CN109817155A - 驱动显示面板的驱动装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种驱动显示面板的驱动装置，包括连接垫、选择电路、数据驱动电路以及检测电路。选择电路通过连接垫电性连接至显示面板的数据线。数据驱动电路在显示阶段通过选择电路与连接垫输出数据电压至显示面板的像素电路。检测电路在检测阶段通过选择电路与连接垫提供检测信号给像素电路的发光元件，并在检测阶段检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号。

Description

驱动显示面板的驱动装置
技术领域
本发明涉及一种驱动显示面板的驱动装置，且特别涉及一种可检测显示面板中发光元件的设置状况的驱动装置。
背景技术
发光式的显示面板被广泛应用在各种类型的显示装置中，例如移动电话、平板计算机等等。所述发光式的显示面板例如是有机发光二极管(organic light emittingdiode，OLED)显示面板、微发光二极管(micro light emitting diode，μLED)显示面板等等。显示面板具有形成阵列的多个像素电路(pixel circuit)，其中每个像素电路各自具有一个发光元件。在OLED显示面板中，所述发光元件为有机发光二极管(OLED)。在μLED显示面板中，所述发光元件为微发光二极管(μLED)。
在μLED显示面板工艺中，μLED阵列先形成于一来源基板(例如晶圆)上，并通过巨量转移(Mass transfer)技术将来源基板上的μLED转置到一目标基板(例如显示面板的基板)。巨量转移的转移良率及效率是μLED显示面板量产的关键。一旦有一个μLED晶粒转置失败，表示这个μLED晶粒与目标基板的连接状态是短路的或是开路的，将造成显示图像中的一个暗点。因此，如何检测在巨量转移中转置失败的μLED晶粒，或是/并且进一步针对转置失败的μLED晶粒的对应像素进行显示效果的补偿，是μLED显示面板技术领域的重要课题。
须注意的是，“现有技术”段落的内容是用来帮助了解本发明。在“现有技术”段落所公开的部分内容(或全部内容)可能不是本领域技术人员所知道的已知技术。在“现有技术”段落所公开的内容，不代表该内容在本发明申请前已被本领域技术人员所知悉。
发明内容
本发明提供一种驱动装置，其可以检测关于像素电路的发光元件的电性特征。
本发明的一实施例提供一种驱动装置，用以驱动显示面板。所述驱动装置包括连接垫、选择电路、数据驱动电路以及检测电路。连接垫用以电性连接至显示面板的数据线。选择电路具有第一端、第二端与第三端。选择电路的第三端耦接至连接垫。数据驱动电路的输出端耦接至选择电路的第一端。数据驱动电路在显示阶段通过选择电路与连接垫输出数据电压至显示面板的像素电路。检测电路的输入端耦接至选择电路的第二端。检测电路在检测阶段通过选择电路与连接垫提供检测信号给像素电路的发光元件。检测电路在检测阶段检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号。
基于上述，本发明诸实施例所述驱动装置，其可以在显示阶段通过连接垫输出数据电压至显示面板的像素电路，以及在检测阶段通过相同的所述连接垫提供检测信号给所述像素电路的发光元件。基于检测信号的提供，所述驱动装置可以在检测阶段检测关于所述像素电路的所述发光元件的电性特征。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是依照本发明实施例的一源极驱动器的电路方块(circuit block)示意图。
图2是依照本发明实施例的一显示装置的电路方块示意图。
图3是依照本发明实施例的一显示面板的电路方块示意图。
图4是依照本发明另一实施例的显示面板的电路方块示意图。
图5是依照本发明实施例的一源极驱动器的电路方块示意图。
图6是依图5中的源极驱动器所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。
图7是依照本发明实施例的一电压检测电路的电路方块示意图。
图8是依照本发明实施例的一源极驱动器的电路方块示意图。
图9是依图8中的源极驱动器所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。
图10是依照本发明实施例的一源极驱动器的电路方块示意图。
图11是依图8中的源极驱动器所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。
【符号说明】
10、50、80、100、230：源极驱动器
11、110、510、810：连接垫
