CN109753394B - 一种实时调试固件配置信息的电路及方法 - Google Patents

一种实时调试固件配置信息的电路及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109753394B
CN109753394B CN201811643058.2A CN201811643058A CN109753394B CN 109753394 B CN109753394 B CN 109753394B CN 201811643058 A CN201811643058 A CN 201811643058A CN 109753394 B CN109753394 B CN 109753394B
Authority
CN
China
Prior art keywords
firmware configuration
signal
firmware
register
configuration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201811643058.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109753394A (zh
Inventor
夏川
何贵振
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xian Unilc Semiconductors Co Ltd
Original Assignee
Xian Unilc Semiconductors Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xian Unilc Semiconductors Co Ltd filed Critical Xian Unilc Semiconductors Co Ltd
Priority to CN201811643058.2A priority Critical patent/CN109753394B/zh
Publication of CN109753394A publication Critical patent/CN109753394A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109753394B publication Critical patent/CN109753394B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明一种实时调试固件配置信息的电路及方法,电路包括寄存器链,和与固件配置信号一一对应的选择器;选择器的一个输入端连接固件配置信号,另一个输入端连接寄存器链输出的固件配置切换信号,控制端连接寄存器链输出的固件配置选择控制信号,输出端输出的选择信号用于固件配置;方法包括步骤1,在寄存器链中分别查找发出固件配置切换信号和固件配置选择控制信号的目标寄存器的位置;步骤2,通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器;步骤3,通过固件配置选择控制信号,对选择器中输入的固件配置信号和固件配置切换信号进行选择,控制输出的选择信号用于固件配置。确保不破坏之前的芯片配置,极大降低测试的复杂度和成本。

Description

一种实时调试固件配置信息的电路及方法
技术领域
本发明涉及芯片内部的固件测试,具体为一种实时调试固件配置信息的电路及方法。
背景技术
现有技术中,在对芯片内部的固件进行测试时,如flash中存储的信息,如需要修改只能通过flash的通信接口重新写入flash中,而fuse或者OTP(one time program)中存储的信息则不能修改,如果要进行更改则需要重新更改对应的固件,使得测试的复杂度和时间增加,并且在某些固件无法更改的情况下,必须替换芯片已达到测试的目的,这大大提高了测试成本。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种实时调试固件配置信息的电路及方法,能够对芯片内部由固件配置的信息在测试阶段进行调试和修改,选择所需要的信息,满足测试要求。
本发明是通过以下技术方案来实现:
一种实时调试固件配置信息的电路,包括寄存器链,以及与固件配置信号一一对应的选择器;
所述选择器的一个输入端连接固件配置信号,另一个输入端连接寄存器链输出的固件配置切换信号,控制端连接寄存器链输出的固件配置选择控制信号,输出端输出的选择信号用于固件配置。
优选的,固件配置信号连接在选择器的逻辑0选择端,寄存器链输出的固件配置切换信号连接在选择器的逻辑1选择端。
优选的,寄存器链输出固件配置切换信号的目标寄存器和输出固件配置选择控制信号的目标寄存器依次连接。
优选的,固件配置信号经固件配置寄存器后由固件配置寄存器的输出端输出,所有固件配置寄存器的时钟信号和复位信号相同。
优选的,所述的寄存器链采用固件所在芯片内部的寄存器链。
一种实时调试固件配置信息的方法,基于上述任意一项所述的电路,包括如下步骤,
步骤1,在寄存器链中,分别查找发出固件配置切换信号和固件配置选择控制信号的目标寄存器的位置;
步骤2,通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器;
步骤3,通过固件配置选择控制信号,对选择器中输入的固件配置信号和固件配置切换信号进行选择,控制输出的选择信号用于固件配置。
进一步,完成固件配置更改后的测试,通过寄存器链的复位信号reset对寄存器链进行复位,切换到固件配置信号的输出。
再进一步,所述的芯片支持的配置接口协议采用JTAG协议,配置信号JTAG_TDI连接寄存器链的输入端,配置时间信号JTAG_TCK分别连接寄存器链中寄存器的时钟端。
与现有技术相比,本发明具有以下有益的技术效果:
本发明在固件配置信号的输出端通过选择其对固件配置信号和固件配置切换信号进行选择,通过寄存器链在提供固件配置切换信号的同时提供固件配置选择控制信号,从而能够通过寄存器链的不同配置实现在测试中改变固件配置信息,并且在测试完成后切换到固件配置信息,确保不破坏之前的芯片配置,极大的降低测试的复杂度和测试的成本。
附图说明
图1为本发明所述电路的结构连接示意图。
具体实施方式
下面结合具体的实施例对本发明做进一步的详细说明,所述是对本发明的解释而不是限定。
本发明一种实时调试固件配置信息的电路,由寄存器链(或寄存器组)与选择器组成。将固件配置的信号连接在选择器的逻辑0选择端,寄存器链的输出连接在选择器的逻辑1选择端,选择器的控制端也由寄存器链的输出连接。在测试的过程中如果需要改变固件的配置信息操作如下:
1、查找需要改变的信号在寄存器链的位置,以及这个信号的disable信号在寄存器链的位置;需要改变的信号即为固件配置切换信号,这个信号的disable信号即为固件配置选择控制信号;
2、通过JTAG协议配置上面位置的寄存器;
3、调试完成后reset寄存器链;
在配置JTAG扫描链数据时可灵活切换需要更改的固件数据,并在测试完成后,reset JTAG扫描链的移位寄存器,可以在正常模式下切换到固件配置的信息。
具体的,如图1所示,核心电路由寄存器链(或寄存器组)与选择器组成。包括用于分别对固件配置的信号firmware_data1和firmware_data2处理的第一固件配置寄存器Reg1和第二固件配置寄存器Reg2;分别与配置寄存器对应的第一选择器和第二选择器;所述的寄存器链包括依次级联的六个寄存器,第一个和第四个寄存器的输出分别作为对应的固件配置切换信号scan_data1和scan_data2,第二个和第五个寄存器的输出分别为固件配置选择控制信号firmware_data1_dis和firmware_data2_dis。
具体的,本发明所述方法分为以下几步:
1、将固件配置的信号firmware_data1和firmware_data2分别连接在对应选择器MUX的逻辑0选择端,固件配置的信号firmware_data1和firmware_data2分别经第一固件配置寄存器Reg1和第二固件配置寄存器Reg2后由对应的输出端Q输出。
2、固件配置切换信号scan_data1和scan_data2所在的寄存器链的输出连接在对应选择器MUX的逻辑1选择端。
3、固件配置选择控制信号firmware_data1_dis和firmware_data2_dis所在的寄存器链的输出连接在对应选择器MUX的选择端。
4、通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器,本优选实例中以JTAG协议为例,通过配置信号JTAG_TCK和配置时间信号JTAG_TDI对寄存器链进行配置。
5、调试完成后通过reset信号置位寄存器链。
通过以上的步骤可以在配置JTAG扫描链数据时可灵活切换需要更改的固件数据,并在测试完成后,reset JTAG扫描链的移位寄存器,可以在正常模式下切换到固件配置的信息。
本发明在固件配置信号的输出端加入JTAG扫描链逻辑,并使用扫描链中的1bit信息作为固件配置切换信号和对固件配置信号进行切换选择的固件配置选择控制信号,已达到可以在测试中改变固件配置信息,并且在测试完成后切换到固件配置信息,确保不破坏之前的芯片配置。

