CN109490203B - 一种直读光谱分析试样的定位装置及定位方法 - Google Patents
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Abstract
一种直读光谱分析试样的定位装置及定位方法，属于钢铁材料检测设备技术领域，用于直读光谱分析试样的定位。固定座和旋转轨道为相同直径的金属圆环体，固定座安装在激发台上，固定座的中心与激发孔的中心重合，旋转轨道放置在固定座上，旋转轨道圆周沿着固定座圆周转动，套管固定在旋转轨道上，测量杆插在套管中，测量杆的下端与激发孔相对，测量杆与套管为滑动配合，测量杆上有刻度，套管上端有垂直的顶丝孔，顶丝穿过顶丝孔与测量杆顶紧。测量杆的刻度可以显示测量杆前端与激发孔上覆盖的试样边缘的距离，以此测量试样是否覆盖住了激发孔。结构简单、操作方便、测量稳定，可以准确检测或定位不规则试样压制在激发台的位置，检查试样圆周各点是否能够覆盖激发孔，避免发生激发孔漏光现象，有利于提高直读光谱分析的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于直读光谱分析试样的简易定位装置及定位方法，属于钢铁材料检测设备技术领域。
背景技术
火花原子发射光谱技术是原子在热光源下利用放电原理的分析技术，这种分析技术可以有效地降低背景等效浓度，具有快速、准确、可同时检测多元素等优点，因此被广泛应用于钢铁材料检测领域。在进行材料检测前，需要制备试样。钢铁材料试样可使用砂轮机、砂带机、或砂纸磨盘等制样设备来磨制，以去除试样表面的氧化层。制备好的试样表面应平整洁净，纹路清晰，平面应大于激发孔的面积（激发孔Φ（12～15）mm），即磨制后的试样应可以完全覆盖激发孔。但在实际工作中经常会遇见一些不规则的试样，如在钢铁冶炼过程中的连铸坯需要检测成分时，工作人员为了减少对连铸坯的破坏而切割下来的鉴定试样较小，有些检定试样较窄部位与激发孔直径几乎相近，检测人员磨制试样后无法判断其是否完全覆盖激发孔，如不能完全覆盖，激发试样过程中会出现漏光现象，会造成数据准确度降低或失真等现象。目前存在的问题是，工作人员在制备试样时，无法检测或定位试样是否能够完全覆盖激发孔，一般都是依靠检测人员目测判断，具有很大的误差和不确定性，亟待加以改进。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种直读光谱分析试样的定位装置及定位方法，这种定位装置可以检测或定位试样覆盖激发孔情况，更好地将试样对准电极并完全覆盖激发孔，避免出现漏光现象，提高直读光谱分析准确度。
解决上述技术问题的技术方案是：
一种直读光谱分析试样的定位装置，它由固定座、旋转轨道、套管、测量杆、顶丝组成，固定座和旋转轨道为相同直径的金属圆环体，固定座安装在激发台上，固定座的中心与激发孔的中心重合，旋转轨道放置在固定座上，旋转轨道圆周沿着固定座圆周转动，旋转轨道下表面与固定座上表面为滑动配合，套管固定在旋转轨道上，套管的中心轴线与旋转轨道圆环的一个直径重合，测量杆插在套管中，测量杆的下端与激发孔相对，测量杆与套管为滑动配合，测量杆上有刻度，套管上端有垂直的顶丝孔，顶丝穿过顶丝孔与测量杆顶紧。
上述直读光谱分析试样的定位装置，所述固定座的圆环上部为环形的三角形凸起，相对的旋转轨道的圆环下部为环形的三角形凹槽，固定座的上部环形三角形凸起与旋转轨道的下部环形三角形凹槽相匹配，环形三角形凸起与环形三角形凹槽为滑动配合。
上述直读光谱分析试样的定位装置，所述旋转轨道的上表面为向圆环形中心倾斜的环形倾斜面，套管沿着倾斜面固定，套管中的测量杆的前端与激发孔的上表面相对。
本发明的有益效果是：
本发明的固定座固定放置在激发孔的外圆周，旋转轨道可以带动套管和测量杆沿着固定座旋转，测量杆的刻度可以显示测量杆前端与激发孔上覆盖的试样边缘的距离，以此测量试样是否覆盖住了激发孔。
本发明结构简单、操作方便、测量稳定准确，可以准确检测或定位不规则试样压制在激发台的位置，检查试样圆周各点是否能够覆盖激发孔，避免发生激发孔漏光现象，有利于提高直读光谱分析的准确性。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图2是图1的A-A剖视图。
图中标记如下：激发台1、激发孔2、固定座3、旋转轨道4、套管5、顶丝6、测量杆7。
具体实施方式
本发明由固定座3、旋转轨道4、套管5、测量杆7、顶丝6组成。
图中显示，固定座3为金属圆环体，固定座3安装在激发台1上，固定座3的中心与激发孔2的中心重合。
图中显示，旋转轨道4为金属圆环体，旋转轨道4的圆环形与固定座3的圆环形直径相同，旋转轨道4放置在固定座3上，旋转轨道4下表面与固定座3上表面为滑动配合，旋转轨道4圆周可以沿着固定座3圆周进行转动。
图中显示，圆环形固定座3的圆环上部为环形的三角形凸起，相对的圆环形旋转轨道4的圆环下部为环形的三角形凹槽，固定座3的上部环形三角形凸起与旋转轨道4的下部环形三角形凹槽相匹配，环形三角形凸起与环形三角形凹槽为滑动配合，两部分粗燥度在3.2以上，可毫不费力的转动。这样的结构可以使旋转轨道4在沿着固定座3进行转动时受到约束，不会发生脱落，同时转动稳定，便于准确进行测量。
图中显示，套管5固定在旋转轨道4的上表面，套管5的中心轴线与旋转轨道4圆环的一个直径重合，测量杆7插在套管4中，测量杆7与套管4为滑动配合，可以上下移动，套管5上端有垂直的顶丝孔，顶丝6穿过顶丝孔与测量杆7顶紧。
图中显示，测量杆7的下端与激发孔2相对，测量杆7上有刻度，移动测量杆7，可以通过测量杆7上的刻度了解测量杆7前端与激发孔2的距离，进而测量覆盖在激发孔2上试样是否覆盖能激发孔2。
图中显示，圆环形旋转轨道4的上表面为向圆环形中心倾斜的环形倾斜面，旋转轨道4上表面倾斜角度是旋转轨道4和套管5壁厚的高度到激发孔2边缘与激发台1所形成的夹角，即测量杆7与激发台1之间的角度。
套管5沿着倾斜面固定在旋转轨道4上，可以使套管5中的测量杆7的前端与激发孔2上覆盖的试样边缘准确接触，避免产生高低误差。本发明通过旋转轨道4转动带动套管5和测量杆7围绕激发孔2转动。利用测量杆7的刻度可以准确检测试样放置位置；也可以先调好测量杆7的位置，将试样最窄部位顶到测量杆7上，再测量其他部位，检测试样完全覆盖激发孔2后再进行分析。
本发明的使用方法如下：
将固定座3用双面胶固定于激发台1，并与激发孔2同心。
将测量杆7放置在套管5中，工作人员推动测量杆7，使测量杆7顶端与激发孔2边缘对齐，在测量杆7上读取记录数据①。
需要检测时，将制备好的不规则试样压制在激发孔2上，工作人员推动测量杆7的尾端缓慢向前延伸，直到测量杆7前端接触到试样，读取数据②。
如数据①大于数据②，说明试样已完全覆盖激发孔2，可以进行激发；相反数据①小于数据②，说明试样未完全覆盖激发孔2，则需挪动试样位置或重新制样。
需要定位时，先将测量杆7调好小于数据①的刻度，用顶丝6将测量杆7固定，将试样最窄部位缓慢顶到测量杆7上，再按照检测步骤检测其他部位覆盖情况，如检测数据都小于数据①，则可进行激发试样。
本发明体积小巧、结构简单、无需维护，克服了因判断不准试样是否完全覆盖激发孔2而造成直读光谱分析准确度下降的问题，对于提高直读光谱分析水平由重要作用。
本发明的一个实施例如下：
固定座3材质为铜，固定座3的宽度3mm，外径68mm，呈圆环型，横截面为三角形；
旋转轨道4材质为铜，旋转轨道4的宽度3mm，外径68mm，横截面为内凹三角形，上表面向心倾斜；
套管5材质为铜，套管5的直径3mm，壁厚0.5mm，长5mm；
测量杆7材质为铝或铝合金，测量杆7的直径2mm，长35mm；
顶丝6为直径1.6mm，长3mm。
Claims (3)
1.一种直读光谱分析试样的定位装置，其特征在于：它由固定座（3）、旋转轨道（4）、套管（5）、测量杆（7）、顶丝（6）组成，固定座（3）和旋转轨道（4）为相同直径的金属圆环体，固定座（3）安装在激发台（1）上，固定座（3）的中心与激发孔（2）的中心重合，旋转轨道（4）放置在固定座（3）上，旋转轨道（4）圆周沿着固定座（3）圆周转动，旋转轨道（4）下表面与固定座（3）上表面为滑动配合，套管（5）固定在旋转轨道（4）上，套管（5）的中心轴线与旋转轨道（4）圆环的一个直径重合，测量杆（7）插在套管（5）中，测量杆（7）的下端与激发孔（2）相对，测量杆（7）与套管（5）为滑动配合，测量杆（7）上有刻度，套管（5）上端有垂直的顶丝孔，顶丝（6）穿过顶丝孔与测量杆（7）顶紧；圆环形旋转轨道（4）的上表面为向圆环形中心倾斜的环形倾斜面，套管（5）沿着倾斜面固定，套管（5）中的测量杆（7）的前端与激发孔（2）的上表面相对。
2.一种直读光谱分析试样的定位方法，其特征在于，使用权利要求1所述的直读光谱分析试样的定位装置，具体定位方法为：
将固定座（3）用双面胶固定于激发台（1），并与激发孔（2）同心；
将测量杆（7）放置在套管（5）中，推动测量杆（7），使测量杆（7）顶端与激发孔（2）边缘对齐，在测量杆（7）上读取记录数据①；
需要检测时，将制备好的不规则试样压制在激发孔（2）上，推动测量杆（7）的尾端缓慢向前延伸，直到测量杆前端接触到试样，读取数据②；
如数据①大于数据②，说明试样已完全覆盖激发孔（2），可以进行激发；相反数据①小于数据②，说明试样未完全覆盖激发孔（2），则需挪动试样位置或重新制样；
需要定位时，先将测量杆（7）调好小于数据①的刻度，用顶丝（6）将测量杆固定，将试样最窄部位缓慢顶到测量杆上，再按照检测步骤检测其他部位覆盖情况，如检测数据都小于数据①，则进行激发试样。
3.根据权利要求2所述的直读光谱分析试样的定位方法，其特征在于：所述直读光谱分析试样的定位装置的固定座（3）的圆环上部为环形的三角形凸起，相对的旋转轨道（4）的圆环下部为环形的三角形凹槽，固定座（3）的上部环形三角形凸起与旋转轨道（4）的下部环形三角形凹槽相匹配，环形三角形凸起与环形三角形凹槽为滑动配合。
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