12、120、520、820：选择电路
13、130、530、830：数据驱动电路
14、140、540、840：检测电路
20：显示装置
30、40、240：显示面板
142、542：电压检测电路
144：电流源
210：时序控制器
220：栅极驱动器
231_1、231_2、231_m：驱动通道电路
541、841：电压源
601、602、603、901、902、903、1101、1102、1103：特性曲线
842：电流检测电路
CMP1、CMP2：电压比较器
D1、D0：比较结果
DM：解多工器
DU：驱动电路
GND：接地电压
I、Itest：电流
Ion：导通电流范围
LD：发光元件
P(1，1)、P(m，1)、P(1，n)、P(m，n)：像素电路
P1：第一期间
P2：第二期间
R1、R2、R3：电阻
Rth：阈值电压范围
S1、S2：开关
SE：感测线
SO、SO’：数据线
T：时间
V、V1、VLD：电压
VREF、VREF1、VREF2：参考电压
Vth：阈值电压
具体实施方式
在本申请说明书全文(包括权利要求书)中所使用的“耦接(或连接)”一词可指任何直接或间接的连接手段。举例而言，若文中描述第一装置耦接(或连接)于第二装置，则应该被解释成该第一装置可以直接连接于该第二装置，或者该第一装置可以通过其他装置或某种连接手段而间接地连接至该第二装置。本申请说明书全文(包括权利要求书)中提及的“第一”、“第二”等用语是用以命名元件(element)的名称，或区别不同实施例或范围，而并非用来限制元件数量的上限或下限，亦非用来限制元件的次序。另外，凡可能之处，在图式及实施方式中使用相同标号的元件/构件/步骤代表相同或类似部分。不同实施例中使用相同标号或使用相同用语的元件/构件/步骤可以相互参照相关说明。
图1是依照本发明实施例的源极驱动器(或称数据驱动器)10的电路方块示意图。在本发明实施例中，源极驱动器10可以是用来驱动微发光二极管(micro light emittingdiode，μLED)显示面板。源极驱动器10包括连接垫11、选择电路12、数据驱动电路13及检测电路14。连接垫11、选择电路12、数据驱动电路13及检测电路14可视为一驱动通道电路，并且源极驱动器10包括多个驱动通道电路，如图1的重复绘示。连接垫11可视为驱动通道电路的连接端口，用来将源极驱动器10电性连接至显示面板中相对应的数据线(图1未示)。选择电路12具有第一端、第二端与第三端，第一端耦接至数据驱动电路13，第二端耦接至检测电路14，第三端耦接至连接垫11。选择电路12例如是部分或全部端子为双向导通的多工器。数据驱动电路13的输出端耦接至选择电路12的第一端。在显示阶段，数据驱动电路13接收像素数据(例如从时序控制电路接收像素数据)并将像素数据转换为数据电压，通过选择电路12与连接垫11将数据电压输出至显示面板，以驱动显示面板上的像素电路显示对应的数据。数据驱动电路13可以包括输出缓冲器(output buffer)、数字数字模拟转换器(digitalto analog converter，DAC)、电位转换器(level shifter)、线缓冲器(line buffer)和/或是其他元件。当源极驱动器10用来驱动μLED显示面板，数据驱动电路13设计为符合μLED显示面板所需即可。
检测电路14的输入端耦接至选择电路12的第二端，检测电路14的输出端可以耦接至时序控制器(图1未示)。在检测阶段，检测电路14通过选择电路12与连接垫11提供检测信号给显示面板的像素电路的发光元件，例如μLED，并且检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号。发光元件的电性特征包括发光元件的电压或电流。结果信号表示了发光元件与显示面板的连接状态为正常或异常(短路或开路)，也就是发光元件在巨量转移(Mass transfer)过程中是否转置成功或失败。
检测电路14可以有不同的电路实施态样，根据不同的电路实施态样，检测信号可以是电压信号并且结果信号是发光元件的电压；或者，检测信号可以是电压信号并且结果信号是发光元件的电流；又或者，检测信号可以是电流信号并且结果信号是发光元件的电压。检测电路14的不同实施态样及检测讯与结果信号的详细说明在后。
