CN109643141B - 操作杆 - Google Patents

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Abstract

操作杆具备：一对杆部，所述一对杆部配置在相对于操作轴呈点对称的位置；磁铁，所述磁铁配置于各所述杆部；以及一对磁传感器，所述一对磁传感器处于与所述操作轴垂直的平面上，且配置在关于与将一个所述杆部的中心与另一个所述杆部的中心连结而得到的第一直线垂直的第二直线呈线对称的位置。

Description

操作杆
技术领域
本发明涉及操作杆。
背景技术
对推土机等作业机械进行操作的操作杆具备能够倾转的操作杆以及根据该操作杆的操作状态而输出检测信号的行程检测装置。操作杆例如经由万向接头等传递装置而安装于行程检测装置。操作杆能够相对于行程检测装置向任意的方向倾转。在操作杆上，以与行程检测装置对置的方式安装有盘构件。盘构件的姿势与操作杆一体地变动。
在行程检测装置的与盘构件对置的部分配置有四根杆部。四根杆部配置于在以规定的中心轴为中心的同一圆周上沿周向成为等间隔的位置。通过盘构件的姿势变动，从而四根杆部被盘构件向中心轴的轴线方向按压而移动。在各杆部上设置有与杆部一体地移动的磁铁。各磁铁与杆部一体地移动。另外，行程检测装置具有对各磁铁的磁场进行检测的磁传感器。磁传感器输出与检测到的磁场的大小相应的电信号。
就如上述那样构成的操作杆而言，在操作杆配置于中立位置的状态下，行程检测装置的各杆部配置于基准位置。当使操作杆从该状态倾转时，盘构件的姿势变动，杆部被盘构件按压，相对于基准位置向中心轴的轴线方向挪动。当杆部挪动时，磁铁相对于磁传感器的位置在轴线方向上发生变化，因此，磁传感器检测的磁场发生变化。行程检测装置将磁传感器的检测结果作为电信号而输出。杆部的行程量对应于操作杆的倾转方向、倾转量这样的操作状态。因此，行程检测装置能够输出与操作杆的操作状态相应的电信号(例如参照专利文献1)。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2007-107696号公报
发明内容
发明要解决的课题
为了高精度地对作业机械进行操作，要求降低上述那样的操作杆的误检测。
本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种能够降低误检测的操作杆。
用于解决课题的方案
按照本发明的第一方案，提供一种操作杆，其具备：一对杆部，所述一对杆部配置在相对于操作轴呈点对称的位置；磁铁，所述磁铁配置于各所述杆部；以及一对磁传感器，所述一对磁传感器处于与所述操作轴垂直的平面上，且配置在关于与将一个所述杆部的中心与另一个所述杆部的中心连结而得到的第一直线垂直的第二直线呈线对称的位置。
发明效果
根据本发明，能够提供能降低误检测的行程检测装置及操作杆。
附图说明
图1是示出第一实施方式的操作杆的一例的立体图。
图2是示出操作杆的一例的剖视图。
图3是示出传递装置及行程检测装置的一例的立体图。
图4是示出从中心轴的轴线方向观察电路基板时的结构例的图。
图5是将电路基板的一个磁铁放大示出的立体图。
图6是示意性地示出从中心轴的轴线方向观察时的磁铁与磁传感器的位置关系的一例的图。
图7是示出磁传感器及处理部的一例的框图。
图8是示出运算部的一例的电路图。
图9是示出在操作杆中使柄部倾转了的状态的一例的剖视图。
图10是示出处理部中的处理内容的一例的框图。
图11是示出第二实施方式的行程检测装置的磁传感器及处理部的一例的框图。
图12是示出运算部的一例的电路图。
图13是示出处理部中的处理内容的一例的框图。
图14是示意性地示出从中心轴的轴线方向观察时的磁铁与磁传感器的位置关系的变形例的图。
图15是示意性地示出从中心轴的轴线方向观察时的磁铁与磁传感器的位置关系的变形例的图。
具体实施方式
以下，基于附图对本发明的操作杆的实施方式进行说明。需要说明的是，并不通过该实施方式来限定本发明。另外，下述实施方式中的构成要素包含本领域技术人员能够且容易置换的构成要素或者实质上相同的构成要素。
[第一实施方式]
图1是示出第一实施方式的操作杆100的一例的立体图。操作杆100具备柄部1、传递装置2以及行程检测装置3。操作杆100在柄部1被操作了的情况下，经由传递装置2向行程检测装置3传递操作状态，从行程检测装置3输出对操作状态进行检测的检测信号。在本实施方式中，操作杆100设置于建筑机械。作为这样的建筑机械，例如举出ICT(Informationand Communication Technology)推土机等ICT建筑机械。操作杆100在设置于ICT推土机的情况下，例如能够在进行刮板的升降动作及倾转动作时使用。
柄部1例如在配置于中立位置的情况下以直立姿势设置。在作业者落座于未图示的作业机械的驾驶席的状态下，通过使柄部1从中立位置例如向作为前方的第一方向D1、作为后方的第二方向D2、作为左方的第三方向D3及作为右方的第四方向D4的各个方向倾转而对柄部1进行操作。第一方向D1与第二方向D2是以中立位置为基准的相反的方向。第三方向D3与第四方向D4是以中立位置为基准的相反的方向。第一方向D1及第二方向D2与第三方向D3及第四方向D4是相互正交的方向。
柄部1向圆筒状的连结构件8的一端侧插入。连结构件8安装于保护罩9。保护罩9以覆盖传递装置2的方式将柄部1与行程检测装置3之间连接。保护罩9例如形成为波纹状。保护罩9能够根据柄部1的姿势而变形。
图2是示出操作杆100的一例的剖视图。图2示出柄部1配置于中立位置时的一例。图2示出以穿过配置于中立位置的柄部1的操作轴AX1且与第一方向D1及第二方向D2平行的平面将操作杆100剖切了的情况下的一例。图3是示出传递装置2及行程检测装置3的一例的立体图。
如图2及图3所示，传递装置2具有连结轴4、支承轴5、万向接头6以及盘构件7。连结轴4向连结构件8的另一端侧插入。连结轴4通过连结构件8而与柄部1连结，与柄部1成为一体地倾转。连结轴4的中心轴AX2与柄部1的操作轴AX1一致。支承轴5通过未图示的固定构件而固定于行程检测装置3的板12(后述)。在柄部1配置于中立位置的情况下，支承轴5的操作轴AX3与柄部1的操作轴AX1及连结轴4的中心轴AX2一致。
万向接头6将连结轴4与支承轴5连结。万向接头6具有第一轴构件6a、转动构件6b以及第二轴构件6c。第一轴构件6a例如形成为圆柱状，且固定于支承轴5。第一轴构件6a配置为与支承轴5的操作轴AX3的轴线方向正交。在本实施方式中，第一轴构件6a例如沿与第三方向D3及第四方向D4平行的方向配置。转动构件6b例如形成为四棱柱状，且被支承为能够绕第一轴构件6a的轴线进行旋转。转动构件6b以对置的平面彼此被第一轴构件6a贯穿的状态配置。
