CN110017969A - 透明oled的参数确定方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种透明OLED的参数确定方法和装置，其中，方法包括：获取OLED的工作波段、各层材料的初始光学参数和初始结构参数；建立OLED的几何光学模型；计算OLED的透过率函数的等效相位分布；确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；调整初始光学参数和初始结构参数，以使在工作波段对应的中心波长照射下，相对相位变化取值最小；计算在工作波段内的工作波长照射下，OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；对夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。该方法能够实现提升成像质量，提升该方法的适用性。

Description

透明OLED的参数确定方法和装置

技术领域

本发明涉及透明有机发光二极管技术领域，尤其涉及一种透明OLED的参数确定方法和装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，简称OLED)显示技术具有自发光的特性，相较于采用背光照明的液晶显示(Liquid Crystal Display，简称LCD)技术，其可视度和亮度较优，另外，由于其先进的物理特性，在低功耗、高色域、可弯曲、更薄更轻、可透明方面具有显著优势，使得OLED的设计更加自由。其中，主动式OLED(Active MatrixOLED，简称AMOLED)也称为有源矩阵OLED，通过在每个像素中集成薄膜晶体管(Thin FilmTransistor，简称TFT)和电容器，并由电容器维持电压的方法进行驱动，可以实现大尺寸、高分辨率面板。

AMOLED结构主要包含基底、阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层、电子注入层、阴极和OLED封装盖板。若采用透明材料制作OLED的基底和电极，则可实现透明OLED显示器件，器件关闭时透光率达到85％以上，而开启时，从两侧均能观察到发光。目前，这类透明显示器件被广泛应用于军用平视显示器，以及民用商店橱窗展示等场景。若将摄像头置于透明OLED后方，在息屏状态下，光线可直接透过OLED进入成像系统，从而避免了异形屏，开孔屏等制作工艺上的难点，同时不破坏显示效果的整体性，实现移动终端的屏下成像功能。

然而，由于OLED是以像素为单元的二维周期性排列结构，其本质是一种二维光栅，不可避免地会对入射光产生衍射。若将OLED置于成像光路之中，比如在OLED屏后放置摄像头，或者人眼直接透过OLED观察景物，成像会出现明显的模糊或重影，并且在光源或明亮物体周围会出现彩虹条纹状眩光，造成成像质量的下降。因此，对于透明OLED显示器件，如何消除或抑制OLED的衍射效应，从而提升成像质量至关重要。

在相关技术中，通过改变OLED像素外形以及排布结构，可以在一定程度上消除模糊和抑制眩光。这种方式下，像素密度通常在100像素/英寸(Pixels Per Inch，PPI)以下，应用场景通常为大区域显示，如百货陈列窗、汽车前风挡玻璃、自动售货机等，对移动终端等高像素密度显示适用性较低。原因为，在高像素密度情况下，屏幕的光栅常数减小，衍射级次间距增加，改变像素外形和排布对减弱衍射光光强十分有限。因此，如何合理设计OLED各层的光学和结构参数，成为亟待解决的难题。

发明内容

本发明提出一种透明OLED的参数确定方法和装置，以实现通过调整OLED各层材料的光学参数和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，并且，通过对夫琅禾费衍射场的光强分布中的非零级衍射光强进行抑制，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

本发明第一方面实施例提出了一种透明OLED的参数确定方法，包括：

获取所述OLED的工作波段，并获取所述OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数；

根据所述初始光学参数和所述初始结构参数，建立所述OLED的几何光学模型；

根据所述几何光学模型和所述初始光学参数，计算所述OLED的透过率函数的等效相位分布；

根据所述等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；

调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述工作波段对应的中心波长照射下，所述相对相位变化取值最小；

根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和所述几何光学模型，计算在所述工作波段内的工作波长照射下，所述OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；

对所述夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将所述零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

本发明实施例的透明OLED的参数确定方法，通过调整OLED各层材料的光学参数和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，并且，通过对夫琅禾费衍射场的光强分布中的非零级衍射光强进行抑制，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

