CN109270435A - 检测设备 - Google Patents

Abstract

一种检测设备，用于对智能卡芯片的检测，包括外壳、探头、控制电路板及电源模块，探头设于外壳的一端部上，且探头投射在智能卡芯片上的投影全部位于智能卡芯片的范围内；控制电路板设置在外壳内，并与探头电连接；电源模块设置在外壳内，并与控制电路板连接。由于探头投射在智能卡芯片上的投影全部位于智能卡芯片的范围内，据此，可保证检测设备对产品卡进行检测时，其可对一张产品卡上的若干个半成品的智能卡芯片进行一一对应的针对性检测，避免了需要将智能卡芯片逐个剥离再进行检测的实施方式，简单方便，而且，如发现产品卡上不良的智能卡芯片，只要对其标识即可，既方便运输包装，也便于计量智能卡芯片。

Description

检测设备

技术领域

本发明涉及检测设备的技术领域，尤其涉及一种用于对智能卡芯片进行检测的检测设备。

背景技术

随着技术的发展以及便于生产制造，智能卡芯片做得越来越微小，以便于大批量生产加工。而一般地，在生产过程中，会将若干个半成品智能卡芯片以矩形阵列生产在一张产品卡上，以便于生产及计量智能卡芯片的数量。而这些半成品在出厂之前，需要对其进行检测，以保证出厂的合格率。但是，如用目前的检测设备对智能卡芯片进行检测时，由于该些检测设备的探头较大，其覆盖在产品卡上的面积可能等于数个半成品智能卡芯片的面积，可见，其不能对一张产品卡上的若干个半成品智能卡芯片进行一一对应的针对性检测，为此，只能将产品卡上的智能卡芯片逐个剥离，然后再进行检测。可是，在对智能卡芯片完成检测后，只能通过小袋子将分散的智能卡芯片收集，并计量，再出厂送至所需客户。

综上可见，现有技术中的实施方式，不但麻烦费事，影响生产效率，而且一小袋子装有若干个智能卡芯片，交付双方难以确定产品数量，容易存在错漏的情况。

因此，有必要提供一种技术手段以解决上述缺陷。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术之缺陷，提供一种检测设备，以解决现有技术中的检测设备因其探头较大而不便于检测产品卡上的智能卡芯片并导致产品卡上的智能卡芯片逐个剥离的问题。

本发明是这样实现的，一种检测设备，用于对智能卡芯片的检测，包括：

用以供部件安装设置的外壳；

用以对所述智能卡芯片读写信息的探头，所述探头设于所述外壳的一端部上，且所述探头投射在所述智能卡芯片上的投影全部位于所述智能卡芯片的范围内，所述探头的直径范围为8-12mm；所述探头包括有磁性固定件、绕在所述磁性固定件上的导电丝、及设于所述磁性固定件上的一侧端并与所述导电丝连接的探头电路板，所述探头电路板与所述控制电路板连接；

用以控制所述探头工作的控制电路板，所述控制电路板设置在所述外壳内，并与所述探头电连接；

用以向所述控制电路板供能的电源模块，所述电源模块设置在所述外壳内，并与所述控制电路板连接；

其中，所述磁性固定件为永久性磁铁或者非永久性磁铁制成；所述导电丝为铜丝、银丝或者金丝。

具体地，所述磁性固定件为圆柱状结构。

较佳地，所述磁性固定件的高度为10-15mm。

较佳地，所述磁性固定件包括供所述导电丝绕设的柱部、设于所述柱部的一侧端上并延伸凸出于所述柱部的侧端以阻挡绕设于所述柱部上的所述导电丝脱离所述柱部的第一阻挡部、及设于所述柱部的另一侧端上并延伸凸出于所述柱部的侧端以阻挡绕设于所述柱部上的所述导电丝脱离所述柱部的第二阻挡部，所述探头电路板设于所述第一阻挡部上，且所述第一阻挡部、所述柱部、所述第二阻挡部之间形成可供所述导电丝容置的容置槽。

进一步地，所述第一阻挡部与所述第二阻挡部为平行设置。

进一步地，所述第一阻挡部沿垂直于所述柱部的轴向方向延伸凸出。

进一步地，所述第二阻挡部沿垂直于所述柱部的轴向方向延伸凸出。

进一步地，于所述探头电路板与所述磁性固定件之间设有用以使所述探头电路板连接固定于所述磁性固定件上的连接层。

具体地，所述电源模块为可充式电池。

本发明的检测设备的技术效果为：由于探头投射在智能卡芯片上的投影全部位于智能卡芯片的范围内，据此，可保证检测设备对产品卡进行检测时，其可对一张产品卡上的若干个半成品的智能卡芯片进行一一对应的针对性检测，避免了需要将智能卡芯片逐个剥离再进行检测的实施方式，简单方便，而且，如发现产品卡上不良的智能卡芯片，只要对其标识即可。那么，由于智能卡芯片不必剥离进行检测，于此，只要将整个产品卡交付客户即可，而避免现有技术中检测后需要使用小袋子收集智能卡芯片的麻烦，并借此可省去逐个计量智能卡芯片的麻烦，大大简化了包装运输，有利于提高整个生产效率；同时地，由于产品卡上的智能卡芯片为定制数量，计量更为方便，有利于降低计量错漏的发生。

附图说明

图1为本发明的检测设备的示意图；

图2为本发明的检测设备的磁性固定件的示意图；

图3为本发明的检测设备的磁性固定件的另一实施例的示意图；

图4为本发明的检测设备所检测的产品卡的示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1至图4，下面对本发明的检测设备的实施例进行阐述。

本实施例的检测设备100，用于对产品卡200上的智能卡芯片300的检测，包括外壳10、探头20、控制电路板30、电源模块40及按键(图中未标示)，下面对检测设备100的各部件作进一步说明：

外壳10为用以供部件安装设置；而且，较佳地，为了便于加工制造，外壳10为采用塑胶材料制成，当然，该外壳10亦可采用金属材料制成；

探头20为用以对智能卡芯片300读写信息，其中，探头20设于外壳10的一端部上，且探头20投射在智能卡芯片300上的投影全部位于智能卡芯片300的范围内，据此限定探头20的大小尺寸，有利于保证探头20准确地读取智能卡芯片300的信息；而较佳地，该探头20的直径范围为8-12mm，优选为10mm；

控制电路板30用以控制探头20工作，其中，控制电路板30设置在外壳10内，并与探头20电连接；

电源模块40为用以向控制电路板30供能，其中，电源模块40设置在外壳10内，并与控制电路板30连接；

按键为致动控制电路板30对探头20控制工作，该按键设于外壳10上，并可移动地接触于控制电路板30。

由于探头20投射在智能卡芯片300上的投影全部位于智能卡芯片300的范围内，据此，可保证检测设备100对产品卡200进行检测时，其可对一张产品卡200上的若干个半成品的智能卡芯片300进行一一对应的针对性检测，避免了需要将智能卡芯片300逐个剥离再进行检测的实施方式，简单方便，而且，如发现产品卡200上不良的智能卡芯300片，只要对其标识即可。那么，由于智能卡芯片300不必剥离进行检测，于此，只要将整个产品卡200交付客户即可，而避免现有技术中检测后需要使用小袋子收集智能卡芯片300的麻烦，并借此可省去逐个计量智能卡芯片300的麻烦，大大简化了包装运输，有利于提高整个生产效率；同时地，由于产品卡200上的智能卡芯片300为定制数量，计量更为方便，有利于降低计量错漏的发生。

请参阅图2，本实施例中的探头20的优选实施方式为，其包括有磁性固定件21、绕在磁性固定件21上的导电丝22、及设于磁性固定件21上的一侧端并与导电丝22连接的探头电路板23，探头电路板23与控制电路板30连接，借由磁性固定件21、导电丝22及探头电路板23制成的探头20，不但结构简单，生产方便，而且有利于控制探头20的整体尺寸大小。其中，磁性固定件21可以采用永久性磁铁制成，亦可采用非永久性磁铁制成；而导电丝22优选地采用铜丝，既可保证较佳的导电率的同时，还可有效控制企业的生产成本，当然，导电丝22亦可选用银丝、金丝等。

据此，通过磁性固定件21、导电丝22及探头电路板23制成的探头20，于通电时，磁性固定件21表面产生周向电流，即涡流，而涡流磁场方向与外加电流的磁化方向相反，因此将抵消一部分外加电流，使导电丝22的阻抗、通过电流的大小相位均发生变化。由此，当探头20靠近智能卡芯片300时，可以通过导电丝22的变化而获取智能卡芯片300的信息。

请参阅图2，本实施例中的磁性固定件21为圆柱状结构，以便于生产加工。且较佳地，该磁性固定件21的高度为10-15mm，优选为12mm，以保证在满足所需的同时可以优化设计，节省材料成本。

请参阅图3，作为本方案的另一优选实施例，磁性固定件21包括供导电丝22绕设的柱部211、设于柱部211的一侧端上并延伸凸出于柱部211的侧端以阻挡绕设于柱部211上的导电丝22脱离柱部211的第一阻挡部212、及设于柱部211的另一侧端上并延伸凸出于柱部211的侧端以阻挡绕设于柱部211上的导电丝22脱离柱部211的第二阻挡部213，探头电路板23设于第一阻挡部212上，第一阻挡部212、柱部211、第二阻挡部213之间形成可供导电丝22容置的容置槽214，其中，设置导电丝22时，可直接绕设于柱部211上，该导电丝22便会容置在容置槽214内，此时，第一阻挡部212和第二阻挡部213便可将导电丝22限制在容置槽214内，避免导电丝22脱落。

较佳地，为了便于生产加工，第一阻挡部212与第二阻挡部213为平行设置。同时地，第一阻挡部212沿垂直于柱部211的轴向方向延伸凸出，第二阻挡部213沿垂直于柱部211的轴向方向延伸凸出。

请参阅图2，为了便于生产加工，在本实施例中，于探头电路板30与磁性固定件21之间设有用以使探头电路板23连接固定于磁性固定件21上的连接层，其中，连接层可优选为焊锡层。

请参阅图1，本实施例中的电源模块40为可充式电池，以便于检测设备100的携带。

以上所述仅为本发明较佳的实施例而已，其结构并不限于上述列举的形状，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.检测设备，用于对智能卡芯片的检测，其特征在于，包括：

用以供部件安装设置的外壳；

用以对所述智能卡芯片读写信息的探头，所述探头设于所述外壳的一端部上，且所述探头投射在所述智能卡芯片上的投影全部位于所述智能卡芯片的范围内，所述探头的直径范围为8-12mm；所述探头包括有磁性固定件、绕在所述磁性固定件上的导电丝、及设于所述磁性固定件上的一侧端并与所述导电丝连接的探头电路板，所述探头电路板与所述控制电路板连接；

用以控制所述探头工作的控制电路板，所述控制电路板设置在所述外壳内，并与所述探头电连接；

用以向所述控制电路板供能的电源模块，所述电源模块设置在所述外壳内，并与所述控制电路板连接；

其中，所述磁性固定件为永久性磁铁或者非永久性磁铁制成；所述导电丝为铜丝、银丝或者金丝。

2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于：所述磁性固定件为圆柱状结构。

3.如权利要求2所述的检测设备，其特征在于：所述磁性固定件的高度为10-15mm。

4.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于：所述磁性固定件包括供所述导电丝绕设的柱部、设于所述柱部的一侧端上并延伸凸出于所述柱部的侧端以阻挡绕设于所述柱部上的所述导电丝脱离所述柱部的第一阻挡部、及设于所述柱部的另一侧端上并延伸凸出于所述柱部的侧端以阻挡绕设于所述柱部上的所述导电丝脱离所述柱部的第二阻挡部，所述探头电路板设于所述第一阻挡部上，且所述第一阻挡部、所述柱部、所述第二阻挡部之间形成可供所述导电丝容置的容置槽。

5.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于：所述第一阻挡部与所述第二阻挡部为平行设置。

6.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于：所述第一阻挡部沿垂直于所述柱部的轴向方向延伸凸出。

7.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于：所述第二阻挡部沿垂直于所述柱部的轴向方向延伸凸出。

8.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于：于所述探头电路板与所述磁性固定件之间设有用以使所述探头电路板连接固定于所述磁性固定件上的连接层。

9.如权利要求1-8任一项所述的检测设备，其特征在于：所述电源模块为可充式电池。