CN109474769A - 预烧统计和预烧补偿 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及预烧统计和预烧补偿。提供了一种可处理图像数据以用于在电子显示器上显示的电子显示管线。所述电子显示管线可包括预烧补偿统计值收集电路和预烧补偿电路。所述预烧补偿统计值收集电路可至少部分地基于所述图像数据来收集图像统计值。所述统计数据可估计所述电子显示器的所述子像素的可能的不均匀老化量。所述预烧补偿电路可向所述图像数据的子像素应用增益，以考虑所述电子显示器的对应子像素的不均匀老化。所应用的增益可至少部分地基于由所述预烧补偿统计值收集电路所收集的所述图像统计值。

Description

预烧统计和预烧补偿
相关申请的交叉引用
本专利申请要求2017年9月8日提交的名称为“Burn-In Statistics and Burn-InCompensation”的美国临时申请62/556,160的优先权和权益，该美国临时申请的内容以引用的方式全文并入本文。
技术领域
本公开涉及图像数据处理以识别和补偿电子显示器上的预烧。
背景技术
该部分旨在向读者介绍现有技术的各方面，其可能与下文描述和/或受权利要求书保护的本技术的各方面有关。我们认为这种论述有助于为读者提供背景信息以便于更好地理解本公开的各方面。因此，应当理解，要在这个意义上来阅读这些文字描述，而不是作为对现有技术的承认。
许多电子设备，包括电视机、便携式电话、计算机、可穿戴设备、车辆仪表板、虚拟现实眼镜等等在电子显示器上显示图像。随着电子显示器获得越来越高的分辨率和动态范围，它们也可能变得越来越易受因图像预烧而引起的图像显示伪影的影响。预烧是一种现象，即由于不同像素随时间推移而发射的不同量的光，导致像素随时间的推移而退化。如果使用某些像素超过其他像素，则这些像素可能更快地老化，因此当考虑相同量的驱动电流或电压值时，这些像素可逐渐发射较少的光。这可在电子显示器上产生不期望的预烧图像伪影。
发明内容
下文阐述本文所公开的某些实施方案的概要。应当理解，呈现这些方面仅仅是为了向读者提供这些特定实施方案的简明概要，并且这些方面并非旨在限制本公开的范围。实际上，本公开可涵盖下文可能未阐述的多个方面。
本公开涉及识别和补偿电子显示器上的预烧和/或老化伪影。预烧是一种现象，由于不同像素可能随时间推移而发射的不同量的光，导致像素随时间的推移而退化。因此，预烧可以理解为由不均匀的子像素老化引起。也就是说，如果某些像素比其他像素更频繁地使用，或者如果在更有可能导致过度老化的情况下例如在高温下使用这些像素，那么这些像素可能比其他像素老化程度更高。因此，当考虑相同的驱动电流或电压值时，那些像素可逐渐发射较少的光，从而在考虑相同亮度水平的信号时，有效地变得比其他像素更暗。为了防止这种子像素老化效应在电子显示器上引起不期望的图像伪影，专用电路和/或软件可以监视和/或建模在不同像素中可能已发生的预烧量。基于被确定为已经发生的监视和/或建模的预烧量，可以在将图像数据发送到电子显示器之前调整图像数据，以减少或消除电子显示器上的预烧伪像的出现。
在一个示例中，专用电路和/或软件可以监视或建模由于发送到电子显示器的图像数据而可能在电子显示器中发生的预烧效应。除此之外或另选地，专用电路和/或软件可以监视和/或建模由于电子显示器工作时电子显示器的不同部件的温度而可能在电子显示器中发生的预烧效应。实际上，在一些情况下，专用电路和/或软件可以监视和/或建模由于发送到电子显示器的图像数据和在电子显示器显示图像数据时电子显示器的温度的效果组合而可能在电子显示器中发生的预烧效应。事实上，据信，电子显示器的任何像素所经历的预烧量可能受到像素的温度和它发出的光量的影响。例如，像素可以通过在较高温度下发射较大量的光而更快地老化，并且可以通过在较低温度下发射较少量的光而更慢地老化。
通过监视和/或建模可能在电子显示器中已发生的预烧量，可以导出预烧增益图以补偿预烧效应。即，预烧增益图可以获得将被发送到老化较少的像素(原本可更亮)的图像数据，而不会获得将被发送到具有最大老化量的像素(原本可更暗)的图像数据。这样，遭受最大老化量的电子显示器的像素看起来与遭受最小老化量的像素一样明亮。这可减少或消除电子显示器上的预烧伪影。
对上述特征的各种改进可能相对于本发明的各个方面而存在。也可在这些各个方面中加入其他特征。这些改进和附加特征可以单独存在，也可以任何组合的形式存在。例如，下面讨论的与一个或多个所示实施方案相关的各种特征可单独地或以任何组合形式结合到本发明上述方面的任何一个中。上文所呈现的简要概要仅旨在使读者熟悉本公开实施方案的特定方面和上下文，并不限制要求保护的主题。
附图说明
通过阅读以下详细描述并参考附图，可以更好地理解本发明的各个方面，在附图中：
图1是根据一个实施方案的包括电子显示器的电子设备的框图；
图2是根据一个实施方案的图1的电子设备的一个示例；
图3是根据一个实施方案的图1的电子设备的另一个示例；
图4是根据一个实施方案的图1的电子设备的另一个示例；
图5是根据一个实施方案的图1的电子设备的另一个示例；
图6是根据一个实施方案的图1的电子设备的一部分的框图，该电子设备包括具有预烧补偿(BIC)电路和预烧统计值(BIS)收集电路的显示管线；
图7是根据一个实施方案的一种用于操作图6的显示管线的过程的流程图；
图8是根据一个实施方案的使用图6的显示管线来描述预烧补偿(BIC)和预烧统计值(BIS)收集的框图；
图9是根据一个实施方案的示出使用从所收集的预烧统计值(BIS)得出的增益图进行预烧补偿(BIC)的框图；
图10是根据一个实施方案的查找表(LUT)的示意图，该查找表表示从所收集的预烧统计值(BIS)中得出的示例增益图以及在两个维度上执行x2空间插值的方式；
图11是根据一个实施方案的示出在两个维度上执行x4空间插值的方式的示意图；
图12是根据一个实施方案的示出在一个维度上执行x2空间插值并且在另一个维度上执行x4空间插值的方式的示意图；
图13是根据一个实施方案的示出了将两个输入像素增益对上采样到两个输出像素增益对中的方式的示意图；
图14是根据一个实施方案的示出了考虑亮度老化和温度适应的预烧统计值(BIS)收集的框图；
图15是根据一个实施方案的示例温度图以及执行双线性插值以获得温度值的方式的示意图；并且
图16是根据一个实施方案的示出将两个输入预烧统计值(BIS)历史像素对下采样到两个输出预烧统计值(BIS)历史像素对中的方式的示意图。
具体实施方式
