CN109175768A - SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料及其制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了SiC晶须增强的Sn‑Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:SiC晶须3‑6份;Sn‑Bi系微合金粉40‑80份;其中,Sn‑Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:Bi 35.9‑57.5%,In 0.3‑0.6%,Cu 0.01‑0.05%,Zn 0.005‑0.009%,Pt 0.001‑0.003%,Y 0‑0.003%,Ce 0.001‑0.005%,Cd 0.0005‑0.0009%,Co 0.0001‑0.0005%,其余为Sn以及不可避免的杂质。本发明还公开了该焊料的制备方法。本发明制得的焊料对基体的润湿性好,具有良好的机械性能。
Description
技术领域:
本发明涉及钎焊领域,具体的涉及一种SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料。
背景技术:
在已有焊料中加入强化相后得到的焊料称为复合焊料,复合焊料是通过在焊料内部保持一个稳定的显微组织及均匀的变形,从而改进焊料的可靠性,改善和弥补基体合金性能上的某些不足,全面提高焊点的性能(特别是热疲劳性能及蠕变性能)和使用寿命。这种强化的另一个重要特征是不会改变原焊料基体的熔点、润湿性等工艺特性。
复合焊料的制备方法一般有两种,最传统的方法是把强化颗粒加入到熔融的焊料中熔炼,这种方法称为机械混合法或外加法,机械混合法中的另一分支是直接在焊膏中添加强化颗粒,再将它们与焊膏长时间混合制备复合焊膏,直接用于表面组装;另外一种方法基于粉末冶金技术,即先将强化颗粒与焊料和合金颗粒混合均匀,再通过挤压成形制成复合焊料。但是目前的复合焊料增强颗粒与合金基体相容性差,容易发生团聚,使得焊料的使用寿命大大缩短。
发明内容:
本发明的目的是提供一种SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其机械性能优异,与被焊基体的润湿性好,抗疲劳性能优异。
为实现上述目的,本发明采用以下技术方案:
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 3-6份;
Sn-Bi系微合金粉 40-80份。
作为上述技术方案的优选,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质。
作为上述技术方案的优选,所述SiC晶须的直径为20-50nm,长度为1-2μm。
作为上述技术方案的优选,所述Sn-Bi系微合金粉的粒径大小为10-20μm。
作为上述技术方案的优选,所述Sn-Bi系微合金粉还包括0.001-0.006%的Ag和0-0.001%的Sm。
作为上述技术方案的优选,所述SiC晶须和Sn-Bi系微合金粉的用量进一步为:SiC晶须3-4.5份、Sn-Bi系微合金粉55-75份。
作为上述技术方案的优选,所述Bi的含量进一步为50-55.5%,In的进一步含量为0.1-0.2%。
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料的制备方法,包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
作为上述技术方案的优选,步骤(1)中,所述等离子体处理的条件为微波功率为600-700W,温度为400-500℃,等离子体处理时间为5-10min。
作为上述技术方案的优选,步骤(1)中,所述镍层的厚度为5-15nm。
本发明具有以下有益效果:
本发明在Sn-Bi系基体中加入适量的SiC晶须,SiC晶须在焊料基体中不发生反应,不变形,且可以有效阻碍位错和晶界滑移,从而提高焊料基体的机械性能;
本发明制得的复合焊料能够形成可靠焊点,没有氧化物掺杂,焊接孔隙极小,耐高低温冲击特性、热疲劳性能优异,有较好可靠性。在各种表面处理的焊盘上具有良好的润湿性。
具体实施方式:
为了更好的理解本发明,下面通过实施例对本发明进一步说明,实施例只用于解释本发明,不会对本发明构成任何的限定。
实施例1
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 3份;
Sn-Bi系微合金粉 40份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为600W,温度为400℃,等离子体处理时间为5min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
实施例2
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 6份;
Sn-Bi系微合金粉 80份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为600W,温度为500℃,等离子体处理时间为10min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
实施例3
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 4份;
Sn-Bi系微合金粉 50份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为700W,温度为400℃,等离子体处理时间为6min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
实施例4
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 4.5份;
Sn-Bi系微合金粉 60份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为650W,温度为450℃,等离子体处理时间为7min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
实施例5
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 5份;
Sn-Bi系微合金粉 70份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为700W,温度为400℃,等离子体处理时间为8min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
实施例6
SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 5.5份;
Sn-Bi系微合金粉 75份;
其中,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质;
其制备方法包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;其中,等离子体处理的条件为微波功率为600W,温度为450℃,等离子体处理时间为9min;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,以重量份计,包括以下组分:
SiC晶须 3-6份;
Sn-Bi系微合金粉 40-80份。
2.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,Sn-Bi系微合金粉以质量百分比计包括以下组分:
其余为Sn以及不可避免的杂质。
3.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,所述SiC晶须的直径为20-50nm,长度为1-2μm。
4.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,所述Sn-Bi系微合金粉的粒径大小为10-20μm。
5.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,所述Sn-Bi系微合金粉还包括0.001-0.006%的Ag和0-0.001%的Sm。
6.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,所述SiC晶须和Sn-Bi系微合金粉的用量进一步为:SiC晶须3-4.5份、Sn-Bi系微合金粉55-75份。
7.如权利要求1所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料,其特征在于,所述Bi的含量进一步为50-55.5%,In的进一步含量为0.1-0.2%。
8.如权利要求1至7任一所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将SiC晶须表面进行等离子体活化;然后在其表面沉积一层近视镍,制得镀镍的SiC晶须;
(2)将上述制得的镀镍的SiC晶须与Sn-Bi系微合金粉混合研磨,制得复合焊料。
9.如权利要求8所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述等离子体处理的条件为微波功率为600-700W,温度为400-500℃,等离子体处理时间为5-10min。
10.如权利要求8所述的SiC晶须增强的Sn-Bi系焊料的制备方法,其特征在于,步骤(1)中,所述镍层的厚度为5-15nm。
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