CN109313143A - 检查装置及生产管理方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 27
- 238000007726 management method Methods 0.000 title claims description 22
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 48
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 33
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 14
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 3
- 238000013139 quantization Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 14
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000002918 Fraxinus excelsior Nutrition 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000002956 ash Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6486—Measuring fluorescence of biological material, e.g. DNA, RNA, cells
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65B—MACHINES, APPARATUS OR DEVICES FOR, OR METHODS OF, PACKAGING ARTICLES OR MATERIALS; UNPACKING
- B65B57/00—Automatic control, checking, warning, or safety devices
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- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65B—MACHINES, APPARATUS OR DEVICES FOR, OR METHODS OF, PACKAGING ARTICLES OR MATERIALS; UNPACKING
- B65B55/00—Preserving, protecting or purifying packages or package contents in association with packaging
- B65B55/22—Immersing contents in protective liquids
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9072—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents with illumination or detection from inside the container
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/909—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
检测装置(1)包括光源(10)、摄像部(11)和检测部(13),其中,光源(10)朝向容器(20)的内表面照射激励光,摄像部(11)拍摄由于照射激励光而从异物发出的荧光的荧光图像,检测部(13)从由摄像部拍摄到的荧光图像中检测附着在容器的内表面上的异物,异物包含由于照射激励光而发出荧光的材料,检测部包括计算部(14)和调节部(15),计算部(14)计算被检查区域的平均亮度值,调节部(15)调节拍摄荧光图像摄像的拍摄条件,以保证平均亮度值落在事先设定的范围内。
Description
技术领域
本发明涉及一种检查装置及生产管理方法,该检查装置检查附着在容器内部的异物、残留物,该生产管理方法使用该检查装置管理向容器填充润滑剂的生产线。
背景技术
作为检查附着在容器内部的异物、残留物(以下简称为“异物”)的方法,专利文献1公开了一种如下方法,即:将照明灯和照相机插入铁桶中,并边用照明灯照亮铁桶内部,边用照相机拍摄铁桶内部,根据其拍摄图像检查附着在铁桶内部的异物等。
专利文献1:日本公开专利公报特开平9-288067号公报
发明内容
-发明要解决的技术问题-
然而,在边用照明灯照亮容器内部边用照相机拍摄容器内部时,照明灯在容器的内表面多次反射,这些反射成为强烈的噪声,因此难以根据由照相机拍摄的拍摄图像检测来自微小异物的反射光。
