CN109814018B - 分光机及其底部测试装置 - Google Patents

分光机及其底部测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109814018B
CN109814018B CN201711162228.0A CN201711162228A CN109814018B CN 109814018 B CN109814018 B CN 109814018B CN 201711162228 A CN201711162228 A CN 201711162228A CN 109814018 B CN109814018 B CN 109814018B
Authority
CN
China
Prior art keywords
assembly
base
probe
test
sliding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201711162228.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109814018A (zh
Inventor
陶大虎
袁小军
赵玉涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Xuanshuo Intelligent Manufacturing Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Xuanshuo Intelligent Manufacturing Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Xuanshuo Intelligent Manufacturing Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Xuanshuo Intelligent Manufacturing Technology Co ltd
Priority to CN201711162228.0A priority Critical patent/CN109814018B/zh
Publication of CN109814018A publication Critical patent/CN109814018A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109814018B publication Critical patent/CN109814018B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Abstract

本发明涉及一种底部测试装置及分光机。底部测试装置包括驱动组件、传动组件、滑动组件及测试组件,传动组件包括连接件及凸轮轴承,连接件与驱动组件的输出轴固定,连接件远离驱动组件的一端开设凸轮滑槽,凸轮滑槽设有所述凸轮轴承,其中,驱动组件的输出轴所在的直线为第一方向,凸轮滑槽的延伸方向为第二方向;滑动组件,包括与分光机的工作台面连接的滑轨以及与滑轨配合的滑块,滑块能相对滑轨沿第三方向往复移动;并且测试组件同时与滑块及所述凸轮轴承连接。当驱动组件驱动连接件做固定角度的往复旋转运动时,带动凸轮轴承在凸轮滑槽的限位位移内往复滑动,进而带动测试组件沿第三方向往复移动以完成一些管脚在LED产品底部的元器的性能测试。