下文将描述本发明的一个或多个具体实施方案。这些所描述的实施方案仅为目前所公开的技术的示例。此外，为了提供这些实施方案的简明描述，在本说明书中可能未描述实际具体实施的所有特征。应当认识到，在任何此类实际实施的开发中，如任何工程学或设计项目中那样，必须要作出特定于许多具体实施的决策以实现开发者的具体目标，诸如符合可能随具体实施变化的与系统相关的约束条件和与事务相关的约束条件。此外，应当理解，此类开发努力可能是复杂且耗时的，但对于从本公开中受益的普通技术人员而言，其可能仍然是设计、制造和生产的常规任务。
在介绍本公开的各种实施方案的元件时，冠词“一个”、“一种”和“该/所述”旨在意指存在所述元件中的一者或多者。术语“包括”(“comprising”,“including”)和“具有”旨在被包括在内，并且意指可能存在除列出的元件之外的附加元件。此外，应当理解，参考本公开的“一个实施方案”(“one embodiment”或“an embodiment”)并非意图被解释为排除也结合所引述的特征的附加实施方案的存在。此外，短语A“基于”B旨在表示A至少部分地基于B。此外，术语“或”意指包含性的(例如，逻辑OR)而非排他性的(例如，逻辑XOR)。换句话讲，短语A“或”B旨在表示A、B或A和B两者。
通过监视和/或建模可能在电子显示器中已发生的预烧量，可以导出预烧增益图以补偿预烧效应。预烧增益图可以获得将被发送到老化较少的像素(原本可更亮)的图像数据，而不会获得将被发送到具有最大老化量的像素(原本可更暗)的图像数据。这样，遭受最大老化量的电子显示器的像素看起来与遭受最小老化量的像素一样明亮。这可减少或消除电子显示器上的预烧伪影。
为便于说明，在图1中示出利用了电子显示器12的电子设备10的一个实施方案。如将在下文更详细描述的那样，电子设备10可以是任何适当的电子设备，诸如手持式电子设备、平板电子设备、笔记本电脑等。因此，应当指出的是，图1仅为特定具体实施的一个示例，并且旨在示出可存在于电子设备10中的部件的类型。
在所描绘的实施方案中，电子设备10包括电子显示器12、输入设备14、输入/输出(I/O)端口16、具有一个或多个处理器或处理器内核的处理器内核复合体18、本地存储器20、主存储器存储设备22、网络接口24、电源26和图像处理电路27。图1所述的各种部件可包括硬件元件(例如，电路)、软件元件(例如，存储指令的有形非暂态计算机可读介质)、或者硬件元件和软件元件的组合。应当指出的是，所描绘的各种部件组合可被组合成较少部件或分开成附加部件。例如，局部存储器20和主存储器存储设备22可以被包括在单个部件中。另外，图像处理电路27(例如图形处理单元)可被包括在处理器内核复合体18中。
如图所示，处理器内核复合体18与局部存储器20和主存储器存储设备22可操作地耦接。在一些实施方案中，本地存储器20和/或主存储器存储设备22可包括可存储由处理器内核复合体18执行的指令和/或待由处理器内核复合体18处理的数据的有形的非暂态计算机可读介质。例如，本地存储器20可包括随机存取存储器(RAM)，并且主存储器存储设备22可包括只读存储器(ROM)、可重写非易失性存储器(诸如闪存存储器、硬盘驱动器、光盘等等)。
在一些实施方案中，处理器内核复合体18可执行存储在本地存储器20和/或主存储器存储设备22中的指令以执行诸如生成源图像数据的操作。因此，处理器内核复合体18可包括一个或多个通用微处理器、一个或多个特定于应用的处理器(ASIC)、一个或多个现场可编程逻辑阵列(FPGA)或它们的任何组合。
如图所示，处理器内核复合体18也与网络接口24可操作地耦接。通过使用网络接口24，电子设备10可通信地耦接到网络和/或其他电子设备。例如，网络接口24可将电子设备10连接到个人局域网(PAN)诸如蓝牙网络、局域网(LAN)诸如802.11x Wi-Fi网络，和/或广域网(WAN)诸如4G或LTE蜂窝网络。这样，网络接口24可使电子设备10能够将图像数据发送到网络和/或从网络接收图像数据。
另外，如图所示，处理器内核复合体18可操作地耦接至电源26。在一些实施方案中，电源26可提供电力以操作处理器内核复合体18和/或电子设备10中的其他部件。因此，电源26可包括任何合适的能量源，诸如可再充电的锂聚合物(Li-poly)电池和/或交流电(AC)转换器。
另外，如图所示，处理器内核复合体18与I/O端口16和输入设备14可操作地耦接。在一些实施方案中，I/O端口16可使得电子设备10能够与各种其他电子设备进行交互。另外，在一些实施方案中，输入设备14可使得用户能够与电子设备10进行交互。例如，输入设备14可包括按钮、键盘、鼠标、触控板等。除此之外或另选地，电子显示器12可包括触摸感测部件，这些触摸感测部件通过检测触摸其屏幕的对象的出现和/或位置(例如，电子显示器12的表面)来实现对电子设备10的用户输入。
除了实现用户输入之外，电子显示器12还可便于通过显示一个或多个图像(例如，图像帧或图片)来提供信息的视觉表示。例如，电子显示器12可显示操作系统的图形用户界面(GUI)、应用程序界面、文本、静态图像或视频内容。为了便于显示图像，电子显示器12可包括具有一个或多个显示器像素的显示面板。另外，每个显示像素均可包括一个或多个子像素，该一个或多个子像素各自控制一个颜色分量(例如，红色、蓝色或绿色)的亮度。
如上所述，电子显示器12可通过至少部分地基于对应的图像数据(例如，图像像素图像数据和/或显示器像素图像数据)而控制子像素的亮度来显示图像。在一些实施方案中，可例如经由网络接口24和/或I/O端口16从另一电子设备接收图像数据。除此之外或另选地，可由处理器内核复合体18和/或图像处理电路27生成图像数据。
如上所述，电子设备10可以是任何合适的电子设备。为了便于说明，合适的电子设备10，尤其是手持设备10A的一个示例示于图2中。在一些实施方案中，手持设备10A可以是便携式电话、媒体播放器、个人数据管理器、手持式游戏平台等等。例如，手持设备10A可以是智能电话，诸如可购自Apple Inc.的任何型号。
如图所示，手持设备10A包括壳体28(例如外壳)。在一些实施方案中，壳体28可保护内部部件免受物理性损坏和/或屏蔽内部部件使其免受电磁干扰。另外，如图所示，壳体28围绕电子显示屏12。在所描绘的实施方案中，电子显示器12正在显示具有一系列图标32的图形用户界面(GUI)30。举例来讲，当通过输入设备14或电子显示器12的触摸感测部件选择图标32时，可以启动应用程序。
此外，如图所示，输入设备14通过壳体28打开。如上所述，输入设备14可使得用户能够与手持设备10A进行交互。例如，输入设备14可使得用户能够激活或去激活手持设备10A、将用户界面导航至home屏幕、将用户界面导航到用户可配置的应用屏幕、激活语音识别特征结构、提供音量控制和/或在震动和响铃模式之间切换。如图所示，I/O端口16也通过壳体28打开。在一些实施方案中，I/O端口16可包括例如连接至外部设备的音频插孔。
为了进一步说明，在图3中示出了合适的电子设备10，尤其是平板设备10B的另一个示例。为了进行示意性的说明，平板设备10B可为可购自Apple Inc.的任何型号。合适的电子设备10，尤其是计算机10C的另一个示例示于图4中。为了进行示意性的说明，计算机10C可为可购自Apple Inc.的任何或型号。合适的电子设备10，尤其是手表10D的另一个示例示于图5中。为了进行示意性的说明，手表10D可为可购自AppleInc.的任何Apple 型号。如图所示，平板设备10B、计算机10C和手表10D各自还包括电子显示器12、输入设备14、I/O端口16和壳体28。
如上所述，电子显示器12可以至少部分地基于例如从处理器内核复合体18和/或图像处理电路27接收的图像数据来显示图像。另外，如上所述，可在图像数据用于在电子显示器12上显示对应图像之前对图像数据进行处理。在一些实施方案中，显示管线可例如处理图像数据，以识别和/或补偿预烧伪影和/或老化伪影。
为便于说明，在图6中示出了包括显示管线36的电子设备10的部分34。在一些实施方案中，显示管线36可由电子设备10中的电路、电子显示器12中的电路或它们的组合来实现。例如，显示管线36可被包括在处理器内核复合体18、图像处理电路27、电子显示器12中的定时控制器(TCON)或它们的任何组合中。
如图所示，电子设备10的部分34还包括图像数据源38、显示面板40和控制器42。在一些实施方案中，控制器42可控制显示管线36、图像数据源38和/或显示面板40的操作。为便于控制操作，控制器42可包括控制器处理器50和控制器存储器52。在一些实施方案中，控制器处理器50可执行存储在控制器存储器52中的指令。因此，在一些实施方案中，控制器处理器50可被包括在处理器内核复合体18、图像处理电路27、电子显示器12中的定时控制器(TCON)、单独的处理模块或它们的任何组合中。另外，在一些实施方案中，控制器存储器52可被包括在本地存储器20、主存储器存储设备22和/或单独的有形非暂态计算机可读介质或它们的任何组合中。
在所描绘的实施方案中，显示管线36通信地耦接到图像数据源38。这样，显示管线36可从图像数据源38接收与要在电子显示器12上显示的图像对应的源图像数据54。如上所述，源图像数据54可使用任何合适的源格式(例如，8位定点αRGB格式、10位定点αRGB格式、16位定点αRGB格式、8位定点YCbCr格式、10位定点YCbCr格式、12位定点YCbCr格式等)来指示图像的一部分(例如，图像像素)的目标特性。在一些实施方案中，图像数据源38可被包括在处理器内核复合体18、图像处理电路27或它们的组合中。
如上所述，显示管线36可操作以处理从图像数据源38接收的源图像数据54。为了简化讨论，由显示管线36执行的功能(例如，操作)被划分在各种图像数据处理框56(例如，电路、模块或处理级)之间。应当理解，在此处使用术语“框”时，它们之间可以存在也可以不存在逻辑分离。例如，在所描绘的实施方案中，图像数据处理框56包括去γ处理框58、预烧补偿(BIC)/预烧统计值(BIS)框60和再γ处理框62，但这仅仅是可以作为显示管线36的一部分的各种部件的一个组织视图。此外，除此之外或另选地，图像数据处理框56可包括其他类型的图像处理，诸如环境自适应像素(AAP)框、动态像素背光(DPB)框、白点校正(WPC)框、子像素布局补偿(SPLC)框、面板响应校正(PRC)框、抖动框、子像素均匀度补偿(SPUC)框、内容帧依赖持续时间(CDFD)框、环境光感测(ALS)框等。
如将在下文更详细描述的那样，为了便于后续处理，去γ处理框58可接收γ校正的色彩空间中的图像数据(例如，γ编码)并将其转换为线性色彩空间中的图像数据(例如，线性编码)。γ编码是将导致电子显示器12的显示面板40以对人眼明显的方式显示像素亮度(例如，其中亮度水平通常以对数方式或指数方式增加)的编码类型，而线性编码是允许计算更简单(例如，其中亮度水平大致线性地增加)的编码类型。在由图像数据处理框56中的另一个处理源图像数据54之后，去γ处理框58可以接收由显示管线36的另一个图像数据处理框56处理的图像数据，或者可以直接接收源图像数据54。BIC/BIS框60可以对线性化的图像数据进行操作以减少或消除预烧效应，以及收集关于预期在电子显示器12上发生预烧的程度的图像统计值。再γ处理框62可以将现在补偿的线性图像数据重新编码回γ编码。由再γ处理框62输出的图像数据可以离开显示管线36，或者可以继续由显示管线36的图像数据处理框56中的其他框进一步处理。在任一种情况下，由显示管线36输出以在显示面板40上显示的所得的显示图像数据64可能遭受显著更少的预烧伪影或不存在预烧伪影。
在处理之后，显示管线36可以将显示图像数据64输出到显示面板40。至少部分地基于显示图像数据64，显示面板40可以将模拟电信号施加到电子显示器12的显示像素以显示一个或多个对应的图像。这样，显示管线36可便于在电子显示器12上提供信息的视觉表示。
为了帮助说明，在图7中描述了用于操作显示管线36的过程66的一个示例。一般来讲，过程66包括：从图像数据源38或从图像数据处理框56中的另一个框接收γ编码的图像数据(过程框68)；将γ编码的图像数据转换成线性图像数据(过程框70)；执行预烧补偿(BIC)和/或收集预烧统计值(BIS)(过程框72)；以及将所得的图像数据再转换成为显示预烧效应而补偿的γ编码的图像数据(过程框74)。在一些实施方案中，过程66可基于在显示管线36中形成的电路连接来实现。除此之外或另选地，在一些实施方案中，过程66可以通过使用处理电路诸如控制器处理器50执行存储在有形的非暂态计算机可读介质诸如控制器存储器52中的指令来整体地或部分地实现。
如图8所示，BIC/BIS框60可以被理解为包括预烧补偿(BIC)处理90和预烧统计值(BIS)收集处理92。BIC处理90可以从去γ处理框58接收线性图像数据，并且可以输出已针对电子显示器12上的不均匀子像素老化而进行了补偿的线性图像数据94。因此，当输出的线性图像数据94在再γ处理框62中转换成γ校正的色彩空间(例如，sRGB)并在电子显示器12上显示时，可以减少或消除预烧伪影。
BIS收集处理92可以分析输出的线性图像数据94的全部或一部分以生成预烧统计值(BIS)历史更新96，这表示增量更新，所述增量更新表示估计由于对应的先前BIS历史更新96而已经发生的增加量的子像素老化。尽管BIC处理90和BIS收集处理92被示为显示管线36的部件，但可以输出BIS历史更新96以供控制器42或其他软件(例如，电子设备10的操作系统、应用程序或固件)使用。控制器42或其他软件可以在计算增益图框98中使用BIS历史更新96来生成增益图100。增益图100可以是每颜色分量像素增益的二维(2D)图。例如，增益图100可以被编程到显示管线36中的2D查找表(LUT)中以供BIC处理90使用。
