CN109073608A - 自动进样器 - Google Patents

自动进样器 Download PDF

Info

Publication number
CN109073608A
CN109073608A CN201680084560.7A CN201680084560A CN109073608A CN 109073608 A CN109073608 A CN 109073608A CN 201680084560 A CN201680084560 A CN 201680084560A CN 109073608 A CN109073608 A CN 109073608A
Authority
CN
China
Prior art keywords
head
arm
avoidance
destination
minimal path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201680084560.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109073608B (zh
Inventor
平松良朗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of CN109073608A publication Critical patent/CN109073608A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109073608B publication Critical patent/CN109073608B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/0099—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor comprising robots or similar manipulators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04—Details of the conveyor system
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02—Column chromatography
    • G01N30/04—Preparation or injection of sample to be analysed
    • G01N30/24—Automatic injection systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1081—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices characterised by the means for relatively moving the transfer device and the containers in an horizontal plane
    • G01N35/109—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices characterised by the means for relatively moving the transfer device and the containers in an horizontal plane with two horizontal degrees of freedom
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/406—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by monitoring or safety
    • G05B19/4061—Avoiding collision or forbidden zones
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1009—Characterised by arrangements for controlling the aspiration or dispense of liquids
    • G01N35/1011—Control of the position or alignment of the transfer device
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1079—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices with means for piercing stoppers or septums
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/49—Nc machine tool, till multiple
    • G05B2219/49143—Obstacle, collision avoiding control, move so that no collision occurs

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

自动进样器具备驱动部、障碍物传感器以及控制部。驱动部具备：头；臂，其沿作为水平面内的一个方向的Y轴方向延伸，在前端侧保持所述头来使所述头沿所述Y轴方向滑动；以及臂移动机构，其使所述臂沿在水平面内与所述Y轴方向正交的X轴方向移动。障碍物传感器设置于所述驱动部，检测所述头和所述臂的移动路径上的障碍物。控制部用于控制所述驱动部对所述头的驱动，具备最短路线移动部和障碍物回避部。