第二轴构件6c例如形成为圆柱状，且固定于连结轴4。第二轴构件6c配置为与支承轴5的操作轴AX3的轴线方向正交且与第一轴构件6a的轴线方向正交。在本实施方式中，第二轴构件6c例如沿与第一方向D1及第二方向D2平行的方向配置。第二轴构件6c被转动构件6b支承为能够绕该第二轴构件6c的轴线进行旋转。
第一轴构件6a与第二轴构件6c配置在与支承轴5的操作轴AX3的轴线方向垂直的同一平面上。第一轴构件6a的轴线与第二轴构件6b的轴线在操作轴AX3上交叉。因此，第一轴构件6a及第二轴构件6c中的一方以穿过轴线方向的中央部的状态配置，第一轴构件6a及第二轴构件6c中的另一方以空开轴线方向的中央部的状态配置。
柄部1通过万向接头6而能够向第一方向D1、第二方向D2、第三方向D3及第四方向D4中的任意方向倾转。
盘构件7固定于连结轴4的外周。盘构件7例如是圆板状。盘构件7具有与行程检测装置3中的后述的四个活塞25的突出部25b对置的对置面7a。对置面7a在柄部1成为直立姿势的情况下，与四个突出部25b的前端抵接。对置面7a在柄部1被倾转操作的情况下，与柄部1的动作联动地，相对于与操作轴AX3垂直的平面进行倾转。
行程检测装置3具备装置主体10、杆部20、磁铁30、磁传感器40以及电路基板50。需要说明的是，在图3中省略了装置主体10的图示。
装置主体10具有框体11和板12。框体11例如是圆筒状，且收容杆部20、磁铁30、磁传感器40及电路基板50。在本实施方式中，框体11的中心轴例如与支承轴5的操作轴AX3一致，但不局限于此。板12在框体11中配置为将中心轴的轴线方向的柄部1侧的端部堵塞。板12对传递装置2的支承轴5进行固定。板12具有供支承轴5贯穿的贯通孔和供后述的活塞25贯穿的贯通孔。
杆部20例如设置有四个。四个杆部20在装置主体10中配置在以规定的中心轴即框体11的中心轴(支承轴5的操作轴AX3)为中心的同一圆周上。四个杆部20在绕操作轴AX3的轴线的方向上隔开相等的间隔而配置。以下，在不区分地说明四个杆部20的情况下表记为杆部20进行说明，在区分地说明四个杆部20的情况下标注“杆部21、22、23、24”这样的不同的附图标记进行说明。在区分四个杆部20的情况下，例如，杆部21相对于中心轴AX配置在第一方向D1侧。杆部22相对于中心轴AX配置在第二方向D2侧。杆部23相对于中心轴AX配置在第三方向D3侧。杆部24相对于中心轴AX配置在第四方向D4侧。各杆部20设置为能够沿着中心轴AX的轴线方向移动。
各杆部20具有凸缘部20a和磁铁保持部20b。凸缘部20a在操作轴AX3的轴线方向上配置于柄部1侧，且与弹簧构件26的一端抵接。磁铁保持部20b在操作轴AX3的轴线方向上配置于电路基板50侧，且分别对后述的磁铁30进行保持。磁铁保持部20b在与操作轴AX3的轴线方向平行的方向上贯穿电路基板50而能够移动。
各杆部20经由活塞25、弹簧构件26以及弹簧承接构件27而安装于框体11。活塞25具有筒部25a和突出部25b。筒部25a例如为圆筒状，且配置在框体11的内侧。突出部25b从筒部25a的端部25c贯穿板12的贯通孔而向柄部1侧突出。突出部25b的前端例如为半球状。需要说明的是，突出部25b的前端不局限于半球状，也可以是其他形状。突出部25b以前端朝向盘构件7的对置面7a的方式配置。在柄部1配置于中立位置的情况下，四个活塞25各自的突出部25b的前端配置在与操作轴AX3垂直的同一平面上。在该情况下，各突出部25b的前端与盘构件7的对置面7a抵接。
在筒部25a的端部25c设置有凹部25d。杆部20的柄部1侧的端部向凹部25d插入。通过将各杆部20的该端部向凹部25d插入，从而杆部20与各活塞25成为一体。
弹簧构件26以在各杆部20的凸缘部20a与弹簧承接构件27之间发生了弹性变形的状态配置。弹簧承接构件27固定于框体11。因此，各弹簧构件26以借助弹性力将凸缘部20a按压于柄部1侧的状态配置。因此，上述的活塞25以由弹簧构件26按压于柄部1侧的状态配置。活塞25以如下状态配置：在例如未从盘构件7施加力的情况下，筒部25a的端部25c与板12抵接，被限制向柄部1侧的移动。
磁铁30分别配置于四根杆部20的磁铁保持部20b。磁铁30分别在操作轴AX3的轴线方向上被磁化。磁铁30通过杆部20沿操作轴AX3的轴线方向移动而与杆部20一体地移动。例如，通过杆部20的磁铁保持部20b贯穿电路基板50地移动，从而磁铁30与杆部20一体地贯穿电路基板50而移动。以下，在不区分地说明四个磁铁30的情况下表记为磁铁30进行说明。另外，在区分地说明四个磁铁30的情况下，将保持于杆部21的磁铁30表记为“磁铁31”，将保持于杆部22的磁铁30表记为“磁铁32”，将保持于杆部23的磁铁30表记为“磁铁33”，将保持于杆部24的磁铁30表记为“磁铁34”。
图4是示出从操作轴AX3的轴线方向观察到电路基板50时的结构例的图。图5是将电路基板50的一个磁铁30(磁铁33)放大示出的立体图。在图5中，省略了杆部20的磁铁保持部20b以外的部分的图示。如图4及图5所示，在电路基板50上形成有贯通孔50a、50b、50c、50d。杆部21贯穿贯通孔50a。杆部22贯穿贯通孔50b。杆部23贯穿贯通孔50c。杆部24贯穿贯通孔50c。
在电路基板50配置有磁引导件35。磁引导件35例如使用磁性体而形成为圆筒状，且配置在包围贯通孔50a、50b、50c、50d的位置。因此，磁引导件35配置在各磁铁30所移动的部分的周围。在杆部20沿中心轴AX的轴线方向移动的情况下，各磁铁30在磁引导件35的内侧移动。磁引导件35通过对内侧的磁铁30的磁场进行引导，从而抑制磁铁30的磁场向磁引导件35的外侧漏出。
图6是示意性地示出从操作轴AX3的轴线方向观察时的磁铁30与磁传感器40的位置关系的一例的图。如图6所示，四个磁铁30中的磁铁31与磁铁32在与操作轴AX3正交的方向上对置配置。另外，四个磁铁30中的磁铁33与磁铁34在与操作轴AX3正交的方向上对置配置。
磁传感器40例如配置有八个。八个磁传感器40安装于电路基板50。八个磁传感器40对四个磁铁30的磁场进行检测。作为八个磁传感器40，例如使用霍尔元件等。磁传感器40检测因磁铁30的位移引起的磁场方向的变化，将检测结果作为输出信号而输出。以下，在不区分地说明八个磁传感器40的情况下表记为磁传感器40进行说明。在区分地说明八个磁传感器40的情况下，标注不同的附图标记而表记为“磁传感器41、42、43、44、45、46、47、48”。