本发明第二方面实施例提出了一种透明OLED的参数确定装置，包括：

获取模块，用于获取所述OLED的工作波段，并获取所述OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数；

建立模块，用于根据所述初始光学参数和所述初始结构参数，建立所述OLED的几何光学模型；

计算模块，用于根据所述几何光学模型和所述初始光学参数，计算所述OLED的透过率函数的等效相位分布；

调整模块，用于根据所述等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；

所述调整模块，还用于调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述工作波段对应的中心波长照射下，所述相对相位变化取值最小；

所述计算模块，还用于根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和所述几何光学模型，计算在所述工作波段内的工作波长照射下，所述OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；

确定模块，用于对所述夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将所述零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

本发明实施例的透明OLED的参数确定装置，通过调整OLED各层材料的光学参数和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，并且，通过对夫琅禾费衍射场的光强分布中的非零级衍射光强进行抑制，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本发明实施例一所提供的透明OLED的参数确定方法的流程示意图；

图2为本发明实施例中OLED的结构示意图；

图3为本发明实施例中OLED像素对应的透过率函数的振幅和相位分布示意图；

图4为本发明实施例中OLED衍射物面分布示意图；

图5为本发明实施例中初始结构OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布示意图；

图6为本发明实施例中初始结构OLED的夫琅禾费衍射场沿x轴的光强分布示意图；

图7为本发明实施例中初始结构OLED置于成像光路中的成像结果对比图；

图8为本发明实施例二所提供的透明OLED的参数确定方法的流程示意图；

图9为本发明实施例中零级衍射光强随PDL层厚度变化曲线示意图；

图10为本发明实施例中优化后OLED的夫琅禾费衍射场光强分布示意图；

图11为本发明实施例三所提供的透明OLED的参数确定装置的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

本发明主要针对现有技术中通过改变OLED像素外形以及排布结构，只适用于低像素密度显示应用场景，适用性不高的技术问题，提出一种透明OLED的参数确定方法。

本发明实施例的透明OLED的参数确定方法，通过调整OLED各层材料的光学参数和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

下面参考附图描述本发明实施例的透明OLED的参数确定方法和装置。

图1为本发明实施例一所提供的透明OLED的参数确定方法的流程示意图。

本发明实施例以透明OLED的参数确定方法被配置于透明OLED的参数确定装置中来举例说明，该透明OLED的参数确定装置可以应用于任一计算机设备中，以使该计算机设备可以执行透明OLED的参数确定功能。

其中，计算机设备可以为个人电脑(Personal Computer，简称PC)、云端设备、移动设备、服务器等，移动设备例如可以为手机、平板电脑、个人数字助理、穿戴式设备等具有各种操作系统、触摸屏和/或显示屏的硬件设备。

如图1所示，该透明OLED的参数确定方法可以包括以下步骤：

步骤101，获取OLED的工作波段，并获取OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数。

本发明实施例中，OLED的工作波段、OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数可以为预先设置的。其中，OLED的工作波段可以为可见光波段，可选地，标记该工作波段为[λ₁,λ₂]，则λ₁可以为380nm，λ₂可以为780nm。OLED的初始光学参数可以包括各层材料在不同工作波长下的折射率和消光系数。OLED的初始结构参数可以包括各层材料的尺寸、厚度等参数，其中，OLED的各层材料的尺寸和厚度需确保可以唯一定义OLED各层的三维形貌。

作为一种示例，参见图2，图2为本发明实施例中OLED的结构示意图。其中，该OLED具有周期性结构层，例如，一个像素对应一个结构层，一千个像素对应一千个相同结构层。针对每个像素对应的结构层，具有4种光学特性的不同材料。

其中，1为不透光层(SPC)，使用材料为不透光材料，其具体成分不限，2为OLED的发光层及补偿材料，3为透明像素定义层(PDL)，4为透明导电氧化物层(ITO)，5为衬底层，OLED其余部分因不具有周期结构而未在图2中示出，这些部分共同构成OLED器件实现顶发光。

如图2所示，假设OLED的工作波段为可见光波段，PDL的初始厚度可以为2μm，ITO的初始厚度可以为0.1μm。

步骤102，根据初始光学参数和初始结构参数，建立OLED的几何光学模型。

本发明实施例中，在确定OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数后，可以根据上述初始光学参数和初始结构参数，建立OLED的几何光学模型。其中，几何光学模型，用于指示该OLED各层材料的三维信息、折射率、消光参数等信息。

可以理解的是，在建立OLED的几何光学模型后，可以确定光线透过该OLED的光场分布。例如，若某一层材料的折射率为n，材料厚度为d，波长为λ的单位振幅的平面波，透过该层材料的光场分布可以表示为：E＝exp[i(2π/λ)nd]。

步骤103，根据几何光学模型和初始光学参数，计算OLED的透过率函数的等效相位分布。

本发明实施例中，在构建好OLED的几何光学模型后，可以根据该几何光学模型和初始光学参数，计算OLED的透过率函数的等效相位分布。

具体地，假设OLED平面上的某一点(x，y)在垂直方向上共有M层结构，则(x，y)处的透过率函数为：

t(x,y)＝exp(iφ)；(1)

其中，φ表示等效相位分布，λ表示工作波长，位于[λ₁,λ₂]之间。

因此，根据公式(1)，可得到透过率函数的等效相位分布φ。

步骤104，根据等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化。

具体地，可以根据等效相位分布φ，确定在不同工作波长下的透过率函数的最大等效相位φ_max以及最小等效相位φ_min，将最大等效相位φ_max和最小等效相位φ_min作差，得到相对相位变化为：Δφ＝φ_max-φ_min。

步骤105，调整初始光学参数和初始结构参数，以使在工作波段对应的中心波长照射下，相对相位变化取值最小。

本发明实施例中，中心波长为工作波段的中心波长，例如，当工作波段为[λ₁,λ₂]，中心波长为(λ₁+λ₂)/2。

本发明实施例中，为了解决透明OLED位于成像光路中，由于衍射效应而导致成像质量下降的问题，可以调整OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数，以使在工作波段对应的中心波长照射下，相对相位变化取值最小。也就是说，可以在制作工艺允许范围内，调整OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数，使得在中心波长照射下，t(x,y)各点处的相位尽可能保持相同，即Δφ＝0。

作为一种示例，每个像素对应的透过率函数的振幅和相位分布可以如图3所示。将该OLED样品放置于准直光束后，例如，该准直光束可以采用直径为2mm的高斯光束，即可在远场接收到如图4所示的OLED样品的衍射图样。对该OLED样品各层材料的初始光学参数和初始结构参数进行粗调，可以使OLED透过率函数的相位趋于一致。

步骤106，根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和几何光学模型，计算在工作波段内的工作波长照射下，OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布。

本发明实施例中，可以将相对相位变化取值最小时对应的光学参数和结构参数，作为调整后的光学参数和调整后的结构参数，之后，可以根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和几何光学模型，计算OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布。

具体地，可以根据下述公式，计算得到在工作波长λ照射下，OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布：

其中，Σ表示光学系统的入瞳在OLED上的投影。

作为一种示例，计算得到的夫琅禾费衍射场的光强分布可以如图5所示，其沿x轴方向的光强分布可以如图6所示。

步骤107，对夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

本发明实施例中，目标参数为OLED的最优参数，在该目标参数下，成像质量最佳。

由图5和图6可知，夫琅禾费衍射场的光强分布中±1级与零级几乎具有相同的光强，若透过该OLED对物体成像时，会在主像两侧各形成一个伪像，例如，参见图7，成像质量明显下降。

因此，本发明实施例中，为提升成像质量，需抑制OLED的非零级衍射光强，以增强零级衍射光强。具体地，可以对夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。由此，可以抑制OLED的非零级衍射光强，形成较为理想的点扩散函数。

需要说明的是，当OLED位于成像光路中，若采用点光源照射该成像系统，由傅里叶光学理论可知，当照射光源和像面保持物像共轭关系时，OLED的透过率函数与其所成的像满足傅里叶变换关系，即该成像系统的点扩散函数为OLED透过率函数的夫琅禾费衍射场。

因此，本发明实施例中，忽略与工作波长无关项，其零级衍射光强，可以根据下述公式，对工作波段下的零级衍射光强进行积分，得到零级衍射总光强为：

其中，表示U_λ的共轭函数。

本发明实施例中，在确定零级衍射总光强后，可以在制作工艺允许范围内，继续微调OLED各层材料的光学参数和结构参数，使得I₀取得最大值。而后，可以将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为OLED的最优参数，本发明记为目标参数。

进一步地，由于成像传感器通常只对3个波长敏感，因此，可以用公式(4)代替上述公式(3)：

本发明实施例的透明OLED的参数确定方法，通过调整OLED各层材料的光学和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，并且，通过对夫琅禾费衍射场的光强分布中的非零级衍射光强进行抑制，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

具体实现时，针对步骤107，可以从步骤106确定的调整后的光学参数和结构参数中，选取一个光学参数或者结构参数，获得在工艺允许范围内零级衍射光强随该参数变化曲线。假设成像光路中所使用的图像传感器量子效率的峰值分别在430nm，530nm，630nm，根据公式(2)和公式(3)，可获得在工作波段内零级衍射总光强。例如，可以通过改变PDL层厚度，ITO层厚度，PDL层折射率，ITO层折射率等参数，获得零级衍射总光强随各参数的变化曲线。

之后，可以选取工作波段内零级衍射光强总和最大时的参数作为最优参数，并重复以上计算或仿真步骤，直至确定当零级衍射总光强最大时所有参数的最优值。

作为一种示例，参见8，以选取的参数为某一结构参数为例，可以获取在工艺允许范围内，零级衍射光强随该结构参数变化的曲线，选取工作波段内零级衍射总光强最大时对应的参数，作为最优参数。之后，可以判断是否优化完所有的结构参数，若是，则输出所有的最优结构参数，若否，则固定该结构参数，并优化下一结构参数。

同理，光学参数的优化过程和图8类似，此处不做赘述。

举例而言，固定ITO厚度为0.1μm，给出在工艺许可范围内，PDL厚度的调整区间为1μm至10μm，调整步长1μm。如图9所示，分别在工作波长为430nm，530nm，630nm的照射下，得到的零级衍射光强分布和±1级衍射光强分布可以如图9所示。

根据图9可知，当PDL厚度在1μm时，零级衍射总光强最大，因此，可以将PDL厚度确定为1μm，依据此方法继续优化其他参数，直至所有参数都被确定。采用最优参数设计的OLED衍射光强分布如图10所示，非零级以外的衍射光强基本被抑制，形成较为理想的点扩散函数。

以上，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

为了实现上述实施例，本发明还提出一种透明OLED的参数确定装置。

图11为本发明实施例三所提供的透明OLED的参数确定装置的结构示意图。

如图11所示，该透明OLED的参数确定装置可以包括：获取模块101、建立模块102、计算模块103、调整模块104以及确定模块105。

其中，获取模块101，用于获取OLED的工作波段，并获取OLED各层材料的光学参数和结构参数。

建立模块102，用于根据光学参数和结构参数，建立OLED的几何光学模型。

计算模块103，用于根据几何光学模型和光学参数，计算OLED的透过率函数的等效相位分布。

调整模块104，用于根据等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化。

调整模块104，还用于调整光学参数和结构参数，以使在工作波段对应的中心波长照射下，相对相位变化取值最小。

计算模块103，还用于根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和几何光学模型，计算在工作波段内的工作波长照射下，OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布。

确定模块105，用于对夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

作为一种可能的实现方式，OLED上的点(x，y)在垂直方向上共有M层结构，则(x，y)处的透过率函数为：

t(x,y)＝exp(iφ)；

其中，φ表示等效相位分布，λ表示工作波长。

作为一种可能的实现方式，调整模块104，具体用于：调整光学参数和结构参数，以使在中心波长照射下，t(x,y)各点处的相位相同。

作为一种可能的实现方式，夫琅禾费衍射场的光强分布为：

其中，Σ表示光学系统的入瞳在OLED上的投影。

作为一种可能的实现方式，零级衍射总光强为：

其中，表示U_λ的共轭函数。

需要说明的是，前述对透明OLED的参数确定方法实施例的解释说明也适用于该实施例的透明OLED的参数确定装置，此处不再赘述。

本发明实施例的透明OLED的参数确定装置，通过调整OLED各层材料的光学和结构参数，使OLED透过率函数的相位趋于一致，解决透明OLED位于成像光路中由于衍射效应而导致成像质量下降的技术问题，并且，通过对夫琅禾费衍射场的光强分布中的非零级衍射光强进行抑制，由此，在不影响透过率和显示效果前提下，能有效抑制衍射效应，与成像系统结合能使成像质量得到大幅提升，可以适用于高像素密度显示，也可以适用于低像素密度显示，提升该方法的适用性。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种透明OLED的参数确定方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取所述OLED的工作波段，并获取所述OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数；

根据所述初始光学参数和所述初始结构参数，建立所述OLED的几何光学模型；

根据所述几何光学模型和所述初始光学参数，计算所述OLED的透过率函数的等效相位分布；

根据所述等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；

调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述工作波段对应的中心波长照射下，所述相对相位变化取值最小；

根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和所述几何光学模型，计算在所述工作波段内的工作波长照射下，所述OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；

对所述夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将所述零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述OLED上的点(x，y)在垂直方向上共有M层结构，则(x，y)处的透过率函数为：

t(x,y)＝exp(iφ)；

其中，φ表示等效相位分布，λ表示工作波长。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述工作波段对应的中心波长照射下，所述相对相位变化取值最小，包括：

调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述中心波长照射下，t(x,y)各点处的相位相同。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述夫琅禾费衍射场的光强分布为：

其中，Σ表示光学系统的入瞳在所述OLED上的投影。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述零级衍射总光强为：

其中，表示U_λ的共轭函数。

6.一种透明OLED的参数确定装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述OLED的工作波段，并获取所述OLED各层材料的初始光学参数和初始结构参数；

建立模块，用于根据所述初始光学参数和所述初始结构参数，建立所述OLED的几何光学模型；

计算模块，用于根据所述几何光学模型和所述初始光学参数，计算所述OLED的透过率函数的等效相位分布；

调整模块，用于根据所述等效相位分布，确定在不同工作波长下的透过率函数的相对相位变化；

所述调整模块，还用于调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述工作波段对应的中心波长照射下，所述相对相位变化取值最小；

所述计算模块，还用于根据调整后的光学参数、调整后的结构参数和所述几何光学模型，计算在所述工作波段内的工作波长照射下，所述OLED的夫琅禾费衍射场的光强分布；

确定模块，用于对所述夫琅禾费衍射场的光强分布中的零级衍射光强进行积分，以确定零级衍射总光强，并将所述零级衍射总光强取值最大时对应的光学参数与结构参数，作为目标参数。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述OLED上的点(x，y)在垂直方向上共有M层结构，则(x，y)处的透过率函数为：

t(x,y)＝exp(iφ)；

其中，φ表示等效相位分布，λ表示工作波长。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述调整模块，具体用于：

调整所述初始光学参数和所述初始结构参数，以使在所述中心波长照射下，t(x,y)各点处的相位相同。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述夫琅禾费衍射场的光强分布为：

其中，Σ表示光学系统的入瞳在所述OLED上的投影。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述零级衍射总光强为：

其中，表示U_λ的共轭函数。