控制器42或其他软件(例如，电子设备10的操作系统、应用程序或固件)还可以包括计算增益参数框102。计算增益参数框102可以计算全局增益参数104，这些计算全局增益参数可以被提供给显示管线36以供BIC处理90使用。在本公开的示例中，这些参数包括归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c])，其可以根据某些全局显示亮度值和它们所应用的图像数据的颜色分量(例如，红色、绿色或蓝色)而变化。以下将进一步讨论全局增益参数104的这些特定示例。然而，应当理解，这些因子意味着是非限制性示例，并且全局增益参数104可以表示BIC处理90可以用来适当地调节增益图100的值以补偿预烧的任何合适的参数。
预烧补偿(BIC)处理
图9中示出了BIC处理90的更近视图。BIC处理90可包括上采样框110和应用增益框112。上采样框110可以接收增益图100并获得每分量像素增益值(α[c](x,y))以提供给应用增益框112。这里，当电子显示器12具有红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素时，c表示红色(r)、绿色(g)或蓝色(b)，但如果电子显示器12具有其他颜色的子像素(例如，RGBW显示器中的白色子像素)，则c可以包括其他颜色分量。(x,y)术语是指电子显示器12上像素的空间位置。上采样框110可以允许BIC处理90使用增益图100，如果需要，增益图的大小可以设定成具有比电子显示器12的大小更低的分辨率。当增益图100具有较低分辨率格式时，上采样框110可以基于每个像素来对增益图100的值进行上采样。下面将参考图10至图13进一步描述上采样框110的若干示例操作。
像素增益值(α[c](x,y))可具有任何合适的格式和精度。例如，像素增益值(α[c](x,y))的精度可以在每个分量8到12位之间，并且可以根据配置而变化。像素增益值(α[c](x,y))的MSb的对齐可以通过右移参数来配置(例如，利用默认值2和最大值7)。值0表示与小数点后的第一位对齐。对于默认值，增益值的MSb可以与小数点后的第四位对齐，从而有效地产生精度在u0.11和u0.15之间的增益，这对应于8到12位精度的读取值。
应用增益框112可以从去γ处理框58接收电子显示器12上的当前位置(x,y)的图像数据的当前输入子像素。这里，去γ处理框被示出为将14位每分量(bpc)γ编码的像素转换为18-bpc线性编码像素，但也可以使用任何合适的位深度。应用增益框112还可以获得从增益图100导出的每分量像素增益值(α[c](x,y))(其可以由上采样框110上采样)。应用增益框112还可以获得全局增益参数104(例如，归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c]))。应用增益框112可以根据全局增益参数104(例如，归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c]))将每分量像素增益值(α[c](x,y))应用于当前输入子像素。在一个示例中，应用增益框112可首先获得补偿值σ[c](x,y)：
σ[c](x,y)＝(1+α[c](x,y)*β[c])*η[c]＝η[c]+α[c](x,y)*βη[c]
其中α[c](x,y)表示来自读取的和/或上采样的增益图100的每分量像素增益值，β[c]表示用于电子显示器12的亮度设置的亮度适应因子，η[c]表示电子显示器12的亮度设置的归一化因子，并且βη[c]表示归一化的亮度适应因子(β[c]和η[c]的乘积)。补偿值σ[c](x,y)可以以任何合适的方式编码，包括无符号1.16位数、无符号1.17位数、无符号1.18位数、无符号1.19位数、无符号1.20位数、无符号1.21位数、无符号1.22位数、无符号1.23位数、无符号1.24位数、无符号1.25位数、无符号1.26位数、无符号1.27位数、无符号1.28位数等等。可将补偿值σ[c](x,y)截短至最大值为1.0。
可将补偿值σ[c](x,y)与线性化的子像素值相乘以获得补偿的子像素值。当补偿值σ[c](x,y)为无符号1.24数时，获得补偿的输出子像素值可以表示如下：
outlinear[c](x,y)＝(inlinear[c](x,y)*min(σ[c](x,y),224)+221)>>22
其中outlinear[c](x,y)表示补偿的输出子像素，并且inlinear[c](x,y)表示当前输入子像素。可以通过再γ处理框62将补偿的输出子像素转换回γ色彩空间。
在继续之前，现在讨论每分量亮度适应因子(β[c])和归一化因子(η[c])。可以在全局面板亮度发生变化时重新计算亮度适应因子(β[c])。亮度适应因子β[c]可以采用任何合适的形式，并且可以考虑电子显示器12的当前亮度设置(例如，可以在任何时间在电子显示器12上显示的最大亮度Lmax)。在一个示例中，亮度适应因子β[c]可以采用全局亮度(Lmax)的二阶多项式函数的形式：
在上面的亮度适应因子(β[c])的等式中，每颜色分量参数q0、q1和q2表示可以通过实验或建模获得的系数，并且可以取决于电子显示器12的特定特性。亮度适应因子(β[c])可以以任何合适的方式编码，包括无符号1.16位数、无符号1.17位数、无符号1.18位数、无符号1.19位数、无符号1.20位数、无符号1.21位数、无符号1.22位数、无符号1.23位数、无符号1.24位数、无符号1.25位数、无符号1.26位数、无符号1.27位数、无符号1.28位数等等。
另外，可以在全局面板亮度发生变化时重新计算归一化因子(η[c])。归一化因子可以基于每个分量进行计算，并且可以考虑所有信道的最大增益(αmax)：
ηR＝(1+αmax×βR)-1
ηG＝(1+αmax×βG)-1
ηB＝(1+αmax×βB)-1
归一化因子(η[c])可以以任何合适的方式编码，包括无符号1.16位数、无符号1.17位数、无符号1.18位数、无符号1.19位数、无符号1.20位数、无符号1.21位数、无符号1.22位数、无符号1.23位数、无符号1.24位数、无符号1.25位数、无符号1.26位数、无符号1.27位数、无符号1.28位数等等。在一些情况下，归一化因子(η[c])可以采用与亮度适应因子(β[c])相同的格式来编码。如上所述，全局增益参数104可包括归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c])。可以通过将亮度适应因子(β[c])乘以归一化因子(η[c])来获得归一化亮度适应因子(βη[c])。可以更新这些值并以任何合适的频率将其提供给应用增益框112。在一些情况下，归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c])可以每帧更新一次和/或每当全局亮度设置改变时(例如，每次最大亮度Lmax改变时)更新一次。在其他情况下，归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c])可以较不频繁地更新(例如，每帧一次、每5帧一次、每秒一次、每2秒一次、每5秒一次、每30秒一次、每分钟一次等等)。在一些情况下，归一化因子(η[c])和归一化亮度适应因子(βη[c])可以在电子显示器12的全局亮度设置已经改变超过至少阈值量时(例如，当最大亮度Lmax变化超过1尼特、超过2尼特、超过5尼特、超过10尼特、超过20尼特、超过50尼特、超过100尼特、超过200尼特等时)更新。阈值可以取决于电子显示器12的特性，并且可以被选择以表示对人眼来说明显的亮度的最小变化。
图10至图13描述了用以从增益图100中提取每分量像素增益值(α[c](x,y))的上采样框110。增益图100可以是全分辨率每子像素二维(2D)增益图，或者如果需要可以进行空间下采样以节省存储器和/或计算资源。当增益图100的尺寸小于电子显示器12的全分辨率时，上采样框可以对增益图100进行上采样以获得如上所述的每分量像素增益值(α[c](x,y))。增益图100可存储为多平面-平面帧缓冲器。当电子显示器12具有三个颜色分量(例如，红色、绿色和蓝色)时，增益图100可以存储为3平面帧缓冲器。当电子显示器具有其他数量的颜色分量时(例如，具有红色、绿色、蓝色和白色子像素的4分量显示器，或仅具有灰色子像素的单分量单色显示器)，增益图100可以存储有相应数量的平面。
增益图100的每个平面可以是电子显示器12的全空间分辨率，或者可以按照某个因子进行空间下采样(例如，按照大于1的某个因子下采样，诸如1.5、2、2.5、3、3.5、4、4.5、5、5.5、6、6.5、7、7.5、8或更多)。此外，空间下采样的量可以根据尺寸独立地变化，并且增益图100的每个平面的尺寸可以不同。以举例的方式，增益图100的第一颜色分量(例如，红色)平面可以在两个维度上(例如，在x维度和y维度上)以因子2进行空间下采样，增益图100的第二颜色分量(例如，绿色)平面可以在一个维度上(例如，x维度)以因子2进行空间下采样并且在另一维度上(例如，y维度)以因子4进行下采样，增益图100的第三颜色分量(例如，蓝色)平面可以在两个维度上(例如，在x维度和y维度上)以因子4进行空间下采样。另外，在一些示例中，可以在电子显示器12的全分辨率上将增益图100的平面下采样到可变范围。
在图10中示出增益图100的一个示例平面。图10中所示的增益图100的平面表示具有可变缩小尺寸的下采样映射，并且因此已经扩展以示出跨越各种增益值124的电子显示器12的总输入帧高度120和输入帧宽度122的放置。此外，在图10的示例中，增益图100的平面具有不均匀间隔的增益值124，但如上所述，增益图100的其他平面可以均匀地间隔开。
无论增益值124在x维度和y维度上均匀分布还是不均匀分布，上采样框110都可以执行插值以获得在增益值124的点之间的(x，y)位置处的子像素的增益值。下面将讨论双线性插值和最近邻插值方法。然而，可以使用任何合适形式的插值。
将关于增益值124之间的插值共同讨论图10至图12的示例。在图10的示例中，当增益图100的平面的当前插值区域126已经在该区域中在两个维度上以因子2下采样时，增益图100的平面的插值区域126包含与当前子像素位置128最接近的四个增益值124A、124B、124C和124D。图11示出了在该区域的两个维度上以因子4下采样的类似区域，图12示出了在x维度上以因子4下采样以及在y维度上以因子2下采样的类似区域。考虑每个颜色分量和/或区域的有效插值区域、面板类型、插值模式、相位和空间子采样因子，增益图100的平面和/或插值区域的大小可以由下式给出：
GainMapSize[c].Width＝ceil((ComponentWidth[c]+rx[c]-2)/rx[c])+1
GainMapSize[c].Height＝ceil((BicActiveRegion.Height+py[c]-bias[c]-1)/ry[c])+1
其中
·ComponentWidth[c]＝ceil(BicActiveRegion.Width/2，如果分量c为子采样的面板布局
·ComponentWidth[c]＝BicActiveRegion.Width，如果分量c不是子采样的面板布局
·rx[c]为沿着分量c的水平维度的空间子采样因子
·ry[c]为沿着分量c的垂直维度的空间子采样因子
·py[c]为对于分量c来说，垂直维度上以1/ry[c]为单位的相位
·bias[c]＝0，如果对于分量c来说，插值模式为双线性插值
·bias[c]＝ry[c]/2，如果对于分量c来说，插值模式为最近邻插值
上采样框110可以执行增益图100的读取平面的空间插值。当相对于电子显示器12的像素网格进行下采样时，增益图100的平面的空间移位可以通过在x维度和y维度的每一个上的可配置的初始插值相位(例如，下面给出的插值公式中的sx、sy的初始值)来支持。当增益图100的平面或插值区域进行空间下采样时，可以存在足够的增益值124数据点以用于随后的上采样，而无需在增益图100的平面的边缘处具有附加样本。支持双线性插值和最近邻插值。上采样因子和插值方法可以针对每个颜色分量单独配置。
下面提供用于双线性插值和最近邻插值方法的公式，但应当理解，可以使用任何其他合适的插值方法。双线性插值可如下进行：
αxy＝((α13*sx)+(α02*(rx–sx))+((rx*ry)>>1))>>log2(rx*ry),
其中
α02＝(α2*sy)+(α0*(ry–sy))；
α13＝(α3*sy)+(α1*(ry–sy))；
sx∈{0,…,(rx–1)},sy∈{0,…,(ry–1)}；
rx为沿水平维度的子采样因子；以及
ry为沿垂直维度的子采样因子。
最近邻插值可如下进行：
(sx<＝(rx>>1))&&(sy<＝(ry>>1))(描绘为粗线圆圈)：α0
(sx>(rx>>1))&&(sy<＝(ry>>1))(描绘为虚线圆圈)：α1
(sx<＝(rx>>1))&&(sy>(ry>>1))(描绘为细圆圈)：α2
(sx>(rx>>1))&&(sy>(ry>>1))(描绘为点圆圈)：α3
在一些情况下，由于面板布局，红色平面和蓝色可以水平地或垂直地子采样。例如，一些电子显示器12可以支持少于像素的每个分量的像素分组，例如具有一对红色像素和绿色像素以及一对蓝色像素和绿色像素的GRGB面板。在诸如此类的示例中，可以通过增益对上的复制对每个红色分量/蓝色分量进行上采样，如图13所示。在图13的示例中，偶数增益像素组142包括红色增益144和绿色增益146，奇数增益像素组148包括绿色增益150和蓝色增益152。因此，输出增益对可以包括：偶数增益像素组154，该偶数增益像素组包括红色增益144、绿色增益146和蓝色增益152，以及奇数增益像素组156，该奇数增益像素组包括红色增益144、绿色增益150和蓝色增益152。
预烧统计值(BIS)收集
如上面参考图8所讨论的那样，控制器42或其他软件(例如，电子设备10的操作系统、应用程序或固件)可以使用预烧统计值(BIS)来生成增益图100。由于增益图100用于降低没有经历多少老化的像素的最大亮度，从而与经历较多老化的其他像素匹配，因此增益图100补偿这些不均匀的老化效应，从而减少或消除电子显示器12上的预烧伪像。
因此，BIC/BIS框60的BIS收集处理92可以监视和/或建模由于发送到电子显示器12的图像数据和/或电子显示器12的温度而可能在电子显示器中发生的预烧效应。在生成BIS历史更新96时可以考虑这些因素中的一个或两个，该BIS历史更新被提供给控制器42或其他软件以生成增益图100。在图14所示的一个示例中，BIS收集处理92可以确定来自亮度老化查找表(LUT)172或其他计算结构的亮度老化因子170以及来自温度适应因子查找表(LUT)176或其他计算结构的温度适应因子174。亮度老化因子170和温度适应因子174可以在乘法器178中组合并由下采样框180下采样以生成BIS历史更新96。尽管BIS历史更新96被示出为在图14中具有7个每分量位(bpc)，但该值可以采用任何合适的位深度。
由于电子显示器12的像素在其寿命期间发射的亮度总量对该像素的老化具有明显影响，因此可以通过来自乘法器184的补偿的线性图像数据94和归一化的显示亮度182的乘积来确定亮度老化因子170，这在本公开中称为归一化的输入子像素in’[c]。由子像素的亮度发射引起的老化量可以被建模为亮度的函数，如下：
ul＝((L/Llimit)*inlinear[c])γ[c]，
其中L为当前帧的全局亮度，Llimit为帧的最大可能亮度，inlinear[c]为来自线性图像数据94的颜色分量c的线性化值(可以以任何合适的方式表示，诸如无符号0.20数)，并且γ[c]为可以取决于电子显示器12的特性的参数，并且可以通过实验或通过建模来确定。L/Llimit的值表示为归一化的显示亮度182，并且可由控制器42或其他软件来计算。在一个示例中，归一化亮度182表示为无符号1.18值。因此，乘法器184中的乘法实现：
in’[c]＝min((inlinear[c]*Lnorm+(1<<19))>>20,0x3ffff)。
功率函数可以通过亮度老化LUT 172在硬件中建模，该亮度老化LUT可以采用任何合适的形式。在一个示例中，亮度老化LUT 172表示65条目LUT，其条目均匀地分布在范围[0,218]中，并且其格式可以是无符号1.5值。亮度老化LUT 172可以是每颜色分量独立的，并且通过如上所计算的in’[c]索引。可以使用亮度老化LUT 172的条目之间的任何合适的插值，包括LUT条目之间的线性插值。下文概述了该过程的一个示例。在一个示例中，对于每个颜色分量：
rem＝in’&0xfff
idx＝in’>>12
low＝LUT[idx]
high＝LUT[idx+1]
ul＝(((4096-rem)*low)+(rem*high)+2048)>>12
得到亮度老化因子170(这里，示为u1)，可以考虑该亮度老化因子以对由于线性图像数据94引起的电子显示器12的每个子像素上的老化量进行建模。然而，不均匀的子像素老化不仅受到随时间发射的光总量的影响，而且还受到电子显示器12的子像素发光时电子显示器12的温度的影响。实际上，老化取决于温度，并且温度可以在电子显示器12上变化，这是由于在电子显示器12后面的各个位置处存在诸如处理器内核复合体18和其他发热电路的部件。
为了准确地确定电子显示器12上的局部温度的估计，可以使用二维(2D)温度网格188。图15中示出了这种2D温度网格188的示例，将在下面更详细地讨论。仍然考虑图14，拾取图块框190可以从当前选择的子像素的(x,y)坐标中选择2D温度网格188的特定区域(例如，图块)。拾取图块190还可以使用x维度上的网格点(grid_points_x)、y维度上的网格点(grid_points_y)、x方向上的网格点步(grid_step_x)以及y方向上的网格点步(grid_step_y)。可以调节这些值，如下面进一步讨论的。可以经由插值框192从2D温度网格188的所得区域中选择当前子像素温度值txy，这可以考虑当前选择的子像素的(x,y)坐标以及x维度上的网格步增量(grid_step_x[idx])的值和y维度上的网格步增量(grid_step_y[idy])的值。当前子像素温度值txy可以由温度适应LUT 176用来产生温度适应因子174，该温度适应因子指示可能由于当前子像素的当前温度而已发生的当前子像素的老化量。
图15中示出了二维(2D)温度网格188的示例。图15中的2D温度网格188示出了各种当前温度网格值204的电子显示器12的总输入帧高度200和输入帧宽度202的布置。可以使用任何合适的测量(例如，温度传感器)或建模(例如，由于电子设备10的各种电子部件的当前使用而导致的预期温度值)来填充当前温度网格值204。插值区域206表示2D温度网格188的区域，其界定当前子像素的当前空间位置(x,y)。可以在插值点208处找到当前子像素温度值txy。插值可以根据双线性插值、最近邻插值或任何其他合适形式的插值进行。
在一个示例中，二维(2D)温度网格188的可以将帧分成单独的区域(一个区域，其可以表示为在中心具有非边缘网格点的矩形区域)，或者等效地，针对电子显示器12限定17x17图块(一个图块，其可以表示为由四个邻近网格点限定的矩形区域，如插值区域206中所示)。因此，可以根据电子显示器12的任何合适的实验或建模来确定2D温度网格188。可以针对整个电子显示器12定义2D温度网格188，而不仅仅是当前活动区域。这可以允许温度估计更新独立于BIS/BIC更新而运行。此外，2D温度网格188可具有温度网格值204的不均匀分布，允许在电子显示器12的预期具有更大温度变化的区域中具有更高分辨率(例如，由于在电子显示器12后面具有更多数量的不同电子部件，它们可能由于可变使用而在不同时间独立地发热)。
