CN109312952B

CN109312952B - 开闭盖检测装置

Info

Publication number: CN109312952B
Application number: CN201680086738.1A
Authority: CN
Inventors: 青岛琢磨
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2016-06-21
Filing date: 2016-06-21
Publication date: 2021-05-07
Anticipated expiration: 2036-06-21
Also published as: CN109312952A; WO2017221326A1; JP6599004B2; JPWO2017221326A1

Abstract

本发明的开闭盖检测装置(102)具备：显示基板(105)，其具有用于对开闭盖(101)的收纳位置进行检测的传感器(104)；以及控制基板，其与由显示基板(105)所检测出的开闭盖(101)的收纳位置对应地控制通气口的开闭。

Description

开闭盖检测装置

技术领域

本发明涉及对开闭盖的开闭情况进行检测的开闭盖检测装置。

背景技术

在以往技术中，作为对门、门扇、面板以及卷帘门这样的开闭盖的开闭情况进行检测的检测控制，公知有使用了传感器的电子电路装置。开闭盖的开闭是与传感器所测定的测定值对应地检测出的。

在以往技术中，公开如下的技术：使用对马达的磁力进行检测的磁阻元件来检测对排出口进行开闭的门的位置(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开昭61-276654号公报

然而，在以往技术中，连接有控制器，该控制器具有输出与马达的磁通的变化对应的电压的磁阻元件以及对从磁阻元件输出的电压进行整形而生成脉冲信号的波形整形电路。因此，在以往技术中，各电子部件的布线数较多，用于布线的布线空间大型化。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于得到能够抑制布线数的开闭盖检测装置。

为了解决上述的课题并实现目的，本发明的开闭盖检测装置具备：显示基板，该显示基板具有用于对开闭盖的收纳位置进行检测的传感器；以及控制基板，该控制基板与由第1传感器检测出的开闭盖的收纳位置对应地控制通气口的开闭。

根据本发明，实现如下的效果，即：得到能够抑制布线数的开闭盖检测装置。

附图说明

图1是示出具备实施方式1的开闭盖检测装置的检测对象设备的立体图。

图2是示出实施方式1的检测对象设备的开闭盖的闭口时和开口时的动作的图。

图3是示出图2所示的剖面III-III的开闭盖检测装置的放大剖面的图。

图4是示出图2所示的剖面IV-IV的检测对象设备的剖面的图。

图5是示出实施方式1的传感器与检测对象部件的配置关系的图。

图6是示出具备实施方式1的变形例的开闭盖检测装置的检测对象设备的图。

图7是示出图6所示的剖面VI-VI的检测对象设备的剖面的图。

图8是示出实施方式2的第1传感器、第2传感器、第1检测对象部件以及第2检测对象部件的配置关系的图。

图9是示出具备实施方式3的开闭盖检测装置的检测对象设备的图。

图10是示出图9所示的剖面VIII-VIII的检测对象设备的剖面的图。

图11是示出实施方式3的第1传感器、第2传感器以及第1检测对象部件的配置关系的图。

图12是示出实施方式3的开闭盖检测装置所具备的显示基板的图。

图13是示出图12所示的剖面X-X的显示基板的剖面的图。

具体实施方式

以下，基于附图对本发明的实施方式的开闭盖检测装置详细地进行说明。另外，本发明不限于本实施方式。

实施方式1.

图1是示出具备实施方式1的开闭盖检测装置102的检测对象设备103的立体图。检测对象设备103是具有用于对通气口100进行开闭的开闭盖101的空调装置或者空气净化器这样的设备。通气口100是由框部107形成的空间。检测对象设备103具备开闭盖101和开闭盖检测装置102。开闭盖101在通气口100的开口时，收纳在检测对象设备103的内部。在开闭盖101搭载有检测对象部件109。在开闭盖检测装置102所具备的显示基板105搭载有传感器104。传感器104只要能够检测开闭盖101的收纳位置即可，列举出磁性传感器或者接触式传感器。检测对象部件109只要能够由传感器104检测出即可，列举出磁铁或者导电体。

