CN109003912A - 晶片输送压紧检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种晶片输送压紧检测装置，属于输送设备领域，包括用于输送晶片的输送轨道、用于检测晶片的检测位、用于放置废品的废品摆放机构、用于移动晶片进行检测的移栽装置和用于压检测晶片的检测装置；所述移栽装置将待晶片从所述输送轨道移动至所述检测位，所述移栽装置将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道，所述移栽装置将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构。该发明有效解决了现有技术中检测晶片时需要停止生产线和晶片检测过程中易损坏的问题，能够在生产线持续输送的同时对晶片进行检测，缩减整个生产工艺时间，合理优化资源配置，提高了生产效率，有效保证了晶片的产能和良品率。
Description
技术领域
本发明涉及输送设备领域，尤其涉及一种晶片输送压紧检测装置。
背景技术
晶片是LED最主要的原料之一，是LED的发光部件，LED最核心的部分，晶片的好坏将直接决定LED的性能。
在晶片的生产过程中，通常采用自动化送料装置来对晶片进行输送，以完成相关工艺，生产出优质的晶片。同时，需要对产出的晶片的质量进行检测，以确保良品率。
现有技术中，在晶片的检测过程中，常常需要将生产线停止以检测晶片，检测完毕后，重启生产线，待下一批晶片到达预定工位后，停止生产线进行检测，循环往复。虽然是通过自动化的生产方式对晶片质量进行检测，但是需要不断的停止生产线的输送，极大地影响了晶片的生产效率，造成了大量的资源浪费；并且在检测过程中，通常采用压紧的方式检测晶片，常常由于压力过大损坏晶片。
发明内容
针对上述存在的问题，本发明提供的晶片输送压紧检测装置，以解决现有技术中的检测晶片时需要停止生产线、晶片检测过程易损坏的问题，能够在生产线持续输送的同时安全、稳定的对晶片进行检测，缩减整个生产工艺时间，合理优化资源配置，提高了生产效率，有效保证了晶片的产能和良品率。
为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：
本发明提供的一种晶片输送压紧检测装置，包括用于输送晶片的输送轨道、用于检测晶片的检测位、用于放置废品的废品摆放机构、用于移动晶片进行检测的移栽装置和用于压紧检测晶片的检测装置；所述移栽装置将待晶片从所述输送轨道移动至所述检测位，所述移栽装置将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道，所述移栽装置将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构；
所述检测装置包括多个用于检测晶片的探针和用于固定所述探针的固定架；所述探针设置于所述检测位上方；所述固定架包括固定底座、旋转臂和用于驱动所述旋转臂的动力机构；所述旋转臂可旋转固定于所述固定底座，所述固定底座将所述旋转臂分隔为前旋转臂和后旋转臂；所述后旋转臂可旋转固定于所述动力机构；所述探针可滑动固定于所述前旋转臂，所述探针与所述前旋转臂之间设置有弹性连接机构；
其中，当所述旋转臂处于水平位置时，所述探针头部朝下，所述探针可上下滑动。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述探针贯穿固定于所述前旋转臂，所述探针被所述前旋转臂分隔为探针上部和探针下部，所述弹性连接机构设置于所述探针下部与所述前旋转臂之间，所述探针上部设置有限位螺母。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述动力机构为气缸杆直线运动的气缸；所述气缸的气缸杆可旋转固定于所述后旋转臂；所述弹性连接机构为弹簧。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述检测位于所述废品摆放机构设置于所述输送轨道的同一侧；所述移栽装置为可水平方向360°转动的机械臂。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述输送轨道的一侧设置有上料装置，所述上料装置包括升降机构一和推送机构；所述推送机构将待测晶片从所述升降机构一移动至所述输送轨道。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述输送轨道的另一侧设置有下料装置，所述下料装置包括升降机构二和拉动机构；所述拉动机构将检测后的晶片从所述输送轨道移动至所述升降机构二。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述上料装置还包括用于将晶片送入所述升降机构一的滑动机构一，所述下料装置还包括将晶片移出所述升降机构二的滑动机构二。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述输送检测装置还包括一条与所述输送轨道并列设置的输送轨道一和用于移动所述输送轨道一上的晶片的移栽装置一；所述移栽装置一将待晶片从所述输送轨道一移动至所述检测位，所述移栽装置一将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道一，所述移栽装置一将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述废品摆放机构包括升降机构三、拉动机构一和废品摆放位；所述拉动机构一将检测后的废品从所述废品摆放位移动至所述升降机构三。