为了在各种位置处适应更精细的分辨率，2D温度网格188可以是不均匀间隔的。在本公开中描述了两个独立的多条目1D向量(每个维度一个)，grid_points_x和grid_points_y，以表示温度网格值204。在图15的示例中，每个维度上有18个温度网格值204。然而，可以使用任何合适数量的温度网格值204。此外，虽然这些温度网格值在两个维度上显示的数量相等，但一些2D温度网格188可以每个维度具有不同数量的温度网格值204。插值区域206示出温度网格值204A、204B、204C和204D的矩形。温度网格值204可以以任何合适的格式表示，例如无符号8位、无符号9位、无符号10位、无符号11位、无符号12位、无符号13位、无符号14位、无符号15位、无符号16位等。诸如无符号13位表示法的值可允许最大面板尺寸为8191像素。可以假设第一个条目为0，因此可以是隐式的。完成此操作后，当总共有18个条目时，将仅编程接下来的17个条目。
此外，每个图块(例如，如插值区域206中所示)可以温度网格值204开始并且可以在下一个温度网格值204之前结束一个像素。因此，为了在硬件中进行均匀处理，至少一个温度网格值204(例如，最后一个)可以位于帧维度之外的一个像素的最小值处。并非所有温度网格值204都可以在所有情况下使用。例如，如果要将512x512的整个帧维度用作单个图块，则grid_points_x[0]和grid_points_y[0]可以各自编程为512。向量中的其他值可以定义为“不关心”，因为它们不会受到访问。连续温度网格值204之间的间距可以被限制为某些最小数量的像素(例如，8、16、24、48等数量的像素)和某些最大数量的像素(例如，512、1024、2048、4096等数量的像素)。两个向量grid_points_x和grid_points_y中的每一个中的所有点，一直到位于帧维度之外的点，都可以被编程为单调增加。
温度网格值204可以具有任何合适的格式。在一个示例中，温度网格值204可以表示为无符号6.2值。另外，再次参见图14，对于步长大小，每个维度的两个独立的多条目向量(例如，17条目向量)grid_step_x和grid_step_y可以用取决于对应图块大小的值编程。例如，grid_step_x可被编程为(1<<20)/(图块宽度)，并且grid_step_y可分别编程为(1<<20)/(图块高度)。对这些值进行编程可以避免硬件划分，从而节省芯片空间和其他资源。索引id_x和id_y以及当前偏移offset_x和offset_y可以保持在显示管线36的硬件中。每当输入位置沿相应维度递增1时，偏移可以增加grid_step_x[id_x]和grid_step_y[id_y]。当在相应维度上越过图块边界时，可以将偏移重置为0。偏移可以采用任何合适的值(例如，无符号0.16格式、无符号0.17格式、无符号0.18格式、无符号0.19格式、无符号0.20格式、无符号0.21格式、无符号0.22格式、无符号0.23格式、无符号0.24格式等)。可允许这些值在超过最大值时饱和。
基于当前x和y位置，可以用任何合适的插值形式计算插值温度txy。当使用四个周围网格点使用双线性插值时，位置(x,y)处的温度txy的计算可以如下面的伪代码中所概述的那样进行：
当前子像素温度值txy可用于计算有效区域内的像素的温度适应因子(ut)174，其预期随当前子像素温度值txy变化，如以下表达式所示：
ut＝χ(tref-txy)/10
其中χ是每颜色分量独立的参数，并且tref是所选择的参考温度。上述等式可以由温度适应LUT 176在硬件中建模。温度适应LUT 176可以具有任何合适数量的条目以对温度对像素老化的影响建模。在一个示例中，温度适应LUT 176是33条目LUT，其中条目均匀分布在由txy表示的温度范围内。LUT条目可以具有任何合适的精度，并且在至少一些示例中可以是无符号2.5值。可以使用任何合适形式的插值来确定LUT条目之间的值，例如线性插值。此外，温度适应LUT 176可以根据颜色分量而变化。实际上，对于每个颜色分量，温度适应LUT176可以包括若干独立的LUT。下面的伪代码概述了该过程的一个示例。即，对于每个颜色分量：
rem＝txy&0x7
idx＝txy>>3
low＝LUT[idx]
high＝LUT[idx+1]
ut＝(((8-rem)*low)+(rem*high)+4)>>3
如图14所示，完整的BIS历史更新96可以涉及亮度老化因子(ul)170和温度适应因子(ut)174相乘。乘法器178和下采样框180的示例操作可以如下进行：
u[c]＝(ul[c]*ut[c]+16)>>5
这里，所计算的8位历史更新可以写出为三个独立的平面，其中每个平面的基地址是字节对齐的(例如，128字节对齐)。在写出之前，根据面板的类型，为了在缓冲器中保持恒定的线宽，可以在适当的时候在线的末端插入零。此外，每像素的分量数可以从3到2进行下采样。这在图16的示例中表示，因为一些电子显示器12可以支持少于像素的每个分量的像素分组，例如具有一对红色像素和绿色像素以及一对蓝色像素和绿色像素的GRGB面板。在诸如此类的示例中，每对像素都可以丢弃红色分量/蓝色分量以形成历史更新对。在图16的示例中，偶数历史更新像素组220包括红色历史更新值222、绿色历史更新值224和蓝色历史更新值226，奇数历史更新像素组228包括红色历史更新值230、绿色历史更新值232和蓝色历史更新值234。为了对该对进行下采样，输出历史更新对因此可以包括：偶数历史更新像素组236，该偶数历史更新像素组包括红色历史更新值222和绿色历史更新值224；以及奇数历史更新像素组238，该奇数历史更新像素组包括红色历史更新值230和绿色历史更新值232。
通过在预烧统计值(BIS)历史更新96中编译和存储这些值，控制器42或其他软件可以确定电子显示器12上的不均匀像素老化的累积量。这可以允许确定可以抵消不均匀像素老化的影响的增益图100。通过在将输入像素提供给电子显示器12之前将增益图100的增益应用于输入像素，可以预先减少或消除可能另外出现在电子显示器12上的预烧伪像。因此，本公开的预烧补偿(BIC)和/或预烧统计值(BIS)可以在有效地使用电子设备10的资源的同时提供极大改善的用户体验。
虽然已经通过举例的方式示出了上述具体实施方案，但是应当理解，这些实施方案可以容许各种修改和替代形式。还应当理解，权利要求书不是旨在限于所公开的特定形式，而是旨在涵盖落在本公开的实质和范围内的所有修改形式、等同形式和替代形式。

Claims (21)

1.一种电子设备，包括：
电子显示器，所述电子显示器被配置为在用显示图像数据编程时显示图像；和
显示管线，所述显示管线被配置为接收图像数据并通过一个或多个图像处理块处理所述图像数据以获得所述显示图像数据，其中所述一个或多个图像处理块包括：
预烧补偿处理，所述预烧补偿处理被配置为根据一个或多个预烧补偿增益图将增益应用于所述图像数据的子像素，其中所述一个或多个预烧补偿增益图提供增益的二维映射，所述增益在应用于所述图像数据的所述子像素时，减小所述图像数据的至少一个所述子像素的增益以考虑到所述电子显示器上的子像素老化不均匀性，从而减少或消除原本在所述电子显示器用所述显示图像数据编程时出现在所述电子显示器上的预烧伪影；或者
预烧统计值收集处理，所述预烧统计值收集处理被配置为计算由于所述显示图像数据或所述电子显示器的区域的当前温度或两者而预期发生的像素老化的增量更新；或者
所述预烧补偿处理和所述预烧统计值收集处理两者。
2.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述电子显示器包括自发光电子显示器，所述自发光电子显示器具有由于亮度输出、温度或两者而不均匀老化的子像素。
3.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述一个或多个预烧补偿增益图至少包括对应于所述电子显示器的子像素的第一颜色分量的第一平面、对应于所述电子显示器的子像素的第二颜色分量的第二平面、以及对应于所述电子显示器的子像素的第三颜色分量的第三平面。
4.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述一个或多个预烧补偿增益图存储在所述显示管线能够访问的对应的一个或多个帧缓冲器中。
5.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述一个或多个预烧补偿增益图具有小于所述电子显示器的全分辨率的分辨率，并且其中所述预烧补偿处理被配置为在向所述图像数据的所述子像素施加所述增益之前对所述一个或多个预烧补偿增益图进行上采样。
6.根据权利要求5所述的电子设备，其中所述预烧补偿处理被配置为使用双线性插值对所述一个或多个预烧补偿增益图进行上采样。
7.根据权利要求5所述的电子设备，其中所述预烧补偿处理被配置为使用最近邻插值对所述一个或多个预烧补偿增益图进行上采样。
8.根据权利要求1所述的电子设备，包括被配置为与所述显示管线交互的处理器，其中所述处理器被配置为计算所述一个或多个预烧补偿增益图并将所述一个或多个预烧补偿增益图提供给所述显示管线。
9.根据权利要求8所述的电子设备，其中所述处理器被配置为根据所述电子显示器的亮度设置来计算适应所述一个或多个预烧补偿增益图的一个或多个全局增益参数，并且其中所述预烧补偿处理被配置为根据所述一个或多个预烧补偿增益图和所述一个或多个全局增益参数来将所述增益应用于所述图像数据的所述子像素。
10.根据权利要求9所述的电子设备，其中所述一个或多个全局增益参数包括基于允许应用于所述图像数据的所述子像素的最大增益的归一化因子。
11.根据权利要求8所述的电子设备，其中所述处理器被配置为至少部分地基于子像素老化的所述增量更新的累积来计算所述一个或多个预烧补偿增益图。
12.一种被配置为处理图像数据以用于在电子显示器上显示的电子显示管线，其中所述电子显示管线包括：
预烧补偿统计值收集处理电路，所述预烧补偿统计值收集处理电路被配置为至少部分地基于所述图像数据来收集图像统计值，其中所述统计值估计所述电子显示器的子像素的可能的非均匀老化量；和
预烧补偿处理电路，所述预烧补偿处理电路被配置为向所述图像数据的子像素应用增益以考虑到所述电子显示器的对应子像素的不均匀老化，其中所应用的增益至少部分地基于由所述预烧补偿统计值收集处理电路收集的所述图像统计值。
13.根据权利要求12所述的电子显示管线，其中所述预烧补偿处理电路被配置为基于存储在帧缓冲器中的增益图来向所述图像数据的所述子像素应用所述增益。
14.根据权利要求12所述的电子显示管线，其中所述预烧补偿处理电路和所述预烧补偿统计值收集电路被配置为对线性色彩空间中的所述图像数据进行操作。
15.根据权利要求14所述的电子显示管线，包括：
去伽玛处理块，所述去伽玛处理块被配置为接收伽玛色彩空间中的输入图像数据，将所述伽玛色彩空间中的所述输入图像数据转换成所述线性色彩空间中的所述图像数据，并将所述线性色彩空间中的所述图像数据提供给所述预烧补偿处理电路；和
再伽玛处理块，所述再伽玛处理块被配置为从所述预烧补偿处理电路接收所述线性色彩空间中的所述图像数据，并将所述线性色彩空间中的所述图像数据转换为所述伽玛色彩空间中的输出图像数据，以用于在所述电子显示管线中进一步处理或在所述电子显示器上显示。
16.一种方法，包括：
处理在显示管线中的图像数据帧以用于在电子显示器上显示；
在所述图像数据帧的至少一部分显示在所述电子显示器上之前分析所述显示管线中的所述图像数据帧的所述至少一部分，以估计至少部分地由于所述图像数据帧的所述部分而引起的所述电子显示器的子像素的可能的老化量；以及
累积所述电子显示器的子像素的所述老化量的历史，以识别所述电子显示器上的不均匀的子像素老化；以及
至少部分地基于所述电子显示器的子像素的所述老化量的累积历史来执行预烧补偿，以减少或消除所述电子显示器上的预烧伪像。
17.根据权利要求16所述的方法，其中分析所述图像数据帧的至少所述部分以估计所述电子显示器的子像素的可能的老化量包括估计当所述图像数据帧的至少所述部分在所述电子显示器上显示时由于所述电子显示器的子像素发出的亮度而引起的可能的老化量。
18.根据权利要求17所述的方法，其中估计由于所述电子显示器的所述子像素发出的亮度而引起的可能的老化量包括计算依据所述电子显示器的亮度设置而归一化的所述图像数据帧的至少所述部分的所述子像素之一的值的函数。
19.根据权利要求16所述的方法，其中分析所述图像数据帧的至少所述部分以估计所述电子显示器的子像素的可能的老化量包括估计当所述图像数据帧的至少所述部分在所述电子显示器上显示时由于所述电子显示器的温度而引起的可能的老化量。
20.根据权利要求16所述的方法，包括：
识别对应于所述图像数据帧的至少所述部分的所述电子显示器的所述子像素的位置处的局部温度；以及
估计至少部分地由于所述局部温度而引起的所述电子显示器的所述子像素的可能的老化量。
21.根据权利要求20所述的方法，其中识别所述局部温度包括从具有不均匀间隔的网格点的二维温度查找表获得温度值。
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