Claims (7)

1.一种实时调试固件配置信息的电路,其特征在于,包括寄存器链,以及与固件配置信号一一对应的选择器;
所述选择器的一个输入端连接固件配置信号,另一个输入端连接寄存器链输出的固件配置切换信号,所述选择器的控制端连接寄存器链输出的固件配置选择控制信号,所述选择器的输出端输出的选择信号用于固件配置;
所述寄存器链输出固件配置切换信号的目标寄存器和输出固件配置选择控制信号的目标寄存器依次连接;
所述固件配置信号经固件配置寄存器后由固件配置寄存器的输出端输出。
2.根据权利要求1所述的一种实时调试固件配置信息的电路,其特征在于,固件配置信号连接在选择器的逻辑0选择端,寄存器链输出的固件配置切换信号连接在选择器的逻辑1选择端。
3.根据权利要求1所述的一种实时调试固件配置信息的电路,其特征在于,所有固件配置寄存器的时钟信号和复位信号相同。
4.根据权利要求1所述的一种实时调试固件配置信息的电路,其特征在于,所述的寄存器链采用固件所在芯片内部的寄存器链。
5.一种实时调试固件配置信息的方法,其特征在于,基于权利要求1-3任意一项所述的电路,所述方法包括如下步骤,
步骤1,在寄存器链中,分别查找发出固件配置切换信号和固件配置选择控制信号的目标寄存器的位置;
步骤2,通过芯片支持的配置接口协议配置寄存器链中的目标寄存器;
步骤3,通过固件配置选择控制信号,对选择器中输入的固件配置信号和固件配置切换信号进行选择,控制输出的选择信号用于固件配置。
6.根据权利要求5所述的一种实时调试固件配置信息的方法,其特征在于,完成固件配置更改的测试后,通过寄存器链的复位信号reset对寄存器链进行复位,切换到固件配置信号的输出。
7.根据权利要求5所述的一种实时调试固件配置信息的方法,其特征在于,所述的芯片支持的配置接口协议采用JTAG协议,配置信号JTAG_TDI连接寄存器链的输入端,配置时间信号JTAG_TCK分别连接寄存器链中寄存器的时钟端。
CN201811643058.2A 2018-12-29 2018-12-29 一种实时调试固件配置信息的电路及方法 Active CN109753394B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811643058.2A CN109753394B (zh) 2018-12-29 2018-12-29 一种实时调试固件配置信息的电路及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811643058.2A CN109753394B (zh) 2018-12-29 2018-12-29 一种实时调试固件配置信息的电路及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109753394A CN109753394A (zh) 2019-05-14
CN109753394B true CN109753394B (zh) 2022-04-01

Family

ID=66404541

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811643058.2A Active CN109753394B (zh) 2018-12-29 2018-12-29 一种实时调试固件配置信息的电路及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109753394B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114253882B (zh) * 2021-12-17 2023-06-16 苏州浪潮智能科技有限公司 一种不同板材的bios均衡参数选择电路和服务器

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1779865A (zh) * 2004-10-05 2006-05-31 恩益禧电子股份有限公司 存储器测试电路和方法
JP2007198793A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Renesas Technology Corp 検査回路
CN102495356A (zh) * 2011-11-30 2012-06-13 福州大学 扫描链异步复位寄存器复位端口处理方法
CN102591760A (zh) * 2011-09-07 2012-07-18 上海大学 基于长短扫描链与jtag接口的片上调试电路
CN103033741A (zh) * 2011-09-30 2013-04-10 重庆重邮信科通信技术有限公司 一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法
CN103699465A (zh) * 2013-12-16 2014-04-02 大唐微电子技术有限公司 一种对16位芯片内核进行调试控制的装置及方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004279266A (ja) * 2003-03-17 2004-10-07 Toshiba Corp ロジック回路およびその設計方法並びにテスト方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1779865A (zh) * 2004-10-05 2006-05-31 恩益禧电子股份有限公司 存储器测试电路和方法
JP2007198793A (ja) * 2006-01-24 2007-08-09 Renesas Technology Corp 検査回路
CN102591760A (zh) * 2011-09-07 2012-07-18 上海大学 基于长短扫描链与jtag接口的片上调试电路
CN103033741A (zh) * 2011-09-30 2013-04-10 重庆重邮信科通信技术有限公司 一种具有扫描链测试功能的芯片及测试方法
CN102495356A (zh) * 2011-11-30 2012-06-13 福州大学 扫描链异步复位寄存器复位端口处理方法
CN103699465A (zh) * 2013-12-16 2014-04-02 大唐微电子技术有限公司 一种对16位芯片内核进行调试控制的装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109753394A (zh) 2019-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7886207B1 (en) Integrated circuit testing using segmented scan chains
CN112805577B (zh) 芯片、芯片测试方法及电子设备
CN101604244B (zh) 一种实现fpga上电即用和远程升级的装置及方法
US8438439B2 (en) Integrated circuit having a scan chain and testing method for a chip
CN111624478B (zh) 一种时钟信号控制电路及设备
US20110231720A1 (en) Data recirculation in configured scan paths
CN109753394B (zh) 一种实时调试固件配置信息的电路及方法
KR910008920B1 (ko) 다중-모우드 카운터 회로망 및 이 회로망의 동작 검사 방법
US20130091395A1 (en) Circuit to reduce peak power during transition fault testing of integrated circuit
KR900008804B1 (ko) 선견 터미날 카운터 및 터미날 카운트 신호 발생 방법
CN115236493B (zh) Dft测试电路、测试系统以及测试方法
US7930606B2 (en) Selectively debugging processor cores through instruction codes
CN106531217B (zh) 用于可编程逻辑器件中的flash器件编程方法及系统
CN114781304A (zh) 一种芯片的引脚状态控制方法、系统、芯片以及上位机
US7984343B2 (en) Inter-device connection test circuit generating method, generation apparatus, and its storage medium
CN110133486B (zh) Fpga的管脚桥接短路测试方法
CN101916588B (zh) 一种在系统编程isp编程模块及其用于fpaa在系统编程的方法
US7739566B2 (en) Scan test circuitry using a state machine and a limited number of dedicated pins
US6381720B1 (en) Test circuit and method for system logic
CN110133481B (zh) Io桥接短路的测试方法及测试电路
EP2141597B1 (en) Semiconductor integrated circuit
CN111781490A (zh) 芯片测试系统、方法、设备及介质
CN201429842Y (zh) 一种采用jtag方式的代码下载系统
CN106528234B (zh) 一种远程升级方法和装置
CN110705192B (zh) 一种fpga的输出功耗配置电路、系统及fpga

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant