CN115422617A - 一种基于cad的框架图像尺寸测量方法、装置及介质 - Google Patents

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CN115422617A CN202211252956.1A CN202211252956A CN115422617A CN 115422617 A CN115422617 A CN 115422617A CN 202211252956 A CN202211252956 A CN 202211252956A CN 115422617 A CN115422617 A CN 115422617A
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王孟涛
赵亚利
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Abstract

本发明公开了一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法、装置及介质。通过获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。解决了对框架图像不能够自动完成尺寸测量的问题，保证了能够准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，减少了由于标准框架图像的不精确而导致测量出现误差的现象的发生，节省了人力成本和时间成本。

Description

一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法、装置及介质
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法、装置及介质。
背景技术
基板分选机(Automatic Optical inspection，AOI)使用工业线扫相机和光源对半导体框架类产品进行上下扫描拍照采图，根据产品表面外观检测和尺寸测量结果对产品进行分类处理，依次分为良品、报废和复检三类检测结果。
发明人在实现本发明的过程中，发现现有技术存在如下缺陷：目前，传统AOI基板分选机的尺寸测量是首先使用设备采集一幅标准图像，根据客户要求在需要把控的位置上创建检测区域，然后计算物体的实际尺寸，与标准尺寸做比对，从而实现对产品外观品质的把控。然而，一方面，需要设备必须采集一幅标准图像，并且此图像必须是良品，但是当客户做新产品、新工艺时不能保证提供的产品一定是良品，这样会导致尺寸测量不准确。另一方面，传统尺寸测量方式不利于生产自动化，因为针对每一款产品必须在拍照过后，获取框架图像后才能进行测量模型创建实现测量，不能实现由工艺文件CAD(Computer AidedDesign，计算机辅助设计)直接导入完成尺寸测量。
发明内容
本发明提供了一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法、装置及介质，以实现准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，节省了人力成本和时间成本。
根据本发明的一方面，提供了一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法，其中，包括：
获取待测的框架图像；
将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；
获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；
根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
根据本发明的另一方面，提供了一种基于CAD的框架图像尺寸测量装置，其中，包括：
框架图像获取模块，用于获取待测的框架图像；
对准感兴趣区域确定模块，用于将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；
仿射变换矩阵生成模块，用于获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；
框架图像实际测量结果确定模块，用于根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现本发明任一实施例所述的基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。解决了对框架图像不能够自动完成尺寸测量的问题，保证了能够准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，减少了由于标准框架图像的不精确而导致测量出现误差的现象的发生，节省了人力成本和时间成本。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例一提供的一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法的流程图；
图2是根据本发明实施例二提供的另一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法的流程图；
图3是根据本发明实施例三提供的一种基于CAD的框架图像尺寸测量装置的结构示意图；
图4是根据本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“目标”、“当前”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
图1为本发明实施例一提供了一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法的流程图，本实施例可适用于对输入的框架图像能够自动完成尺寸测量的情况，该方法可以由基于CAD的框架图像尺寸测量装置来执行，该基于CAD的框架图像尺寸测量装置可以采用硬件和/或软件的形式实现。
相应的，如图1所示，该方法包括：
S110、获取待测的框架图像。
其中，框架图像可以是对待测量产品进行采集而得到的图像。
在本实施例中，对待测量产品进行图像的采集可以通过摄像头设备进行采集得到，通过将得到的图像确定为待测的框架图像，并把框架图像输入至相关测量模型进行尺寸的测量处理。
S120、将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域。