本发明提供的晶片输送压紧检测装置，优选地，所述废品摆放机构还包括用于将废品移出所述升降机构三的滑动机构三。
上述技术方案具有如下优点或者有益效果：
本发明提供的晶片输送压紧检测装置包括用于输送晶片的输送轨道、用于检测晶片的检测位、用于放置废品的废品摆放机构、用于移动晶片进行检测的移栽装置和用于压检测晶片的检测装置；所述移栽装置将待晶片从所述输送轨道移动至所述检测位，所述移栽装置将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道，所述移栽装置将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构。该发明有效解决了现有技术中检测晶片时需要停止生产线和晶片检测过程中易损坏的问题，能够在生产线持续输送的同时对晶片进行检测，缩减整个生产工艺时间，合理优化资源配置，提高了生产效率，有效保证了晶片的产能和良品率。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明及其特征、外形和优点将会变得更加明显，在全部附图中相同的标记指示相同的部分。并未刻意按照比例绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。
图1是本发明实施例1提供的晶片输送压紧检测装置旋转90°的俯视结构示意图；
图2是本发明实施例1提供的晶片输送压紧检测装置的正视示意图；
图3是本发明实施例1提供的检测装置的立体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例对本发明作进一步的说明，但是不作为本发明的限定。
实施例1：
如图1～3所示，本发明提供的晶片输送压紧检测装置，包括用于输送晶片的输送轨道1、用于检测晶片的检测位2、用于放置废品的废品摆放机构3、用于移动晶片进行检测的移栽装置4和用于压紧检测晶片的检测装置9；检测装置9，包括四个用于检测晶片的探针91和用于固定探针91的固定架93；探针91设置于检测位2上方；固定架3包括固定底座931、旋转臂932和用于驱动旋转臂932的动力机构933；旋转臂932可旋转固定于固定底座931，固定底座931将旋转臂932分隔为前旋转臂9321和后旋转臂9322；后旋转臂9322可旋转固定于动力机构933；探针91可滑动固定于前旋转臂9321，探针91与前旋转臂9321之间设置有处于压缩或是正常状态的弹性连接机构9323；当旋转臂932处于水平位置时，探针91头部朝下，探针91可上下滑动；动力机构933为气缸杆直线运动的气缸；气缸933的气缸杆可旋转固定于后旋转臂9322；探针91贯穿固定于前旋转臂9321，探针91被前旋转臂9321分隔为探针上部911和探针下部912，弹性连接机构9323设置于探针下部912与前旋转臂9321之间，探针上部911设置有防止探针91脱落的限位螺母913；弹性连接机构9323为弹簧；采用探针91可滑动于弹性连接机构9323相配合的设置，当探针91接触放置于检测位2上的晶片时，探针91对晶片压紧施加的压力过大时，会在压力的反作用力下向上顶升，来防止压力过大损坏晶片；同时由于弹性连接机构9323的存在的，保证探头91被向上顶升时能够始终压紧晶片以方便对晶片进行检测，并且当检测完毕后，探针1能够在弹性连接机构323的作用下回复原本状态。
移栽装置4将待晶片从输送轨道1移动至检测位2，移栽装置4将检测后的有效晶片从检测位2移动至输送轨道1，移栽装置4将检测后的废弃晶片从检测位2移动至废品摆放机构3；输送检测装置还包括一条与输送轨道1并列设置的输送轨道一7和用于移动输送轨道一7上的晶片的移栽装置一8；移栽装置一8将待晶片从输送轨道一1移动至检测位2，移栽装置一8将检测后的有效晶片从检测位2移动至输送轨道一7，移栽装置一8将检测后的废弃晶片从检测位2移动至废品摆放机构3。晶片放置在料盘00中在输送轨道1上运输，当料盘00移动至特定工位时，移栽装置4从输送轨道1上移动晶片至检测位2进行检测，此时料盒在输送轨道1的作用下一直移动新的位置，移栽装置4将检测合格的晶片移动至输送轨道1上的料盒，将废品移动至废品摆放机构3上，循环往复，在此过程中输送轨道1并未停止，一直持续输送，解决了现有技术中检测晶片时需要将输送线停止的问题，检测晶片的同时能够持续不断的输送晶片，提高生产效率；同时将输送轨道设置为两条，尽可能高效的利用检测位检测晶片的时间，保持检测位满负荷运转，进一步提高生产效率。
检测位2、检测装置9、移栽装置4、移栽装置一8和废品摆放机构3均位于输送轨道1和输送轨道一7之间；检测位2于所述废品摆放机构设置于所述输送轨道的同一侧；移栽装置4和移栽装置一8均为可水平方向360°转动的机械臂。采用能够360°旋转的机械臂，方便移动待检测晶片及检测后的晶片，并将监测合格的晶片放置到随输送轨道移动的料盒中，保证检测过程中，输送线路不停止，持续作业。
输送轨道1和输送轨道一7的一侧设置有上料装置5，上料装置5包括升降机构一51、推送机构52和滑动机构一53；推送机构52将待测晶片从升降机构一51移动至输送轨道1，滑动机构一53将晶片移入升降机构一51；输送轨道1和输送轨道一7的另一侧设置有下料装置6，下料装置6包括升降机构二61、拉动机构62和滑动机构二63；拉动机构62将检测后的晶片从输送轨道1移动至升降机构二61，滑动机构二63将晶片移入升降机构二61；废品摆放机构3包括升降机构三31、拉动机构一32、废品摆放位33和滑动机构三34；拉动机构一32将检测后的废品从废品摆放位3移动至升降机构三31，滑动机构三34将废品移出升降机构三31。通过上料装置、下料装置及废品摆放位的结构设置，更进一步的提高自动化生产效率，提高产能。
当使用本发明实施例1提供的晶片输送装置时，将装满晶片的料盒分别堆放至滑动机构一上，在滑动机构一的作用下，将装满晶片的料盒送入升降机构一，升降机构一上升，推送机构将料盒推如输送轨道，料盒在输送轨道上运输，当料盒移动至特定工位时，移栽装置从输送轨道上的料盒中移动晶片至检测位，检测装置进行检测，与此同时，料盒在输送轨道的作用下一直移动，移栽装置将检测合格的晶片移动至输送轨道上处于新位置的料盒中，将废品移动至废品摆放位上的料盒，重复检测动作，装有检测合格晶片的料盒在输送轨道的作用下靠近下料装置，在拉动机构的作用下，料盒进入升降机构二，料盒随着升降机构二下降，在滑动机构二的作用，料盒移出升降机构二进入下道工序，同时，装有废品的料盒在拉动机构一的作用下进入升降机构三，升降机构三下降，在滑动机构三的作用下废品移出升降机构三进入下道工序。
综上所述，本发明提供的晶片输送压紧检测装置，有效解决了现有技术中检测晶片时需要停止生产线、晶片在检测过程中易损坏的问题，能够在生产线持续输送的同时安全、稳定地对晶片进行检测，缩减整个生产工艺时间，合理优化资源配置，提高了生产效率，有效保证了晶片的产能和良品率。
本领域技术人员应该理解，本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例，在此不予赘述。这样的变化并不影响本发明的实质内容，在此也不予赘述。
以上对本发明的较佳实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例，这并不影响本发明的实质内容。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
Claims (10)
1.一种晶片输送压紧检测装置，其特征在于，包括用于输送晶片的输送轨道、用于检测晶片的检测位、用于放置废品的废品摆放机构、用于移动晶片进行检测的移栽装置和用于压紧检测晶片的检测装置；所述移栽装置将待晶片从所述输送轨道移动至所述检测位，所述移栽装置将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道，所述移栽装置将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构；
所述检测装置包括多个用于检测晶片的探针和用于固定所述探针的固定架；所述探针设置于所述检测位上方；所述固定架包括固定底座、旋转臂和用于驱动所述旋转臂的动力机构；所述旋转臂可旋转固定于所述固定底座，所述固定底座将所述旋转臂分隔为前旋转臂和后旋转臂；所述后旋转臂可旋转固定于所述动力机构；所述探针可滑动固定于所述前旋转臂，所述探针与所述前旋转臂之间设置有弹性连接机构；
其中，当所述旋转臂处于水平位置时，所述探针头部朝下，所述探针可上下滑动。
2.如权利要求1所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述探针贯穿固定于所述前旋转臂，所述探针被所述前旋转臂分隔为探针上部和探针下部，所述弹性连接机构设置于所述探针下部与所述前旋转臂之间，所述探针上部设置有限位螺母。
3.如权利要求2所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述动力机构为气缸杆直线运动的气缸；所述气缸的气缸杆可旋转固定于所述后旋转臂；所述弹性连接机构为弹簧。
4.如权利要求1所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述检测位于所述废品摆放机构设置于所述输送轨道的同一侧；所述移栽装置为可水平方向360°转动的机械臂。
5.如权利要求1所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述输送轨道的一侧设置有上料装置，所述上料装置包括升降机构一和推送机构；所述推送机构将待测晶片从所述升降机构一移动至所述输送轨道。
6.如权利要求5所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述输送轨道的另一侧设置有下料装置，所述下料装置包括升降机构二和拉动机构；所述拉动机构将检测后的晶片从所述输送轨道移动至所述升降机构二。
7.如权利要求6所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述上料装置还包括用于将晶片送入所述升降机构一的滑动机构一，所述下料装置还包括将晶片移出所述升降机构二的滑动机构二。
8.如权利要求1所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述输送检测装置还包括一条与所述输送轨道并列设置的输送轨道一和用于移动所述输送轨道一上的晶片的移栽装置一；所述移栽装置一将待晶片从所述输送轨道一移动至所述检测位，所述移栽装置一将检测后的有效晶片从所述检测位移动至所述输送轨道一，所述移栽装置一将检测后的废弃晶片从所述检测位移动至废品摆放机构。
9.如权利要求1～8任意一项所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述废品摆放机构包括升降机构三、拉动机构一和废品摆放位；所述拉动机构一将检测后的废品从所述废品摆放位移动至所述升降机构三。
10.如权利要求9所述的晶片输送压紧检测装置，其特征在于，所述废品摆放机构还包括用于将废品移出所述升降机构三的滑动机构三。
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