Description

分光机及其底部测试装置
技术领域
本发明涉及LED分光机的制造技术领域,特别是涉及一种分光机及其底部测试装置。
背景技术
分光机,全称发光二极管分光机,是发光二极管(又称LED)在生产过程中必需的设备,用来对LED按照发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选。
随着LED行业技术的发展对管脚在底部的LED产品需求量逐年增加,而目前的贴片式LED分光机的设备中只能对常规的LED产品进行水平方向的夹紧测试,却不能实现对于一些管脚在LED底部的产品进行测试。
发明内容
基于此,有必要针对贴片式LED分光机无法检测一些管脚在LED底部的产品问题,提供一种分光机及其底部测试装置。
一种底部测试装置,所述的底部测试装置包括:
驱动组件,设于所述分光机的工作台面上;
传动组件,包括连接件及凸轮轴承,所述连接件与所述驱动组件的输出轴固定,所述连接件远离所述驱动组件的一端开设有凸轮滑槽,所述凸轮滑槽一侧设有所述凸轮轴承,其中,所述驱动组件的输出轴所在的直线为第一方向,所述凸轮滑槽的延伸方向为第二方向;
滑动组件,包括与所述分光机的工作台面连接的滑轨以及与所述滑轨配合的滑块,所述滑块能相对于所述滑轨沿第三方向往复移动;以及
测试组件,用于连接LED与外置的测试仪器,以检测LED性能,所述测试组件同时与所述滑块及所述凸轮轴承连接;
其中,当所述驱动组件驱动所述连接件做固定角度的往复旋转运动时,带动所述凸轮轴承在所述凸轮滑槽的限位位移内往复滑动,进而带动所述测试组件沿所述第三方向往复移动。
在其中一个实施例中,所述底部测试装置还包括第一基座,所述第一基座垂直设置在分光机的工作台面上,所述第一基座同时固定有所述驱动组件及所述滑动组件,所述第一方向及所述第二方向均与所述分光机的工作台面平行,所述第三方向与所述分光机的工作台面垂直。
在其中一个实施例中,所述底部测试装置还包括层叠设置的第二基座及第三基座,所述第三基座直接设置于分光机的工作台面,所述第一基座与所述第二基座固定,所述第二基座与所述第三基座的接触面上设有第一凸块,所述第三基座设有对应所述第一凸块的第一凹槽,所述第一凸块能在所述第一凹槽内沿竖直方向滑动以实现所述底部测试装置沿第一方向的位置调整;所述第三基座与所述工作台面的接触面设有第二凸块,所述第二凸块能在所述工作台面对应开设的第二凹槽内沿竖直方向滑动以实现所述底部测试装置沿第二方向的位置调整。
在其中一个实施例中,所述第一基座靠近所述工作台面的底面一侧设置有弹簧固定座,所述弹簧固定座用于与拉簧的一端连接,所述拉簧的另一端与所述连接件的所述凸轮滑槽远离所述凸轮轴承的一侧连接,以保证所述测试组件在所述驱动组件断电的情况下,所述测试组件不会下移。
在其中一个实施例中,所述传动组件还包括压板,所述传动组件的所述连接件部分环绕所述驱动组件的输出轴,所述压板与所述连接件配合固定以完全环绕并锁紧所述驱动组件的输出轴。
在其中一个实施例中,所述测试组件包括测试基座、探针基座、探针弹簧、测试探针及探针盖,所述测试基座同时与所述传动组件的所述凸轮轴承固定以及所述滑动组件的所述滑块固定;
所述测试基座安装有所述探针基座,所述探针基座表面设有贯穿所述探针基座上下两端的第三凹槽,所述第三凹槽内设有抵顶凸起;
所述测试探针包括探针本体及探针针头,所述探针针头固定于所述探针本体下端,所述探针本体开设有贯穿前后两面的条形缺口,所述条形缺口宽度大于所述抵顶凸起的宽度;
所述测试探针设置在所述第三凹槽内,所述探针针头伸出于所述探针基座,所述抵顶凸起的上端面抵接所述条形缺口的上端面,所述抵顶凸起的下端面连接所述探针弹簧的一端,所述探针弹簧的另一端与所述条形缺口的下端面连接,用于所述探针针头触碰到被检测物时在所述探针弹簧的作用下探针基座进行进一步下压,以使所述探针针头通过所述探针弹簧的反作用力的保护下与所述被检测物良好接触;
所述探针基座开设有所述第三凹槽的表面安装有所述探针盖,以保护所述测试探针及所述探针弹簧。
在其中一个实施例中,所述测试探针至少为两个一组以完成测试工作。
在其中一个实施例中,所述底部测试装置还包括缓冲垫,所述缓冲垫设置于所述滑动组件的所述滑块的下表面,以保护所述测试组件的运动轨迹,防止过冲;或者
所述缓冲垫设置于所述测试组件的所述测试基座下表面。
在其中一个实施例中,所述底部测试装置还包括感应组件,所述感应组件包括感应器固定座、原点感应器及感应片,所述感应器固定座固定于所述第一基座或分光机的工作台面上,所述原点感应器固定于所述感应器固定座上,所述感应片一端连接所述滑动组件的所述滑块,并能跟随所述滑块沿第三方向往复运动,所述感应片另一端与所述原点感应器配合以检测所述测试组件运动轨迹的原点用于确定所述驱动组件的输出轴转动起点;或者
所述感应片一端连接所述测试组件,并能跟随所述测试组件沿第三方向往复运动,所述感应片另一端与所述原点感应器配合以检测所述测试组件运动轨迹的原点用于确定所述驱动组件的输出轴转动起点。
一种分光机,其特征在于,包括上述底部测试装置,用于完成对LED产品关于电学及光学方面的测试。
上述底部测试装置及分光机,通过传动组件、滑动组件及驱动组件的配合,实现了测试组件沿第三方向往复线性运动,以完成一些管脚在LED产品底部的元件的性能测试。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的底部测试装置的结构示意图;