本发明的主要目的在于提供一种检查装置及生产管理方法。即使附着在容器内部的异物是微小异物,该检查装置也能够在不受到多次反射的影响的情况下检测附着的异物,该生产管理方法使用该检查装置管理向容器填充润滑剂的生产线。
-用以解决技术问题的技术方案-
本发明涉及一种检查装置,其用于检查附着在容器的内表面上的异物,所述检查装置包括:光源,其用于朝向容器的内表面照射激励光;摄像部,其拍摄由于照射激励光而从异物发出的荧光的荧光图像;以及检测部,其从由摄像部拍摄到的荧光图像中检测附着在容器的内表面上的异物。这里,异物包含由于照射激励光而发出荧光的材料,检测部包括:计算部,其基于由摄像部拍摄到的荧光图像计算被检查区域的平均亮度值,所述被检查区域是朝向容器的内表面照射的激励光照射到的区域;以及调节部,其调节拍摄荧光图像的拍摄条件,以保证由计算部计算出的平均亮度值落在事先设定的范围内。
本发明涉及一种生产管理方法,其用于管理向容器填充润滑剂的生产线,所述生产管理方法包括:清洗工序,在向容器填充润滑剂以前,清洗容器的内表面;以及检查工序,在进行清洗工序后,检查附着在容器的内表面上的残留物。这里,残留物包含由于照射激励光而发出荧光的材料,检查工序包括:朝向容器的内表面照射激励光的工序;拍摄由于照射激励光而从残留物发出的荧光的荧光图像的工序;基于已拍摄到的荧光图像计算被检查区域的平均亮度值的工序,所述被检查区域是朝向容器的内表面照射的激励光照射到的区域;以及从已拍摄到的荧光图像中检测附着在容器的内表面上的残留物的工序。调节荧光图像的拍摄条件,以保证计算出的平均亮度值落在事先设定的范围内。
-发明的效果-
根据本发明,能够提供一种检查装置及生产管理方法。即使附着在容器内部的异物是微小异物,该检查装置也能够在不受到多次反射的影响的情况下检测附着的异物,该生产管理方法使用该检查装置管理向容器填充润滑剂的生产线。
附图说明
图1是示意性地示出本发明的一实施方式的检查装置的结构的图。
图2(a)~图2(c)是曲线图,其示出在被检查区域中改变拍摄条件拍摄到的荧光图像的亮度值的变化情况。
图3是流程图,其示出检测附着在容器的内表面上的异物的步骤。
图4是曲线图,其示出将激励光照射到桶罐的内表面上而进行拍摄的荧光图像的亮度值的一例,在该桶罐的内表面上涂有防锈材料。
图5是流程图,其示出从荧光图像的亮度值中去除荧光不均匀的步骤。
图6(a)是示出拍摄桶罐的内表面而得到的荧光图像的一例的图,该桶罐的内表面上涂有防锈材料,图6(b)是示出针对图6(a)所示的荧光图像,检测附着在桶罐的内表面上的异物的检测结果的图。
图7(a)~图7(c)是曲线图,其示出在被检查区域中改变拍摄条件拍摄到的荧光图像的亮度值的变化情况。
图8是流程图,其示出本发明的另一实施方式的生产管理方法的工序。
具体实施方式
如果朝向容器的内表面照射的光的波长和异物由于照射该光而反应并辐射的光的波长不一样,则即使照射的光在容器的内表面上多次反射,通过检测具有不包括该光的波长成分的波长的光,也能够检测微小的异物,不受照射光的多次反射的影响。
例如,当附着在容器上的异物由有机物等发出荧光的材料形成时,朝向容器的内表面照射紫外线等激励光,检测由于照射激励光而从异物发出的荧光,即能够检测附着在容器上的微小的异物,不受激励光的多次反射的影响。
然而,如果在容器的内表面上涂有例如用于防锈的涂料,则因为涂料由包含有机物的材料制成,所以荧光也会从容器发出。由此,从异物发出的荧光和从容器的内表面发出的荧光混在一起,因此检测微小的异物并不是那么容易的。
本申请发明人发现以下情况而想到了本发明,该情况为:通过将从异物发出的荧光的荧光图像的拍摄条件调节在适当的范围内,即使发出荧光的材料涂布在容器的内表面上,也能够检测附着在容器上的微小的异物,不受来自容器的荧光的影响。
下面,参照附图对本发明的实施方式进行详细的说明。需要说明的是,本发明并不局限于以下实施方式。此外,能够在不脱离产生本发明的效果的范围的范围内,适当地加以改变。
图1是示意性地示出本发明的一实施方式的检查装置1的结构的图。
如图1所示,本实施方式的检查装置1是检查附着在容器20的内表面20A上的异物X的检查装置。需要说明的是,在容器20的内表面20A上涂有防锈材料。容器20的形状并没有特别限制,只要是具有产生多次反射的内侧空间的物体即可。这里,“具有内侧空间的物体”是指至少具有布置成彼此相向的内表面和/或布置成彼此相邻的内表面,并且在该内表面的内侧形成有内侧空间的物体,并且是指具有产生多次反射的内侧空间的物体。“具有内侧空间的物体”除了包括由有底箱体或筒状体构成的容器之外,还包括管道、槽体(通道)和屋脊形物体(带角物体)等。在以下说明中,将“具有内侧空间的物体”简称为“容器”。需要说明的是,在此,作为异物X的一个类型示出了由于照射激励光而发出荧光的异物的例子。
如图1所示,检查装置1包括光源10、摄像部11和检测部13,该光源部10朝向容器20的内表面20A照射激励光,该摄像部11拍摄由于照射激励光而从异物X发出的荧光的荧光图像,该检测部13从由摄像部11拍摄到的荧光图像中检测附着在容器20的内表面20A上的异物X。
光源10和摄像部11分别布置在容器20的内侧空间中,从光源10照射的激励光朝向箭头方向照射容器20的内表面20A的被检查区域R1、R2。由于照射激励光而从附着在被检查区域R1、R2的内表面20A上的异物X发出的荧光入射到摄像部11,摄像部11拍摄从异物X发出的荧光的荧光图像。
需要说明的是,将容器20的内表面20A被分割为数个区域,该数个区域即为被检查区域。图1中示例的被检查区域R1、R2包括容器20的侧面的一部分及底部的一部分。此外,光源10和摄像部11由连结部件12连结,使连结部件12移动、旋转,即能够设定被检查区域。
从光源10照射的激励光以倾斜角度照射容器20的内表面20A。此外,设定摄像部11相对于容器20的内表面20A的倾斜角度,以保证由摄像部11拍摄的被检查区域R1、R2位于光源10照射的区域的内侧。
在本实施方式中,附着在容器20的内表面上的异物X包含由于照射激励光而发出荧光的材料。例如,异物X包括:含有有机物的材料,或者有机物之外的发出荧光的材料(例如,部分半导体材料、部分矿物等)。
光源10除了能够使用照射紫外光的LED、激光器之外,还能够使用发出含有紫外光成分的光的汞灯、卤素照明等。此外,作为摄像部11能够使用包括如下摄像元件的摄像机,即:从异物X发出的荧光成分的波长包括在该摄像元件的受光灵敏度内。
检测部13包括计算部14和调节部15,该计算部14基于由摄像部11拍摄到的荧光图像计算被检查区域R1、R2的平均亮度值,所述被检查区域R1、R2是朝向容器20的内表面20A照射的激励光照射到的区域,该调节部15调节拍摄荧光图像的拍摄条件,以保证由计算部14计算出的平均亮度值落在事先设定的范围内。
检测部13还可以包括:处理部16、测量部17和判断部18,该处理部16对由摄像部11拍摄到的荧光图像进行平滑处理,该测量部17测量从由摄像部11拍摄到的荧光图像中测量异物X的附着个数和附着位置,该判断部18对由测量部17测得的异物X的附着个数与事先设定的基准值进行比较。
接下来,参照图2(a)~图2(c),说明在本实施方式中从由摄像部11拍摄到的荧光图像中检测附着在容器20的内表面20A上的异物X的原理。
图2(a)~图2(c)是曲线图,其示出在被检查区域中改变拍摄荧光图像的拍摄条件拍摄到的荧光图像的亮度值的变化情况。这里,让作为拍摄条件的曝光时间按照图2(a)、图2(b)、图2(c)的顺序缩短。在各个曲线图中,P1~P3示出来自异物X的荧光的亮度值,Q1~Q3示出由计算部14计算出的被检查区域的平均亮度值。需要说明的是,摄像部11具有256个灰度等级,亮度值零表示黑色,亮度值255表示白色。
如图2(a)所示,当曝光时间长时,平均亮度值Q1高,并且与来自异物X的荧光的亮度值P1的差值D1小。这是因为曝光时间过长,来自异物X的荧光量增多,异物X的亮度值P1接近摄像部11的灰度等级的上限(255)而饱和之故。
相对于此,如果缩短曝光时间,则如图2(b)所示,虽然平均亮度值Q2降低,但来自异物X的荧光的亮度值P2没怎么降低。这是因为异物X的亮度值P2没有饱和,由摄像部11能够准确地检测到异物X发出的荧光。因此,来自异物X的荧光的亮度值P2与平均亮度值Q2的差值D2增大。
然而,如果进一步缩短曝光时间,则如图2(c)所示,平均亮度值Q3进一步降低,并且来自异物X的荧光的亮度值P3也大幅度地降低。这是因为如果曝光时间过短,则来自异物X的荧光量过少,不能获得足够的亮度值P3之故。因此,来自异物X的荧光的亮度值P3与平均亮度值Q3的差值D3再次减小。
如上所述,如果曝光时间过长或者过短,来自异物X的荧光的亮度值与平均亮度值的差值就会减小,并且在某些情况下,来自异物X的荧光的亮度值会淹没在平均亮度值中。如果在这种拍摄条件下拍摄荧光图像,则难以辨别并检测来自异物X的荧光的亮度值。
另一方面,由调节部15调节拍摄荧光图像的拍摄条件(曝光时间),以保证由计算部14计算出的被检查区域的平均亮度值落在事先设定的范围内(即,落在适当范围内),由此能够辨别并检测来自异物X的荧光的亮度值。这样一来,即使在容器20的内表面20A上涂有发出荧光的材料,也能够检测附着在容器20的内表面20A上的微小的异物,不受来自容器20的内表面20A的荧光的影响。
需要说明的是,事先设定的平均亮度值的适当范围是在进行实际检查以前对下述两个值的差值是否在规定的值以上进行判断后,再设定的。所述两个值为:基于被检查区域包括异物X的荧光图像由计算部14计算出的平均亮度值与基于从异物X发出的荧光的荧光图像获得的亮度值。或者,也可以对是否能够充分地辨别来自异物X的荧光的亮度值进行判断后,再设定事先设定的平均亮度值。
这里,能够通过改变拍摄时间来调节平均亮度值,但除此之外,也能够通过改变拍摄荧光图像的摄像部11的增益(gain)或者照射激励光的光源10的照射量来调节平均亮度值。
图3是流程图,其示出使用本实施方式的检查装置1检测附着在容器20的内表面20A上的异物X的步骤。
首先,在步骤S1中,将光源10和摄像部11布置在容器20内部后,调节拍摄条件。该光源10照射激励光,该摄像部11拍摄由于照射激励光而从异物发出的荧光的荧光图像。
接下来,在步骤S2中,由摄像部11拍摄由于照射到容器20内部的激励光而发出的荧光的荧光图像。
接下来,在步骤S3中,基于由摄像部11拍摄到的荧光图像,由计算部14计算被检查区域的平均亮度值,该被检查区域是朝向容器20的内表面20A照射的激励光照射到的区域。
接下来,在步骤S4中,对由计算部14计算出的平均亮度值是否在适当范围内进行判断。例如,能够根据平均亮度值和来自异物的发光的亮度值之间是否存在下述程度的差距来进行该判断,在该程度下能够充分地辨别来自异物X的荧光的亮度值。
如果判断为平均亮度值不在适当范围内,则返回到步骤S1,重新调节拍摄条件。例如,如图2(a)~图2(c)所示,当平均亮度值过高时,缩短曝光时间,当平均亮度值过低时,延长曝光时间等,这样进行调节。
如上所述,在重新调节拍摄条件后,经过步骤S2、S3中的处理,在步骤S4中再次对平均亮度值是否在适当范围内进行判断。
当判断为平均亮度值在适当范围内时,在步骤S5中,从由摄像部11拍摄到的荧光图像中检测附着在容器20的内表面20A上的异物后,由测量部17测量异物的附着个数、附着位置。
当将容器20的内表面20A分割为多个被检查区域并进行拍摄时,对每个被检查区域反复进行步骤S1~S5的处理,检测容器20的内表面20A上的异物。
例如,当在容器20的内表面20A上涂有用于防锈的涂料时,如果存在涂布不均匀,也会导致荧光图像的亮度值出现偏差。此外,如果从容器20的内表面20A发出的荧光在其它表面上多次反射,则在此荧光图像的亮度值也出现偏差。当发生上述亮度值出现偏差的情况(以下称为“荧光不均匀”)时,异物的检测精度有可能降低。
例如,图4是曲线图,其示出朝向桶罐的内表面照射激励光,并由摄像部11拍摄到的荧光图像的亮度值的一例,在该桶罐的内表面上涂有防锈材料。
如图4所示,在被检查区域内,作为高于平均亮度值Q的亮度值,除了尖锐峰值P之外,还能够观察到相对较宽的峰值S1、S2。尖锐的峰值P是附着在桶罐的内表面上的异物引起的,而相对较宽的峰值S1、S2是在桶罐的内表面上产生多次反射而检测到的荧光不均匀所致的。因为上述荧光不均匀会根据容器或被检查区域的不同而不同,所以难以使荧光不均匀模式化并去除它。
于是,优选地,进一步将处理部16设置在检测部13中,该处理部16对由摄像部11拍摄到的荧光图像进行平滑处理,以便能够仅检测异物,不受上述荧光不均匀的影响。
图5是流程图,其示出从由摄像部11拍摄到的荧光图像的亮度值中去除荧光不均匀的步骤。
首先,在步骤S11中,由摄像部11拍摄由于从光源10照射到容器20内部的激励光而发出的荧光的荧光图像。
接下来,在步骤S12中,对由摄像部11拍摄到的荧光图像进行平滑处理。能够用已知的方法进行平滑处理,例如使用中值滤波器能够进行平滑处理。
接下来,在步骤S13中进行差分处理,在该差分处理中,去除由摄像部11拍摄到的荧光图像与经过了平滑处理的平滑图像之间的差分。由此,能够从由摄像部11拍摄到的荧光图像的亮度值中去除荧光不均匀。
而且,使用在步骤S13中求得的差分图像来进行二值化处理(步骤S14)。由此,从由摄像部11拍摄到的荧光图像中,只有异物的区域能够被提取,并且只有附着在容器20的内表面20A上的异物被检测出来,不受荧光不均匀的影响。
图6(a)是示出拍摄桶罐的内表面而得到的荧光图像的一例的图,在该桶罐的内表面上涂有防锈材料。这里,附图标记20A和20B分别表示桶罐的侧面20A和底部20B。在用线C1、C2围起来的视野中,被检查区域被分割为区域A1~A7和底部20B。
图6(b)是示出针对图6(a)所示的荧光图像,按照在图3中示出的步骤检测附着在桶罐的内表面上的异物的检测结果的图。这里,通过将桶罐的侧面20A展开到被检查区域中来获得用附图标记A1~A7表示的区域。如图6(b)所示,在区域A2、A3、A6和底部20B检测到微小的异物X,在区域A4检测到很多伪异物K。在该区域A4中,存在将桶罐的侧面20A接合起来的接合部M,来自该接合部M的荧光非常多,所以该接合部M被作为伪异物K检测出来。
为了避免将上述伪异物K作为异物检测出来,优选地,检测部13还包括判断部18,该判断部18对由测量部17测得的异物的附着个数与事先设定的基准值进行比较。判断部18针对每个被检查区域分别改变事先设定的基准值(即,根据每个被检查区域优化并设定的基准值)并与由测量部17测得的异物的附着个数进行比较。例如,在图6(b)所示的示例中,将区域A4的基准值设定为高于其它区域A1~A3、A5~A7的基准值。这样一来,在区域A4,能够避免将伪异物K作为异物检测出来。或者,有时从被检查区域中排除区域A4。需要说明的是,在没有伪异物K的区域,可以将基准值设定为零,这样一来,能够做到:只要检测到一个异物,就判断为异常。
此外,在存在伪异物K的区域A4,平均亮度值也高。因此,调节拍摄条件,以保证该区域A4的平均亮度值低于其它区域A1~A3、A5~A7的平均亮度值,由此在区域A4能够避免将伪异物K作为异物检测出来。
如上所述,当在被检查区域中存在平均亮度值不同的区域时,优选地,针对每个被检查区域分别调节拍摄荧光图像的拍摄条件,以保证平均亮度值落在事先设定的范围内。其中,所述被检查区域是朝向容器的内表面照射的激励光照射到的区域。这样一来,能够以良好的精度检测异物。
如用图2(a)~图2(c)所说明的那样,通过调节拍摄荧光图像的拍摄条件,即使在容器20的内表面20A上涂有发出荧光的材料,也能够检测附着在容器20的内表面20A上的微小的异物,不受来自容器20的内表面20A的荧光的影响。
与此同样的原理,即使附着在容器20的内表面20A上的异物是由照射激励光不发荧光的材料(例如,金属或无机物)形成的,也能够从由摄像部11拍摄到的荧光图像中检测不发荧光的异物(第二异物)X2。下面,参照图7(a)~图7(c)说明其原理。
这里,图7(a)~图7(c)是曲线图,其示出在改变作为拍摄荧光图像的拍摄条件的曝光时间时,被检查区域的荧光图像的亮度值的变化情况。让曝光时间按照图7(a)、图7(b)、图7(c)的顺序缩短。此外,在各个曲线图中,T1~T3示出来自第二异物X2的荧光的亮度值,Q1~Q3示出由计算部14计算出的被检查区域的平均亮度值。
如图7(a)所示,当曝光时间长时,平均亮度值Q1高,并且与来自第二异物X2的荧光的亮度值T1的差值D1小。这是因为曝光时间过长,平均亮度值Q1饱和,来自第二异物X2的荧光量多,来自第二异物X2的亮度值T1接近摄像部11的灰度等级的上限(255)之故。
相对于此,如果缩短曝光时间,则如图7(b)所示,平均亮度值Q2变低,但来自第二异物X2的荧光的亮度值T2降低得更多。这是因为平均亮度值Q2没有饱和,由摄像部11能够准确地检测到被检查区域发出的荧光之故。因此,来自第二异物X2的荧光的亮度值T2与平均亮度值Q2的差值D2增大。
然而,如果进一步缩短曝光时间,则如图7(c)所示,平均亮度值Q3进一步降低,而来自第二异物X2的荧光的亮度值T3不那么降低。这是因为曝光时间过短,来自第二异物X2的荧光量过少,亮度值T3接近摄像部11的灰度等级的下限(0)之故。因此,来自异物X2的荧光的亮度值T3与平均亮度值Q3的差值D3再次减小。
如上所述,当曝光时间过长或过短时,来自第二异物X2的荧光的亮度值与平均亮度值的差值会减小,并且在某些情况下,来自第二异物X2的荧光的亮度值会淹没在平均亮度值中。当在这样的拍摄条件下拍摄荧光图像时,难以辨别并检测来自第二异物X2的荧光的亮度值。
另一方面,调节拍摄荧光图像的拍摄条件(曝光时间),以保证由计算部14计算出的被检查区域的平均亮度值落在事先设定的范围内,从而能够辨别并检测来自第二异物X2的荧光的亮度值。由此,即使在容器20的内表面20A上涂有发出荧光的材料,并且不发荧光的异物(第二异物)X2附着在该材料上,也能够检测附着在容器20的内表面20A上的第二异物X2,不受来自容器20的内表面20A的荧光的影响。
需要说明的是,上述拍摄条件是根据预先设想的异物适当地进行设定的。例如,可以将当在另一个容器中检测相同或类似的异物时所使用的拍摄条件用作临时的条件。
或者,当存在多种异物,并且被拍摄为亮点的异物和被拍摄为暗点的异物混在一起时,优选预先调节好拍摄条件,以保证平均亮度值落在亮度值为最大亮度值BM的1/4~3/4的范围内。
(本发明的其它实施方式)
如上所述,本发明的检查装置1能够做到:即使在容器20的内表面20A上涂有发出荧光的材料,也检测附着在容器20的内表面20A上的微小的异物,不受来自容器20的内表面20A的荧光的影响。因此,在向容器20填充润滑剂的生产线上,在向容器20填充润滑剂之前,使用该检查装置1能够定量地检测附着在清洗后的容器20的内表面20A上的残留物。这样一来,通过对检测出的残留物的附着个数与事先设定的基准值进行比较,能够判断清洗良否。
图8是流程图,其示出本发明的另一实施方式的生产管理方法的工序。需要说明的是,本实施方式中的生产管理方法应用于向桶罐等容器填充润滑剂的生产线。
在步骤S21中,在向容器20填充润滑剂之前清洗容器20。需要说明的是,在容器20的内表面20A上涂有防锈材料。由于该防锈材料由包含有机物的材料形成,因而当将激励光照射到容器20的内表面20A上时发出荧光。
接下来,在步骤S22~步骤S26中,按照与图3中说明的步骤S1~S5相同的处理,对残留在清洗后的容器20的内表面20A上的残留物进行计数。
接下来,在步骤S27中,对残留物的个数与事先设定的基准值进行比较,以判断清洗良否。如果残留物的个数多于事先设定的基准值,则判断为清洗不良,重新进行容器的清洗工序(步骤S21)。如果残留物的个数少于事先设定的基准值,则向容器20填充润滑剂(步骤S28)。
根据本实施方式的生产管理方法,在向容器20填充润滑剂之前,能够定量地检测清洗后附着并残留在容器20内部的残留物的个数,因此能够准确地判断清洗工序良否。由此,能够防止异物混入到已填充在容器20内的润滑剂中,并且能够进行质量优异的生产管理。
特别是,向容器填充润滑剂时,如果在容器20内部混有异物或者由于清洗不充分,异物残留在容器20内部,则通过填充润滑剂而完成的产品会由于混入的异物对质量带来很大的不利影响。因此,避免异物混入是必不可少的。由于润滑剂通常处于液态或半固态,因而即使一旦异物混入润滑剂中,考虑到生产工序或与去除相关的成本,实质上也无法去除该异物。因此,虽然将本装置用于除了供填充润滑剂的容器以外的填充用容器中是有用的,但如上所述,如果异物混入润滑剂中,则难以去除异物,因而特别是对于供填充润滑剂的容器,使用根据本发明的检查装置1并应用根据本发明的生产管理方法是非常有用的。