八个磁传感器40中的磁传感器41、45对磁铁31的磁场进行检测。八个磁传感器40中的磁传感器42、46对磁铁32的磁场进行检测。八个磁传感器40中的磁传感器43、47对磁铁33的磁场进行检测。八个磁传感器40中的磁传感器44、48对磁铁34的磁场进行检测。例如，磁传感器41、42、43、44在通常时使用，磁传感器45、46、47、48在磁传感器44产生了不良情况时等，作为备用而使用。在该情况下，例如在磁传感器41、42中的一方产生了不良情况时，停止使用磁传感器41、42这双方，切换为使用磁传感器45、46。同样地，例如在磁传感器43、44中的一方产生了不良情况时，停止使用磁传感器43、44这双方，切换为使用磁传感器47、48。
在从操作轴AX3的轴线方向观察电路基板50的情况下，磁传感器41相对于磁铁31而言在与将磁铁31的中心和磁铁32的中心彼此连结的线段(第一直线)L1的垂直二等分线(第二直线)L2平行的方向上排列配置。线段L1及垂直二等分线L2是假想线。磁传感器42相对于磁铁32而言在与该垂直二等分线L2平行的方向上排列配置。另外，磁传感器41与磁传感器42配置在相对于该垂直二等分线L2呈线对称的位置。
磁传感器43相对于磁铁33而言在与将磁铁33的中心和磁铁34的中心彼此连结的线段(第一直线)L3的垂直二等分线(第二直线)L4平行的方向上排列配置。线段L3及垂直二等分线L4是假想线。磁传感器44相对于磁铁34而言在与该垂直二等分线L4平行的方向上排列配置。另外，磁传感器43与磁传感器44配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置。需要说明的是，在本实施方式中，线段L1与垂直二等分线L4的一部分一致。另外，线段L3与垂直二等分线L2的一部分一致。
另外，磁传感器45相对于磁铁31而言在与垂直二等分线L2平行的方向上且在与磁传感器41相反的一侧排列配置。因此，相对于一个磁铁31，磁传感器41与磁传感器45配置在与垂直二等分线L2平行的方向上的两侧。磁传感器46相对于磁铁32而言在与该垂直二等分线L2平行的方向上且在与磁传感器42相反的一侧排列配置。因此，相对于一个磁铁32，磁传感器42与磁传感器46配置在与垂直二等分线L2平行的方向上的两侧。另外，磁传感器45与磁传感器46配置在相对于该垂直二等分线L2呈线对称的位置。
磁传感器47相对于磁铁33而言在与垂直二等分线L4平行的方向上且在与磁传感器43相反的一侧排列配置。因此，相对于一个磁铁33，磁传感器43与磁传感器47配置在与垂直二等分线L2平行的方向上的两侧。磁传感器48相对于磁铁34而言在与该垂直二等分线L4平行的方向上且在与磁传感器44相反的一侧排列配置。因此，相对于一个磁铁34，磁传感器44与磁传感器48配置在与垂直二等分线L4平行的方向上的两侧。另外，磁传感器47与磁传感器48配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置。
图7是示出磁传感器及处理部的一例的框图。在图7中，以图表示出磁传感器41、42、43、44的各输出值。在关于磁传感器41、42的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁31的位移，横轴的左方向表示磁铁32的位移。另外，在关于磁传感器43、44的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁33的位移，横轴的左方向表示磁铁34的位移。
如图7所示，磁传感器41在磁铁31不位移的情况下，也就是说，在磁铁31保持于基准位置的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号41a而输出。需要说明的是，磁传感器41在磁铁31不位移的情况下，与磁铁32的位移无关地，将基准电压值的电压信号作为输出信号41a而输出。基准电压值例如能够为OV。在磁铁31相对于基准位置位移的情况下，磁传感器41将与磁铁31的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号41b而输出。输出信号41b的电压值随着磁铁31的位移变大而从基准电压值不断变大，在磁铁31的位移成为最大的情况下，输出信号41b的电压值成为最大。输出信号41b的电压值随着磁铁31的位移变小而朝向基准电压值不断变小，当磁铁31返回到基准位置时，输出信号41b的电压值返回到基准电压值。
另外，磁传感器42在磁铁32不位移的情况下，也就是说，在磁铁32保持于基准位置的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号42b而输出。需要说明的是，磁传感器42在磁铁32不位移的情况下，与磁铁31的位移无关地，将基准电压值的电压信号作为输出信号42b而输出。基准电压值例如能够为OV。在磁铁32相对于基准位置位移的情况下，磁传感器42将与磁铁32的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号42a而输出。输出信号42a的电压值随着磁铁32的位移变大而从基准电压值不断变大，在磁铁32的位移成为最大的情况下，输出信号42a的电压值成为最大。输出信号42a的电压值随着磁铁32的位移变小而朝向基准电压值不断变小，当磁铁32返回到基准位置时，电压值返回到基准电压值。
同样地，磁传感器43在磁铁33不位移的情况下，也就是说，在磁铁33保持于基准位置的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号43a而输出。需要说明的是，磁传感器43在磁铁33不位移的情况下，与磁铁34的位移无关地，将基准电压值的电压信号作为输出信号43a而输出。基准电压值例如能够为OV。在磁铁33相对于基准位置位移的情况下，磁传感器43将与磁铁33的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号43b而输出。输出信号43b的电压值随着磁铁33的位移变大而从基准电压值不断变大，在磁铁33的位移成为最大的情况下，输出信号43b的电压值成为最大。输出信号43b的电压值随着磁铁33的位移变小而朝向基准电压值不断变小，当磁铁33返回到基准位置时，电压值返回到基准电压值。