图2为图1所示底部测试装置另一视角的结构示意图;
图3为图1所示底部测试装置的第二基座与第三基座的结构示意图;
图4为图1所示底部测试装置的驱动组件及传动组件的结构示意图;
图5为图1所示底部测试装置的压板、连接件及输出轴的剖面示意图;
图6为图1所示底部测试装置的测试组件的结构示意图;
图7为图6所示测试组件的俯视图;
图8为沿图7中的A-A的剖面示意图。
具体实施方式
为使本发明 的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明 。但是本发明 能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明 内涵的情况下做类似改进,因此本发明 不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
详参图1和图2所示,本发明一实施例提供的底部测试装置,应用于LED 分光机中完成对一些管脚在LED产品底部的元件的光学、电学性能测试。
所述底部测试装置包括驱动组件100、基座200、传动组件300、滑动组件 400、测试组件500及感应组件600,所述驱动组件100、滑动组件400及感应组件600可以通过安装在所述基座200上而与分光机工作台面固定。
具体地,驱动组件100的输出轴150所在直线为第一方向,所述输出轴150 连接所述传动组件300,传动组件300同时固定所述测试组件500并且可以通过输出轴150同步带动测试组件500运动,所述滑动组件400也与测试组件500 固定以限定测试组件500沿第三方向往复运动以完成测试。其中,当测试组件 500沿第三方向运动,并接触到LED的引脚时,测试组件500作为连接LED与外置的测试仪器的桥梁,也即测试仪器可以通过测试组件500连接LED,从而检测LED的光学性能、电性能等。所述感应组件600可以与滑动组件400的滑块430或测试组件500连接,用于确定测试组件500运动轨迹的原点,从而以确定在每一次驱动组件100启动时驱动组件100的输出轴150的转动起点。
具体地,第一方向以及与第一方向对应的第二方向平行于分光机的工作台面,且第一方向及第二方向在工作台面上的投影互相垂直,第三方向垂直于工作台面。
更具体地,驱动组件100可以是电机,输出轴150即为电机的转轴,驱动组件100可以通过PLC控制以使输出轴150做固定角度的往复旋转运动,且当测试完成之后驱动组件100的输出轴150反转带动测试组件600上移离开LED 产品从而进入下一个工作循环。
本实施例中,如图3所示,所述基座200包括第一基座210、第二基座220 及第三基座230,所述第一基座210用于安装所述驱动组件100、滑动组件400 及感应组件600,第一基座210固定在所述第二基座220上,第三基座230设置在第二基座220的底面,第三基座230远离第二基座220的表面与分光机的工作台面固定。
进一步,第二基座220靠近与第三基座230的表面上设有第一凸块221,第三基座230设有对应所述第一凸块221的第一凹槽231,第一凸块221能在所述第一凹槽231内滑动以实现第一基座210沿第一方向的位置微调,以最终实现测试组件600沿第一方向的位置调整;第三基座230靠近工作台面的表面设有第二凸块232,所述第二凸块232能在工作台面对应开设的第二凹槽(图未示) 内滑动以实现带动第二基座220及第一基座210沿第二方向的位置微调,以最终实现测试组件600沿第二方向的位置调整。
在本实施例中,基座200的主要作用在于承载整个底部测试装置,并且实现底部测试装置中的测试组件500沿两个互相垂直方向的位置调整。可以理解,在其他实施例中,当分光机的工作台面自身具有上述基座200所具有的功能时时,基座200可以省去。或者在一些其他实施例中,第一基座210、第二基座 220及第三基座230也可以通过其他配合方式在分光机工作台面上实现第一方向及第二方向的位置调整,或是第一基座210独立设置在工作台面上实现第一方向及第二方向的位置调整即可。
本实施例中,第一基座210远离第二基座230的一端安装有驱动组件100,以适当抬高驱动组件100,同时第一基座210开设有一个通孔,用于驱动组件 100的输出轴150穿过后并与传动组件300连接。
进一步地,如图4所示,所述传动组件300包括连接件310、压板330及凸轮轴承340,所述压板330与所述连接件310配合,从而固定驱动组件100的输出轴150。所述连接件310能跟随输出轴150做固定角度的往复旋转运动,连接件310远离输出轴150的一端开设有凸轮滑槽315,所述凸轮滑槽315的延伸方向为第二方向,所述凸轮轴承340能在凸轮滑槽315的限位位移内往复运动,凸轮轴承340远离凸轮滑槽315的一端固定有测试组件500。
如图5所示,图5为压板330、连接件310及输出轴150构成的整体的剖面图,其中连接件310的剖面为一个半圆,压板330及连接件310分别设有与输出轴 150大小形状相契合的缺口,以相互配合紧密套设在输出轴150上。同时压板 330及连接件310分别开设有螺孔380,压板330上的螺孔380与连接件310的螺孔380正对设置,从而可以使用螺钉等螺纹固定柱将压板330与连接件310 锁紧,使得压板330与连接件310抱紧输出轴150,进而使得输出轴150的控制精度更高。
