CN111079238B - 一种oled模型参数提取的方法 - Google Patents

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Abstract

一种OLED模型参数提取方法,包括以下步骤:1)建立参数提取模型;2)确认参数类型和初始值;3)建立反映测量值和仿真值差值的误差函数;4)采用L‑M法和单纯形法进行优化求解。本发明的OLED模型参数提取方法,能够减轻人工调参的工作量和时间,提高了效率。

Description

一种OLED模型参数提取的方法
技术领域
本发明涉及器件模型技术领域,特别是涉及一种OLED模型参数提取的方法。
背景技术
OLED器件目前已经提出了多种模型,但是关于模型参数的提取并没有一个很好的解决方案,很多都是手动人工调参来建立模型。因此本发明提出了一种利用算法进行OLED模型参数提取的方法,提高了参数提取的效率。
发明内容
为了解决现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种OLED模型参数提取方法,能够减轻人工调参的工作量和时间,提高了效率。
为实现上述目的,本发明提供的一种OLED模型参数提取方法,包括以下步骤:
1)建立参数提取模型;
2)确认参数类型和初始值;
3)建立反映测量值和仿真值差值的误差函数;
4)采用L-M法和单纯形法进行优化求解。
进一步地,所述步骤1)进一步包括,分别建立电流-电压参数提取模型和电容-电压参数提取模型。
进一步地,所述电流-电压模型参数包括,饱和电流密度,发射系数,二极管串联电阻值,电流串联电阻,漏电阻,电流电压源;
所述电容-电压模型参数包括,电容,电容参数,梯度系数,二极管内接触电势,电容串联电阻,电容电压源。
进一步地,所述电流-电压提取模型,进一步包括,所述电流串联电阻与OLED器件串联,所述漏电阻与所述OLED器件和所述电流串联电阻并联,所述电流电压源与总电流电路串联;
所述电容-电压提取模型,进一步包括,所述电容串联电阻和所述电容电压源与OLED器件串联,所述电容与总电容电路并联。
进一步地,所述步骤3)进一步包括,将每一个点对应电压的测量值和仿真值相减,得到的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f)。
进一步地,对所述电流-电压模型进行调试,包括一下步骤:
1)将电流-电压测量值数据根据电压的正负数值分为两部分;
2)建立调试的误差函数:先对电流仿真值和测量值对数化,然后取对数化后的电流数据的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f)来作为误差函数;
3)在v>0的区域进行Js,N,Rs,r1iv,viv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v>0);
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
4)在v<0的区域进行r2iv的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v<0);
b.将参数名和对应的初始值和区间输入至L-M优化函数中;
c.满足迭代条件后,得到输出的参数值。
更进一步地,对所述电流-电压模型进行调试,包括一下步骤:
1)取电容的测量值和仿真值的差值向量为f,误差函数为F=0.5*(fT*f);
2)在二极管未导通的区域应用L-M法进行Cg参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v<0);
b.将参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值;
3)在二极管导通的区域应用单纯形法进行Cj,Mj,PB,r1cv,vcv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v>0);
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入单纯形法优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
为实现上述目的,本发明还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,所述计算机指令运行时执行如上文所述的OLED模型参数提取方法步骤。
为实现上述目的,本发明还提供一种OLED模型参数提取装置,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的OLED模型参数提取方法步骤。
本发明的一种OLED模型参数提取方法,具有以下有益效果:
1)解决OLED模型的参数提取流程效率不高的问题,给参数提取提供了一种可以较快得到结果的方法,使得工作效率更高。
2)能够快速且准确的使得OLED器件模型的I-V,C-V曲线得到较好的拟合,并且给出所改变参数的值。
3)减轻了人工调参的工作量和时间,提高了效率。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,并与本发明的实施例一起,用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1为根据本发明的OLED模型参数提取方法流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
图1为根据本发明的OLED模型参数提取方法流程图,下面将参考图1,对本发明的OLED模型参数提取方法进行详细描述。
首先,在步骤101,建立参数提取模型。该步骤中,建立OLED提取模型,将I-V(电流-电压)和C-V(电容-电压)的参数提取分开。
本发明实施例中,I-V的提取在OLED的器件上串联一个电阻r1iv,然后在OLED和r1iv上并联一个漏电阻r2iv,最后在总的电路上串联一个电压源。
本发明实施例中,C-V的提取在OLED器件上串联一个电阻r1cv和一个电压源,之后在整个电路上并联一个电容Cg。
在步骤102,根据所建立模型的物理公式确定参数类型,根据参数类型的物理意义确定参数范围,在参数范围内进行初始值选取。该步骤中,将提取的OLED模型参数分为I-V和C-V两个部分。
本发明实施例中,I-V部分的重要模型参数有:饱和电流密度Js,发射系数N,二极管串联电阻值Rs,iv串联电阻r1iv,漏电阻r2iv,iv电压源viv。
本发明实施例中,C-V部分的重要模型参数有:并联电容Cg,电容参数Cj,梯度系数Mj,二极管内建接触电势PB,cv串联电阻r1cv,cv电压源vcv。