图2示出了开闭盖101对由框部107形成的空间、亦即通气口100进行开闭的情况下的动作。通气口100是由框部107围起的部分。开闭盖101被配置为在通气口100的闭口时，检测对象设备103的前表面与开闭盖101的前表面位于同一面。在通气口100的开口时，开闭盖101的前表面向面对开闭盖检测装置102的背面的位置移动而使开闭盖101收纳在检测对象设备103的内部。

图3是图2的III-III剖面的开闭盖检测装置102的放大剖视图。开闭盖检测装置102具备传感器104、显示基板105以及控制基板108。控制基板108通过布线而与显示基板105连接。显示基板105是显示从控制基板108输出的信息的基板。

图4是图2的IV-IV剖视图。显示基板105搭载有用于对检测对象部件109进行检测的传感器104。传感器104设置于如下范围，即：在用于对图2所示的通气口100进行开闭的开闭盖101的动作中，能够对检测对象部件109进行检测的范围内。图5是示出传感器104与检测对象部件109的配置关系的图。传感器104具有用于对检测对象部件109进行检测的检测范围106。传感器104设置于在检测范围106的范围内能够对检测对象部件109进行检测的位置。传感器104具有图5所示的构造，从而能够与有无检测出检测对象部件109相对应地来检测开闭盖101的收纳。

在实施方式1中，在开闭盖检测装置102中具备搭载有传感器104的显示基板105，从而与以往技术相比，减少使基板与传感器电连接的布线的数量。另外，在实施方式1中，与以往技术相比，通过减少使基板与传感器电连接的布线数，从而能够实现布线空间的减少。

实施方式2.

图6是示出具备实施方式1的变形例的开闭盖检测装置202的检测对象设备203的图。开闭盖检测装置202所具有的显示基板207具备第1传感器206和第2传感器208。开闭盖201具备第1检测对象部件205和第2检测对象部件209。第1传感器206和第2传感器208只要能够检测开闭盖201的收纳位置即可，列举出磁性传感器或者接触式传感器。第1检测对象部件205和第2检测对象部件209只要能够由第1传感器206和第2传感器208检测出即可，列举出磁铁或者导电体。图6所示的通气口200是由框部204形成的空间，是由框部204围起的部分。对通气口200进行开闭的开闭盖201的收纳动作与图2所示的开闭盖101的收纳动作相同。这里，如图6所示，实施方式2的检测对象设备203是以设置成检测对象设备203的长边方向、亦即纵长的状态的姿势来使用的。图7是图6所示的剖面VI-VI的检测对象设备203的剖视图。图7所示的检测对象设备203与图6同样，设置成检测对象设备203的长边方向、亦即纵长的状态。检测对象设备203的前表面是具有通气口200和开闭盖检测装置202的面。检测对象设备203的背面是与检测对象设备203的前表面以检测对象设备203在内部什么都没有的状态对置的面。检测对象设备203的下表面是在将检测对象设备203设置于地面的情况下的接地的面。检测对象设备203的上表面是与检测对象设备203的下表面以检测对象设备203在内部什么都没有的状态对置的面。

如图7所示，位于框部204的框内的开闭盖201朝向检测对象设备203的背面侧移动。开闭盖201只要能够至少朝向检测对象设备203的背面侧移动了与检测对象设备203的前表面侧的厚度对应的量即可。朝向背面侧移动的开闭盖201朝向检测对象设备203的下表面移动到显示基板207所具备的第2传感器208的检测范围。第1传感器206沿着开闭盖201朝向检测对象设备203的下表面移动时的移动方向而搭载于显示基板207的上端。第2传感器208沿着开闭盖201朝向检测对象设备203的下表面移动时的移动方向而搭载于显示基板207的下端。第1传感器206设置在能够检测到第2检测对象部件209的范围内。第2传感器208设置在能够检测到第1检测对象部件205的范围内。

图8是示出第1传感器206、第2传感器208、第1检测对象部件205以及第2检测对象部件209的配置关系的图。第1传感器206具有用于检测第2检测对象部件209的检测范围400。第2传感器208具有用于检测第1检测对象部件205的检测范围401。第1传感器206设置于在检测范围400的范围内能够检测到第2检测对象部件209的位置。第2传感器208设置于在检测范围401的范围内能够检测到第1检测对象部件205的位置。第1传感器206和第2传感器208具有图8所示的构造，从而能够与有无检测到第1检测对象部件205和第2检测对象部件209相对应地来检测图7所示的开闭盖201的收纳。

在实施方式2中，在开闭盖检测装置202中具备搭载有第1传感器206和第2传感器208的显示基板207，从而与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数。另外，在实施方式2中，与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数，从而能够实现布线空间的减少。

实施方式3.

在实施方式3中，使用图6所示的开闭盖检测装置202的结构来进行说明。在实施方式3中，图6所示的第1传感器206和第2传感器208是使用了MR(Magneto Resistive：磁阻)元件或者霍尔元件这样的检测元件的磁性传感器。第1检测对象部件205和第2检测对象部件209是磁铁。另外，在实施方式3中，对通气口200进行开闭的开闭盖201的收纳动作与实施方式2的开闭盖201的收纳动作相同。在实施方式3中，检测对象设备203的设置姿势与实施方式2的开闭盖201的姿势相同。

在实施方式3中，使用图8对第1传感器206、第2传感器208、第1检测对象部件205和第2检测对象部件209的配置关系进行说明。第1传感器206具有用于检测第2检测对象部件209的磁力变化的检测范围400。第2传感器208具有用于检测第1检测对象部件205的磁力变化的检测范围401。第1传感器206设置于在检测范围400的范围内能够检测到第2检测对象部件209的磁变化的位置。第2传感器208设置于在检测范围401的范围内能够检测到第1检测对象部件205的磁变化的位置。第1传感器206和第2传感器208具有图8所示的构造，从而能够与有无检测到第1检测对象部件205和第2检测对象部件209相对应地来检测图7所示的开闭盖201的收纳。

在实施方式3中，也可以将在磁铁接近1mm至2mm的距离时对磁力变化进行检测的磁性传感器应用于第1传感器206或者第2传感器208。通过将磁性传感器与磁铁之间的距离设定得相对短，能够更准确地掌握面板的移动，与磁通密度相对高的稀土类磁铁相比，能够使用磁通密度相对低的廉价的铁氧体磁铁。另外，使用MR元件或者霍尔元件这样的检测元件的磁性传感器也是容易获得的，并且在1mm至2mm的距离的范围内对磁力变化进行检测的结构很普通。因此，磁性传感器与磁力的距离在构成传感器的方面是有用的要素。在实施方式3中，如图8所示，即使显示基板207上的第1传感器206或者第2传感器208的位置不移动，也能够通过在可检测磁力的距离内配置第1检测对象部件205或者第2检测对象部件209来执行对磁力变化的检测。在实施方式3中，关于第1传感器206或者第2传感器208的对磁力变化进行检测的距离处于1mm至2mm的范围进行了说明，但不限于该范围。

在实施方式3中，在开闭盖检测装置202中具备搭载有第1传感器206和第2传感器208的显示基板207，因而与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数。另外，在实施方式3中，与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数，从而能够实现布线空间的减少。

另外，图7所示的开闭盖检测装置202在将不区分磁极而对检测对象部件的磁力进行检测的传感器应用于第1传感器206的情况下，在通气口200的闭口时，第1传感器206有可能检测到接近的第2检测对象部件209，从而无法检测出准确的开闭盖201的位置。因此，在实施方式3中，也可以将能够区分作为检测对象部件的磁铁的N极和S极来进行检测的霍尔元件用于第1传感器206和第2传感器208。具体而言，将能够检测N极的N极检测霍尔元件应用于第1传感器206。第1检测对象部件205应用了能够由第1传感器206检测出的磁极被磁化为N极的磁铁。第2检测对象部件209应用了能够由第2传感器208检测出的磁极被磁化为S极的磁铁。在该情况下，在实施方式2中，由于第1传感器206对第1检测对象部件205和第2检测对象部件209的磁极进行区分，因此能够在通气口200的闭口时防止第1传感器206接近第2检测对象部件209时的错误检测。

图9是示出具备实施方式3的开闭盖检测装置302的检测对象设备303的图。开闭盖检测装置302具有第1传感器306和第2传感器308。第1传感器306和第2传感器308搭载于显示基板307。开闭盖301具备检测对象部件305。在实施方式3中，第1传感器306和第2传感器308是对由于导电体的接近而产生的静电电容的变化进行检测的接触式传感器。检测对象部件305是导电体。图10是图9的VIII-VIII的剖视图。在图10所示的检测对象设备303中，对通气口300进行开闭的开闭盖301的收纳动作与实施方式2的开闭盖201的收纳动作相同。在图10所示的检测对象设备303中，检测对象设备303的设置姿势与实施方式2的开闭盖201的姿势相同。

图11是示出第1传感器306、第2传感器308以及第1检测对象部件305的配置关系的图。第1传感器306具有用于对第1检测对象部件305的静电电容的变化进行检测的检测范围500。第2传感器308具有用于对第1检测对象部件305的静电电容的变化进行检测的检测范围501。第1传感器306设置于在检测范围500的范围内能够对第1检测对象部件305的静电电容的变化进行检测的位置。第2传感器308设置于在检测范围501的范围内能够对第1检测对象部件305的静电电容的变化进行检测的位置。第1传感器306和第2传感器308具有图11所示的构造，从而能够与有无检测到第1检测对象部件305相对应地来检测图10所示的开闭盖301的收纳。

在实施方式3中，也可以将在导电体接近1mm至3mm的距离时对静电电容的变化进行检测的接触式传感器应用于图10所示的第1传感器306或者第2传感器308。通过将接触式传感器与导电体之间的距离设定得相对短，能够更准确地掌握面板的移动。在导电体接近1mm至3mm的距离时对静电电容的变化进行检测的一般的接触式传感器也是容易获得的。导电体接近10mm的距离时对静电电容的变化进行检测的高灵敏度的接触式传感器与一般的接触式传感器相比价格较高。另外，与一般的接触式传感器相比，高灵敏度的接触式传感器有可能在用户接近时错误地检测为开闭盖接近。因此，接触式传感器与导电体的距离在构成传感器的方面是有用的要素。在实施方式3中，在将一般的接触式传感器应用于第1传感器306时，通过在可检测导电体的距离、亦即1mm至3mm左右的距离内配置第1检测对象部件305，能够执行对静电电容的变化的检测。另外，在将一般的接触式传感器应用于第1传感器306时，通过在可检测导电体的距离、亦即1mm至3mm左右的距离内配置第1传感器306，能够执行对静电电容的变化的检测。在实施方式3中，关于第1传感器306或者第2传感器308对静电电容的变化进行检测的距离处于1mm至3mm的范围进行了说明，但不限于该范围。

图9所示的开闭盖检测装置302具备搭载有第1传感器306和第2传感器308的显示基板307，从而与以往技术相比，能够减少基板与传感器电连接的布线数。另外，在图9所示的开闭盖检测装置302中，与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数，从而能够实现布线空间的减少。

这里，也可以采用如下的结构，即：通过将铝或者铜这样的金属应用于图9所示的开闭盖301，而由第1传感器306和第2传感器308检测由于开闭盖301接近、或者开闭盖301远离而产生的静电电容的变化。在该情况下，在实施方式3中，由于相对于开闭盖301不需要设置检测对象部件305，因此能够实现用于检测对象部件305的配置的工时和部件数的减少。

图12是示出开闭盖检测装置302所具备的显示基板307的图。显示基板307具备第1传感器306、第2传感器308、接触式电极321、接触式电极322以及控制基板320。显示基板307搭载有接受用户的输入指示的触摸面板(未图示)。触摸面板与控制基板320连接。第1传感器306和第2传感器308与控制基板320连接。接触式电极321和接触式电极322与控制基板320以及触摸面板连接。控制基板320根据触摸面板接受到的输入指示而收纳图9所示的开闭盖304、或者利用开闭盖304将通气口300闭口。配置有接受来自触摸面板的输入指示的接收部件、或者对伴随通气口300的开闭的开闭盖304的动作进行切换的开关这样的功能部件的控制基板320也可以是集成电路(IC：Integrated Circuit)。

图13是图12的X-X的剖视图。显示基板307具备支承基板327、触摸面板328、第1传感器306、第2传感器308、接触式电极321以及接触式电极322。供用户进行触碰的触摸面板328经由接触式电极321和接触式电极322与支承基板327连接。另外，也可以在图10所示的第1传感器306或者第2传感器308的表面分别设置导电体(未图示)。导电体应用金属或者导电布这样的导电部件。具体而言，在图11所示的第1传感器306上以朝向通气口301闭口时的开闭盖301所具有的检测对象部件305的方向而与第1传感器306的表面相接触的方式配置导电体。另外，在第2传感器308上以在用于将通气口301开口的开闭盖301的收纳时朝向开闭盖301所具有的检测对象部件305的方向而与第2传感器308的表面相接触的方式配置导电体。在该情况下，图11所示的开闭盖检测装置302具备配置在第1传感器306或者第2传感器308的表面上的导电体，从而能够实现检测对象部件305的检测灵敏度的提高。

这里，图13所示的接触式电极321和接触式电极322采用如下的结构，即：与触摸面板328和支承基板327接触的面以外的面被具有糊、粘合剂、或者双面粘合带这样的粘合层的垫片覆盖。图13所示的接触式电极321被垫片331覆盖，接触式电极322被垫片332覆盖。在显示基板307搭载有LED(Light Emitting Diode：发光二极管)的触摸面板328的情况下，连接触摸面板328与支承基板327的接触式电极321和接触式电极322的垫片的高度的距离L1被设定在3mm至10mm的范围内。图13所示的第1传感器306有可能经由显示基板307所搭载的触摸面板328而将接近显示基板307的用户错误地识别为开闭盖的检测对象部件。在实施方式3的开闭盖检测装置中，通过将图13所示的第1传感器306与触摸面板328的距离L2设定得比垫片的高度的距离L1短，只要使第1传感器306与触摸面板328之间分离，就能够抑制对接近显示基板307的用户的检测。在实施方式3中，关于将连接触摸面板328与支承基板327的接触式电极321和接触式电极322的垫片的高度的距离L1处于3mm至10mm的范围进行了说明，但不限于该范围。

在图9所示的开闭盖检测装置302中，具备搭载有第1传感器306和第2传感器308的显示基板307，从而与以往技术相比，能够减少基板与传感器电连接的布线数。另外，在图9所示的开闭盖检测装置302中，与以往技术相比，减少基板与传感器电连接的布线数，从而能够实现布线空间的减少。

以上的实施方式所示的结构示出本发明的内容的一个例子，也可以与其它的公知的技术组合，在不脱离本发明的主旨的范围内，也可以省略、变更结构的一部分。

附图标记的说明

100、200、300…通气口；101、201、301、304…开闭盖；102、202、302…开闭盖检测装置；103、203、303…检测对象设备；104…传感器；105、207、307…显示基板；107、204…框部；108、320…控制基板；109、305…检测对象部件；205…第1检测对象部件；206、306…第1传感器；208、308…第2传感器；209…第2检测对象部件；321、322…接触式电极；327…支承基板；328…触摸面板；331、332…垫片。

Claims

1.一种开闭盖检测装置，其检测对通气口进行开闭的开闭盖的收纳位置，

所述开闭盖检测装置具备：

显示基板，其具有第1传感器和第2传感器，所述第1传感器为磁性传感器，用于对所述开闭盖所具有的第1检测对象部件进行检测，从而检测所述开闭盖的收纳位置，所述第2传感器为磁性传感器，用于对所述开闭盖的收纳位置进行检测；以及

控制基板，其与由所述第1传感器检测出的所述开闭盖的收纳位置对应地控制所述通气口的开闭，

所述开闭盖检测装置的特征在于，

沿着所述开闭盖的收纳时的所述开闭盖的移动方向，在所述显示基板的上端配置有所述第1传感器，在所述显示基板的下端配置有所述第2传感器，

所述第1传感器检测所述通气口的闭口时的开闭盖的位置，所述第2传感器检测所述开闭盖的收纳时的所述开闭盖的位置，

所述开闭盖还具备第2检测对象部件，

所述第1检测对象部件与所述第2检测对象部件相互具有不同的磁极，

所述第1传感器和所述第2传感器通过对所述第1检测对象部件的磁极与所述第2检测对象部件的磁极进行区分来检测所述开闭盖的收纳位置。

2.根据权利要求1所述的开闭盖检测装置，其特征在于，

所述控制基板为集成电路。