CN109084653A - 一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法 - Google Patents

一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法 Download PDF

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Abstract

一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架、行星架的中心轴孔和位于中心轴孔外围的n个均布轴孔，中心轴孔内设有用于固定行星架的中心轴，每个均布轴孔内均设有用于检测均布轴孔位置度的检棒，中心轴和检棒中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒的中段圆锥面的锥度相同，中心轴中段外径小的一端的外径小于中心轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；检棒中段外径小的一端的外径小于均布轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；锥度为1：5000‑1：7000；本发明还包括了上述检具的检测方法。本发明结构简单，制造成本低；检测时间短，检测结果直观，不需要三坐标等复杂昂贵的检测设备，便于简化检测程序，利于提高检测效率。

Description

一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法
技术领域
本发明涉及一种工装检具及其测量方法，具体涉及一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法。
背景技术
对于行星架而言，其行星轮轴孔的位置度是最关键的项点，对齿轮箱减速机的装配和使用极其重要。由于该位置度技术要求高，并且加工过程中影响此项点的因素较多，因此对该项点的检测频次也要求较高。在现有技术中，对该项点的常用检测设备是三坐标检测仪，三坐标检测仪设备昂贵，环境条件要求苛刻，检测过程中不仅需要专业的检测人员，而且检测过程耗时较长，不利于产品数量较大时的检测，尤其在大批量生产条件下检测效率更低。现有的行星架轴孔位置度的检具和检测方法还需进一步改进。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种行星架轴孔位置度的检具及其检测方法，它具有结构简单，制造成本低；检测时间短，检测结果直观等优点，不需要三坐标等复杂昂贵的检测设备，便于简化检测程序，利于提高检测效率。
为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架、行星架的中心轴孔和位于中心轴孔外围的n个均布轴孔，所述中心轴孔内设有用于固定行星架的中心轴，每个所述均布轴孔内均设有用于检测均布轴孔位置度的检棒，所述中心轴和检棒中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒的中段圆锥面的锥度相同，所述中心轴中段外径小的一端的外径小于中心轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述检棒中段外径小的一端的外径小于均布轴孔的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述锥度为1：5000-1：7000。
作为上述技术方案的进一步改进：所述中心轴孔长度≤100mm时，所述中心轴中段外径的锥度为1：5000；所述中心轴孔长度＞100mm时，所述中心轴中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持其伸出长度与各检棒伸出长度一致。
进一步的，所述均布轴孔两端孔跨度≤100mm时，所述检棒中段外径的锥度为1：5000；所述均布轴孔两端孔跨度＞100mm时，所述检棒中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持各检棒伸出长度与中心轴伸出长度一致。
一种行星架轴孔位置度的检具的检测方法，包括如下步骤：
1)顶起装置将中心轴的两端顶起，使用外径千分尺直接测量出其中任一个检棒A的轴线与中心基准轴线之间的距离e，转动行星架，再使用外径千分尺直接测量出与检棒A左右相邻的两个检棒B、检棒C分别为e值加减跳动从而计算得出其各自轴线与中心基准轴线之间的距离d、f；
2)用外径千分尺测量检棒A、检棒B、检棒C中相邻两检棒外径圆柱面之间的距离S1、S2、S3，得出各检棒轴线之间的距离a、b、c；
3)利用余弦定理cosα＝(d2+e2-a2)/2de计算角度α，得出角度γ＝α-90°，利用tanγ＝X1/f，sinγ＝Y1/f计算X1、Y1，同理得出X2、Y2，其中α为检棒A所在的均布轴孔与检棒B或检棒C所在的均布轴孔之间的夹角，X1、Y1和X2、Y2分别为检棒B、检棒C所处均布轴孔相对于中心轴孔的中心所在位置的坐标信息；
4)根据公式计算出位置度，其中x、y为理论值，利用上述计算出的X1、Y1、X2、Y2分别得到检棒B、检棒C所处均布轴孔的位置度。
作为上述技术方案的进一步改进：所述步骤1)中使用的顶起装置为车床或径向跳动仪。
进一步的，所述步骤1)和2)测量时，检棒A、检棒B和检棒C均与其各自所在的均布轴孔无间隙紧密配合。
与现有技术相比，本发明的优点在于：
1、本发明的检具结构十分简单，只包括了行星架、、中心轴孔、、n个均布轴孔、位于中心轴孔中的微锥中心轴和位于均布轴孔中的微锥检棒，制造成本较低；
2、本发明的检测方法中检测的数据量较少，检测时间短，检测结果直观，不需三坐标等复杂昂贵的检测设备，只使用了外径千分尺进行了测量，检测成本较低，简化了检测程序，提高了检测效率。
3、本发明的检测方法计算公式简单，不需要很复杂的计算，对测量人员的要求不是太高，可快速得出轴孔位置度的数据。
附图说明
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明位置度的检测结构示意图；
图3是本发明位置度最终计算时的结构示意图。
图例说明：
1、行星架；2、中心轴孔；3、均布轴孔；4、中心轴；5、检棒；51、检棒A；52、检棒B；53、检棒C。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下文将结合说明书附图和较佳的实施例对本发明作更全面、细致地描述，但本发明的保护范围并不限于以下具体的实施例。
如图1至图3所示，一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架1、行星架1的中心轴孔2和位于中心轴孔2外围的三个均布轴孔3，中心轴孔2内设有用于固定行星架的中心轴4，每个均布轴孔3内均设有用于检测均布轴孔3位置度的检棒5，中心轴4和检棒5中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中三个检棒5的中段圆锥面的锥度相同，中心轴4中段外径小的一端的外径小于中心轴孔2的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；检棒5中段外径小的一端的外径小于均布轴孔3的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；锥度为1：5000-1：7000。
本实施例中，中心轴孔2长度≤100mm时，中心轴4中段外径的锥度为1：5000；中心轴孔2长度＞100mm时，中心轴4中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持其伸出长度与各检棒5伸出长度一致。
本实施例中，均布轴孔3两端孔跨度≤100mm时，检棒5中段外径的锥度为1：5000；均布轴孔3两端孔跨度＞100mm时，检棒5中段外径的锥度适当减小，在1：5000-1：7000范围内，并保持各检棒5伸出长度与中心轴4伸出长度一致。
一种行星架轴孔位置度的检具的检测方法，包括如下步骤：
1)顶起装置将中心轴4的两端顶起，使用外径千分尺直接测量出其中任一个检棒A51的轴线与中心基准轴线之间的距离e，转动行星架1，再使用外径千分尺直接测量出与检棒A51左右相邻的两个检棒B52、检棒C53分别为e值加减跳动从而计算得出其各自轴线与中心基准轴线之间的距离d、f；
2)用外径千分尺测量检棒A51、检棒B52、检棒C53中相邻两检棒外径圆柱面之间的距离S1、S2、S3，得出各检棒轴线之间的距离a、b、c；
3)利用余弦定理cosα＝(d2+e2-a2)/2de计算角度α，得出角度γ＝α-90°，利用tanγ＝X1/f，sinγ＝Y1/f计算X1、Y1，同理得出X2、Y2，其中α为检棒A51所在的均布轴孔3与检棒B52或检棒C53所在的均布轴孔3之间的夹角，X1、Y1和X2、Y2分别为检棒B52、检棒C53所处均布轴孔3相对于中心轴孔2的中心所在位置的坐标信息；
4)根据公式计算出位置度，其中x、y为理论值，利用上述计算出的X1、Y1、X2、Y2分别得到检棒B52、检棒C53所处均布轴孔3的位置度。
本实施例中，步骤1)中使用的顶起装置为车床或径向跳动仪。
本实施例中，步骤1)和2)测量时，检棒A51、检棒B52和检棒C53均与其各自所在的均布轴孔3无间隙紧密配合。

