CN117150175A - 一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取三坐标测量仪的量测数据；基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。本技术方案，通过程序计算制程能力指数数据，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
Description
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
工作制程的质量不是一成不变，或多或少存在一些差异，为了统计这些差异通常采用统计生产测试过程中产生的数据生成CPK(Process Capability Index，制程能力指数)数据，根据CPK数据找出改善对策，提升质量，降低成本。
现有作业中通过人工统计三坐标测量仪的量测数据，然后计算产品的制程能力指数值。
人工统计产品的制程能力指数值需要大量时间且错误率高。而且统计出来的制程能力指数值灵活度较低，统计方法也较为繁琐。
发明内容
本发明提供了一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质，通过程序计算制程能力指数数据，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
根据本发明的一方面，提供了一种制程能力指数确定方法，该方法包括：
获取三坐标测量仪的量测数据；
基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
根据本发明的另一方面，提供了一种制程能力指数确定装置，该装置包括：
量测数据获取模块，用于获取三坐标测量仪的量测数据；
制程能力指数数据计算模块，用于基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的一种制程能力指数确定方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的一种制程能力指数确定方法。
本发明实施例的技术方案，通过获取三坐标测量仪的量测数据，然后基于预先确定的制程能力指数计算公式，对量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将制程能力指数数据进行展示。本技术方案，通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例一提供的一种制程能力指数确定方法的流程图；
图2是本申请实施例一提供的制程能力指数数据监控看版图；
图3是本申请实施例一提供的制程能力指数看板功能界面的示意图；
图4为本发明实施例二提供的一种制程能力指数确定过程的示意图；
图5是本申请实施例二提供的制程能力指数折线数据；
图6是本申请实施例二提供的机台明细的示意图；
图7是本申请实施例二提供的数据趋势图；
图8是本申请实施例二提供的号码球信息维护界面；
图9为本发明实施例三提供的一种制程能力指数确定装置的结构示意图；
图10是实现本发明实施例的一种制程能力指数确定方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“目标”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
图1是根据本发明实施例一提供的一种制程能力指数确定方法的流程图，本实施例可适用于对产品的制程能力指数数据进行计算的情况，该方法可以由一种制程能力指数确定装置来执行，该制程能力指数确定装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该制程能力指数确定装置可配置于电子设备中。如图1所示，该方法包括：
S110、获取三坐标测量仪的量测数据。
在本实施例中，三坐标测量仪是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器，可以通过三坐标测量仪对产品的尺寸进行测量，得到量测数据。其中，产品可以是指号码球、机台等。三坐标测量仪可以包括MM、OMM、OGP、Wenzel三坐标测量仪。
在本方案中，可以从数据库中获取三坐标测量仪的量测数据。
可选的，获取三坐标测量仪的量测数据，包括：
通过预先确定的SQL语句从数据库中抓拍三坐标测量仪的量测数据。
在本方案中，图2是本申请实施例一提供的制程能力指数数据监控看版图，如图2所示，三坐标测量仪测量产品得到的量测数据上传到数据库中进行存储。通过编写的SQL语句从数据库中抓取量测数据。
通过获取量测数据，能够对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，便于对产品的差异进行分析。
S120、基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
其中，制程能力指数(Process Capability Index，Cpk)是指过程能力满足产品质量标准要求的程度。
在本实施例中，可以通过对产品的量测数据的制程能力指数进行计算，能够得到该产品的制程能力指数数据。
在本方案中，如图2所示，可以在JAVA端处理量测数据。具体的，判断量测数据是否存在，若否，则空数据存入MAP集合中。若是，则拿出量测数据存入List集合中。然后循环List集合，带入预先确定的制程能力指数计算公式，并将得到的制程能力指数数据存入到MAP集合中。最后返回前端解析MAP集合，渲染WEB界面，即基于制程能力指数看板功能界面将制程能力指数数据进行展示。其中，将量测数据存入List集合时，若数据重复，则系统不会将量测数据放入到集合中。
进一步的，在得到制程能力指数数据后，可以基于制程能力指数看板功能界面将制程能力指数数据进行展示，以供目标用户通过制程能力指数看板功能界面查看该产品的制程能力指数数据。
在本实施例中，在得到制程能力指数数据后，还可以将得到的制程能力指数数据进行比对排名。
可选的，基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，包括步骤A1-A2：
步骤A1、响应于输入操作，确定制程的标准值、上公差和下公差；其中，所述上公差用于表征标准值向上浮动的最大区间；所述下公差用于表征标准值向下浮动的最大区间；
步骤A2、将所述标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到制程能力指数数据。
其中，标准值可以是指目标用户固定的一个数值。
在本方案中，可以响应于目标用户的输入操作，获取到具体制程的量测信息，即获取到制程的标准值、上公差和下公差。其中，输入操作可以是选中操作、点选操作等。
进一步的，可以按照预先确定的制程能力指数计算公式，将标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到量测数据对应的制程能力指数数据。
通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
可选的，将所述标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到制程能力指数数据，包括步骤B1-B5：
步骤B1、将所述标准值和上公差进行相加，计算得到上限值，以及将所述标准值和下公差进行相加，计算得到下限值；
具体的，可以采用如下公式计算上限值；
上限值Su＝标准值+上公差；
以及可以采用如下公式计算下限值；
下限值SI＝标准值+下公差。
步骤B2、对所述上限值和下限值的均值进行计算，得到规格中心值；
在本方案中，可以采用如下公式计算规则中心值；
规格中心值U＝(Su+SI)/2。
步骤B3、根据所述量测数据的平均值、规格中心值、上限值和下限值，计算得到制程准确度值；
其中，制程准确度(Ca)值反应的是位置关系。
在本方案中，可以将量测数据和数据的总条数进行相除，得到量测数据的平均值。具体的，量测数据的平均值Xbar＝量测数据/总条数。
在本实施例中，可以按照预先确定的制程准确度计算公式将量测数据的平均值、规格中心值、上限值和下限值进行组合运算，得到制程准确度值。
步骤B4、根据所述量测数据的标准公差、上限值和下限值，计算得到制程精密度值；
在本实施例中，制程精密度(Cp)值是衡量过程满足产品品质标准的程度，制程精密度值越大，表示过程变异越小，过程能力指数越差。
其中，可以采用如下公式计算量测数据的标准公差；
量测数据的标准公差Sigma＝(((每个量测数据-Xbar)平方)求和/
总条数)开根号。
进一步的，可以按照预先确定的制程精密度计算公式，将量测数据的标准公差、上限值和下限值进行组合运算，得到制程精密度值。
步骤B5、利用所述制程准确度值和制程精密度值，对所述量测数据的制程能力指数进行计算，得到制程能力指数数据。
在本方案中，可以按照预先确定的制程能力指数数据计算公式，将制程准确度值和制程精密度值进行组合运算，得到制程能力指数数据。
通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
可选的，所述方法包括：
采用如下公式计算所述制程准确度值；
Ca＝2*(Xbar-U)/(Su-SI)；
其中，Ca表示制程准确度值，Xbar表示量测数据的平均值，U表示规格中心值，Su表示上限值，SI表示下限值；
采用如下公式计算所述制程精密度值；
Cp＝(Su-SI)/(6*Sigma)；
其中，Cp表示制程精密度值，Sigma表示量测数据的标准公差；
采用如下公式计算所述制程能力指数数据；
Cpk＝(1-Ca)*Cp；
其中，Cpk表示制程能力指数数据。
通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
可选的，所述方法还包括：
基于制程能力指数看板功能界面，响应于参数选择操作，确定与所述参数相对应的制程能力指数数据；其中，所述参数包括厂区、机种、品名、制程、数据类型、测量工具、公差标准和日期范围。
在本方案中，图3是本申请实施例一提供的制程能力指数看板功能界面的示意图，如图3所示，可以基于制程能力指数看板功能界面响应于目标用户的参数选择操作，查询制程能力指数数据。其中，参数包括厂区、机种、品名、制程、数据类型、测量工具、公差标准和日期范围。