进一步地,如图2所示,所述滑动组件400包括安装板410、滑轨420及滑块430,在本实施例中,所述安装板410为L型结构,其中安装板410一端固定在第一基座210的侧面上,安装板410另一端的侧面与传动组件300相对应,所述滑轨420安装在安装板410与传动组件300相对应的一侧面上,其中滑轨 420轨道方向与工作台面垂直,滑轨420内设置有能够自由滑动的所述滑块430,滑块430远离滑轨420表面与测试组件500固定,以配合传动组件300控制测试组件500沿第三方向反复运动。
如图1所示,在本实施例中,第一基座210靠近工作台面的一端设置有弹簧固定座700,所述弹簧固定座700用于与拉簧750的一端连接,所述拉簧750 的另一端与连接件310具有凸轮滑槽315的一端连接。设置拉簧750可以确保,在驱动组件100失去动力的情况下,测试组件500不会因为自身的重力作用及滑动组件400的滑块430的重力作用而下移。
进一步地,如图6、图7和图8所示,所述测试组件500包括测试基座510、测试探针520、探针基座530、探针盖540级探针弹簧550,所述测试基座510 与传动组件300的轴承340固定,并同时与滑动组件400的滑块430固定。
本实施例中,测试基座510为一个近似的L型结构,测试基座510一端设有轴承孔,用于传动组件300的凸轮轴承340穿设并与凸轮轴承340固定,测试基座510另一端的侧面固定有滑动组件400的滑块430,传动组件300与滑动组件400联合控制测试基座510沿第三方向往复运动。
进一步地,测试基座510开设有轴承孔的一端的外表面安装有所述探针基座530,探针基座530表面设有贯穿探针基座530上下两端的第三凹槽531,所述第三凹槽531内设有抵顶凸起532。
进一步地,所述测试探针520包括探针本体521及探针针头524,所述探针针头524固定于所述探针本体521下端,所述探针本体524开设有贯穿探针本体524前后两面的条形缺口522,所述条形缺口522宽度大于所述抵顶凸起532 的宽度。
更进一步地,测试探针520设置在所述第三凹槽531内,探针针头524伸出于探针基座530,抵顶凸起532设置在第三凹槽531的上末端,抵顶凸起532 的上端面抵接条形缺口522的上端面,抵顶凸起532的下端面连接所述探针弹簧550的一端,探针弹簧550的另一端与条形缺522口的下端面连接。以此实现探针针头524与被检测物弹性抵接,从而在探针弹簧550反作用力的保护下探针针头524与被检测物良好接触,不会压坏被检测物。
更进一步地,探针基座530开设有第三凹槽531的表面安装有所述探针盖 540,以保护所述测试探针520及所述探针弹簧555。
本实施例中,探针基座530包括相对的第一表面及第二表面,其中,第一表面与测试基座510连接。探针基座530的第一表面开设有相邻的两个第三凹槽531,探针基座530的第二表面也开设有相邻的两个第三凹槽531,四个第三凹槽531内均设置有测试探针520。探针盖540的数目为两个,两个探针盖540 分别设于探针基座530的第一表面及第二表面上,第一表面通过探针盖540与测试基座510间隔连接。
在本实施例中包括四个测试探针520形成一个测试机构对LED产品的管脚进行检测。在其它一些实施例中,测试探针520可以两个一组形成一个测试机构对LED产品的管脚进行检测。
进一步地,如图2所示,所述感应组件600包括感应器固定座610、原点感应器 620及感应片630,所述感应器固定座610固定于第一基座210上,所述原点感应器620固定于感应器固定座610上。在本实施例中,所述感应片630连接滑动组件400的滑块430,并能跟随滑块430沿第三方向运动。在其他实施例中,感应片630也可以直接连接测试组件500,并能跟随测试组件500沿第三方向运动。感应片630另一端与原点感应器620配合以检测测试组件500运动轨迹的原点。其中,当感应片630位于原点感应器620内时,原点感应器620能感应到感应片630,可以定义该状态为原点状态;而当感应片630位于原点感应器 620外时,原点感应器620不能感应到感应片630,可以定义该状态为非原点状态。可以理解,上述原点状态与非原点状态可以互换。
进一步地,如图2所示,底部测试装置还包括缓冲垫440,所述缓冲垫440 设置于滑块430的下表面,以保护测试组件500的运动轨迹,防止过冲。在其他实施例中,缓冲垫440也可以设置于测试组件500的测试基座510下表面。
本实施例中,测试基座510固定滑块430一端的下表面超出测试基座510 固定轴承340一端的下表面,且测试基座510固定滑块430一端的上下表面与滑块430的上下表面齐平,缓冲胶垫440同时设置在滑块430及测试基座510 固定滑块430一端的下表面,感应片630同时设置在滑块430及测试基座510 固定滑块430一端的上表面。
上述底部测试装置安装在分光机上,完成一些管脚在LED产品底部的元器的性能测试。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种底部测试装置,其特征在于,所述的底部测试装置包括:
驱动组件,设于分光机的工作台面上;
传动组件,包括连接件及凸轮轴承,所述连接件与所述驱动组件的输出轴固定,所述连接件远离所述驱动组件的一端开设有凸轮滑槽,所述凸轮滑槽一侧设有所述凸轮轴承,其中,所述驱动组件的输出轴所在的直线为第一方向,所述凸轮滑槽的延伸方向为第二方向;
滑动组件,包括与所述分光机的工作台面连接的滑轨以及与所述滑轨配合的滑块,所述滑块能相对于所述滑轨沿第三方向往复移动;以及
测试组件,用于连接LED与外置的测试仪器,以检测LED性能,所述测试组件同时与所述滑块及所述凸轮轴承连接;
其中,当所述驱动组件驱动所述连接件做固定角度的往复旋转运动时,带动所述凸轮轴承在所述凸轮滑槽的限位位移内往复滑动,进而带动所述测试组件沿所述第三方向往复移动,所述第三方向与所述分光机的工作台面垂直。
2.根据权利要求1所述的底部测试装置,其特征在于,所述底部测试装置还包括第一基座,所述第一基座垂直设置在分光机的工作台面上,所述第一基座同时固定有所述驱动组件及所述滑动组件,所述第一方向及所述第二方向均与所述分光机的工作台面平行。
3.根据权利要求2所述的底部测试装置,其特征在于,所述底部测试装置还包括层叠设置的第二基座及第三基座,所述第三基座直接设置于分光机的工作台面,所述第一基座与所述第二基座固定,所述第二基座靠近所述第三基座的表面上设有第一凸块,所述第三基座设有对应所述第一凸块的第一凹槽,所述第一凸块能在所述第一凹槽内滑动以实现所述测试组件沿第一方向的位置调整;所述第三基座靠近所述工作台面的表面设有第二凸块,所述第二凸块能在所述工作台面对应开设的第二凹槽内滑动以实现所述测试组件沿第二方向的位置调整。
4.根据权利要求2所述的底部测试装置,其特征在于,所述底部测试装置还包括弹簧固定座及拉簧,所述弹簧固定座设于所述第一基座靠近所述工作台面的一端,所述拉簧的一端与所述弹簧固定座连接,所述拉簧的另一端与所述连接件具有所述凸轮滑槽一端连接。
5.根据权利要求1所述的底部测试装置,其特征在于,所述传动组件还包括压板,所述传动组件的所述连接件部分环绕所述驱动组件的输出轴,所述压板与所述连接件配合固定以完全环绕并锁紧所述驱动组件的输出轴。
6.根据权利要求1所述底部测试装置,其特征在于,所述测试组件包括测试基座、探针基座、探针弹簧及测试探针,所述测试基座同时与所述传动组件的所述凸轮轴承以及所述滑动组件的所述滑块固定;
所述测试基座安装有所述探针基座,所述探针基座表面设有第三凹槽,所述第三凹槽沿所述第三方向贯穿所述探针基座的两端,所述第三凹槽内设有抵顶凸起;
所述测试探针包括相连的探针本体及探针针头,所述探针针头远离所述探针本体的一端用于连接LED所述探针本体开设有条形缺口,所述条形缺口沿所述第一方向贯穿所述探针本体的相对的两侧,所述条形缺口宽度大于所述抵顶凸起的宽度;
所述测试探针设置在所述第三凹槽内,所述探针针头伸出于所述探针基座,所述抵顶凸起远离所述探针针头的端面抵接所述条形缺口远离所述探针针头的端面,所述抵顶凸起靠近所述探针针头的端面连接所述探针弹簧的一端,所述探针弹簧的另一端与所述条形缺口靠近所述探针针头的端面连接。
7.根据权利要求6所述的底部测试装置,其特征在于,所述测试组件还包括探针盖,所述探针盖设于所述探针基座开设有所述第三凹槽的表面,以保护所述测试探针及所述探针弹簧。
8.根据权利要求6所述的底部测试装置,其特征在于,所述底部测试装置还包括缓冲垫;所述缓冲垫设置于所述滑块靠近工作台面的表面上;或者,所述缓冲垫设置于所述测试基座靠近工作台面的表面。
9.根据权利要求1所述的底部测试装置,其特征在于,所述底部测试装置还包括感应组件,所述感应组件包括感应器固定座、原点感应器及感应片,所述感应器固定座固定于分光机的工作台面上,所述原点感应器固定于所述感应器固定座上,所述感应片一端连接所述滑动组件的所述滑块,并能跟随所述滑块沿第三方向往复运动,所述感应片另一端与所述原点感应器配合以检测所述测试组件运动轨迹的原点。
10.一种分光机,其特征在于,包括权利要求1~9任意一项权利要求所述的底部测试装置。
CN201711162228.0A 2017-11-21 2017-11-21 分光机及其底部测试装置 Expired - Fee Related CN109814018B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711162228.0A CN109814018B (zh) 2017-11-21 2017-11-21 分光机及其底部测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711162228.0A CN109814018B (zh) 2017-11-21 2017-11-21 分光机及其底部测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109814018A CN109814018A (zh) 2019-05-28
CN109814018B true CN109814018B (zh) 2021-09-14