Claims (6)

1.一种行星架轴孔位置度的检具，包括行星架(1)、行星架(1)的中心轴孔(2)和位于中心轴孔(2)外围的n个均布轴孔(3)，其特征在于：所述中心轴孔(2)内设有用于固定行星架的中心轴(4)，每个所述均布轴孔(3)内均设有用于检测均布轴孔(3)位置度的检棒(5)，所述中心轴(4)和检棒(5)中段外径均为圆锥面，两端外径均为圆柱面，其中n个检棒(5)的中段圆锥面的锥度相同，所述中心轴(4)中段外径小的一端的外径小于中心轴孔(2)的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述检棒(5)中段外径小的一端的外径小于均布轴孔(3)的孔径下差，两者的差值为0.02mm±0.0015mm；所述锥度为1:5000-1:7000。
2.根据权利要求1所述的行星架轴孔位置度的检具，其特征在于：所述中心轴孔(2)长度≤100mm时，所述中心轴(4)中段外径的锥度为1:5000；所述中心轴孔(2)长度＞100mm时，所述中心轴(4)中段外径的锥度适当减小，在1:5000-1:7000范围内，并保持其伸出长度与各检棒(5)伸出长度一致。
3.根据权利要求1所述的行星架轴孔位置度的检具，其特征在于：所述均布轴孔(3)两端孔跨度≤100mm时，所述检棒(5)中段外径的锥度为1:5000；所述均布轴孔(3)两端孔跨度＞100mm时，所述检棒(5)中段外径的锥度适当减小，在1:5000-1:7000范围内，并保持各检棒(5)伸出长度与中心轴(4)伸出长度一致。
4.一种如权利要求1或2或3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
1)顶起装置将中心轴(4)的两端顶起，使用外径千分尺直接测量出其中任一个检棒A(51)的轴线与中心基准轴线之间的距离e，转动行星架(1)，再使用外径千分尺直接测量出与检棒A(51)左右相邻的两个检棒B(52)、检棒C(53)分别为e值加减跳动从而计算得出其各自轴线与中心基准轴线之间的距离d、f；
2)用外径千分尺测量检棒A(51)、检棒B(52)、检棒C(53)中相邻两检棒外径圆柱面之间的距离S1、S2、S3，得出各检棒轴线之间的距离a、b、c；
3)利用余弦定理cosα＝(d2+e2-a2)/2de计算角度α，得出角度γ＝α-90°，利用tanγ＝X1/f，sinγ＝Y1/f计算X1、Y1，同理得出X2、Y2，其中α为检棒A(51)所在的均布轴孔(3)与检棒B(52)或检棒C(53)所在的均布轴孔(3)之间的夹角，X1、Y1和X2、Y2分别为检棒B(52)、检棒C(53)所处均布轴孔(3)相对于中心轴孔(2)的中心所在位置的坐标信息；
4)根据公式计算出位置度，其中x、y为理论值，利用上述计算出的X1、Y1、X2、Y2分别得到检棒B(52)、检棒C(53)所处均布轴孔(3)的位置度。
5.根据权利要求3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，所述步骤1)中使用的顶起装置为车床或径向跳动仪。
6.根据权利要求3所述的行星架轴孔位置度的检具的检测方法，其特征在于，所述步骤1)和2)测量时，检棒A(51)、检棒B(52)和检棒C(53)均与其各自所在的均布轴孔(3)无间隙紧密配合。
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