Description

自动进样器
技术领域
本发明涉及一种自动进样器，该自动进样器例如被用在液相色谱仪、气相色谱仪中，该自动进样器在水平面内驱动具有使用针进行试样、试剂的吸入/喷出的功能的头，自动地访问配置在该头的移动范围内的容器、注射端口。
背景技术
在液相色谱仪(LC)、气相色谱仪(GC)、对液相色谱仪(LC)或气相色谱仪(GC)连接作为检测器的质谱分析装置(MS)而成的LC-MS或GC-MS中使用的自动进样器沿在水平面内正交的两个方向驱动头。头例如具有利用针进行试样、试剂等的吸入/喷出的功能。在头的移动范围内配置试样容器、试剂容器、试样注入口等。
通过用户在装置侧登记(示教)配置在头的移动范围内的试样容器等的位置，自动进样器基于由用户设定的分析项目，自动地执行试样的调整、向色谱仪的注入之类的动作。
发明内容
发明要解决的问题
上述自动进样器能够与其它自动注射器、检测器之类的装置共存。即，存在如下情况：能够在头的移动范围内配置其它自动注射器、检测器等，也能够进行将调整后的试样导入至其它自动注射器、检测器之类的动作。
但是，在头的移动范围内配置自动注射器、检测器等其它装置的情况下，存在以下情况：在头为了进行试样调整、试样注入而欲移动至下一动作位置时，这种其它装置成为与头或使头移动的臂发生干扰的障碍物而阻碍头的移动。因此，在产生了这种问题时，需要用户将这种障碍物移动至头的移动范围外。
另外，为了防止上述的问题，考虑事先以使头始终按最不容易发生上述问题那样的路径移动的方式规定头的移动路径。但是，存在如下问题：即便在当如此时没有障碍物的情况下，头的移动距离也会长到需要以上，头的移动时间变长。
因此，本发明的目的在于提供一种不使头的移动所需要的时间拉长就能够防止头及臂接触障碍物的自动进样器。
用于解决问题的方案
本发明所涉及的自动进样器具备驱动部、障碍物传感器以及控制部。驱动部具备：头；臂，其沿作为水平面内的一个方向的Y轴方向延伸，在前端侧保持所述头来使所述头沿所述Y轴方向滑动；以及臂移动机构，其使所述臂沿在水平面内与所述Y轴方向正交的X轴方向移动。障碍物传感器设置于所述驱动部，检测在所述头和所述臂的移动路径上的障碍物。控制部控制所述驱动部对所述头的驱动，具备最短路线移动部和障碍物回避部。
所述控制部的最短路线移动部构成为：在设定了所述头的目的地后驱动所述驱动部以使所述头以最短路线移动至所述目的地。障碍物回避部构成为用于执行Y轴方向回避动作和X轴方向回避动作。Y轴方向回避动作是如下动作：在使所述头以最短路线移动时所述障碍物传感器检测到障碍物的情况下，停止所述臂沿所述X轴方向的移动，使所述臂仅沿所述Y轴方向移动，以使所述头来到即便使所述臂沿所述X轴方向行进也不会导致所述头及所述臂接触该障碍物的所述Y轴方向的位置。X轴方向回避动作是如下动作：在该Y轴方向回避动作后，使所述臂仅沿所述X轴方向行进至能够使所述头向所述目的地的方向直线移动的位置。所述最短路线移动部构成为：驱动所述驱动部，以使所述头在从所述X轴方向回避动作刚刚完成后的位置至所述目的地的最短路线上移动。
此处，根据头的初始位置、目的地以及障碍物的位置，也存在如下情况：仅执行上述Y轴方向回避动作，之后，能够使头直线移动至目的地。因此，在这样的情况下，在Y轴方向回避动作完成的同时，X轴方向回避动作也完成。
根据配置有障碍物的位置，存在如下情况：在物理上无法以在使头移动至目的地时使头及臂不接触该障碍物的方式使头移动。在该情况下，如果不移动障碍物，则无法使头移动至目的地。因此，在本发明中，优选的是，所述控制部还具备警告产生部，在物理上无法进行所述Y轴方向回避动作时，该警告产生部向用户发出警告。这样的话，用户能够迅速知道需要从该位置移走障碍物。
另外，优选的是，还具备回避位置存储部，所述回避位置存储部将所述Y轴方向回避动作刚刚完成后的所述头的位置作为Y轴方向回避位置进行存储，将所述X轴方向回避动作刚刚完成后的所述头的位置作为X轴方向回避位置进行存储，所述最短路线移动部构成为：在所述回避位置存储部存储有所述Y轴方向回避位置和所述X轴方向回避位置的状态下使所述头移动至所述目的地时，控制所述驱动部，以使所述头以经由所述Y轴方向回避位置和所述X轴方向回避位置到达所述目的地的最短路线移动。这样的话，在第二次以后的头向目的地的移动时，不执行使用了障碍物传感器的Y轴方向回避动作和X轴方向回避动作，使用回避位置存储部中存储的Y轴方向回避位置和X轴方向回避位置就能够一边回避障碍物一边使头以最短路线移动至目的地。
发明的效果
本发明所涉及的自动进样器构成为：控制所述驱动部对所述头的驱动的控制部具备最短路线移动部和障碍物回避部，障碍物回避部执行Y轴方向回避动作和X轴方向回避动作，最短路线移动部驱动驱动部，以使头在从X轴方向回避动作刚刚完成后的位置至目的地的最短路线上移动，因此，不使头以长至需要以上的移动路径移动就能够防止头及臂接触障碍物。
附图说明
图1是表示自动进样器的一个实施例的平面概要结构图。
图2是表示同一实施例的障碍物回避动作的流程图。
图3是表示同一实施例的通常动作时的头的移动的流程图。
图4是表示同一实施例的障碍物回避动作时的一个状态的俯视图。
图5是表示图4的动作的下一状态的俯视图。
图6是表示图5的动作的下一状态的俯视图。
图7是表示图6的动作的下一状态的俯视图。
图8是概要性地表示同一实施例的通常动作时的移动的俯视图。
图9是表示在同一实施例中发生错误的情况的一例的俯视图。
图10是表示在同一实施例中发生错误的情况的另一例的俯视图。
具体实施方式
下面，使用附图来说明本发明的自动进样器的一个实施例。
首先，使用图1来说明自动进样器的一个实施例的结构。
头2安装于臂4的前端。头2保持例如前端朝向铅垂下方的针，具有从该针的前端进行液体的吸入和喷出的功能。臂4配置为沿作为水平面内的一个方向的Y轴方向(在图中为上下方向)上延伸。臂4被臂移动机构6保持。臂移动机构6能够沿导轨8在X轴方向上移动，导轨8配置为沿在水平面内与Y轴方向正交的X轴方向(在图中为左右方向)延伸。臂移动机构6使臂4向Y轴方向滑动。头2、臂4以及臂移动机构6构成本申请发明中的驱动部。
下面，将X轴方向中的右方向定义为正方向，将左方向定义为负方向，将Y轴方向中的上方向定义为负方向，将下方向定义为正方向。
作为用于使臂移动机构6沿导轨8向X轴方向移动的机构，例如列举由齿条和小齿轮构成的机构(省略图示)，其中，齿条设置为沿导轨8向X轴方向延伸，小齿轮设置于臂移动机构6且与导轨8的齿条噛合。在该情况下，设置于臂移动机构6的小齿轮通过步进电机来旋转，能够根据步进电机的转速来控制头4在X轴方向上的位置。
另外，作为臂移动机构6使臂4向Y轴方向滑动的机构，例如列举由齿条和小齿轮构成的机构(省略图示)，其中，齿条设置为沿臂4向Y轴方向延伸，小齿轮设置于臂移动机构6且与臂4的齿条噛合。在该情况下，设置于臂移动机构6的小齿轮通过步进电机旋转，能够根据步进电机的转速来控制头4在Y轴方向上的位置。
在头2的X轴方向正侧(图中为右侧)的侧面、Y轴方向正侧(图中为下侧)的侧面分别设置有障碍物传感器10、12。在臂4的X轴方向正侧(图中为右侧)的侧面的多个位置(在图中为三个位置)设置有障碍物传感器14。这些障碍物传感器10、12、14用于在各传感器朝向的方向(X轴方向正侧或者Y轴方向正侧)的固定距离内接近了障碍物时检测障碍物的存在。作为障碍物传感器10、12、14，例如能够使用光电微型传感器、面传感器、光电传感器、接近传感器、激光传感器。障碍物传感器10、12、14的检测距离是10mm左右。
头2的移动、即臂移动机构6的动作由控制部16控制。控制部16具备最短路线移动部18、障碍物回避部20、回避位置存储部22以及警告产生部24作为用于使头2移动至目的地G的功能。障碍物传感器10、12、14的检测信号被控制部16获取。控制部16基于来自障碍物传感器10、12、14的信号来控制臂移动机构6的动作，以避免头2和臂4接触障碍物。
控制部16能够利用该自动进样器专用的计算机或者通用的个人计算机来实现。最短路线移动部18、障碍物回避部20以及警告产生部24是通过运算处理装置执行保存在构成控制部16的计算机内的程序而得到的功能。回避位置存储部22利用设置于控制部16的存储装置来实现。此外，回避位置存储部22也可以利用与控制部16独立地设置的存储装置来实现。
最短路线移动部18构成为计算用于使头2移动至目的地G的最短路线，控制臂移动机构6以使头2移动至该最短路线。并且，最短路线移动部18构成为在回避位置存储部22中存储有后述的X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置时，计算用于使头2经由这些回避位置且最短地移动至目的地的最短路线，控制臂移动机构6以使头2以该最短路线移动。
障碍物回避部20构成为：在头2或者臂4的移动路径上存在障碍物的情况下，控制臂移动机构6以使头2和臂4回避该障碍物。后面叙述对障碍物进行回避的障碍物回避动作的详细内容，障碍物回避动作主要有X轴方向回避动作和Y轴方向回避动作，根据各回避动作得到用于回避障碍物的X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置。
障碍物回避动作可以始终在通常动作时进行，但优选在用于在控制部16中登记目的地G、障碍物的位置的示教时进行障碍物回避动作。在示教中，根据X轴方向回避动作和Y轴方向回避动作来获取X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置，且存储于回避位置存储部22。由此，能够在通常动作时，由最短路线移动部18使头2以经由该X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置的最短路线移动。
警告产生部24构成为：在无法通过上述的障碍物回避动作来使头2和臂4回避障碍物的情况下向用户发出警告。作为针对用户的警告，既可以在与控制部16连接的液晶显示器等监视器上进行错误显示，也可以发出警告音。
接下来，使用图2的流程图、图3至图7以及图10来说明障碍物回避动作。此外，下面说明的障碍物回避动作是在用于决定用于使头2从预先设定的基准位置移动至目的地G的路径的示教时进行的动作。在本实施例中，将图1所示的头2的位置设为头2的基准位置。另外，在下面的说明中，将障碍物传感器10、14定义为检测在头2和臂4的X轴正方向的固定距离内是否存在障碍物的“X轴方向传感器”，将障碍物传感器12定义为检测在头2的Y轴正方向的固定距离内是否存在障碍物的“Y轴方向传感器”。
原则上，头2要以直线即最短路线移动至目的地G。在头2处于基准位置的状态下X轴方向传感器10、14未检测到障碍物的情况下，头2沿该最短路线向目的地G的方向移动。在头2与目的地G之间不存在头2和臂4会接触这样的障碍物的情况下，头2以最短路线到达目的地G。
但是，如图4所示，在头2以最短路线移动的期间X轴方向传感器10、14中的某一个传感器检测到障碍物时，停止臂4的动作。此处，判断头2和臂4是否能够回避障碍物。通常，尝试后述的“Y轴方向回避动作”或者“X轴方向回避动作”，根据是否能够执行这些动作来判断是否能够回避障碍物。
在能够回避的情况下，如图5所示，使头2向Y轴负方向移动至头2能够向X轴正方向移动的位置。能够基于X轴方向传感器10的检测信号来识别头2能够向X轴正方向移动的位置。即，头2能够向X轴正方向移动的位置是考虑到头2的大小的、变成X轴方向传感器10检测不到障碍物之后进一步使头2向Y轴负方向移动了固定距离时的位置。使头2移动至能够向X轴正方向移动的位置的动作是“Y轴方向回避动作”。将该Y轴方向回避动作刚刚完成后的头2的位置作为“Y轴方向回避位置”存储于回避位置存储部22。
在Y轴方向回避动作完成后，在从Y轴方向回避动作刚刚完成后的“Y轴方向回避位置”至目的地G的直线上存在障碍物的情况下，如图6所示，使头2向X轴正方向移动至头2能够直线移动至目的地G的位置。该动作是X轴方向回避动作。将该X轴方向回避动作刚刚完成后的头2的位置作为“X轴方向回避位置”存储于回避位置存储部22。
进一步具体地说明X轴方向回避动作。当使头2从“Y轴方向回避位置”向X轴正方向移动时，Y轴方向传感器12检测到障碍物。当进一步使头2向X轴正方向移动时，Y轴方向传感器12检测不到障碍物。“X轴方向回避位置”是指考虑到头2的大小的、变成Y轴方向传感器12检测不到障碍物之后进一步使头2向X轴正方向移动固定距离时的位置。
此外，在Y轴方向回避动作完成后，在从Y轴方向回避动作刚刚完成后的“Y轴方向回避位置”至目的地G的直线上没有障碍物的情况下，能够使头2从“Y轴方向回避位置”直线移动至目的地，因此，不需要进行上述那样的X轴回避动作。因此，在这样的情况下，在Y轴方向回避动作完成的同时，X轴方向回避动作也完成。
在X轴方向回避动作完成后，如图7所示，使头2从该”X轴方向回避位置”直线移动至目的地G。由此，从基准位置至目的地G的回避了障碍物的最短路线的搜索结束。
此外，在X轴方向传感器10、14检测到障碍物、且头2和臂4无法回避该障碍物的情况下，显示警告。例如在图9中所示的那样，在障碍物与导轨8接近地配置的情况下，虽然尝试进行“Y轴方向回避动作”，但在物理上无法使头2向Y轴负方向移动至头2能够向X轴方向移动这样的位置。因此，在这样的情况下，头2和臂4无法回避障碍物。在这样的情况下，向用户发出警告，促使障碍物移动。
另外，如图10所示，在示教开始时刻X轴方向传感器14检测到障碍物的情况下，当使头2直接向Y轴负方向(在图中为上方向)移动时，头2与障碍物接触。但是，由于无法使头2进一步向X轴负方向(在图中为左方向)移动，因此在物理上无法回避障碍物。在这样的情况下，向用户显示(或者发出)警告。
在通过上述的障碍物回避动作将X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置存储至回避位置存储部22(参照图1)中后，能够如在图3的流程图以及图8中所示那样，使头2以经由X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置的最短路线移动至目的地G。即，首先使头2从当前位置直线移动至Y轴方向回避位置，接着向Y轴方向回避位置移动。之后，使头2从Y轴方向回避位置直线移动至目的地G。由此，即使在头2处于任意的位置的情况下，也能够可靠地回避头2及臂4接触障碍物，并且能够使头2以最短路线移动至目的地G。
此外，根据头2的当前位置，存在以下情况：即使不经由X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置，也能够使头2从当前位置直线移动至目的地G。因此，优选的是，在使头2移动时，控制部16基于头2的当前位置的坐标、目的地G的坐标、X轴方向回避位置以及Y轴方向回避位置的坐标来判断是否使头2经由X轴方向回避位置和Y轴方向回避位置。
附图标记说明
2：头；4：臂；6：臂移动机构；8；导轨：10、12、14：障碍物传感器；16：控制部；18：最短路线移动部；20：障碍物回避部；22：回避位置存储部；24：警告产生部。

Claims (3)

1.一种自动进样器，具备：
驱动部，其具有头、臂以及臂移动机构，其中，所述臂沿作为水平面内的一个方向的Y轴方向延伸，在前端侧保持所述头来使所述头沿所述Y轴方向滑动，所述臂移动机构使所述臂沿在水平面内与所述Y轴方向正交的X轴方向移动；
障碍物传感器，其设置于所述驱动部，检测在所述头和所述臂的移动路径上的障碍物；以及
控制部，其基于来自所述障碍物传感器的信号来控制所述驱动部的动作，所述控制部具有最短路线移动部和障碍物回避部，其中，所述最短路线移动部构成为在设定了所述头的目的地后驱动所述驱动部以使所述头以最短路线移动至所述目的地，所述障碍物回避部构成为用于执行Y轴方向回避动作并且执行X轴方向回避动作，所述Y轴方向回避动作是如下动作：在使所述头以最短路线移动时所述障碍物传感器检测到障碍物的情况下，停止所述臂沿所述X轴方向的移动，使所述臂仅沿所述Y轴方向移动，以使所述头来到即便使所述臂沿所述X轴方向行进也不会导致所述头及所述臂接触该障碍物的所述Y轴方向的位置，所述X轴方向回避动作是如下动作：在该Y轴方向回避动作后，使所述臂仅沿所述X轴方向行进至能够使所述头向所述目的地的方向直线移动的位置，
其中，所述控制部的所述最短路线移动部构成为：驱动所述驱动部，以使所述头在从所述X轴方向回避动作刚刚完成后的位置至所述目的地的最短路线上移动。
2.根据权利要求1所述的自动进样器，其特征在于，
所述控制部还具备警告产生部，在物理上无法进行所述Y轴方向回避动作时，所述警告产生部向用户发出警告。
3.根据权利要求1所述的自动进样器，其特征在于，
还具备回避位置存储部，所述回避位置存储部将所述Y轴方向回避动作刚刚完成后的所述头的位置作为Y轴方向回避位置进行存储，将所述X轴方向回避动作刚刚完成后的所述头的位置作为X轴方向回避位置进行存储，
所述最短路线移动部构成为：在所述回避位置存储部中存储有所述Y轴方向回避位置和所述X轴方向回避位置的状态下使所述头移动至所述目的地时，控制所述驱动部，以使所述头以经由所述Y轴方向回避位置和所述X轴方向回避位置到达所述目的地的最短路线移动。
CN201680084560.7A 2016-04-13 2016-04-13 自动进样器 Expired - Fee Related CN109073608B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2016/061929 WO2017179157A1 (ja) 2016-04-13 2016-04-13 オートサンプラ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109073608A true CN109073608A (zh) 2018-12-21
CN109073608B CN109073608B (zh) 2020-10-09

Family

ID=60042109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201680084560.7A Expired - Fee Related CN109073608B (zh) 2016-04-13 2016-04-13 自动进样器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20190128857A1 (zh)
EP (1) EP3444606A4 (zh)
JP (1) JP6493623B2 (zh)
CN (1) CN109073608B (zh)
RU (1) RU2018135736A (zh)
WO (1) WO2017179157A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112747958A (zh) * 2020-12-31 2021-05-04 武汉大学 仿生可避障大深度星际采样器及采样方法
CN113715006A (zh) * 2021-08-19 2021-11-30 苏州华兴源创科技股份有限公司 机械手臂的驱动方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018123363B4 (de) * 2018-09-24 2021-01-07 Bystronic Laser Ag Verfahren zur Kollisionsvermeidung und Laserbearbeitungsmaschine
DE102018125620A1 (de) * 2018-10-16 2020-04-16 Schuler Pressen Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Schneiden einer Blechplatine aus einem kontinuierlich geförderten Blechband

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558995A (en) * 1978-10-27 1980-05-02 Fujitsu Ltd Mechanical arm device
JPS6161428A (ja) * 1984-09-03 1986-03-29 Toshiba Seiki Kk Ｘｙテ−ブル駆動方法
CN1463658A (zh) * 2002-06-21 2003-12-31 泰怡凯电器(苏州)有限公司 自动吸尘器的可清扫区域和障碍物区域的识别方法
CN101217913A (zh) * 2005-05-13 2008-07-09 艾可瑞公司 用于患者定位组件的机器人手臂
US20120156098A1 (en) * 2009-09-11 2012-06-21 Minoru Sano Dispensing device and analyzer
CN102879595A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 力合科技（湖南）股份有限公司 自动进样器以及进样测试系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5206568A (en) * 1986-03-26 1993-04-27 Beckman Instruments, Inc. Coordinated control of stepper motors
JPH04269184A (ja) * 1991-02-21 1992-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 直交ロボット
US5372782A (en) * 1992-05-29 1994-12-13 Ciba Corning Diagnostics Corp. Automated sampling device for medical diagnostic instrument
US6474181B2 (en) * 2001-01-24 2002-11-05 Gilson, Inc. Probe tip alignment for precision liquid handler
JP2007303885A (ja) * 2006-05-09 2007-11-22 Olympus Corp 分析装置と侵入検知装置
JP2008180538A (ja) * 2007-01-23 2008-08-07 Olympus Corp 分析装置
JP5426498B2 (ja) * 2010-08-18 2014-02-26 シスメックス株式会社 検体吸引装置
JP6322114B2 (ja) * 2014-09-30 2018-05-09 シスメックス株式会社 検体処理装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558995A (en) * 1978-10-27 1980-05-02 Fujitsu Ltd Mechanical arm device
JPS6161428A (ja) * 1984-09-03 1986-03-29 Toshiba Seiki Kk Ｘｙテ−ブル駆動方法
CN1463658A (zh) * 2002-06-21 2003-12-31 泰怡凯电器(苏州)有限公司 自动吸尘器的可清扫区域和障碍物区域的识别方法
CN101217913A (zh) * 2005-05-13 2008-07-09 艾可瑞公司 用于患者定位组件的机器人手臂
US20120156098A1 (en) * 2009-09-11 2012-06-21 Minoru Sano Dispensing device and analyzer
CN102879595A (zh) * 2012-09-29 2013-01-16 力合科技（湖南）股份有限公司 自动进样器以及进样测试系统

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112747958A (zh) * 2020-12-31 2021-05-04 武汉大学 仿生可避障大深度星际采样器及采样方法
CN112747958B (zh) * 2020-12-31 2021-11-09 武汉大学 仿生可避障大深度星际采样器及采样方法
CN113715006A (zh) * 2021-08-19 2021-11-30 苏州华兴源创科技股份有限公司 机械手臂的驱动方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6493623B2 (ja) 2019-04-03
WO2017179157A1 (ja) 2017-10-19
US20190128857A1 (en) 2019-05-02
RU2018135736A3 (zh) 2020-05-13
EP3444606A4 (en) 2019-10-30
CN109073608B (zh) 2020-10-09
EP3444606A1 (en) 2019-02-20
JPWO2017179157A1 (ja) 2018-09-13
RU2018135736A (ru) 2020-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109073608A (zh) 自动进样器
US8580210B2 (en) Sample aspirating apparatus and sample analyzer
CN104297511B (zh) 自动分析装置
US20130316336A1 (en) Analyzer
US8885041B2 (en) Method and apparatus for checking the fluid in a pipet tip
WO2014162921A1 (ja) オートサンプラ
US9671419B2 (en) Liquid collection device and automated analyzer provided therewith
CN102654507A (zh) 分析装置及位置确认方法
JPH10104241A (ja) 自動試料注入装置
CN101526542A (zh) 标本分析仪及其控制系统
US9555407B2 (en) Laser triangulation for pipette tip position
US9255938B2 (en) Sample analyzer and method of analyzing a sample
EP1881330A3 (en) Fluid metering in a metering zone
CN205368380U (zh) 带有z轴防撞机构的试剂工作站
CN104749387A (zh) 样本处理装置及架
US10036762B2 (en) Method for determining the position of a fixed cartography token including deducing coordinate points of the cartography token with respect to movement of a needle
JP6193600B2 (ja) 自動分析装置
JP2012251800A (ja) 自動分析装置
CN205861711U (zh) 一种血型分析仪的加样针机构
JP5733462B2 (ja) 自動試料注入装置
US20190250182A1 (en) Reaction vessel moving member for moving reaction vessels from a processing track to a rotating device in a diagnostic analzyer
WO2018136582A1 (en) Robotic machine with light curtain system
JP5883214B2 (ja) 自動分析装置
WO2017037770A1 (ja) オートサンプラ
JP2023152541A (ja) 試料採取装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20201009