Family

ID=66598759

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711162228.0A Expired - Fee Related CN109814018B (zh) 2017-11-21 2017-11-21 分光机及其底部测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109814018B (zh)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2914165Y (zh) * 2006-05-10 2007-06-20 杨少辰 一种led分光机的空间凸轮结构
CN201017860Y (zh) * 2007-01-29 2008-02-06 东捷科技股份有限公司 电子组件进出料装置
WO2010095810A2 (ko) * 2009-02-20 2010-08-26 (주)큐엠씨 엘이디 칩 분류장치
CN203791225U (zh) * 2013-09-03 2014-08-27 深圳市炫硕光电科技有限公司 一种分光机吸料结构
CN204276388U (zh) * 2014-12-01 2015-04-22 东莞市台工电子机械科技有限公司 一种全自动高速贴片led分光分色机
CN205049718U (zh) * 2015-09-01 2016-02-24 深圳市三一联光智能设备股份有限公司 用于led产品测试上的防粘连装置
CN105944975A (zh) * 2016-05-06 2016-09-21 深圳市朝阳光科技有限公司 一种全自动led分光机的底部测试机构
CN206470360U (zh) * 2016-12-01 2017-09-05 深圳市标谱半导体科技有限公司 一种往返性动作测试机构

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2914165Y (zh) * 2006-05-10 2007-06-20 杨少辰 一种led分光机的空间凸轮结构
CN201017860Y (zh) * 2007-01-29 2008-02-06 东捷科技股份有限公司 电子组件进出料装置
WO2010095810A2 (ko) * 2009-02-20 2010-08-26 (주)큐엠씨 엘이디 칩 분류장치
CN203791225U (zh) * 2013-09-03 2014-08-27 深圳市炫硕光电科技有限公司 一种分光机吸料结构
CN204276388U (zh) * 2014-12-01 2015-04-22 东莞市台工电子机械科技有限公司 一种全自动高速贴片led分光分色机
CN205049718U (zh) * 2015-09-01 2016-02-24 深圳市三一联光智能设备股份有限公司 用于led产品测试上的防粘连装置
CN105944975A (zh) * 2016-05-06 2016-09-21 深圳市朝阳光科技有限公司 一种全自动led分光机的底部测试机构
CN206470360U (zh) * 2016-12-01 2017-09-05 深圳市标谱半导体科技有限公司 一种往返性动作测试机构

Also Published As

Publication number Publication date
CN109814018A (zh) 2019-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2019527841A (ja) 検査装置
CN109814018B (zh) 分光机及其底部测试装置
CN106405274B (zh) 电子元件老化测试装置
US7688094B2 (en) Electrical connecting apparatus
CN109900931B (zh) 半导体组件测试连接接口
CN106404384A (zh) 用于电子驻车制动器性能测试的工装
KR101808395B1 (ko) 프로브 장치
KR101785820B1 (ko) 프로브 장치
CN104251686A (zh) 平面度测试机
CN215415743U (zh) 一种同时固定多个半导体并导通的治具
CN112781847B (zh) 一种键盘多合一功能检测机
CN105445501A (zh) 用于环境测试的电性检测装置
CN213672413U (zh) 一种眼镜腿激光打标机
KR102209062B1 (ko) 반도체 소자 테스트 소켓의 래치 개폐 제어 장치
CN107664706B (zh) 一种led测量夹具
CN219533244U (zh) 一种双工位的电路板检测工装
CN106644405B (zh) 微小电子元件测试分光设备
CN215525966U (zh) 一种马达按键半成品老化测试治具
CN215116574U (zh) 电子模块拼板测试装置
CN219935632U (zh) 一种芯片测试用高低温箱
CN213903736U (zh) 一种扬升马达综合测试安装治具
TWM562976U (zh) 發光元件檢測設備
CN216000138U (zh) 一种产品管脚夹紧装置
CN217385716U (zh) 一种pcba芯片测试模组
CN213934064U (zh) 一种功能测试治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20210914

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee