CN109556831A - 彩色滤光片的检测方法及其装置和计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种彩色滤光片的检测方法,所述彩色滤光片的检测方法应用于彩色滤光片的检测装置,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机以及烘干机,所述彩色滤光片的检测方法包括以下步骤:控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。本申请还公开一种彩色滤光片的检测装置和计算机可读存储介质。本申请改善了显示面板的色不均现象,提高了显示面板的良率。
Description
技术领域
本申请涉及显示设备技术领域,尤其涉及一种彩色滤光片的检测方法及其装置和计算机可读存储介质。
背景技术
显示面板中的设有彩色滤光片。彩色滤光片分为三种类型,一种为透射红光的彩色滤光片,一种为透过黄光的彩色滤光片,以及一种透过蓝光的彩色滤光片。在制作彩色滤光片时,需要在滤光片设置光阻膜,使得滤光片只能透射某一种基色光。
滤光片的光阻膜由光阻涂布机进行设置。光阻涂布机在进行涂布时,由于光阻涂布机的涂布口金会堵塞,造成光阻涂布机的吞吐量变少,从而会减少光阻膜的厚度,由此出现彩色滤光片色不均的问题。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种彩色滤光片的检测方法及其装置和计算机可读存储介质,旨在解决彩色滤光片色不均的问题。
为实现上述目的,本申请提供的一种彩色滤光片的检测方法,所述彩色滤光片的检测方法应用于彩色滤光片的检测装置,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机以及烘干机,所述彩色滤光片的检测方法包括以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
在一实施例中,所述根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤的步骤包括:
确定所述色不均区域中光阻膜的厚度;
根据所述厚度,确定烘干机的烘烤时长以及烘烤温度;
控制所述烘干机按照所述烘烤时长以及所述烘烤温度运行,以对所述目标区域进行烘烤。
在一实施例中,所述厚度越小,所述烘干机对应的烘烤时长越长,所述烘烤温度越高。
在一实施例中,所控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域的步骤包括:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域,其中,所述异常区域的颜色和所述异常区域相邻的区域的颜色不同。
在一实施例中,所述根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域的步骤包括:
确定所述异常区域对应的灰阶值,并判断所述灰阶值是否大于或等于预设阈值;
在所述灰阶值大于或等于预设阈值时,将所述异常区域作为色不均区域。
在一实施例中,所述控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域的步骤包括:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像,确定所述彩色滤光片各个区域对应的灰阶值;
将灰阶值大于或等于预设阈值的所述区域,作为色不均区域。
在一实施例中,所述测试机为湿膜检测机或干磨成像检测机。
在一实施例中,所述目标区域包括所述色不均区域以及非色不均区域,所述非色不均区域包围所述色不均局域。
为实现上述目的,本申请还提供一种彩色滤光片的检测装置,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机、烘干机、至少一个处理器,以及存储设备,其中,
所述存储器设备存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
为实现上述目的,本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
本申请提供的彩色滤光片的检测方法及其装置和计算机可读存储介质,控制测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定彩色滤光片的色不均区域,再控制烘干机对包含色不均区域的目标区域进行烘烤,使得色不均区域的膜厚度与相邻区域的膜厚度之间的膜高度差减小,从而改善了显示面板的色不均现象,提高了显示面板的良率。
附图说明
图1为本申请实施例涉及的彩色滤光片的检测装置的硬件结构示意图;
图2为本申请彩色滤光片的检测方法第一实施例的流程示意图;
图3为图2中步骤S100的细化流程示意图;
图4为图2中步骤S200的细化流程示意图;
图5为本申请彩色滤光片的检测方法第二实施例的流程示意图;
图6为本申请彩色滤光片的检测方法第三实施例的流程示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请实施例的主要解决方案是:控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
由于对包含色不均区域的目标区域进行烘烤,使得色不均区域的膜厚度与相邻区域的膜厚度之间的膜高度差减小,从而减缓了显示面板的色不均。
作为一种实现方案,彩色滤光片的检测装置可以如图1所示。
本申请实施例方案涉及的是彩色滤光片的检测装置,彩色滤光片的检测装置包括:处理器1001,例如CPU,存储器1002,通信总线1003,测试机1004以及烘干机1005。其中,通信总线1003用于实现这些组件之间的连接通信。
存储器1002可以是高速RAM存储器,也可以是稳定的存储器(non-volatilememory),例如磁盘存储器。如图1所示,作为一种计算机存储介质的存储器1003中可以包括彩色滤光片的检测程序;而处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
确定所述色不均区域中光阻膜的厚度;
根据所述厚度,确定烘干机的烘烤时长以及烘烤温度;
控制所述烘干机按照所述烘烤时长以及所述烘烤温度运行,以对所述目标区域进行烘烤。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
所述厚度越小,所述烘干机对应的烘烤时长越长,所述烘烤温度越高。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域,其中,所述异常区域的颜色和所述异常区域相邻的区域的颜色不同。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
确定所述异常区域对应的灰阶值,并判断所述灰阶值是否大于或等于预设阈值;
在所述灰阶值大于或等于预设阈值时,将所述异常区域作为色不均区域。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像,确定所述彩色滤光片各个区域对应的灰阶值;
将灰阶值大于或等于预设阈值的所述区域,作为色不均区域。
在一实施例中,处理器1001可以用于调用存储器1002中存储的彩色滤光片的检测程序,并执行以下操作:
所述测试机为湿膜检测机或干磨成像检测机。
在一实施例中,所述目标区域包括所述色不均区域以及非色不均区域,所述非色不均区域包围所述色不均局域。
本实施例根据上述方案,控制测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定彩色滤光片的色不均区域,再控制烘干机对包含色不均区域的目标区域进行烘烤,使得色不均区域的膜厚度与相邻区域的膜厚度之间的膜高度差减小,从而改善了显示面板的色不均现象,提高了显示面板的良率。
基于上述硬件构架,提出本申请显示面板过驱动查找表的建立方法的实施例。
参照图2,图2为本申请彩色滤光片的检测方法的第一实施例,所述彩色滤光片的检测方法包括以下步骤:
步骤S100,控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;
在显示面板的生产过程中,需要对彩色滤光片进行光阻材料的涂布,这一操作有光阻涂布机来执行。在光阻涂布机对彩色滤光片进行光阻涂布时,若光阻涂布机的涂布口金堵塞,会降低光阻材料的吐出量,使得该涂布区域的光阻膜的厚度比正常区域的光阻膜的厚度低,导致显示面板出现色不均的现象。
在本申请中,彩色滤光片的检测装置包括测试机以及烘干机,测试机可为湿膜检测机或者干磨成像检测机。检测装置可以通过测试机对彩色滤光片进行色不均检测,具体的,请参照图3,即步骤S10包括:
步骤S110,对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
步骤S120,根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域,其中,所述异常区域的颜色和所述异常区域相邻的区域的颜色不同;
测试机上设有测试机台,可将含有彩色滤光片的显示面板放置在测试机台进行拍照,得到彩色滤光片对应的图像,然后对图像进行分析,得到图像中的异常区域,与异常区域相邻的区域对应的颜色与异常区域的颜色不同,该异常区域即为色不均区域。
需要说明的是,若测试机为干磨成像检测机,干磨成像检测机检查显示面板的整体的彩色滤光片,以检测比较明显的色不均现象;而测试机为湿膜检测机时,可对每一片彩色滤光进行色不均区域检测,其测试精度高于干磨成像检测机。基于此,检测装置可先采用干磨成像检测机对显示面板进行整体的色不均检测,以检测较为明显的色不均区域,然后采用湿膜检测机对显示面板上其他的彩色滤光片进行抽检。
步骤S200,根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域;
在确定色不均区域后,检测装置根据色不均区域确定目标区域,该目标区域包含有色不均区域以及非色不均区域,非色不均区域与色不均区域相邻;进一步地,非色不均区域包围色不均区域。
在确定目标区域后,检测装置开启检测烘干机对目标区域进行烘烤,也即对目标区域进行加热,使得非色不均区域的光阻材料化为液体(彩色滤光片上涂布有光阻材料(涂布的光阻材料即为光阻膜),比如红色滤光片上涂布阻止蓝色光以及黄色光的光阻材料),流向色不均区域,从而减小色不均区域的光阻膜与正常区域光阻膜之间的膜高度差,进而改善色不均现象。需要说明的是,在色不均区域越大时,非色不均区域也应该越大,从而使得非色不均区域有足够液体光阻材料流向色不均区域。
检测装置还可检测色不均区域的膜厚度,在当膜厚度越小时,色不均区域与正常区域之间的膜高度差也即越大,此时,可以适当增加烘干机的烘烤时长以及烘烤温度,使得色不均周边的区域更多的光阻材料化为液体流向色不均区域,可以理解的是,光阻膜的厚度越小,烘干机对应的烘烤时长越长,烘烤温度越高。对此,请参照图4,即步骤S20包括:
步骤S210,确定所述色不均区域中光阻膜的厚度;
步骤S220,根据所述厚度,确定烘干机的烘烤时长以及烘烤温度;
步骤S230,控制所述烘干机按照所述烘烤时长以及所述烘烤温度运行,以对所述目标区域进行烘烤;
检测装置中设有光阻膜的厚度、烘干机的烘烤时长以及烘烤温度的映射关系,在确定色不均区域的膜的厚度后,可根据光阻膜的厚度以及映射关系来确定烘烤时长以及烘烤温度,其烘烤温度应大于光阻材料的熔点。
进一步的,在当光阻膜的厚度过小时,可以增大目标区域,使得非色不均区域的面积增加,在烘烤后,使得色不均区域的膜厚度与正常区域的膜厚度之间的膜高度差在预设高度差之内,从而减缓色不均现象。另外,色不均区域较大时,色不均区域所需的液体光阻材料也就越大,故色不均区域也是烘干机的烘烤时长以及烘烤温度的影响因素,色布局区域越大,烘烤时长越大,烘烤温度越高,对此,可建立色布局区域面积、烘烤时长、色不均区域的膜厚度以及烘烤温度之间的映射关系。
在本实施例提供的技术方案中,控制测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定彩色滤光片的色不均区域,再控制烘干机对包含色不均区域的目标区域进行烘烤,使得色不均区域的光阻膜的厚度与相邻区域的光阻膜的厚度之间的膜高度差减小,从而改善了显示面板的色不均现象,提高了显示面板的良率。
参照图5,图5为本申请彩色滤光片的检测装置的第二实施例,基于第一实施例,所述步骤120包括:
步骤S121,确定所述异常区域对应的灰阶值,并判断所述灰阶值是否大于或等于预设阈值;
步骤S122,在所述灰阶值大于或等于预设阈值时,将所述异常区域作为色不均区域;
在测试机为湿膜检测机时,检测的色不均区域的颜色是偏白,而正常区域则是偏黑。对此,检测装置可对图像进行二值化处理,确定异常区域的灰阶值,若是该灰阶值大于或等于预设阈值(预设阈值可为任意合适的数值,比如140),则表明异常区域偏白,即判定异常区域为色不均区域。
在本实施例提供的技术方案中,在确定异常区域的灰阶值后,判断灰阶值是否大于或等于预设阈值,若是,则判定该异常区域为色不均区域,使得彩色滤光片的检测装置能够准确的检测色不均区域,从而提高显示面板的良率。
参照图6,图6为本申请彩色滤光片的检测方法的第三实施例,基于第一实施例,所述步骤S100包括:
步骤S130,对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
步骤S140,根据所述图像,确定所述彩色滤光片各个区域对应的灰阶值;
步骤S150,将灰阶值大于或等于预设阈值的所述区域,作为色不均区域;
在一实施例中,检测装置先确定异常区域,在确定异常区域的灰阶值,以根据灰阶值判断该异常区域是否为色不均区域。在本实施例中,检测装置直接对彩色滤光片进行拍照得到图像,再对图像进行二值化处理,灰阶图像,并确定各个区域对应的灰阶值,再将灰阶值大于或等于预设阈值的区域作为色不均区域,使得检测装置能够更加全面的检测出彩色滤光片中的色不均区域,进一步提高了显示面板的良率。
在本实施例提供的技术方案中,彩色滤光片的检测装置在对彩色滤光片进行拍照后得到图像,并对图像进行二值化处理,得到图像各个区域的灰阶值,进而将灰阶值大于预设阈值的区域作为色不均区域,使得检测装置能够对彩色滤光片进行全面的色不均检测,避免显示面板出现色不均的现象,提高了显示面板的良率。
本申请还提供一种彩色滤光片的检测装置,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机、烘干机、至少一个处理器,以及存储设备,其中,
所述存储器设备存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,电视机,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
以上仅为本申请的优选实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述彩色滤光片的检测方法应用于彩色滤光片的检测装置,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机以及烘干机,所述彩色滤光片的检测方法包括以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
2.如权利要求1所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤的步骤包括:
确定所述色不均区域中光阻膜的厚度;
根据所述厚度,确定烘干机的烘烤时长以及烘烤温度;
控制所述烘干机按照所述烘烤时长以及所述烘烤温度运行,以对所述目标区域进行烘烤。
3.如权利要求2所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述厚度越小,所述烘干机对应的烘烤时长越长,所述烘烤温度越高。
4.如权利要求1所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域的步骤包括:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域,其中,所述异常区域的颜色和所述异常区域相邻的区域的颜色不同。
5.如权利要求4所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述根据所述图像确定所述彩色滤光片的异常区域,并将所述异常区域作为色不均区域的步骤包括:
确定所述异常区域对应的灰阶值,并判断所述灰阶值是否大于或等于预设阈值;
在所述灰阶值大于或等于预设阈值时,将所述异常区域作为色不均区域。
6.如权利要求1所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域的步骤包括:
对所述彩色滤光片进行拍照,得到所述彩色滤光片的图像;
根据所述图像,确定所述彩色滤光片各个区域对应的灰阶值;
将灰阶值大于或等于预设阈值的所述区域,作为色不均区域。
7.如权利要求1-6任一项所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述测试机为湿膜检测机或干磨成像检测机。
8.如权利要求1-6任一项所述的彩色滤光片的检测方法,其特征在于,所述目标区域包括所述色不均区域以及非色不均区域,所述非色不均区域包围所述色不均局域。
9.一种彩色滤光片的检测装置,其特征在于,所述彩色滤光片的检测装置包括测试机、烘干机、至少一个处理器,以及存储设备,其中,
所述存储器设备存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被所述至少一个处理器执行时,使得一个处理器执行以下步骤:
控制所述测试机对彩色滤光片进行色不均检测,以确定所述彩色滤光片中的色不均区域;以及
根据所述色不均区域确定目标区域,并控制所述烘干机对所述目标区域进行烘烤,其中,所述目标区域包含所述色不均区域。
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