CN109712547B - 一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质 - Google Patents

一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质,其中方法包括:通过获取显示屏的二维坐标数据流点阵,然后从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标,再根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标,最后选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。本发明解决了测量中要求显示屏位置要固定,以及显示屏放置要与测量仪器镜头保持平行的测量要求,也避免了针对每一个尺寸的显示屏都需要对应的制作制具的问题,降低了人力、物力和财力,提高了测量的效率和精准度。

Description

一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质
技术领域
本发明涉及显示屏平面亮度测量,更具体地说是一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术
随着显示领域的发展,人们对于显示屏的亮度要求越来越高,但是由于显示屏的背光大部分是被动式的,而且是以点光源组成的面光源,由于 LED灯的不一致性,使得即使同一批次的LED灯,也不可能是完全的电压亮度输出关系,这使得显示屏显示平面上可能不同地方测试出来的亮度会有很大的差异,而日益增长的品质要求,对于显示屏的亮度要求已经从显示屏的中心转向了对显示屏的面的要求,只有保证了显示屏整个显示面的亮度均匀,才能让显示屏的显示效果得到一个质的飞跃。对于一个面测量设备,不像点测量设置那么易于测量,需要测量设备与显示屏之间保持某段距离。
现有技术中,通过在测量一个显示屏面的值时,需要使测量仪器与显示屏保持一段距离,而且测量镜头要与显示屏的平面保持平行关系,并且还要调节显示屏的位置,使显示屏在镜头中成像是一个标准的或者近似的矩形,这样才能很好的读取显示屏相关点的测量值,但是在规模生产测量中就要定制相应的制具来对显示屏与测量设备做定位,但由于显示屏尺寸有多种多样,所以每一个尺寸都需要对应的制作制具,对于生产来说是相当费时费力的,而且成本较高,因而如何在快速定位显示屏的相应点坐标而不受安置的影响,成为了解决生产与测量中的一个关键问题。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种显示屏平面亮度测量方法、装置、计算机设备及存储介质。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种显示屏平面亮度测量方法,所述方法包括:
获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。
其进一步技术方案为:所述从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
若是,则该边界点坐标为显示屏的顶点坐标;
判断四个顶点坐标是否均查找到;
若否,则返回所述获取显示屏每个边界上的边界点坐标的步骤。
其进一步技术方案为:所述根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
一种显示屏平面亮度测量装置,所述装置包括获取单元、提取单元、计算单元以及灰阶测量单元;
所述获取单元,用于获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
所述提取单元,用于从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
所述计算单元,用于根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
所述灰阶测量单元,用于选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。
其进一步技术方案为:所述提取单元包括选取模块、查找模块、缩放模块、获取模块、第一计算模块、第一判断模块以及第二判断模块;
所述选取模块,用于选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
所述查找模块,用于以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
所述缩放模块,用于按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
所述获取模块,用于获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
所述第一计算模块,用于以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
所述第一判断模块,用于判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
所述第二判断模块,用于判断四个顶点坐标是否均查找到。
其进一步技术方案为:所述计算单元包括设定模块、第二计算模块以及第三计算模块;
所述设定模块,用于设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
所述第二计算模块,用于通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
所述第三计算模块,用于根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的一种显示屏平面亮度测量方法的步骤。
一种存储介质,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令被处理器执行时,使得所述处理器执行如上述的一种显示屏平面亮度测量方法的步骤。
本发明与现有技术相比的有益效果是:本发明一种显示屏平面亮度测量方法通过获取显示屏的二维坐标数据流点阵,然后从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标,再根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标,最后选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。解决了测量中要求显示屏位置要固定,以及显示屏放置要与测量仪器镜头保持平行的测量要求,也避免了针对每一个尺寸的显示屏都需要对应的制作制具的问题,降低了人力、物力和财力,提高了测量的效率和精准度。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明技术手段,可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本发明的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,详细说明如下。
附图说明
图1为本发明一种显示屏平面亮度测量方法具体实施例中定位透视坐标转换示意图;
图2为本发明一种显示屏平面亮度测量方法具体实施例中透视转换关系公式;
图3为本发明一种显示屏平面亮度测量方法具体实施例的流程图一;
图4为本发明一种显示屏平面亮度测量方法具体实施例的流程图二;
图5为本发明一种显示屏平面亮度测量方法具体实施例的流程图三;
图6为本发明一种显示屏平面亮度测量装置具体实施例的结构图;
图7为本发明一种显示屏平面亮度测量装置具体实施例中提取单元的结构图;
图8为本发明一种显示屏平面亮度测量装置具体实施例中计算单元的结构图;
图9为本发明一种计算机设备具体实施例的示意性框图。
具体实施方式
为了更充分理解本发明的技术内容,下面结合具体实施例对本发明的技术方案进一步介绍和说明,但不局限于此。
应当理解,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
还应当理解,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
如图1-5所示,本发明提供了一种显示屏平面亮度测量方法,该方法包括:
S10、获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
S20、从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
S30、根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
S40、选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。
具体的,本发明适用于医学影像,大屏幕拼接等邻近领域,对显示屏幕表面进行亮度测试,验证显示屏曲线或者用于显示屏均匀性校正等等。能够快速准确的定位显示屏的相对位置的亮度,自动适应显示屏与测量设备之间的相对位置与布局关系,使平面亮度测试能快速有效的进行,减小操作人员的劳动强度。本实施例中,可通过测试显示屏的纯白画面可得到显示屏的二维坐标数据流点阵。
进一步的,步骤S20具体包括以下步骤:
S201、选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
S202、以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
S203、按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
S204、获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
S205、以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
S206、判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
若是,S207、则该边界点坐标为显示屏的顶点坐标,若是,则返回步骤S202;
S208、判断四个顶点坐标是否均查找到;
若否,则返回步骤S204,若是,则结束。
以仪器测量的二维坐标数据流点阵,取中心点数据为中心分边向,左,右,上,下水平或者垂直找查显示屏每个边界的四个坐标,组成显示屏边界内矩形,然后缩小内矩形某个长度单位得到缩小内矩形的四个内顶点,分别以某个内顶点为中心,沿着边界点一一计算内顶点到边界点的距离,比较并得到离某个内顶点最远的边界点,即是所测量显示屏的真正屏幕顶点,分别按此种方法依次找出显示屏屏幕上的四个顶点,即得到显示屏在仪器数据流中的四个二维坐标点即(x0,y0),(x1,y1),(x2,y2),(x3,y3)。
进一步的,步骤S30具体包括以下步骤:
S301、设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
S302、通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
S303、根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
具体的,计算测量透视矩阵流程如下:分别以虚拟的(0,0),(0,1), (1,1),(1,0)为标准显示屏的虚拟标准坐标,对应二维坐标点的四个坐标,即(0,0)→(x0,y0),(0,1)→(x1,y1),(1,1)→(x2,y2),(1,0)→(x3,y3)。
建立以(x',y',w')为三维坐标的三维数据流,其中w'取一定值,以(u,v,w)为虚拟二维坐标点,其中w也为一定值。这样建立二维数据流与虚拟标准坐标之间的透视转换关系。再通过常用的透视原理分别计算出矩阵中知a值,从而得到透视矩阵。
上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
对应于上述实施例的一种显示屏平面亮度测量方法,本发明提供了一种显示屏平面亮度测量装置。如图1、2、6-8所示,该装置包括获取单元1、提取单元2、计算单元3以及灰阶测量单元4;
获取单元1,用于获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
提取单元2,用于从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
计算单元3,用于根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
灰阶测量单元4,用于选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。
具体的,具体的,本发明适用于医学影像,大屏幕拼接等邻近领域,对显示屏幕表面进行亮度测试,验证显示屏曲线或者用于显示屏均匀性校正等等。能够快速准确的定位显示屏的相对位置的亮度,自动适应显示屏与测量设备之间的相对位置与布局关系,使平面亮度测试能快速有效的进行,减小操作人员的劳动强度。本实施例中,可通过测试显示屏的纯白画面可得到显示屏的二维坐标数据流点阵。
进一步的,提取单元2包括选取模块21、查找模块22、缩放模块23、获取模块24、第一计算模块25、第一判断模块26以及第二判断模块27;
选取模块21,用于选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
查找模块22,用于以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
缩放模块23,用于按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
获取模块24,用于获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
第一计算模块25,用于以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
第一判断模块26,用于判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
第二判断模块27,用于判断四个顶点坐标是否均查找到。
以仪器测量的二维坐标数据流点阵,取中心点数据为中心分边向,左,右,上,下水平或者垂直找查显示屏每个边界的四个坐标,组成显示屏边界内矩形,然后缩小内矩形某个长度单位得到缩小内矩形的四个内顶点,分别以某个内顶点为中心,沿着边界点一一计算内顶点到边界点的距离,比较并得到离某个内顶点最远的边界点,即是所测量显示屏的真正屏幕顶点,分别按此种方法依次找出显示屏屏幕上的四个顶点,即得到显示屏在仪器数据流中的四个二维坐标点即(x0,y0),(x1,y1),(x2,y2),(x3,y3)。
进一步的,计算单元3包括设定模块31、第二计算模块32以及第三计算模块33;
设定模块31,用于设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
第二计算模块32,用于通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
第三计算模块33,用于根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
具体的,计算测量透视矩阵流程如下:分别以虚拟的(0,0),(0,1), (1,1),(1,0)为标准显示屏的虚拟标准坐标,对应二维坐标点的四个坐标,即(0,0)→(x0,y0),(0,1)→(x1,y1),(1,1)→(x2,y2),(1,0)→(x3,y3)。
建立以(x',y',w')为三维坐标的三维数据流,其中w'取一定值,以(u,v,w)为虚拟二维坐标点,其中w也为一定值。这样建立二维数据流与虚拟标准坐标之间的透视转换关系。再通过常用的透视原理分别计算出矩阵中知a值,从而得到透视矩阵。
如图9所示,本发明还提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现上述的一种显示屏平面亮度测量方法的步骤。
该计算机设备700可以是终端或服务器。该计算机设备700包括通过系统总线710连接的处理器720、存储器和网络接口750,其中,存储器可以包括非易失性存储介质730和内存储器740。
该非易失性存储介质730可存储操作系统731和计算机程序732。该计算机程序732被执行时,可使得处理器720执行任意一种显示屏平面亮度测量方法。
该处理器720用于提供计算和控制能力,支撑整个计算机设备700的运行。
该内存储器740为非易失性存储介质730中的计算机程序732的运行提供环境,该计算机程序732被处理器720执行时,可使得处理器720执行任意一种显示屏平面亮度测量方法。
该网络接口750用于进行网络通信,如发送分配的任务等。本领域技术人员可以理解,图9中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备700的限定,具体的计算机设备700可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。其中,处理器720用于运行存储在存储器中的程序代码,以实现以下步骤:
获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量。
进一步的:从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
若是,则该边界点坐标为显示屏的顶点坐标;
判断四个顶点坐标是否均查找到;
若否,则返回获取显示屏每个边界上的边界点坐标的步骤。
进一步的:根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
应当理解,在本申请实施例中,处理器720可以是中央处理单元 (CentralProcessing Unit,CPU),该处理器720还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(DigitalSignal Processor,DSP)、专用集成电路 (Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现成可编程门阵列 (Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中,通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域技术人员可以理解,图9中示出的计算机设备700结构并不构成对计算机设备700的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明中各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM, Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述装置中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个装置,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
上述仅以实施例来进一步说明本发明的技术内容,以便于读者更容易理解,但不代表本发明的实施方式仅限于此,任何依本发明所做的技术延伸或再创造,均受本发明的保护。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (6)

1.一种显示屏平面亮度测量方法,其特征在于,所述方法包括:
获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量;
所述根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
2.根据权利要求1所述的一种显示屏平面亮度测量方法,其特征在于,所述从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标的步骤,具体包括以下步骤:
选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
若是,则该边界点坐标为显示屏的顶点坐标;
判断四个顶点坐标是否均查找到;
若否,则返回所述获取显示屏每个边界上的边界点坐标的步骤。
3.一种显示屏平面亮度测量装置,其特征在于,所述装置包括获取单元、提取单元、计算单元以及灰阶测量单元;
所述获取单元,用于获取显示屏的二维坐标数据流点阵;
所述提取单元,用于从二维坐标数据流点阵中提取显示屏的四个顶点坐标;
所述计算单元,用于根据四个顶点坐标计算显示屏中其它点的点坐标;
所述灰阶测量单元,用于选取显示屏中部分点坐标或者全部点坐标进行灰阶测量;
所述计算单元包括设定模块、第二计算模块以及第三计算模块;
所述设定模块,用于设定对应于四个顶点坐标的标准显示屏的虚拟标准坐标;
所述第二计算模块,用于通过透视矩阵计算四个顶点坐标与虚拟标准坐标的透视矩阵转换关系;
所述第三计算模块,用于根据透视矩阵转换关系计算显示屏中其它点坐标在二维坐标数据流点阵中对应的透视点坐标。
4.根据权利要求3所述的一种显示屏平面亮度测量装置,其特征在于,所述提取单元包括选取模块、查找模块、缩放模块、获取模块、第一计算模块、第一判断模块以及第二判断模块;
所述选取模块,用于选取二维坐标数据流点阵的中心点数据;
所述查找模块,用于以中心点数据为中心分别向上、下、左、右查找显示屏每个边界的多个坐标,以组成显示屏边界内矩形;
所述缩放模块,用于按比例缩小显示屏边界内矩形,以得到显示屏边界内矩形的四个内顶点坐标;
所述获取模块,用于获取显示屏每个边界上的边界点坐标;
所述第一计算模块,用于以内顶点坐标为中心,计算显示屏每个边界上的边界点坐标到内顶点坐标的距离;
所述第一判断模块,用于判断其中某边界点坐标到内顶点坐标的距离是否为最远的距离;
所述第二判断模块,用于判断四个顶点坐标是否均查找到。
5.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1~2中任意一项所述的一种显示屏平面亮度测量方法的步骤。
6.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1~2任意一项所述的一种显示屏平面亮度测量方法的步骤。
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