图2是依照本发明实施例的一显示装置20的电路方块示意图。图2所示显示装置20包括时序控制器(timing controller)210、栅极驱动器220、源极驱动器10以及显示面板240。显示面板240可以是任何类型的发光式显示面板，例如有机发光二极管(organiclight emitting diode，OLED)显示面板、微发光二极管(micro light emitting diode，μLED)显示面板或是其他显示面板。显示面板240包含多条扫描线(或称栅极线)、多条数据线(或称源极线)与多个像素电路。例如图1所示，所述多个像素电路包含m*n个像素电路P(1，1)、…、P(m，1)、…、P(1，n)、…、P(m，n)，其中m与n可以是依照设计需求所决定的任何整数。
栅极驱动器220耦接至显示面板240的不同扫描线。栅极驱动器220可以扫描/驱动显示面板240的每一条扫描线。栅极驱动器220可以是任何类型的栅极驱动器。例如，依照设计需求，栅极驱动器220可以是已知的栅极驱动器或是其他栅极驱动器。
源极驱动器10包括多个驱动通道电路，例如图2所示m个驱动通道电路231_1、231_2、…、231_m。这些驱动通道电路231_1～231_m的输出端耦接至显示面板240中相对应的数据线。驱动通道电路231_1～231_m可以将时序控制器210所提供的数字数字像素数据转换为对应的模拟数据电压(像素电压)，以及配合栅极驱动器220的扫描时序将这些数据电压通过数据线写入显示面板240的对应像素电路，以显示图像。驱动通道电路231_1～231_m的每一个驱动通道电路可以包括图1所示的连接垫11、选择电路12、数据驱动电路13及检测电路14。
图3是依照本发明实施例的显示面板30的电路方块示意图。显示面板30可以用于图2的显示装置20，作为显示面板240。在图3所示的实施例中，显示面板30还包括多个解多工器DM。图3所示的实施例将说明像素电路P(1，1)与解多工器DM，显示面板30的其他像素电路可以参照像素电路P(1，1)的相关说明来类推，而显示面板30的其他解多工器可以参照解多工器DM的相关说明来类推，故不再赘述。
解多工器DM的共同端耦接至源极驱动器230(如图2的源极驱动器10)的一个引脚(或连接垫，connection pad)。解多工器DM的第一选择端耦接至数据线SO。解多工器DM的第二选择端耦接至感测线SE。基于时序控制器210的控制，解多工器DM选择性地在显示阶段(display stage)将源极驱动器230的所述引脚(或连接垫)电性连接至数据线SO以及在检测阶段(detection stage)将源极驱动器230的所述引脚(或连接垫)电性连接至感测线SE。
像素电路P(1，1)耦接至数据线SO与感测线SE。在图3所示实施例中，像素电路P(1，1)包括开关S1、开关S2、发光元件LD以及驱动电路DU。开关S1的第一端耦接至数据线SO，开关S1的第二端耦接至驱动电路DU。在本发明实施例中，开关S1虽绘示于驱动电路DU外，但是实际上开关S1可以是驱动电路DU内部的开关，例如是驱动电路DU内部的扫描晶体管，扫描晶体管的源极连接数据线，栅极连接栅极线(以接收扫描信号)，漏极连接驱动电路DU内部的其他电路。驱动电路DU耦接至发光元件LD，例如μLED。开关S2的第一端耦接至感测线SE，开关S2的第二端耦接至发光元件LD。开关S1、开关S2受控于栅极驱动器220。基于时序控制器210的控制，在像素电路P(1，1)的显示阶段，开关S1为导通(turn on)，而开关S2为截止(turn off)。在像素电路P(1，1)的检测阶段，开关S1为截止，而开关S2为导通。
当像素电路P(1，1)操作于显示阶段，开关S1为导通而开关S2为截止，源极驱动器230中的数据驱动电路(如图1的数据驱动电路13)可以通过解多工器DM、数据线SO与开关S1输出数据电压至像素电路P(1，1)的驱动电路DU，使得驱动电路DU输出驱动电流给发光元件LD。基于数据电压的电平，驱动电路DU可以调整给发光元件LD的驱动电流，进而调整发光元件LD的亮度以显示相应的灰阶数据。当像素电路P(1，1)操作于检测阶段，开关S2为导通而开关S1为截止，源极驱动器230中的检测电路(如图1的检测电路14)可以通过解多工器DM、感测线SE与开关S2提供检测信号给像素电路的发光元件LD，并且检测关于像素电路的发光元件LD的电性特征的结果信号。
图4是依照本发明另一实施例的显示面板40的电路方块示意图。显示面板40可以用于图2的显示装置20，作为显示面板240。在图4中，显示面板40包括数据线SO’但不包括如图3的感测线SE，数据显示以及发光元件的检测皆通过数据线SO’。像素电路P(1，1)包括开关S1、开关S2、发光元件LD以及驱动电路DU。开关S1的第一端耦接至数据线SO’。开关S1的第二端耦接至驱动电路DU。在本发明实施例中，开关S1虽绘示于驱动电路DU外，但是实际上开关S1可以是驱动电路DU内部的开关，例如是驱动电路DU内部的扫描晶体管。驱动电路DU耦接至发光元件LD。开关S2的第一端耦接至数据线SO’，开关S2的第二端耦接至发光元件LD。开关S1、开关S2受控于栅极驱动器220。基于时序控制器210的控制，当像素电路P(1，1)操作于显示阶段，开关S1为导通而开关S2为截止。当像素电路P(1，1)操作于检测阶段，开关S1为截止而开关S2为导通。图4所示源极驱动器230对显示面板40进行的显示阶段和检测阶段的动作内容与图3所述相同，故不再赘述。
以下图5、图8、图10是本发明实施例的源极驱动器50、80、100的电路方块示意图，此三个源极驱动器中的检测电路不同。图6、图9、图11分别描述依图5、图8、图10中的源极驱动器所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。图5是依照本发明实施例的源极驱动器50的电路方块示意图。源极驱动器50包括连接垫510、选择电路520、数据驱动电路530及检测电路540。连接垫510、选择电路520、数据驱动电路530及检测电路540可视为一驱动通道电路，并且源极驱动器50包括多个驱动通道电路，在图5中不重复绘示。上述电路的各端点连接关系以及在显示阶段和检测阶段的操作，请参考图1源极驱动器10的相关说明，在此不赘述，以下仅描述检测电路540。
检测电路540包括电压源541以及电压检测电路542，皆耦接至选择电路520的第二端。电压源541用来产生检测信号并通过选择电路520与连接垫510提供检测信号给像素电路的发光元件。电压检测电路542通过选择电路520与连接垫510检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号。
请一并参考图5及图6。图6绘示了依图5的源极驱动器50所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。图6所示横轴表示时间T，纵轴表示发光元件LD的电压V。在检测阶段的第一期间P1，电压源541提供检测信号给发光元件LD。在此实施例中，检测信号是电压信号，其电压电平(例如电压V1)必须令发光元件LD可以导通，例如设定为大于发光元件LD的阈值电压范围Rth的上边界。在第一期间P1之后的第二期间P2，电压源541停止提供检测信号，或者还可以设定使连接垫510的状态为高阻抗(Hi-Z)。在第二期间P2后，电压检测电路542可以检测发光元件LD的电压，作为结果信号。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是正常的情况下，在第二期间P2中，发光元件LD与显示面板间的寄生电容会从发光元件LD的路径放电，亦即发光元件LD的电压会下降，并在第二期间P2过后，寄生电容的电压趋于稳态，发光元件LD的电压下降至阈值电压范围Rth内，如图6所示的特性曲线602。因此，在第二期间P2后，可以根据结果信号(发光元件LD的电压)位在阈值电压范围内，判定发光元件LD的连接状态是正常。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是短路的情况下，在第二期间P2中，发光元件LD与显示面板间的寄生电容会从发光元件LD的路径放电至地(ground)，亦即发光元件LD的电压会被下拉至接地电平，如图6所示的特性曲线603。因此，在第二期间P2后，可以根据结果信号(发光元件LD的电压)低于阈值电压范围Rth的下边界或为接地电平，判定发光元件LD的连接状态是短路。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是开路的情况下，在第二期间P2中，发光元件LD与显示面板间的寄生电容不会放电，亦即发光元件LD的电压不会被下拉，如图6所示的特性曲线601。因此，在第二期间P2后，可以根据结果信号(发光元件LD的电压)高于阈值电压范围Rth的上边界，判定发光元件LD的连接状态是开路。
图7是依照本发明实施例的电压检测电路542的电路方块示意图。在图7中，电阻R1、电阻R2与电阻R3彼此串联于参考电压VREF与接地电压GND之间。因此电阻R1～R3可以对参考电压VREF进行分压，而产生参考电压VREF1与参考电压VREF2。电阻R1、电阻R2和/或电阻R3的电阻值可以依照设计需求来设定。基于电阻R1、电阻R2与电阻R3的电阻值比例，参考电压VREF1与参考电压VREF2的电平可以被任意设定。举例来说，参考电压VREF1与参考电压VREF2可以是发光元件LD的阈值电压范围Rth的边界值。
电压检测电路542可以包括电压比较器CMP1以及电压比较器CMP2。电压比较器CMP1的反相输入端用以接收参考电压VREF1。电压比较器CMP1的非反相输入端耦接至选择电路520的第二端以接收结果信号，即发光元件LD的电压VLD。电压比较器CMP1比较参考电压VREF1与发光元件LD的电压VLD，并输出比较结果D1。电压比较器CMP2的反相输入端用以接收参考电压VREF2。电压比较器CMP2的非反相输入端耦接至选择电路520的第二端，以接收发光元件LD的电压VLD。电压比较器CMP2比较参考电压VREF2与发光元件LD的电压VLD，并输出比较结果D0。电压检测电路542的数字数字电路(未绘示)可以根据比较结果D1和比较结果D0来决定发光元件LD的连接状态是正常的、短路的或是开路的。举例来说，当比较结果D1和比较结果D0均为逻辑“1”时，电压检测电路542可以决定发光元件LD与显示面板的连接状态是开路的。当比较结果D1为逻辑“0”而比较结果D0为逻辑“1”时，电压检测电路542可以决定发光元件LD与显示面板的连接状态是正常的。当比较结果D1和比较结果D0均为逻辑“0”时，电压检测电路542可以决定发光元件LD与显示面板的连接状态是短路的。
图8是依照本发明实施例的源极驱动器80的电路方块示意图。源极驱动器80包括连接垫810、选择电路820、数据驱动电路30及检测电路840。连接垫810、选择电路820、数据驱动电路830及检测电路840可视为一驱动通道电路。上述电路的各端点连接关系以及在显示阶段和检测阶段的操作，请参考图1源极驱动器10的相关说明，在此不赘述，以下仅描述检测电路840。
检测电路840包括电压源841以及电流检测电路842。电压源841耦接至选择电路820的第二端。电压源841用来产生检测信号并通过选择电路820与连接垫810提供检测信号给像素电路的发光元件。在此实施例中，检测信号是电压信号，其电压电平必须令发光元件LD可以导通，例如设定为大于发光元件LD的阈值电压范围Rth的上边界。电流检测电路842可以耦接于电压源841和选择电路820的第二端之间。电流检测电路842检测流经电压源841与选择电路820的第二端之间路径的电流，检测到的电流即是结果信号，与发光元件LD的电流相关联。进一步地，电流检测电路842可以藉由比较结果信号(电流信号)和发光元件LD的导通电流范围Ion来确定发光元件与显示面板的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
请一并参考图8及图9。图9绘示了依图8的源极驱动器80所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。图9所示横轴表示时间T，纵轴表示发光元件LD的电流I。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是正常的情况下，流经发光元件LD的电流是检测信号(电压信号)的对应电流Itest，电流Itest可由发光元件LD的I-V特性曲线得知。如图9所示的特性曲线902，在电压源841提供检测信号给发光元件LD后，可以根据结果信号(发光元件LD的电流Itest)位于导通电流范围内，判定发光元件LD的连接状态是正常的。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是开路的情况下，发光元件LD不会有电流流过，如图9所示的特性曲线903。因此，在电压源841提供检测信号给发光元件LD后，可以根据结果信号(发光元件LD的电流Itest)等于零电流，判定发光元件LD的连接状态是开路的。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是短路的情况下，电压源841提供给发光元件LD的检测信号会被直接连接至地(ground)，亦即发光元件LD会有大电流经过，如图9所示的特性曲线901。因此，在电压源841提供检测信号给发光元件LD后，可以根据结果信号为大电流(例如远高于导通电流范围Ion的上边界)，判定发光元件LD的连接状态是短路的。
图10是依照本发明实施例的源极驱动器100的电路方块示意图。源极驱动器100包括连接垫110、选择电路120、数据驱动电路130及检测电路140。连接垫10、选择电路120、数据驱动电路130及检测电路140可视为一驱动通道电路，并且源极驱动器110包括多个驱动通道电路，在图10中不重复绘示。上述电路的各端点连接关系以及在显示阶段和检测阶段的操作，请参考图1源极驱动器10的相关说明，在此不赘述，以下仅描述检测电路140。
检测电路140包括电流源141以及电压检测电路142，皆耦接至选择电路120的第二端。电流源141用来产生检测信号并通过选择电路120与连接垫110提供检测信号给像素电路的发光元件。在此实施例中，检测信号是电流信号。电压检测电路142通过选择电路120与连接垫110检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号，结果信号是电压信号。
请一并参考图10及图11。图11绘示了依图10的源极驱动器100所检测到的发光元件与显示面板的连接状态的对应特性曲线图。图11所示横轴表示时间T，纵轴表示发光元件LD的电压V。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是正常的情况下，电压检测电路142检测到的发光元件LD的电压位于阈值电压范围Rth内，例如是阈值电压Vth，如图11所示的特性曲线1102。因此，在电流源141提供检测信号(电流信号)给发光元件LD后，可以根据结果信号(发光元件LD的电压)位在阈值电压范围Rth内，判定发光元件LD的连接状态是正常。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是短路的情况下，电流源141提供给发光元件LD的检测信号会被直接连接至地(ground)，亦即发光元件LD的电压会被下拉至接地电平，如图11所示的特性曲线1103。因此，在电流源141提供检测信号给发光元件LD后，可以根据结果信号为电位等于接地电平的信号，判定发光元件LD的连接状态是短路的。
在发光元件LD与显示面板的连接状态是开路的情况下，发光元件LD不会有电流流过，亦即发光元件LD的电压不会被下拉，维持在相应于检测信号(电流信号)的高电位(此电位可参照发光元件的I-V特性曲线而决定)，例如高于发光元件LD的阈值电压范围的上边界，如图11所示的特性曲线1101。因此，在电流源141提供检测信号给发光元件LD后，可以根据结果信号(发光元件LD的电压)高于阈值电压范围Rth的上边界，判定发光元件LD的连接状态是开路的。
此外，以图3的显示面板30为例说明在检测阶段开始之前的源极驱动器230的动作。在检测阶段开始之前，源极驱动器230可以通过解多工器DM、数据线SO与开关S1输出控制电压至像素电路P(1，1)的驱动电路DU，使得驱动电路DU的输出呈现高阻抗状态(Hi-Z，亦即不输出驱动电流给发光元件LD)。在驱动电路DU的输出被设置为高阻抗状态后，开关S1被截止。因此在检测阶段(驱动电路DU的输出为高阻抗状态)，源极驱动器230可以通过解多工器DM、感测线SE与开关S2提供检测信号给像素电路P(1，1)的发光元件LD，以及通过解多工器DM、感测线SE与开关S2去检测关于像素电路P(1，1)的发光元件LD的电性特征的结果信号。
前述图5、图8、图10以描述源极驱动器为主，故仅简略描述源极驱动器50、80、100可耦接于如图2的显示面板240。显示面板240的架构可以图3和图4的显示面板为例。图5、图8、图10虽未绘示发光元件LD，但依据图2至图4中的显示面板与源极驱动器的关系可知，源极驱动器50、80、100内的检测电路可以在检测阶段提供检测信号至显示面板的像素电路的发光元件LD，也可以检测关于像素电路的发光元件的电性特征的结果信号，以判断发光元件LD与显示面板的连接状态。以μLED显示面板而言，即是判断巨量转移过程中是否有μLED晶粒没有转置成功，导致开路或短路而使对应像素变成暗点。
进一步地，当得知显示面板上μLED晶粒转置失败的位置和/或数量后，源极驱动器的前端信号处理电路例如时序控制电路或其他处理器，还可以利用算法，例如子像素渲染(Subpixel rendering)算法，去补偿μLED晶粒转置失败的像素的显示功能，使视觉上不易察觉有暗点，进而提升显示质量。
综上所述，本发明诸实施例所述驱动装置(例如源极驱动器130)可以在显示阶段通过连接垫810输出数据电压至显示面板140的像素电路，以及在检测阶段通过相同的连接垫810提供检测信号给所述像素电路的发光元件LD。基于检测信号的提供，所述驱动装置可以在检测阶段检测关于所述像素电路的发光元件LD的电性特征。基于发光元件LD的电性特征，所述驱动装置可以决定该光元件LD的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附权利要求书界定范围为准。

Claims (17)

1.一种驱动装置，用以驱动显示面板，所述驱动装置包括：
连接垫，用以电性连接至该显示面板的数据线；
选择电路，具有第一端、第二端与第三端，其中该选择电路的该第三端耦接至该连接垫；
数据驱动电路，具有输出端耦接至该选择电路的该第一端，其中该数据驱动电路在显示阶段通过该选择电路与该连接垫输出数据电压至该显示面板的像素电路；以及