其中，CAD测量模型可以接收待测的框架图像，并对待测的框架图像进行尺寸的测量处理。
另外的，在图像处理过程中，可能会对图像的某一个特定区域感兴趣，称作感兴趣区域，对准感兴趣区域可以是在框架图像上标定一个或者多个感兴趣区域。
在本实施例中，当CAD测量模型接收到待测的框架图像时，CAD测量模型会根据框架图像，确定出框架图像对应的对准感兴趣区域，在框架图像上确定的对准感兴趣区域进行数据处理，确定出框架图像的尺寸。
S130、获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵。
其中，对准感兴趣区域模板可以是在CAD测量模型中，可以根据对准感兴趣区域确定出相应的模板。具体的，在CAD测量模型中存储有多个对准感兴趣区域模板，通过对准感兴趣区域进行模板的搜索，能够得到相应的搜索结果，并可以根据搜索结果得到相应的仿射变换矩阵。
具体的，仿射变换矩阵可以通过平移和旋转变换组合而成，可以同时实现旋转、缩放、以及平移等空间变换而得到的矩阵，也即对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板进行搜索，根据搜索结果确定出仿射变换矩阵。
S140、根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
其中，框架图像实际测量结果可以是描述待测的框架图像的实际尺寸大小的结果。
在本实施例中，可以根据仿射变换矩阵的矩阵关系，将对准感兴趣区域模板变换到待测的框架图像上，并进行待测的框架图像的尺寸的测量，根据尺寸测量得到相应的框架图像实际测量结果。
可选的，所述根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果，包括：根据所述仿射变换矩阵，将所述对准感兴趣区域模板变换到所述待测的框架图像；判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，若是，则调整所述对准感兴趣区域模板的位置，并返回执行判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，直至所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像不存在位置偏移；若否，则对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
在本实施例中，将对准感兴趣区域模板变换到待测的框架图像上，需要判断对准感兴趣区域模板是否没有偏移的放置于待测的框架图像上，若没有发生偏移，则说明对准感兴趣区域模板的放置位置准确；若发生偏移，则说明对准感兴趣区域模板的放置位置不准确，主要继续调整对准感兴趣区域模板的位置，直至对准感兴趣区域模板没有偏移的放置于待测的框架图像上。
这样设置的好处在于：通过判断对准感兴趣区域模板是否没有偏移的放置于待测的框架图像上，确保对准感兴趣区域模板能够匹配得上待测的框架图像，这样可以使得对待测的框架图像进行测量，得到的测量结果更加的准确。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。解决了对框架图像不能够自动完成尺寸测量的问题，保证了能够准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，减少了由于标准框架图像的不精确而导致测量出现误差的现象的发生，节省了人力成本和时间成本。
可选的，在所述获取待测的框架图像之前，还包括：获取标准品类参数和标准框架图像；根据所述标准品类参数和标准框架图像计算得到尺寸比例参数；通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，得到标准大小框架图像；在所述标准大小框架图像上设置对准感兴趣区域，并生成对准感兴趣区域模板；根据所述对准感兴趣区域模板，确定出CAD测量模型和框架图像标准测量结果。
其中，标准品类参数可以是描述标准产品样品的参数。示例性的，假设对产品A进行测量，需要确定产品A对应的标准产品样品的参数，通过产品A与标准产品样品的参数进行比较，进一步地确定产品A属于合格品类还是不合格品类。
具体的，标准框架图像可以是对标准产品样品进行采集得到的图像。尺寸比例参数可以是描述标准品类参数和标准框架图像之间的比例关系。比如，标准品类参数描述标准产品样品的参数为：长度a米，高度b米；标准框架图像的参数为：长度c米，高度d米。可以理解的是，可以根据标准品类参数和标准框架图像确定出两者之间的比例关系。
标准大小框架图像可以是将标准框架图像按照尺寸比例参数进行缩放，得到的图像。框架图像标准测量结果可以是对标准框架图像进行测量得到的测量结果。
可选的，所述通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，得到标准大小框架图像，包括：通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，判断所述标准框架图像是否与所述标准品类参数相匹配，若是，则得到标准大小框架图像；若否，则返回执行通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，直至所述标准框架图像与所述标准品类参数相匹配。
在本实施例中，通过判断标准框架图像是否与标准品类参数相匹配，来确定是否需要继续进行比例缩放处理，确保得到准确地标准大小框架图像。
这样设置的好处在于：可以使得测量出的待测量的框架图像的尺寸更加精确，从而能够更加合理地进行产品品类的判断。
可选的，所述根据所述对准感兴趣区域模板，确定出CAD测量模型和框架图像标准测量结果，包括：根据所述对准感兴趣区域模板，确定出框架图像测量结果；获取所述标准品类参数对应的波动范围公差值；根据所述框架图像测量结果和所述波动范围公差值，确定所述框架图像标准测量结果。
其中，框架图像测量结果可以是通过与对准感兴趣区域模板进行匹配，直接测量待测的框架图像的结果。波动范围公差值可以是产品允许测量出现的误差的范围值。
示例性的，假设根据对准感兴趣区域模板，确定出框架图像测量结果为B；进一步的，获取到标准品类参数对应的波动范围公差值为m；从而可以根据框架图像测量结果B和波动范围公差值m，来确定出框架图像标准测量结果为B±m。
这样设置的好处在于：通过框架图像测量结果和波动范围公差值来确定框架图像标准测量结果，这样可以更加准确的确定出框架图像标准测量结果的对应的合格品类的范围的大小，这样可以能够更加合理化地确定出合格品类。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的另一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法的流程图，本实施例以上述各实施例为基础进行优化，在本实施例中，在根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果之后，还需要对品类等级划分结果进行进一步地确定操作。
其中，如图2所示，该方法包括：
S210、获取待测的框架图像。
S220、将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域。
S230、获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵。
S240、根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
S250、在所述CAD测量模型中，获取所述框架图像标准测量结果和波动范围公差值。
S260、计算所述框架图像实际测量结果和所述框架图像标准测量结果的差值，并确定所述差值对应的绝对值。
S270、将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果。
其中，品类等级划分结果可以是描述待测的框架图像对应的产品品类的等级，具体的，品类等级划分结果可以包含有合格品类和不合格品类。
可选的，所述将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果，包括：判断所述绝对值是否大于所述波动范围公差值，若是，则确定所述品类等级划分结果为不合格品类；若否，则确定所述品类等级划分结果为合格品类。
在本实施例中，假设框架图像实际测量结果为C1,框架图像标准测量结果为C2，计算框架图像实际测量结果和框架图像标准测量结果的差值为C1-C2，并确定差值对应的绝对值|C1-C2|。进一步的，获取到波动范围公差值m，将|C1-C2|和m进行大小的比较，确定待测的框架图像对应的品类等级划分结果。
具体的，判断|C1-C2|是否大于m，若|C1-C2|>m，则确定品类等级划分结果为不合格品类；若|C1-C2|≤m，则确定所述品类等级划分结果为合格品类。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果；在所述CAD测量模型中，获取所述框架图像标准测量结果和波动范围公差值；计算所述框架图像实际测量结果和所述框架图像标准测量结果的差值，并确定所述差值对应的绝对值；将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果。保证了能够准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，减少了由于标准框架图像的不精确而导致测量出现误差的现象的发生，节省了人力成本和时间成本，并且根据测量出的尺寸的大小进行品类等级划分，得到相应的品类等级划分结果，从而能够更好的进行待测的产品品类的确定。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的一种基于CAD的框架图像尺寸测量装置的结构示意图。本实施例所提供的一种基于CAD的框架图像尺寸测量装置可以通过软件和/或硬件来实现，可配置于服务器或者终端设备中来实现本发明实施例中的一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法。如图3所示，该装置包括：框架图像获取模块310、对准感兴趣区域确定模块320、仿射变换矩阵生成模块330和框架图像实际测量结果确定模块340。
其中，框架图像获取模块310，用于获取待测的框架图像；
对准感兴趣区域确定模块320，用于将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；
仿射变换矩阵生成模块330，用于获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；
框架图像实际测量结果确定模块340，用于根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。解决了对框架图像不能够自动完成尺寸测量的问题，保证了能够准确及时地对框架图像进行尺寸的测量，减少了由于标准框架图像的不精确而导致测量出现误差的现象的发生，节省了人力成本和时间成本。
可选的，还包括，品类等级划分结果确定模块，可以具体包括：框架图像标准测量结果和波动范围公差值获取单元，用于在根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果之后，在所述CAD测量模型中，获取所述框架图像标准测量结果和波动范围公差值；绝对值计算单元，用于计算所述框架图像实际测量结果和所述框架图像标准测量结果的差值，并确定所述差值对应的绝对值；品类等级划分结果确定单元，用于将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果。
可选的，品类等级划分结果确定单元，可以具体用于：判断所述绝对值是否大于所述波动范围公差值，若是，则确定所述品类等级划分结果为不合格品类；若否，则确定所述品类等级划分结果为合格品类。
可选的，框架图像实际测量结果确定模块340，可以具体用于：根据所述仿射变换矩阵，将所述对准感兴趣区域模板变换到所述待测的框架图像；判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，若是，则调整所述对准感兴趣区域模板的位置，并返回执行判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，直至所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像不存在位置偏移；若否，则对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
可选的，还包括，CAD测量模型和框架图像标准测量结果确定模块，可以具体包括：标准品类参数和标准框架图像获取单元，用于在所述获取待测的框架图像之前，获取标准品类参数和标准框架图像；尺寸比例参数计算单元，用于根据所述标准品类参数和标准框架图像计算得到尺寸比例参数；标准大小框架图像确定单元，用于通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，得到标准大小框架图像；对准感兴趣区域模板生成单元，用于在所述标准大小框架图像上设置对准感兴趣区域，并生成对准感兴趣区域模板；CAD测量模型和框架图像标准测量结果确定单元，用于根据所述对准感兴趣区域模板，确定出CAD测量模型和框架图像标准测量结果。
可选的，标准大小框架图像确定单元，可以具体用于：通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，判断所述标准框架图像是否与所述标准品类参数相匹配，若是，则得到标准大小框架图像；若否，则返回执行通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，直至所述标准框架图像与所述标准品类参数相匹配。
本发明实施例所提供的基于CAD的框架图像尺寸测量装置可执行本发明任意实施例所提供的基于CAD的框架图像尺寸测量方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图4所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
在一些实施例中，基于CAD的框架图像尺寸测量方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的基于CAD的框架图像尺寸测量方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
该方法包括：获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。
实施例五
本发明实施例五还提供一种包含计算机可读存储介质，所述计算机可读指令在由计算机处理器执行时用于执行一种基于CAD的框架图像尺寸测量方法，该方法包括：获取待测的框架图像；将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可读存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的基于CAD的框架图像尺寸测量方法中的相关操作。
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是，上述基于CAD的框架图像尺寸测量装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于计算机辅助设计CAD的框架图像尺寸测量方法，其特征在于，包括：
获取待测的框架图像；
将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；
获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；
根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果之后，还包括：
在所述CAD测量模型中，获取所述框架图像标准测量结果和波动范围公差值；
计算所述框架图像实际测量结果和所述框架图像标准测量结果的差值，并确定所述差值对应的绝对值；
将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述绝对值与所述波动范围公差值进行比较，确定所述待测的框架图像对应的品类等级划分结果，包括：
判断所述绝对值是否大于所述波动范围公差值，若是，则确定所述品类等级划分结果为不合格品类；
若否，则确定所述品类等级划分结果为合格品类。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果，包括：
根据所述仿射变换矩阵，将所述对准感兴趣区域模板变换到所述待测的框架图像；
判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，若是，则调整所述对准感兴趣区域模板的位置，并返回执行判断所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像是否存在位置偏移，直至所述对准感兴趣区域模板和所述待测的框架图像不存在位置偏移；
若否，则对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述获取待测的框架图像之前，还包括：
获取标准品类参数和标准框架图像；
根据所述标准品类参数和标准框架图像计算得到尺寸比例参数；
通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，得到标准大小框架图像；
在所述标准大小框架图像上设置对准感兴趣区域，并生成对准感兴趣区域模板；
根据所述对准感兴趣区域模板，确定出CAD测量模型和框架图像标准测量结果。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，得到标准大小框架图像，包括：
通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，判断所述标准框架图像是否与所述标准品类参数相匹配，若是，则得到标准大小框架图像；
若否，则返回执行通过所述尺寸比例参数对标准框架图像进行比例缩放处理，直至所述标准框架图像与所述标准品类参数相匹配。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述对准感兴趣区域模板，确定出CAD测量模型和框架图像标准测量结果，包括：
根据所述对准感兴趣区域模板，确定出框架图像测量结果；
获取所述标准品类参数对应的波动范围公差值；
根据所述框架图像测量结果和所述波动范围公差值，确定所述框架图像标准测量结果。
8.一种基于计算机辅助设计CAD的框架图像尺寸测量装置，其特征在于，包括：
框架图像获取模块，用于获取待测的框架图像；
对准感兴趣区域确定模块，用于将所述待测的框架图像输入至预先构建好的CAD测量模型中，确定所述框架图像对应的对准感兴趣区域；
仿射变换矩阵生成模块，用于获取所述对准感兴趣区域对应的对准感兴趣区域模板，并生成仿射变换矩阵；
框架图像实际测量结果确定模块，用于根据所述对准感兴趣区域模板和所述仿射变换矩阵对所述待测的框架图像进行尺寸测量，得到框架图像实际测量结果。
9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的基于CAD的框架图像尺寸测量方法。
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