综上所述,用优选实施方式说明了本发明,不过,上述记载并不是限定事项,当然可以加以各种修改。
例如,在上述实施方式中将紫外光用作激励光,但在待检查的异物只要是由于照射可见光而发出荧光的异物的情况下,都可以将可见光用作激励光。
在上述实施方式中,对在容器20的内表面20A上涂有由于照射激励光而发出荧光的材料的例子进行了说明。不过,容器20也可以由由于照射激励光而发出荧光的材料制成。此外,即使当容器20本身由照射激励光不发荧光的材料制成时,也在由于使用了容器20而容器20的内表面20A随着时间的推移变成发出荧光的状态的情况下,本发明能够发挥效果。
-符号说明-
1 检查装置
10 光源
11 摄像部
12 连结部件
13 检测部
14 计算部
15 调节部
16 处理部
17 测量部
18 判断部
20 容器
Claims (12)
1.一种检查装置,其用于检查附着在容器的内表面上的异物,所述检查装置的特征在于:包括:
光源,其用于朝向所述容器的内表面照射激励光,
摄像部,其拍摄由于照射所述激励光而从所述异物发出的荧光的荧光图像,以及
检测部,其从由所述摄像部拍摄到的荧光图像中检测附着在所述容器的内表面上的异物,
所述异物包含由于照射激励光而发出荧光的材料,
所述检测部包括:
计算部,其基于由所述摄像部拍摄到的荧光图像计算被检查区域的平均亮度值,所述被检查区域是朝向所述容器的内表面照射的激励光照射到的区域,以及
调节部,其调节拍摄所述荧光图像的拍摄条件,以保证由所述计算部计算出的平均亮度值落在事先设定的范围内。
2.根据权利要求1所述的检查装置,其特征在于:
在所述容器的内表面上涂有由于照射激励光而发出荧光的材料,或者所述容器由由于照射激励光而发出荧光的材料制成。
3.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
所述检测部还包括处理部,所述处理部对由所述摄像部拍摄到的荧光图像进行平滑处理,
所述检测部使用差分图像检测附着在所述容器的内表面上的异物,所述差分图像是由所述摄像部拍摄到的荧光图像与经过了所述平滑处理的平滑图像的差分图像。
4.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
所述检测部还包括测量部,所述测量部从由所述摄像部拍摄到的荧光图像中分别测量附着在所述容器的内表面上的异物的附着位置和异物的附着个数。
5.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
用量化后的亮度值测量由所述摄像部拍摄到的荧光图像,
所述调节部事先调节拍摄所述荧光图像的拍摄条件,以保证所述平均亮度值落在亮度值为最大亮度值BM的1/4~3/4的范围内。
6.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
当存在多个被检查区域时,针对每个被检查区域分别调节拍摄所述荧光图像的拍摄条件,以保证所述平均亮度值落在事先设定的范围内,所述被检查区域是朝向所述容器的内表面照射的激励光照射到的区域。
7.根据权利要求4所述的检查装置,其特征在于:
所述检测部还包括判断部,所述判断部对由所述测量部测得的异物的附着个数与事先设定的基准值进行比较,
当存在多个被检查区域时,所述判断部针对每个被检查区域分别改变事先设定的所述基准值并与由所述测量部测得的异物的附着个数进行比较,其中,所述被检查区域是朝向所述容器的内表面照射的激励光照射到的区域。
8.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
所述异物还包括由照射激励光不发荧光的材料形成的第二异物,
所述调节部针对所述第二异物调节拍摄所述荧光图像的拍摄条件,以保证由所述计算部计算出的平均亮度值落在事先设定的范围内。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的检查装置,其特征在于:
所述容器是供填充润滑剂的填充用容器。
10.一种生产管理方法,其用于管理向容器填充润滑剂的生产线,所述生产管理方法的特征在于:包括:
清洗工序,在向所述容器填充润滑剂以前,清洗所述容器的内表面,以及检查工序,在进行所述清洗工序后,检查附着在所述容器的内表面上的残留物,
所述残留物包含由于照射激励光而发出荧光的材料,
所述检查工序包括:
朝向所述容器的内表面照射激励光的工序,
拍摄由于照射所述激励光而从所述残留物发出的荧光的荧光图像的工序,
基于已拍摄到的所述荧光图像计算被检查区域的平均亮度值的工序,所述被检查区域是朝向所述容器的内表面照射的激励光照射到的区域,以及
从已拍摄到的所述荧光图像中检测附着在所述容器的内表面上的残留物的工序,
调节所述荧光图像的拍摄条件,以保证计算出的所述平均亮度值落在事先设定的范围内。
11.根据权利要求10所述的生产管理方法,其特征在于:
所述检查工序还包括:
从已拍摄到的所述荧光图像中测量附着在所述容器的内表面上的残留物的个数的工序,以及
对测量出的所述残留物的个数与事先设定的基准值进行比较,以判断所述清洗工序的清洗良否。