在步骤103,建立反映测量值和仿真值差值的误差函数。
本发明实施例中,是将每一个点对应电压的测量值和仿真值相减,得到的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f),其中,T为f的转置。
在步骤104,采用L-M法和单纯形法进行优化求解。
本发明实施例中,OLED模型I-V部分的调试过程,包括:
1)将i-v测量值数据根据电压的正负数值分为两部分。
2)建立调试的误差函数:先对电流仿真值和测量值对数化,然后取对数化后的电流数据的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f)来作为误差函数。
3)在v>0的区域进行Js,N,Rs,r1iv,viv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v>0);
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
4)在v<0的区域进行r2iv的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v<0);
b.将参数名和对应的初始值和区间输入至L-M优化函数中;
c.满足迭代条件后,得到输出的参数值。
本发明实施例中,OLED模型C-V部分的调试过程包括:
1)取电容的测量值和仿真值的差值向量为f,误差函数为F=0.5*(fT*f)。
2)在二极管未导通的区域应用L-M法进行Cg参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v<0);
b.将参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
3)在二极管导通的区域应用单纯形法进行Cj,Mj,PB,r1cv,vcv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围(v>0);
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入单纯形法优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
本发明提出了一种OLED模型参数提取方法,确认参数类型和初始值,建立可以反映测量值和仿真值差值的误差函数,运用L-M方法和单纯形法来优化求解,得到参数值和当前情况下的最优拟合度。
为实现上述目的,本发明还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,所述计算机指令运行时执行如上文所述的OLED模型参数提取方法步骤。
为实现上述目的,本发明还提供一种OLED模型参数提取设备,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的OLED模型参数提取方法步骤。
本领域普通技术人员可以理解:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种OLED模型参数提取方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)建立参数提取模型;
2)确认参数类型和初始值;
3)建立反映测量值和仿真值差值的误差函数;
4)采用L-M法和单纯形法进行优化求解,
所述步骤1)进一步包括,分别建立电流-电压参数提取模型和电容-电压参数提取模型,
所述电流-电压模型参数包括,饱和电流密度,发射系数,二极管串联电阻值,电流串联电阻,漏电阻,电流电压源,
所述电容-电压模型参数包括,电容,电容参数,梯度系数,二极管内接触电势,电容串联电阻,电容电压源,
所述电流-电压提取模型,进一步包括,所述电流串联电阻与OLED器件串联,所述漏电阻与所述OLED器件和所述电流串联电阻并联,所述电流电压源与总电流电路串联,
所述电容-电压提取模型,进一步包括,所述电容串联电阻和所述电容电压源与OLED器件串联,所述电容与总电容电路并联,
所述步骤3)进一步包括,将每一个点对应电压的测量值和仿真值相减,得到的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f),其中,T为f的转置。
2.根据权利要求1所述的OLED模型参数提取方法,其特征在于,对所述电流-电压模型进行调试,包括以下步骤:
1)将电流-电压测量值数据根据电压的正负数值分为两部分;
2)建立调试的误差函数:先对电流仿真值和测量值对数化,然后取对数化后的电流数据的差值向量f,误差函数为F=0.5*(fT*f)来作为误差函数;
3)在v>0的区域进行Js,N,Rs,r1iv,viv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围v>0;
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值;
4)在v<0的区域进行r2iv的调试:
a.选取所要调参的数据范围v<0;
b.将参数名和对应的初始值和区间输入至L-M优化函数中;
c.满足迭代条件后,得到输出的参数值。
3.根据权利要求1所述的OLED模型参数提取方法,其特征在于,对所述电流-电压模型进行调试,包括以下步骤:
1)取电容的测量值和仿真值的差值向量为f,误差函数为F=0.5*(fT*f);
2)在二极管未导通的区域应用L-M法进行Cg参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围v<0;
b.将参数名和其对应的初始值和区间输入L-M优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值;
3)在二极管导通的区域应用单纯形法进行Cj,Mj,PB,r1cv,vcv五个参数的调试:
a.选取所要调参的数据范围v>0;
b.将五个参数名和其对应的初始值和区间输入单纯形法优化函数中;
c.满足迭代终止条件后,得到输出的参数值。
4.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令运行时执行权利要求1至3任一项所述的OLED模型参数提取方法步骤。
5.一种OLED模型参数提取装置,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至3任一项所述的OLED模型参数提取方法步骤。
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