检测电路，具有输入端耦接至该选择电路的该第二端，其中该检测电路在检测阶段通过该选择电路与该连接垫提供检测信号给该像素电路的发光元件，以及该检测电路在该检测阶段检测关于该像素电路的该发光元件的电性特征的结果信号。
2.如权利要求1所述的驱动装置，其中该检测电路包括：
电压源，耦接至该选择电路的该第二端，其中该电压源针对第一期间通过该选择电路与该连接垫提供该检测信号给该发光元件，以及该电压源针对第二期间停止提供该检测信号；以及
电压检测电路，耦接至该选择电路的该第二端，其中该电压检测电路在该第二期间后通过该选择电路与该连接垫检测该发光元件的电压作为该结果信号，以及决定该发光元件的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
3.如权利要求2所述的驱动装置，其中该检测信号的电压电平大于该发光元件的阈值电压范围，该检测电路在该第一期间提供该检测信号给该发光元件，该检测电路在该第一期间后的该第二期间停止提供该检测信号，以及该检测电路在该第二期间后通过该选择电路与该连接垫检测该发光元件的该电压作为该结果信号。
4.如权利要求2所述的驱动装置，其中该电压检测电路藉由比较该发光元件的该电压和该发光元件的阈值电压范围来确定该发光元件的连接状态。
5.如权利要求2所述的驱动装置，其中该电压检测电路包括模拟数字数字转换器。
6.如权利要求2所述的驱动装置，其中该电压检测电路包括：
第一电压比较器，具有反相输入端用以接收第一参考电压，其中该第一电压比较器的非反相输入端耦接至该选择电路的该第二端，以及该第一电压比较器比较该第一参考电压与该发光元件的该电压而输出第一比较结果；以及
第二电压比较器，具有反相输入端用以接收第二参考电压，其中该第二电压比较器的非反相输入端耦接至该选择电路的该第二端，以及该第二电压比较器比较该第二参考电压与该发光元件的该电压而输出第二比较结果。
7.如权利要求6所述的驱动装置，其中该电压检测电路根据该第一比较结果和该第二比较结果决定该发光元件的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
8.如权利要求6所述的驱动装置，其中该第一参考电压和该第二参考电压是该发光元件的阈值电压范围的边界值。
9.如权利要求1所述的驱动装置，其中该检测电路包括：
电压源，耦接至该选择电路的该第二端，其中该电压源在该检测阶段通过该选择电路与该连接垫提供该检测信号给该发光元件；以及
电流检测电路，在该检测阶段检测流经该电压源与该选择电路的该第二端之间的电性路径的电流，其中该电流作为该结果信号并与该发光元件的电流相关联。
10.如权利要求9所述的驱动装置，其中该检测信号的电压电平大于该发光元件的阈值电压范围。
11.如权利要求9所述的驱动装置，其中该电流检测电路藉由比较该发光元件的该电流和该发光元件的导通电流范围来确定该发光元件的连接状态。
12.如权利要求1所述的驱动装置，其中该检测电路包括：
电流源，耦接至该选择电路的该第二端，其中该电流源在该检测阶段通过该选择电路与该连接垫提供该检测信号给该发光元件；以及
电压检测电路，耦接至该选择电路的该第二端，其中该电压检测电路在该检测阶段通过该选择电路与该连接垫检测该发光元件的电压作为该结果信号，以及决定该发光元件的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
13.如权利要求12所述的驱动装置，其中该检测电路在该检测阶段提供该检测信号的检测电流给该发光元件，以及在该检测阶段该检测电路通过该选择电路与该连接垫检测该发光元件的该电压。
14.如权利要求12所述的驱动装置，其中该电压检测电路藉由比较该发光元件的该电压和该发光元件的阈值电压范围来确定该发光元件的连接状态。
15.如权利要求12所述的驱动装置，其中该电压检测电路包括：
第一电压比较器，具有反相输入端用以接收第一参考电压，其中该第一电压比较器的非反相输入端耦接至该选择电路的该第二端，以及该第一电压比较器比较该第一参考电压与该发光元件的该电压而输出第一比较结果；以及
第二电压比较器，具有反相输入端用以接收第二参考电压，其中该第二电压比较器的非反相输入端耦接至该选择电路的该第二端，以及该第二电压比较器比较该第二参考电压与该发光元件的该电压而输出第二比较结果。
16.如权利要求15所述的驱动装置，其中该电压检测电路根据该第一比较结果和该第二比较结果决定该发光元件的连接状态是正常的、短路的或是开路的。
17.如权利要求15所述的驱动装置，其中该第一参考电压和该第二参考电压是该发光元件的阈值电压范围的边界值。
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