本发明实施例的技术方案，通过获取三坐标测量仪的量测数据，然后基于预先确定的制程能力指数计算公式，对量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将制程能力指数数据进行展示。通过执行本技术方案，通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率。
实施例二
图4为本发明实施例二提供的一种制程能力指数确定过程的示意图，本实施例与上述实施例之间的关系对制程能力指数数据进一步处理过程的详细描述。如图4所示，该方法包括：
S410、获取三坐标测量仪的量测数据。
S420、基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
S430、响应于首件检验编号点选操作，将与所述首件检验编号相对应的制程能力指数数据以折线图形式进行展示。
其中，首件检验(First article inspection，FAI)编号可以由字母、数字构成。
在本实施例中，图5是本申请实施例二提供的制程能力指数折线数据，如图5所示，目标用户可以基于制程能力指数看板功能界面对首件检验编号进行点选，查看与首件检验编号相对应的制程能力指数折线数据。产线可以实时观察FAI编号的CPK良率，从而对FAI编号编号进行及时调整，增加产品的良率。
本发明实施例的技术方案，通过获取三坐标测量仪的量测数据，然后基于预先确定的制程能力指数计算公式，对量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将制程能力指数数据进行展示，响应于首件检验编号点选操作，将与首件检验编号相对应的制程能力指数数据以折线图形式进行展示。通过执行本技术方案，通过程序对量测数据对应的制程能力指数数据进行计算，提升了制程能力指数数据的计算效率和灵活度，并减少了计算错误率，并通过折线图实时观察首件检验编号的变化区间。
在本方案中，图6是本申请实施例二提供的机台明细的示意图，图7是本申请实施例二提供的数据趋势图，如图6和图7所示，可以基于制程能力指数看板功能界面显示机台的制程能力指数数据和号码球的数据趋势。
进一步的，图8是本申请实施例二提供的号码球信息维护界面，如图8所示，目标用户可以对厂区、机种、品名制程、公差标准进行选择，并对相应的号码球信息进行维护。其中，维护可以包括编辑操作、删除操作等。
实施例三
图9为本发明实施例三提供的一种制程能力指数确定装置的结构示意图。如图9所示，该装置包括：
量测数据获取模块910，用于获取三坐标测量仪的量测数据；
制程能力指数数据计算模块920，用于基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
可选的，制程能力指数数据计算模块920，包括：
制程数据确定子模块，用于响应于输入操作，确定制程的标准值、上公差和下公差；其中，所述上公差用于表征标准值向上浮动的最大区间；所述下公差用于表征标准值向下浮动的最大区间；
制程能力指数数据得到子模块，用于将所述标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到制程能力指数数据。
可选的，制程能力指数数据得到子模块，具体用于：
将所述标准值和上公差进行相加，计算得到上限值，以及将所述标准值和下公差进行相加，计算得到下限值；
对所述上限值和下限值的均值进行计算，得到规格中心值；
根据所述量测数据的平均值、规格中心值、上限值和下限值，计算得到制程准确度值；
根据所述量测数据的标准公差、上限值和下限值，计算得到制程精密度值；
利用所述制程准确度值和制程精密度值，对所述量测数据的制程能力指数进行计算，得到制程能力指数数据。
可选的，制程能力指数数据得到子模块，还用于：
采用如下公式计算所述制程准确度值；
Ca＝2*(Xbar-U)/(Su-SI)；
其中，Ca表示制程准确度值，Xbar表示量测数据的平均值，U表示规格中心值，Su表示上限值，SI表示下限值；
采用如下公式计算所述制程精密度值；
Cp＝(Su-SI)/(6*Sigma)；
其中，Cp表示制程精密度值，Sigma表示量测数据的标准公差；
采用如下公式计算所述制程能力指数数据；
Cpk＝(1-Ca)*Cp；
其中，Cpk表示制程能力指数数据。
可选的，量测数据获取模块910，具体用于：
通过预先确定的SQL语句从数据库中抓拍三坐标测量仪的量测数据。
可选的，所述装置还包括：
首件检验编号点选操作响应模块，用于响应于首件检验编号点选操作，将与所述首件检验编号相对应的制程能力指数数据以折线图形式进行展示。
可选的，所述装置还包括：
制程能力指数数据确定模块，用于基于制程能力指数看板功能界面，响应于参数选择操作，确定与所述参数相对应的制程能力指数数据；其中，所述参数包括厂区、机种、品名、制程、数据类型、测量工具、公差标准和日期范围。
本发明实施例所提供的一种制程能力指数确定装置可执行本发明任意实施例所提供的一种制程能力指数确定方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图10示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图10所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如一种制程能力指数确定方法。
在一些实施例中，一种制程能力指数确定方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的一种制程能力指数确定方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行一种制程能力指数确定方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (10)
1.一种制程能力指数确定方法，其特征在于，包括：
获取三坐标测量仪的量测数据；
基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，包括：
响应于输入操作，确定制程的标准值、上公差和下公差；其中，所述上公差用于表征标准值向上浮动的最大区间；所述下公差用于表征标准值向下浮动的最大区间；
将所述标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到制程能力指数数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将所述标准值、上公差、下公差和量测数据进行组合运算，得到制程能力指数数据，包括：
将所述标准值和上公差进行相加，计算得到上限值，以及将所述标准值和下公差进行相加，计算得到下限值；
对所述上限值和下限值的均值进行计算，得到规格中心值；
根据所述量测数据的平均值、规格中心值、上限值和下限值，计算得到制程准确度值；
根据所述量测数据的标准公差、上限值和下限值，计算得到制程精密度值；
利用所述制程准确度值和制程精密度值，对所述量测数据的制程能力指数进行计算，得到制程能力指数数据。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
采用如下公式计算所述制程准确度值；
Ca＝2*(Xbar-U)/(Su-SI)；
其中，Ca表示制程准确度值，Xbar表示量测数据的平均值，U表示规格中心值，Su表示上限值，SI表示下限值；
采用如下公式计算所述制程精密度值；
Cp＝(Su-SI)/(6*Sigma)；
其中，Cp表示制程精密度值，Sigma表示量测数据的标准公差；
采用如下公式计算所述制程能力指数数据；
Cpk＝(1-Ca)*Cp；
其中，Cpk表示制程能力指数数据。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取三坐标测量仪的量测数据，包括：
通过预先确定的SQL语句从数据库中抓拍三坐标测量仪的量测数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在得到制程能力指数数据之后，所述方法还包括：
响应于首件检验编号点选操作，将与所述首件检验编号相对应的制程能力指数数据以折线图形式进行展示。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
基于制程能力指数看板功能界面，响应于参数选择操作，确定与所述参数相对应的制程能力指数数据；其中，所述参数包括厂区、机种、品名、制程、数据类型、测量工具、公差标准和日期范围。
8.一种制程能力指数确定装置，其特征在于，包括：
量测数据获取模块，用于获取三坐标测量仪的量测数据；
制程能力指数数据计算模块，用于基于预先确定的制程能力指数计算公式，对所述量测数据进行计算，得到制程能力指数数据，并基于制程能力指数看板功能界面将所述制程能力指数数据进行展示。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的一种制程能力指数确定方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的一种制程能力指数确定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311095012.2A CN117150175A (zh) | 2023-08-29 | 2023-08-29 | 一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311095012.2A CN117150175A (zh) | 2023-08-29 | 2023-08-29 | 一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117150175A true CN117150175A (zh) | 2023-12-01 |
Family
ID=88907327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202311095012.2A Pending CN117150175A (zh) | 2023-08-29 | 2023-08-29 | 一种制程能力指数确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117150175A (zh) |
-
2023
- 2023-08-29 CN CN202311095012.2A patent/CN117150175A/zh active Pending
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