另外，磁传感器44在磁铁34不位移的情况下，也就是说，在磁铁34保持于基准位置的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号44b而输出。需要说明的是，磁传感器44在磁铁34不位移的情况下，与磁铁33的位移无关地，将基准电压值的电压信号作为输出信号44b而输出。基准电压值例如能够为0V。在磁铁34相对于基准位置位移的情况下，磁传感器44将与磁铁34的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号44a而输出。输出信号44a的电压值随着磁铁34的位移变大而从基准电压值不断变大，在磁铁34的位移成为最大的情况下，输出信号44a的电压值成为最大。输出信号44a的电压值随着磁铁34的位移变小而朝向基准电压值不断变小，当磁铁34返回到基准位置时，电压值返回到基准电压值。
电路基板50具有处理部51、52。处理部51基于磁传感器41、42的输出信号，生成并输出检测信号。处理部51具有运算部53。运算部53被输入磁传感器41、42的输出信号。运算部53从磁传感器41的输出信号减去磁传感器42的输出信号，将该相减值放大并输出。图8是示出运算部53的一例的电路图。如图8所示，作为运算部53，例如能够使用具有电阻R1、R2、R3、Rf和运算放大器OA的减法电路。通过向运算部53输入磁传感器41的输出信号V1和磁传感器42的输出信号V2，从而输出将它们的差分放大后的检测信号Vout。
处理部52基于磁传感器43、44的检测结果，生成并输出检测信号。处理部52具有运算部54。运算部54被输入磁传感器43、44的输出信号。运算部54从磁传感器43的输出信号减去磁传感器44的输出信号，将该相减值放大并输出。作为运算部54，能够使用与图8所示的减法电路同样的电路。
另外，电路基板50具有：基于磁传感器45、46的输出信号而生成并输出检测信号的处理部55；以及基于磁传感器47、48的输出信号而生成并输出检测信号的处理部56。处理部55具有运算部57。运算部57从磁传感器45的输出信号减去磁传感器46的输出信号，将该相减值放大并输出。另外，处理部56具有运算部58。运算部58从磁传感器47的输出信号减去磁传感器48的输出信号，将该相减值放大并输出。作为运算部57、58，能够使用与图8所示的减法电路同样的电路。
图9是示出在操作杆100中使柄部1倾转后的状态的一例的剖视图。如图9所示，例如在使柄部1相对于中立位置向第一方向D1倾斜的情况下，盘构件7的第一方向D1侧的部分向行程检测装置3侧倾斜，第二方向D2侧的部分向柄部1侧倾斜。通过盘构件7的倾斜，相对于操作轴AX3配置于第一方向D1侧的杆部21被盘构件7按压而向电路基板50侧移动。另外，通过盘构件7的第二方向D2侧的部分向柄部1侧倾斜，从而盘构件7与相对于操作轴AX3配置于第二方向D2侧的活塞25的前端分离而产生间隙。在该情况下，由于未作用有将杆部22向下方按压的力，因此，该杆部22维持配置于基准位置的状态。另外，盘构件7的第三方向D3侧及第四方向D4侧的倾斜不变化。这样，在使柄部1向第一方向D1倾斜的情况下，仅杆部21被按下。
另外，例如在使柄部1相对于中立位置向第二方向D2倾斜的情况下，盘构件7的第二方向D2侧的部分向行程检测装置3侧倾斜，第一方向D1侧的部分向柄部1侧倾斜。通过盘构件7的倾斜，相对于操作轴AX3配置于第二方向D2侧的杆部22被盘构件7按压而向电路基板50侧移动。另外，通过盘构件7的第一方向D1侧的部分向柄部1侧倾斜，盘构件7与相对于操作轴AX3配置于第一方向D1侧的活塞25的前端分离而产生间隙。在该情况下，由于未作用有将杆部21向下方按压的力，因此，该杆部21维持配置于基准位置的状态。另外，盘构件7的第三方向D3侧及第四方向D4侧的倾斜不变化。这样，在使柄部1向第二方向D2倾斜的情况下，仅杆部22被按下。
同样地，在使柄部1向第三方向D3倾斜的情况下，仅杆部23被按下。另外，在使柄部1向第四方向D4倾斜的情况下，仅杆部24被按下。另外，在使柄部1向第一方向D1与第四方向D4之间的方向倾斜的情况下，杆部21及杆部24被按下。另外，在使柄部1向第二方向D2与第三方向D3之间的方向倾斜的情况下，杆部22及杆部23被按下。另外，在使柄部1向第一方向D1与第三方向D3之间的方向倾斜的情况下，杆部21及杆部23被按下。另外，在使柄部1向第二方向D2与第三方向D4之间的方向倾斜的情况下，杆部22及杆部24被按下。
因此，例如在使柄部1相对于中立位置向第一方向D1倾斜的情况下，仅杆部21被按下，磁铁31与杆部21一体地移动。通过磁铁31的移动，磁传感器41对磁场的变化进行检测，输出与磁场的变化相应的输出信号41b(参照图7)。另外，磁铁32不移动，磁传感器42输出作为基准电压值的输出信号42b(参照图7)。
在该情况下，磁传感器41的输出信号41b与磁传感器42的输出信号42b分别被输入到运算部53。运算部53从输出信号41b减去输出信号42b，将该相减值放大并输出。处理部51将从运算部53输出的信号作为检测信号S1而输出(参照图7)。磁铁31的位移、即柄部1向第一方向D1的倾斜越大，则检测信号S1的输出值越大。另外，柄部1向第一方向D1的倾斜越小，则检测信号S1的输出值越小。
另外，盘构件7的第三方向D3侧及第四方向D4侧的倾斜不变化。因此，相对于操作轴AX3配置于第三方向D3侧的杆部23与相对于操作轴AX3配置于第四方向D4侧的杆部24不被盘构件7按压，维持配置于基准位置的状态。因此，磁铁33、34不移动。
另一方面，在本实施方式的结构中，磁传感器43、44有时对由磁铁31、32、33、34产生的磁场的一部分进行检测。例如，在磁铁31向电路基板50侧移动的情况下，磁传感器43、44有时对由磁铁31产生的磁场的一部分进行检测。
图10是示出磁传感器43、44对由磁铁31产生的磁场的一部分进行检测时的处理内容的一例的框图。在图10中，与图7同样地，以图表示出磁传感器41、42、43、44的各输出值。在关于磁传感器41、42的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁31的位移，横轴的左方向表示磁铁32的位移。另外，在关于磁传感器43、44的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁33的位移，横轴的左方向表示磁铁34的位移。
如图10所示，磁传感器43、44在检测到由磁铁31产生的磁场的一部分的情况下，输出将与该磁场对应的电压相加而得到的输出信号。也就是说，磁传感器43输出将输出信号43a、43b分别与电压Va相加而得到的输出信号43c、43d。磁传感器44输出将输出信号44a、44b分别与电压Vb相加而得到的输出信号44c、44d。
在本实施方式的结构中，磁传感器43与磁传感器44配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置，因此，距磁铁31的距离彼此相等。因此，理论上，由磁铁31产生的磁场的强度在配置磁传感器43的位置处与配置磁传感器44的位置处相等。因此，磁传感器43、44检测由磁铁31产生的相等强度的磁场。因此，电压Va与电压Vb成为相等值，因此，输出信号43c、43d与输出信号44c、44d分别成为相等值的电压信号。
磁传感器43的输出信号43c、43d与磁传感器44的输出信号44c、44d被输入到运算部54。运算部54从输出信号43c、43d减去输出信号44c、44d，将该相减值放大并输出。如上所述，输出信号43c、43d与输出信号44c、44d分别是相等值的电压信号，因此，在由运算部54相减而得到的输出结果中，电压Va与电压Vb被抵消。
如上所述，运算部54通过运算，将从磁传感器43、44输出的输出信号43c、43d及输出信号44c、44d中的与由磁铁31产生的磁场的一部分对应的电压Va、电压Vb消除而输出检测信号S2。因此，即便在磁传感器43、44对由磁铁31产生的磁场的一部分进行检测的情况下，处理部52也不输出磁传感器43、44的输出信号中的与该磁场的一部分对应的电压Va及电压Vb。
另外，例如在使柄部1相对于中立位置向第二方向D2倾斜的情况下，仅杆部22被按下，磁铁32与杆部22一体地移动。通过磁铁32的移动，磁传感器42对磁场的变化进行检测，输出与磁场的变化相应的输出信号42a(参照图7)。另外，磁铁31不移动，磁传感器41输出作为基准电压值的输出信号41a(参照图7)。
磁传感器41的输出信号41a与磁传感器42的输出信号42a被输入到运算部53。运算部53从输出信号41a减去输出信号42a，将该相减值放大并输出。处理部51将从运算部53输出的信号作为检测信号S2而输出(参照图7)。检测信号S2成为负值。磁铁32的位移、即柄部1向第二方向D2的倾斜越大，则检测信号S2的输出值越小(绝对值变大)。另外，柄部1向第二方向D2的倾斜越小，则检测信号S2的输出值越大(绝对值越小)。
另外，由于盘构件7的第三方向D3侧及第四方向D4侧的倾斜不变化，因此，磁铁33、34不移动。另一方面，在磁铁32向电路基板50侧移动的情况下，磁传感器43、44有时对由磁铁32产生的磁场的一部分进行检测。磁传感器43、44在检测到由磁铁32产生的磁场的一部分的情况下，输出将与该磁场对应的电压相加而得到的输出信号。
由于磁传感器43与磁传感器44配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置，因此，距磁铁32的距离也彼此相等。因此，例如在使柄部1向第二方向D2倾斜而使磁铁32移动的情况下，也与磁铁31移动的情况同样地，运算部54将从磁传感器43、44输出的输出信号中的与由磁铁32产生的磁场的一部分对应的电压彼此消除。因此，即便在磁传感器43、44对由磁铁32产生的磁场的一部分进行检测的情况下，处理部52也不输出磁传感器43、44的输出信号中的与该磁场的一部分对应的电压。
另外，例如在使柄部1相对于中立位置向第三方向D3倾斜的情况下，仅杆部23被盘构件7按压而向电路基板50侧移动，磁铁33与杆部23一体地移动。通过磁铁33的移动，磁传感器43对磁场的变化进行检测，输出与磁场的变化相应的输出信号43b(参照图7)。另外，在盘构件7的第四方向D4侧的部分向柄部1侧倾斜的情况下，杆部24维持配置于基准位置的状态。因此，磁铁34不移动，磁传感器44输出作为基准电压值的输出信号44b(参照图7)。
另外，例如在使柄部1相对于中立位置向第四方向D4倾斜的情况下，仅杆部24被盘构件7按压而向电路基板50侧移动，磁铁34与杆部24一体地移动。通过磁铁34的移动，磁传感器44对磁场的变化进行检测，输出与磁场的变化相应的输出信号44a(参照图7)。另外，在盘构件7的第三方向D3侧的部分向柄部1侧倾斜的情况下，杆部23维持配置于基准位置的状态。因此，磁铁33不移动，磁传感器43输出作为基准电压值的输出信号43a(参照图7)。
磁传感器43的输出信号43a、43b与磁传感器44的输出信号44a、44b被输入到运算部54。运算部54从输出信号43a、43b减去输出信号44a、44b，将该相减值放大并输出。处理部52将从运算部54输出的信号作为检测信号S3、S4而输出(参照图7)。磁铁33的位移、即柄部1向第三方向D3的倾斜越大，则检测信号S3的输出值越大。另外，柄部1向第三方向D3的倾斜越小，则检测信号S3的输出值越小。另外，检测信号S4成为负值。磁铁34的位移、即柄部1向第四方向D4的倾斜越大，则检测信号S4的输出值越小(绝对值变大)。另外，柄部1向第四方向D4的倾斜越小，则检测信号S4的输出值越大(绝对值变小)。
另外，磁传感器41与磁传感器42由于配置在相对于该垂直二等分线L2呈线对称的位置，因此，距磁铁33、34的距离彼此相等。因此，在使柄部1向第三方向D3、第四方向D4倾斜而使磁铁33、34移动的情况下，与上述同样地，运算部53通过运算，将从磁传感器41、42输出的输出信号中的与由磁铁33、34产生的磁场的一部分对应的电压彼此消除。
另外，磁传感器45与磁传感器46由于配置在相对于该垂直二等分线L2呈线对称的位置，因此，距磁铁33、34的距离彼此相等。因此，在磁铁33、34移动的情况下，与上述同样地，运算部57通过运算，将从磁传感器45、46输出的输出信号中的与由磁铁33、34产生的磁场的一部分对应的电压彼此消除。
另外，磁传感器47与磁传感器48由于配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置，因此，距磁铁31、32的距离彼此相等。因此，在磁铁31、32移动的情况下，与上述同样地，运算部58将从磁传感器47、48输出的输出信号中的与由磁铁31、32产生的磁场的一部分对应的电压彼此消除。
如以上那样，本实施方式的操作杆100具备：一对杆部20，其配置在相对于操作轴AX3呈点对称的位置；磁铁30，其配置于各杆部20；以及一对磁传感器40，其处于与操作轴AX3垂直的平面上，且配置在关于与将一个杆部20的中心与另一个杆部20的中心连结而得到的线段L1、L3垂直的二等分线L2、L4呈线对称的位置。
操作杆100的一对磁传感器40配置在相对于该垂直二等分线L2、L4呈线对称的位置，因此，距配置于一对杆部20的各磁铁30的距离彼此相等。因此，由各磁铁30产生的磁场的强度在配置一方的磁传感器40的位置处与配置另一方的磁传感器40的位置处相等。因此，一方的磁传感器40能够针对由各磁铁30产生的磁场而检测相等强度的磁场，输出相等值的电压信号。因此，操作杆100例如基于一方的磁传感器40的输出信号和另一方的磁传感器40的输出信号而生成检测信号，由此，能够输出一对磁传感器40的输出信号中的与原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分，并且，能够消除一对磁传感器40的输出信号中的与不是原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分。由此，操作杆100不用对磁铁30单独地设置磁屏等，就能够降低误检测。另外，操作杆100能够省略设置磁屏等的空间，因此，能够抑制大型化。
另外，本实施方式的操作杆100具备一对杆部20、磁铁30、一对磁传感器40以及基于磁传感器40的输出信号而输出关于各磁铁30的相对位置的变化的检测信号的电路基板50。
由此，操作杆100在电路基板50的运算中基于一方的磁传感器40的输出信号和另一方的磁传感器40的输出信号而生成检测信号，由此，能够输出一对磁传感器40的输出信号中的与原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分，并且，能够消除一对磁传感器40的输出信号中的与不是原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分。
另外，在操作杆100中，处理部51基于从检测磁铁31的磁传感器41的检测结果减去检测磁铁32的磁传感器42的检测结果而得到的算出结果，生成检测信号。另外，处理部52基于从检测磁铁33的磁传感器43的检测结果减去检测磁铁34的磁传感器44的检测结果而得到的算出结果，生成检测信号。由此，不使用复杂的信号处理，就能够可靠地降低误检测。
另外，在操作杆100中，磁传感器41、42相对于成为检测对象的磁铁31、32在与垂直二等分线L2平行的方向上排列配置。另外，磁传感器43、44相对于成为检测对象的磁铁33、34在与垂直二等分线L4平行的方向上排列配置。由此，磁传感器41、42、43、44能够高精度地对成为检测对象的磁铁31、32、33、34的磁场进行检测。
另外，在操作杆100中，相对于一个磁铁30设置有两个磁传感器40。例如，相对于一个磁铁31设置有两个磁传感器41、45。另外，相对于一个磁铁32设置有两个磁传感器42、46。另外，相对于一个磁铁33设置有两个磁传感器43、47。另外，相对于一个磁铁34设置有两个磁传感器44、48。由此，能够确保磁传感器40的冗余性。例如，能够将两个磁传感器40中的一方的磁传感器41、42、43、44在通常时使用，将另一方的磁传感器45、46、47、48作为备用而使用。
另外，在该情况下，相对于一个磁铁31设置的两个磁传感器41、45相对于成为检测对象的磁铁31而配置在与垂直二等分线L2平行的方向上的两侧。相对于一个磁铁32设置的两个磁传感器42、46相对于成为检测对象的磁铁32而配置在与垂直二等分线L2平行的方向上的两侧。相对于一个磁铁33设置的两个磁传感器43、47相对于成为检测对象的磁铁33而配置在与垂直二等分线L4平行的方向上的两侧。相对于一个磁铁34设置的两个磁传感器44、48相对于成为检测对象的磁铁34而配置在与垂直二等分线L4平行的方向上的两侧。由此，能够紧凑地配置八个磁传感器40。
另外，在该情况下，两个磁传感器41、45从成为检测对象的一个磁铁31分别隔开相等的距离而配置。两个磁传感器42、46从成为检测对象的一个磁铁32分别隔开相等的距离而配置。两个磁传感器43、47从成为检测对象的一个磁铁33分别隔开相等的距离而配置。两个磁传感器44、48从成为检测对象的一个磁铁34分别隔开相等的距离而配置。由此，在磁传感器41、42、43、44与磁传感器45、46、47、48之间，能够使输出信号的大小成为大致相等的值。由此，不用使信号处理复杂化就能够确保磁传感器40的冗余性。
[第二实施方式]
接着，对第二实施方式进行说明。在上述第一实施方式中，以在处理部51、52中基于从一方的磁传感器40的输出信号减去另一方的磁传感器40的输出信号而得到的算出结果来输出检测信号的结构举例进行了说明，但在本实施方式中，构成为基于将一方的磁传感器40的输出信号与另一方的磁传感器40的输出信号相加而得到的算出结果来输出检测信号。
图11是示出第二实施方式的操作杆的磁传感器及处理部的一例的框图。在图11中，以图表示出磁传感器141、142、143、144的各输出值。在关于磁传感器141、142的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁31的位移，横轴的左方向表示磁铁32的位移。另外，在关于磁传感器143、144的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁33的位移，横轴的左方向表示磁铁34的位移。在第二实施方式中，磁传感器的结构和处理部中的运算内容与第一实施方式的行程检测装置3不同。以下，针对与第一实施方式相同的构成要素标注相同的附图标记，省略或简化说明。
如图11所示，行程检测装置103的磁传感器141、145对磁铁31的磁场进行检测。磁传感器142、146对磁铁32的磁场进行检测。磁传感器143、147对磁铁33的磁场进行检测。磁传感器144、148对磁铁34的磁场进行检测。以下，以磁传感器141、142、143、144举例进行说明，但关于磁传感器145、146、147、148也能够进行同样的说明。
如图11所示，磁传感器141和磁传感器142形成为，在检测到相等的磁场的情况下，输出相对于基准电压值正负彼此颠倒了的输出信号。例如，磁传感器141在磁铁31不位移的情况下，也就是说，在磁铁31保持于基准位置的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号141a而输出。需要说明的是，磁传感器141在磁铁31不位移的情况下，与磁铁32的位移无关地，将基准电压值的电压信号作为输出信号141a而输出。磁传感器141在磁铁31相对于基准位置位移的情况下，将与磁铁31的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号141b而输出。
另外，磁传感器142在磁铁32不位移的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号142b而输出。另外，磁传感器142在磁铁32相对于基准位置位移的情况下，将与磁铁32的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号142a而输出。
处理部151具有运算部153。运算部153将磁传感器141的输出信号与磁传感器142的输出信号相加，将相加值放大并输出。图12是示出运算部153的一例的电路图。如图12所示，作为运算部153，例如能够使用具有电阻R1、R2、Rfa和运算放大器OA1的加法电路、以及具有电阻R3、Rfb和运算放大器OA2的反相电路。通过向运算部153输入磁传感器141的输出信号V1和磁传感器142的输出信号V2，从而输出将它们的相加值放大后的检测信号Vout。
另外，磁传感器143和磁传感器144形成为，在检测到相等的磁场的情况下，输出相对于基准电压值正负彼此颠倒了的输出信号。例如，磁传感器143在磁铁33不位移的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号143a而输出。磁传感器143在磁铁33相对于基准位置位移的情况下，将与磁铁33的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号143b而输出。
磁传感器144在磁铁34不位移的情况下，将基准电压值的电压信号作为输出信号144b而输出。磁传感器144在磁铁34相对于基准位置位移的情况下，将与磁铁34的位移的大小相应的值的电压信号作为输出信号144a而输出。
处理部152具有运算部154。运算部154将磁传感器143的输出信号与磁传感器144的输出信号相加，将相加值放大并输出。作为运算部154，能够使用与图12所示的加法电路同样的电路。
在上述结构中，例如在使柄部1向第一方向D1倾斜的情况下，磁传感器141、142分别将输出信号141b、142b输出(参照图11)。在该情况下，磁传感器141的输出信号141b与磁传感器142的输出信号142b被输入到运算部153。运算部153将输出信号141b与输出信号142b相加，将该相加值放大并输出。处理部151将从运算部153输出的信号作为检测信号S11而输出。
另外，例如在使柄部1向第二方向D2倾斜的情况下，磁传感器141、142分别将输出信号141a、142a输出(参照图11)。在该情况下，磁传感器141的输出信号141a与磁传感器142的输出信号142a被输入到运算部153。运算部153将输出信号141a与输出信号142a相加，将该相加值放大并输出。处理部151将从运算部153输出的信号作为检测信号S12而输出。
在使柄部1向第一方向D1或第二方向D2倾斜的情况下，盘构件7的第三方向D3侧及第四方向D4侧的倾斜不变化。因此，磁铁33、34不移动。另一方面，磁传感器143、144有时检测由磁铁31、32产生的磁场的一部分。
图13是示出磁传感器143、144对由磁铁31产生的磁场的一部分进行检测时的处理内容的一例的框图。在图13中，与图11同样地，以图表示出磁传感器141、142、143、144的各输出值。在关于磁传感器141、142的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁31的位移，横轴的左方向表示磁铁32的位移。另外，在关于磁传感器143、144的图表中，纵轴表示输出值，横轴的右方向表示磁铁33的位移，横轴的左方向表示磁铁34的位移。
如图13所示，磁传感器143输出将输出信号143a、143b分别与电压Vc相加而得到的输出信号143c、143d。磁传感器144输出在输出信号144a、144b中分别减去电压Vd而得到的输出信号144c、144d。
磁传感器143与磁传感器144由于配置在相对于该垂直二等分线L4呈线对称的位置，因此，距磁铁31的距离彼此相等。因此，与第一实施方式同样地，磁传感器143、144检测由磁铁31产生的相等强度的磁场。因此，电压Vc与电压Vd为相等值，所以输出信号143c、143d与输出信号144c、144d在分别使横轴的正方向及负方向一致的情况下，成为相对于基准电压值正负颠倒了的电压信号。
磁传感器143的输出信号143c、143d与磁传感器144的输出信号144c、144d被输入到运算部154。运算部154将输出信号143c、143d与输出信号144c、144d相加，将该相加值放大并输出。如上所述，输出信号143c、143d及输出信号144c、144d分别是相对于基准电压值正负颠倒了的电压信号，因此，在由运算部154相加而得到的输出结果中，电压Vc与电压Vd被抵消。
如上所述，运算部154通过运算，将从磁传感器143、144输出的输出信号143c、143d及输出信号144c、144d中的与由磁铁31产生的磁场的一部分对应的电压Vc、电压Vd消除而输出检测信号S12。因此，即便在磁传感器143、144对由磁铁31产生的磁场的一部分进行检测的情况下，处理部152也不输出磁传感器143、144的输出信号中的与该磁场的一部分对应的电压Vc、电压Vd。
另外，例如在使柄部1向第三方向D3倾斜的情况下，磁传感器143、144分别将输出信号143b、144b输出(参照图11)。在该情况下，磁传感器143的输出信号143b与磁传感器144的输出信号144b被输入到运算部153。运算部153将输出信号143b与输出信号144b相加，将该相加值放大并输出。处理部151将从运算部153输出的信号作为检测信号S11而输出。
另外，例如在使柄部1向第四方向D4倾斜的情况下，磁传感器143、144分别将输出信号143a、144a输出(参照图11)。在该情况下，磁传感器143的输出信号143a与磁传感器144的输出信号144a被输入到运算部153。运算部153将输出信号143a与输出信号144a相加，将该相加值放大并输出。处理部151将从运算部153输出的信号作为检测信号S12而输出。
在使柄部1向第三方向D3或第四方向D4倾斜的情况下，与第一实施方式同样地，磁传感器141、142有时检测由磁铁33、34产生的磁场的一部分。在本实施方式中，磁传感器141与磁传感器142配置在相对于垂直二等分线L2呈线对称的位置，因此，距磁铁33、34的距离彼此相等。因此，与第一实施方式同样地，运算部53通过运算，将从磁传感器141、142输出的输出信号中的与由磁铁33、34产生的磁场的一部分对应的电压彼此消除。
这样，在本实施方式的行程检测装置103中，检测磁铁31的磁传感器141和检测磁铁32的磁传感器142形成为，在检测到相等的磁场的情况下，输出相对于基准电压值正负彼此颠倒了的输出信号。另外，处理部151基于将磁传感器141的输出信号与磁传感器142的输出信号相加而得到的算出结果来输出检测信号。另外，检测磁铁33的磁传感器143和检测磁铁34的磁传感器144也同样地形成为，在检测到相等的磁场的情况下，输出相对于基准电压值正负彼此颠倒了的输出信号。另外，处理部152基于将磁传感器143的输出信号与磁传感器144的输出信号相加而得到的算出结果来输出检测信号。由此，不使用复杂的信号处理就能够可靠地降低误检测。另外，对于同样的磁扰，也能够同样地降低误检测。
本发明的技术范围不局限于上述实施方式，在不脱离本发明的主旨的范围内能够加以适当变更。例如，在上述实施方式中，以相对于一个磁铁30配置有两个磁传感器40的结构举例进行了说明，但不局限于此。图14是示意性地示出从操作轴AX3的轴线方向观察时的磁铁30与磁传感器40的位置关系的变形例的图。例如，如图14所示，也可以构成为相对于一个磁铁30配置有一个磁传感器40。
另外，在上述实施方式中，以操作轴AX3与四个磁铁30的距离相等的结构举例进行了说明，但不局限于此。图15是示意性地示出从操作轴AX3的轴线方向观察时的磁铁30与磁传感器40的位置关系的变形例的图。例如，如图15所示，也可以构成为四个磁铁30与操作轴AX3的距离不同。在该情况下，关于在与操作轴AX3正交的方向上对置的两个磁铁30彼此，能够设为与操作轴AX3的距离相等。需要说明的是，运算部记载为模拟电路，但也可以通过使用CPU的控制器进行运算。另外，各磁传感器的输出记载为模拟电压，但也可以是PWM等。在该情况下，通过使用CPU的控制器进行运算即可。
另外，在上述实施方式中，以使柄部1从中立位置分别向第一方向D1、第二方向D2、第三方向D3及第四方向D4倾斜的情况举例进行了说明，但不局限于此。例如，在使柄部1从中立位置分别向第一方向D1与第三方向D3之间的方向、第一方向D1与第四方向D4之间的方向、第二方向D2与第三方向D3之间的方向、第二方向D2与第四方向D4之间的方向倾斜的情况下也同样地，各检测传感器40能够输出与原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分，且能够消除与不同于原本的检测对象的磁铁30的磁场对应的成分。
附图标记说明
D1…第一方向，D2…第二方向，D3…第三方向，D4…第四方向，L1、L3…线段，L2、L4…垂直二等分线，R1、R2、R11、R3、R12、R13、Rf…电阻，S1、S2、S3、S4、S11、S12、Vout…检测信号，V1、V2、41a、41b、42a、42b、43a、43b、43c、43d、44a、44b、44c、44d、141a、141b、142a、142b、143a、143b、143c、143d、144a、144b、144c、144d…输出信号，OA…运算放大器，AX1、AX2、AX3…中心轴，1…柄部，2…传递装置，3、103…行程检测装置，4…连结轴，5…支承轴，6…万向接头，6a…第一轴构件，6b…转动构件，6c…第二轴构件，7…盘构件，7a…对置面，8…连结构件，9…保护罩，10…装置主体，11…框体，12…板，20、21、22、23、24…杆部，20a…凸缘部，20b…磁铁保持部，25…活塞，25a…筒部，25b…突出部，25c…端部，25d…凹部，26…弹簧构件，27…弹簧承接构件，30、31、32、33、34…磁铁，35…磁引导件，40、41、42、43、44、45、46、47、48、141、142、143、144、145、146、147、148…磁传感器，50…电路基板，50a、50b、50c、50d…贯通孔，51、52、55、56、151、152…处理部，53、54、57、58、153、154…运算部，100…操作杆。

Claims (9)

1.一种操作杆，其中，
所述操作杆具备：
四个杆部，所述四个杆部包括：配置在相对于操作轴在第一方向及与该第一方向相反侧的第二方向上呈点对称位置的一对杆部；以及配置在相对于所述操作轴在和所述第一方向及所述第二方向正交的第三方向及与该第三方向相反侧的第四方向上呈点对称位置的一对杆部；
磁铁，所述磁铁配置于各所述杆部；以及
磁传感器，所述磁传感器处于与所述操作轴垂直的平面上，且配置在关于与第一直线垂直的第二直线呈线对称的位置，所述第一直线是将四个所述杆部中的以操作轴为中心而对置的一个所述杆部的中心和另一个所述杆部的中心连结而得到的直线。
2.根据权利要求1所述的操作杆，其中，
所述操作杆具备处理部，该处理部基于所述磁传感器的输出信号，输出关于各所述磁铁的相对位置的变化的检测信号。
3.根据权利要求2所述的操作杆，其中，
所述处理部基于从检测一方的所述磁铁的所述磁传感器的输出信号减去检测另一方的所述磁铁的所述磁传感器的输出信号而得到的算出结果，输出所述检测信号。
4.根据权利要求2所述的操作杆，其中，
所述处理部基于将检测一方的所述磁铁的所述磁传感器的输出信号与检测另一方的所述磁铁的所述磁传感器的输出信号相加而得到的算出结果，输出所述检测信号。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的操作杆，其中，
所述一对杆部以使各所述杆部在将所述操作轴作为中心的同一圆周上成为等间隔的方式配置有两组，
各所述杆部能够沿着所述操作轴的轴线方向移动，
各所述磁铁与各所述杆部一体地移动。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的操作杆，其中，
所述磁传感器相对于成为检测对象的所述磁铁在与所述第二直线平行的方向上排列配置。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的操作杆，其中，
相对于一个所述磁铁设置有两个所述磁传感器。
8.根据权利要求7所述的操作杆，其中，
两个所述磁传感器相对于成为检测对象的一个所述磁铁配置在与所述第二直线平行的方向上的两侧。
9.根据权利要求8所述的操作杆，其中，
两个所述磁传感器与成为检测对象的一个所述磁铁分别隔开相等的距离而配置。
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