12.根据权利要求10或11所述的生产管理方法,其特征在于:
在所述容器的内表面上涂有防锈材料。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016117273A JP6775332B2 (ja) | 2016-06-13 | 2016-06-13 | 検査装置および生産管理方法 |
JP2016-117273 | 2016-06-13 | ||
PCT/JP2017/017010 WO2017217127A1 (ja) | 2016-06-13 | 2017-04-28 | 検査装置および生産管理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109313143A true CN109313143A (zh) | 2019-02-05 |
CN109313143B CN109313143B (zh) | 2021-04-20 |
Family
ID=60663083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201780036157.1A Active CN109313143B (zh) | 2016-06-13 | 2017-04-28 | 检查装置及生产管理方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10766654B2 (zh) |
JP (1) | JP6775332B2 (zh) |
CN (1) | CN109313143B (zh) |
WO (1) | WO2017217127A1 (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110779930A (zh) * | 2019-10-28 | 2020-02-11 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 真空机台内发光材料废料量检测装置 |
CN112601636A (zh) * | 2019-08-01 | 2021-04-02 | 株式会社松浦机械制作所 | 机床的工作监视系统 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6988592B2 (ja) * | 2018-03-13 | 2022-01-05 | オムロン株式会社 | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム |
JP7418274B2 (ja) | 2020-04-17 | 2024-01-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 異物検査システム、異物検査方法、プログラム及び半導体製造装置 |
DK180934B8 (en) | 2021-04-09 | 2022-07-01 | Teknologisk Inst | Objective cleaning control in a food manufacturing setting |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1457426A (zh) * | 2001-03-06 | 2003-11-19 | 东丽株式会社 | 显示板的检查方法和检查装置以及制造方法 |
JP2008014652A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Omron Corp | 異物検査装置、異物検査方法、プログラム、及び記録媒体 |
CN102725703A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-10-10 | 埃克森美孚研究工程公司 | 用于优化散装产品混合和包装车间的性能指标的方法和装置 |
JP2016099149A (ja) * | 2014-11-19 | 2016-05-30 | 東レエンジニアリング株式会社 | 検査装置及び生産管理方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09288067A (ja) | 1996-04-24 | 1997-11-04 | Nittetsu Drum Kk | ドラム缶内検査方法および装置 |
JP2001029313A (ja) * | 1999-05-18 | 2001-02-06 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡装置 |
US6902527B1 (en) | 1999-05-18 | 2005-06-07 | Olympus Corporation | Endoscope system with charge multiplying imaging device and automatic gain control |
JP2002298132A (ja) * | 2001-04-02 | 2002-10-11 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 撮像システム,撮像システム制御プログラムおよび電気部品装着システム |
US7479215B2 (en) * | 2002-01-24 | 2009-01-20 | Scimist, Inc. | Mediated electrochemical oxidation of halogenated hydrocarbon waste materials |
JP4814529B2 (ja) * | 2005-02-16 | 2011-11-16 | Hoya株式会社 | 画像処理装置 |
JP5543129B2 (ja) * | 2009-04-28 | 2014-07-09 | Jx日鉱日石エネルギー株式会社 | スケジューリング装置 |
DE102009039698A1 (de) * | 2009-09-02 | 2011-03-10 | Krones Ag | Behältnisbehandlung mit Verschmutzungserkennung |
US8964177B2 (en) * | 2012-04-27 | 2015-02-24 | Wyatt Technology Corporation | Method and apparatus to illuminate sample and containing vessel in a light scattering detector |
JP6120405B2 (ja) * | 2013-05-30 | 2017-04-26 | 株式会社プレックス | 布類検査装置 |
DE102014217771B4 (de) * | 2014-09-05 | 2023-05-04 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle transparenter Objekte |
-
2016
- 2016-06-13 JP JP2016117273A patent/JP6775332B2/ja active Active
-
2017
- 2017-04-28 CN CN201780036157.1A patent/CN109313143B/zh active Active
- 2017-04-28 US US16/309,429 patent/US10766654B2/en active Active
- 2017-04-28 WO PCT/JP2017/017010 patent/WO2017217127A1/ja active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1457426A (zh) * | 2001-03-06 | 2003-11-19 | 东丽株式会社 | 显示板的检查方法和检查装置以及制造方法 |
JP2008014652A (ja) * | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Omron Corp | 異物検査装置、異物検査方法、プログラム、及び記録媒体 |
CN102725703A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-10-10 | 埃克森美孚研究工程公司 | 用于优化散装产品混合和包装车间的性能指标的方法和装置 |
JP2016099149A (ja) * | 2014-11-19 | 2016-05-30 | 東レエンジニアリング株式会社 | 検査装置及び生産管理方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112601636A (zh) * | 2019-08-01 | 2021-04-02 | 株式会社松浦机械制作所 | 机床的工作监视系统 |
CN110779930A (zh) * | 2019-10-28 | 2020-02-11 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 真空机台内发光材料废料量检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10766654B2 (en) | 2020-09-08 |
CN109313143B (zh) | 2021-04-20 |
WO2017217127A1 (ja) | 2017-12-21 |
US20190308762A1 (en) | 2019-10-10 |
JP2017223474A (ja) | 2017-12-21 |
JP6775332B2 (ja) | 2020-10-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |