行即可。
另外，在图4中，直线a示出保证产品保证年数(例如5年)的推移。当在图3中(b)的差管理表113中表示的平均值以零或负进行推移的情况下，示出产品保证年数(例如5年)被保证的情况。
相对于此，折线b示出预测成为不满足产品保证年数(例如5年)的状态的推移。也就是，在图3中(b)的差管理表113中表示的平均值以负进行推移的情况下，成为直线b1那样的推移，若在中途平均值以正进行推移，则成为直线b2那样的推移，预测成为不满足产品保证年数(例如5年)的状态。
其中，折线c、d示出预测成为满足产品保证年数(例如5年)的状态的推移。也就是，对于折线c，在图3中(b)的差管理表113中表示的平均值以正进行推移的情况下，成为直线c1那样的推移，若在中途平均值以负进行推移，则成为直线c2那样的推移，预测成为满足产品保证年数(例如5年)的状态。另外，对于折线d，在图3中(b)的差管理表113中表示的平均值以负进行推移的情况下，成为直线d1那样的推移，若在中途平均值以正进行推移，则成为直线d2那样的推移，若进一步在中途平均值以负进行推移，则成为直线d3那样的推移，预测成为满足产品保证年数(例如5年)的状态。
在此，如折线b、c、d那样，根据非易失性存储器的使用状况，有时写入状况会发生变化。特别地，如折线b那样，若在中途平均值以正进行推移，则有时成为不满足产品保证年数(例如5年)的状态。详细内容后述，在该情况下，如后述那样，系统控制部132求出使用可能预测天数(Dprediction)，对所求出的使用可能预测天数(Dprediction)和非易失性存储器保证的保证天数(Dguarantee)进行比较，在成为(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入。
此外，系统控制部132在判断是否是超量写入时，进行下面那样的运算。即，系统控制部132在将写入保证值设为(Wmax)、将写入总量设为(Wsum)、将差的平均值设为(Ave.)、将每1天的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证天数设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)-(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]，求出所述剩余保证天数。并且，系统控制部132在将经过天数设为(Dpast)、将使用可能预测天数设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)，求出使用可能预测天数。另外，系统控制部132在将非易失性存储器保证的保证天数设为(Dguarantee)时，在成为(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入。具体地，在直线b2、c1、及d2的期间中，判断为超量写入。
但是，即使在系统控制部132判断为超量写入的情况下，仍然写入总量还较少，根据今后的使用状况，有满足产品保证天数的可能性。在该情况下，系统控制部132基于比写入保证值(Wmax)少固定值的寿命事先通知阈值(t)，当在写入总量(Wsum)超过寿命事先通知阈值(t)的状态下，判断为超量写入的情况下，通知第1警报，该第1警报告知不满足保证天数(Dguarantee)的可能性较高这一情况。若如折线b那样成为在产品保证年数(例如5年)之前超过寿命事先通知阈值(t)那样的推移，则通知该第1警报。在该情况下，告知不满足保证天数(Dguarantee)的可能性较高这一情况的第1警报显示在面板部106，或通知给管理服务器200。
另一方面，系统控制部132基于比写入保证值(Wmax)少固定值的寿命事先通知阈值(t)，当在写入总量(Wsum)超过寿命事先通知阈值(t)的状态下，未判断为超量写入的情况下，通知第2警报，该第2警报告知虽然满足保证天数(Dguarantee)但是非易失性存储器的交换接近这一情况。若如折线c、d那样成为在产品保证年数(例如5年)之后超过寿命事先通知阈值(t)那样的推移，则通知该第2警报。在该情况下，告知虽然满足保证天数(Dguarantee)但是非易失性存储器的交换接近这一情况的第2警报显示在面板部106，或通知给管理服务器200。
在此，作为寿命事先通知阈值(t)，希望是在非易失性存储器按寿命不工作之前，能够收到开发商、销售公司或服务人员等进行的与非易失性存储器的交换等有关的适当的应对的天数。另外，关于开发商、销售公司或服务人员等进行的与非易失性存储器的交换等有关的应对，希望在天数中具有某种程度富余。在该情况下，对于寿命事先通知阈值(t)，可以设为相对于写入保证值(Wmax)例如设为30天前的值。在此，所谓相对于写入保证值(Wmax)例如30天前，例如可以设为以直线a所示的保证产品保证年数(例如5年)的推移为基准的天数。
此外，如根据图4的折线b、c、d可知，在超过寿命事先通知阈值(t)的前后，各自的写入差平均值(Ave.)不同，从而各自的倾斜不同。在该情况下，若如图4那样在各个折线b、c、d设置共同的寿命事先通知阈值(t)，则根据折线b、c、d的倾斜不同，而发生在30天以内达到写入保证值(Wmax)的情况、和在30天以后达到写入保证值(Wmax)的情况。特别地，当在30天以内达到写入保证值(Wmax)的情况下，有时，相对开发商、销售公司或服务人员等进行的与非易失性存储器的交换等有关的应对的天数不存在富余。在该情况下，若如后述的图5那样，对每个折线b、c、d，设置与各自的倾斜相应的寿命事先通知阈值(t)，则能够防止相对开发商、销售公司或服务人员等进行的与非易失性存储器的交换等有关的应对的天数的富余减少等。
图5示出关于对MFP100进行管理的管理服务器200进行的非易失性存储器的寿命预测，对每个折线b、c、d，设置与各自的倾斜相应的寿命事先通知阈值(t)的情况的其他例。即，如图5所示那样，例如将针对表示保证产品保证年数(例如5年)的推移的直线a的、寿命事先通知阈值(t)的值设为t0，以该值t0为基准。在此，在是折线b的情况下，如直线b2那样倾斜变大，因此，将寿命事先通知阈值(t)的值设为比t0小的t1。另外，在是折线c的情况下，如直线c2那样倾斜变小，因此，将寿命事先通知阈值(t)的值设为比t0大的t2。另外，在是折线d的情况下，如直线d3那样倾斜与直线a几乎相同，因此，将寿命事先通知阈值(t)的值设为t0。对于这些寿命事先通知阈值(t)的值t0、t1、t2，都以表示保证产品保证年数(例如5年)的推移的直线a为基准，从而能够根据相对于直线a的、倾斜之差求出。
另外，作为求出各个寿命事先通知阈值(t)的值t0、t1、t2的时机，首先，根据各个折线b、c、d的推移求出剩余保证天数(Dremain)，在剩余保证天数(Dremain)成为特定期间、例如60天时，将作为将10天的写入差平均后的值的写入差平均值(Ave.)，改变为将从10天例如缩短到3天的写入差平均后的缩短平均值。并且，基于相对于表示保证产品保证年数(例如5年)的推移的直线a的、缩短平均值的正或负的差，对各个折线b、c、d，设定以t0～t1表示的寿命事先通知阈值(t)。由此，能够对每个折线b、c、d，设定与各自的倾斜即非易失性存储器的使用状况相应的寿命事先通知阈值(t)，因此，能够防止相对开发商、销售公司或服务人员等进行的与非易失性存储器的交换等有关的应对的天数的富余减少等。
接着，参照图6对非易失性存储器的管理进行说明。此外，在下面，作为非易失性存储器的SSD108、SD卡109、闪存存储器(注册商标)110的结构几乎相同，因此，以SSD108为代表进行说明。另外，设为，利用图3中(a)的设计值管理表112，对决定SSD108的各分区A～E的1天的写入预测量的设计值，进行管理。另外，以下的步骤S101～S105表示差管理的顺序，步骤S106～S110表示超量写入检测的顺序。
(步骤S101)
系统控制部132获得SSD108的各分区A～E的写入量。
在该情况下，系统控制部132通过USBHOST控制部129，获得在SSD108的各分区A～E写入的数据的写入量。
(步骤S102)
系统控制部132求出相对于SSD108的各分区A～E整体的设计值的差。
在该情况下，系统控制部132若例如获得了第1天的SSD108的各分区A～E的写入量，则将图3中(a)的设计值管理表112示出的SSD108的各分区A～E的设计值的合计、和所获得的SSD108的各分区A～E的写入量的合计进行比较，求出设计值的合计与写入量的合计之差。
(步骤S103)
系统控制部132存储所求出的差。
在该情况下，系统控制部132将所求出的差登记在图3中(b)的差管理表113中。
(步骤S104)
系统控制部132判断是否得到了10天的数据。
在该情况下，系统控制部132参照图3中(b)的差管理表113，如果没有登记10天的差，则判断为没有得到10天的数据(步骤S104：“否”)，返回到步骤S101。
相对于此，系统控制部132参照图3中(b)的差管理表113，如果登记有10天的差，则判断为得到了10天的数据(步骤S104：“是”)，向步骤S105转移。
(步骤S105)
系统控制部132求出SSD108的各分区A～E的写入差平均值(Ave.)。
在该情况下，系统控制部132参照图3中(b)的差管理表113，求出10天的写入差平均值(Ave.)，并登记在差管理表113中。
(步骤S106)
系统控制部132对各分区A～E的写入总量(Wsum)进行更新。
在该情况下，系统控制部132对自写入开始起的写入总量(Wsum)加上10天的各分区A～E的写入量的合计，来获得最新的写入总量(Wsum)。
(步骤S107)
系统控制部132对剩余保证天数(Dremain)进行更新。
在该情况下，系统控制部132通过运算
剩余保证天数(Dremain)＝[写入保证值(Wmax)-写入总量(Wsum)]/[写入差平均值(Ave.)+每1天的写入预测量(Wref)]
求出剩余保证天数(Dremain)。
(步骤S108)
系统控制部132求出使用可能预测天数(Dprediction)。
在该情况下，系统控制部132通过运算
使用可能预测天数(Dprediction)＝经过天数(Dpast)+剩余保证天数(Dremain)
求出使用可能预测天数(Dprediction)。
(步骤S109)
系统控制部132判断是否是使用可能预测天数(Dprediction)<保证天数(Dguarantee)。
在该情况下，系统控制部132通过运算
保证天数(Dguarantee)＝365天×5年
求出保证天数(Dguarantee)。
而且，系统控制部132当在步骤S108中求出的使用可能预测天数(Dprediction)比保证天数(Dguarantee)多的情况下，判断为不是使用可能预测天数(Dprediction)<保证天数(Dguarantee)(步骤S109：“否”)，向步骤S101转移。
相对于此，系统控制部132在使用可能预测天数(Dprediction)比保证天数(Dguarantee)少的情况下，判断为是使用可能预测天数(Dprediction)<保证天数(Dguarantee)(步骤S109：“是”)，向步骤S110推移。
(步骤S110)
系统控制部132判断为超量写入。
在该情况下，系统控制部132根据使用可能预测天数(Dprediction)不满保证天数(Dguarantee)，判断为超量写入。
在该情况下，系统控制部132也可以通过面板操作控制部128，在面板部106显示表示存在超量写入的内容等。
接着，参照图7对非易失性存储器的管理中的警报通知进行说明。
(步骤S201)
系统控制部132判断剩余保证天数(Dremain)是否为一定天数以下。
在该情况下，即使是系统控制部132在图6的步骤S110中判断为超量写入的情况，写入总量(Wsum)较少，根据今后的使用状况，有满足保证天数(Dguarantee)的可能性。
因此，系统控制部132通过运算
剩余保证天数(Dremain)＝[写入保证值(Wmax)-写入总量(Wsum)]/[写入差平均值(Ave.)+每1天的写入预测量(Wref)]
求出剩余保证天数(Dremain)。
另外，系统控制部132如果所求出的剩余保证天数(Dremain)例如不是50天以下，则判断为剩余保证天数(Dremain)不是一定天数以下(步骤S201：“否”)，结束处理。
相对于此，系统控制部132如果所求出的剩余保证天数(Dremain)例如是50天以下，则判断为剩余保证天数(Dremain)为一定天数以下(步骤S201：“是”)，向步骤S202转移。
(步骤S202)
系统控制部132判断是否超过寿命事先通知阈值(t)。
在该情况下，系统控制部132通过运算
使用可能预测天数(Dprediction)＝经过天数(Dpast)+剩余保证天数(Dremain)
求出使用可能预测天数(Dprediction)。
而且，系统控制部132如果使用可能预测天数(Dprediction)未超过寿命事先通知阈值(t)的例如30天，则判断为未超过寿命事先通知阈值(t)(步骤S202：“否”)，结束处理。
相对于此，系统控制部132如果使用可能预测天数(Dprediction)超过寿命事先通知阈值(t)的例如30天，则判断为超过寿命事先通知阈值(t)(步骤S202：“是”)，向步骤S203转移。
(步骤S203)
系统控制部132通知警报。
在该情况下，系统控制部132若例如如图4的折线b那样，成为在产品保证年数(例如5年)之前超过寿命事先通知阈值(t)那样的推移，则通知第1警报，该第1警报告知不满足保证天数(Dguarantee)的可能性较高这一情况。此外，第1警报显示在面板部106，或通知给管理服务器200。
另外，系统控制部132若例如如图4的折线c、d那样，成为在产品保证年数(例如5年)之后超过寿命事先通知阈值(t)那样的推移，则通知第2警报，该第2警报告知满足保证天数(Dguarantee)但是非易失性存储器的交换接近这一情况。此外，第2警报显示在面板部106，或通知给管理服务器200。
这样，在本实施方式中，利用设计值管理表112，将基于产品保证期间的、每单位期间每个所述存储单元的写入预测量作为设计值进行管理，利用差管理表113，对每个存储单元的设计值的合计与每个存储单元的数据的写入量的合计之差进行管理，由系统控制部132获得单位期间的每个存储单元的数据的写入量，并将差登记在差管理表113中。另外，系统控制部132在将写入保证值设为(Wmax)、将写入总量设为(Wsum)、将差的平均值设为(Ave.)、将每1天的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证天数设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)-(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出剩余保证天数，并且，在将经过天数设为(Dpast)、将使用可能预测天数设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出使用可能预测天数，在将非易失性存储器保证的保证天数设为(Dguarantee)时，在成为(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入。
由此，能够在使用可能预测天数(Dprediction)不满保证天数(Dguarantee)的情况下，判断为超量写入，因此，能够早期且理智地判断是否满足产品保证期间。
此外，在本实施方式中，将非易失性存储器的存储单元设为分区，但是，也可以设为构成非易失性存储器的存储器单元。在该情况下，将“分区”替换为“存储器单元”，适用本实施方式即可。
此外，在本实施方式中，以将电子设备设为MFP100的情况进行了说明，但是不限于此例，也可以适用于多功能打印机或PC(PersonalComputer，个人电脑)等其他电子设备。

Claims (4)

1.一种电子设备，其特征在于，具备：
非易失性存储器，其具有多个存储单元；
设计值管理表，其用于将基于产品保证期间的、每单位期间每个所述存储单元的写入预测量作为设计值进行管理；
差管理表，其用于对每个所述存储单元的所述设计值的合计与每个所述存储单元的数据的写入量的合计之差进行管理；以及
系统控制部，其获得所述单位期间的每个所述存储单元的所述数据的写入量，并将所述差登记在所述差管理表中，
所述系统控制部获得自所述非易失性存储器的写入开始起的数据的写入总量，在将写入保证值设为Wmax、将所述写入总量设为Wsum、将所述差的每所述单位期间的平均值设为Ave、将每所述单位期间的写入预测量设为Wref、将剩余保证期间设为Dremain时，通过运算
Dremain＝(Wmax-Wsum)/(Ave+Wref)
求出所述剩余保证期间，
并且，在将经过天数设为Dpast、将使用可能预测期间设为Dprediction时，通过运算
Dprediction＝Dpast+Dremain
求出所述使用可能预测期间，
在将所述非易失性存储器保证的保证期间设为Dguarantee时，
在成为Dprediction<Dguarantee的情况下，判断为超量写入。
2.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，
设置比所述写入保证值少固定值的寿命事先通知阈值，
所述系统控制部当在所述写入总量超过所述寿命事先通知阈值的状态下判断为所述超量写入的情况下，通知第1警报，该第1警报告知不满足所述保证期间的可能性较高这一情况。
3.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，
所述系统控制部当在所述写入总量超过所述寿命事先通知阈值的状态下未判断为所述超量写入的情况下，通知第2警报，该第2警报告知虽然满足所述保证期间但是所述非易失性存储器的交换接近这一情况。
4.一种记录介质，是保存存储器控制程序的记录介质，该存储器控制程序由对搭载具有多个存储单元的非易失性存储器的电子设备进行控制的计算机执行，该记录介质的特征在于，
所述存储器控制程序利用设计值管理表将基于产品保证期间的、每单位期间每个所述存储单元的写入预测量作为设计值进行管理，
所述存储器控制程序利用差管理表，对每个所述存储单元的所述设计值的合计与每个所述存储单元的数据的写入量的合计之差进行管理，
所述存储器控制程序利用系统控制部，获得所述单位期间的每个所述存储单元的所述数据的写入量，并将所述差登记在所述差管理表中，并且，
所述系统控制部获得自所述非易失性存储器的使用开始起的数据的写入总量，在将写入保证值设为Wmax、将所述写入总量设为Wsum、将所述差的每所述单位期间的平均值设为Ave、将每所述单位期间的写入预测量设为Wref、将剩余保证期间设为Dremain时，通过运算
Dremain＝(Wmax-Wsum)/(Ave+Wref)
求出所述剩余保证期间，
并且，在将经过天数设为Dpast，将使用可能预测期间设为Dprediction时，通过运算
Dprediction＝Dpast+Dremain
求出所述使用可能预测期间，
在将所述非易失性存储器保证的保证期间设为Dguarantee时，
在成为Dprediction<Dguarantee的情况下，判断为超量写入。
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