CN109003566A - 一种显示面板的检测装置及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板的检测装置及其检测方法，本发明的检测装置和检测方法利用现有显示面板周边的定位标记，根据其金属层与可操作区内多种金属膜层电性连接的特性，将定位标记复用为测试端子输入对应的测试信号，利用显示面板周边的测试焊盘和定位标记分别对第二检测区域和第一检测区域检测，在不改变显示面板现有结构的前提下，完成对显示面板所有区域的检测，经济高效。

Description

一种显示面板的检测装置及其检测方法
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板的检测装置及其检测方法。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是液晶显示器的一种，它具有低能耗、高亮度、高对比度、高响应速度、环保等特点，被广泛应用于电视、平板显示器及投影仪上。随着技术的革新以及市场的需求，大尺寸面板需求逐年增加，越来越多的面板厂开始提升大尺寸面板的产能占比。在生产大尺寸面板时，玻璃利用率越高，生产成本就越低，且检测区域越大，良品率越高。
如图1所示，现有测试方法利用位于显示面板周边的一测试焊盘11(Test pad)，将测试信号输入测试焊盘11的对应测试端子，并控制电压图像光学系统3(Voltage ImageOptical System，VIOS)沿图中箭头所示的路径移动进行检测。在测试大尺寸显示面板时，靠近测试焊盘11的位置有一小部分区域无法测试，无法测试的屏蔽区域面积占比约7.36％。选用不同的测试方法，无法测试的区域可以是纵向延伸的屏蔽区域1，也可以是横向延伸的屏蔽区域2(图1中屏蔽区域1和屏蔽区域2有部分重合)。如果在阵列制造工序有缺陷在屏蔽区域1或屏蔽区域2形成，则无法自动拦截，影响良率。经过计算，屏蔽区域1的面积小于屏蔽区域2，所以目前选用无法测试区域为屏蔽区域1的测试方法。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供一种显示面板检测装置及其检测方法，将显示面板周边的定位标记复用为测试端子，完整地检测显示面板的所有区域。
本发明提供的技术方案如下：
本发明公开了一种显示面板的检测装置，显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；
所述检测装置为检测治具，所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；所述第一测试探针输入信号给测试端子并对第二检测区域进行检测，所述第二测试探针输入信号给定位标记并对第一检测区域进行检测。
优选地，所述第一检测区域位于所述可操作区的侧边，所述第二检测区域与第一检测区域连接。
优选地，所述定位标记包括贯穿金属层和无机非金属层的凹槽，所述凹槽呈“L”型或“十”字型。
本发明还公开了一种显示面板的检测方法，采用检测治具对显示面板进行检测；
所述显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；
所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；
本发明显示面板的检测方法包括以下步骤：
第一步：第一探针坝上的多个第一测试探针将多个测试信号分别输入测试焊盘上对应的测试端子，显示面板显示预设画面，
第二步：对第二检测区域进行检测；
第三步：切断第一测试探针和测试端子的电性连接；
第四步：第二探针坝上的多个第二测试探针将多个测试信号分别输入多个定位标记，各定位标记的金属层与可操作区内导电膜层的连接关系与所输入的测试信号相对应，显示面板显示预设画面；
第五步：对第一检测区域进行检测；
第六步：切断第二测试探针和定位标记的电性连接。
优选地，所述导电膜层包括金属膜层和导电性无机非金属膜层，所述金属膜层包括红色子像素源极线、绿色子像素源极线，蓝色子像素源极线、奇数行栅极线和偶数行栅极线。
优选地，在上述第四步中，第二测试探针将红色子像素源极信号输入其金属层连接红色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将绿色子像素源极信号输入其金属层连接绿色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将蓝色子像素源极信号输入其金属层连接蓝色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将奇数行栅极信号输入其金属层连接奇数行栅极线的定位标记，第二测试探针将偶数行栅极信号输入其金属层连接偶数行栅极线的定位标记。
优选地，所述定位标记包括贯穿金属层和无机非金属层的凹槽，所述凹槽呈“L”型或“十”字型。
优选地，所述测试焊盘位于显示面板靠近第一检测区域的一侧；
在上述第四步中，与测试探针电性连接的多个定位标记位于显示面板靠近第二检测区域的一侧。
优选地，上述第二步和上述第五步中，控制电压图像光学系统分别对第二检测区域和第一检测区域进行检测。
与现有技术相比，本发明能够带来以下至少一项有益效果：
1、利用现有显示面板周边的定位标记，根据其金属层与可操作区内多种金属膜层电性连接的特性，将定位标记复用为测试端子输入对应的测试信号；
2、在不改变显示面板现有结构的前提下，完成对显示面板所有区域的检测，经济高效。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本发明予以进一步说明。
图1为现有显示面板的屏蔽区域和测试路径示意图；
图2为显示面板的定位标记的分布示意图；
图3为显示面板的定位标记的结构示意图；
图4为本发明定位标记的连接方式示意图；
图5为本发明显示面板的检测方法示意图；
图6为本发明显示面板的检测方法的操作流程示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
如图2所示，玻璃基板上矩阵状地形成多个显示面板(panel)，每个显示面板包括可操作区(AA区，Active Area)、位于可操作区周边的一测试焊盘11和多个定位标记12(如“L”型标记、“十”字型标记等)，测试焊盘11包括多个测试端子，可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层。在显示面板的制造、检测、修复等制程中，光学系统捕捉定位标记12的位置，对显示面板进行定位，提高成膜、蚀刻等工序的准确度。本发明中显示面板的可操作区包括位于侧边的第一检测区域和与第一检测区域相邻的第二检测区域，第二检测区域的面积远大于第一检测区域的面积。由于测试焊盘11位于显示面板靠近第一检测区域的一侧，在可操作区内构成一现有检测方法(即单纯利用测试焊盘11进行检测)无法检测的屏蔽区域1，第一检测区域至少包括现有检测方法中的屏蔽区域1。
定位标记12的结构如图3所示，定位标记12包括形成在玻璃基板上的金属层51、形成在金属层51上的无机非金属层(图未示)以及覆盖无机非金属层的透明导电膜52，其中金属层51和透明导电膜52电性连接。如图4所示，多个定位标记12的金属层51分别与显示面板可操作区内的栅极、源极、漏极等金属膜层电性连接；无机非金属层包括氮化硅(SiNx)、二氧化硅(SiO2)等绝缘材料；透明导电膜52优选地包括氧化铟锡(ITO)。定位标记12还包括一凹槽53，凹槽53贯穿金属层51和无机非金属层，透明导电膜52覆盖该凹槽53，凹槽53呈“L”型、“十”字型等形状。
基于此种结构，当信号通过扎入测试探针等方式输入电信号时，电信号可以通过透明导电膜52直接传输至金属层51，再通过透明导电膜52和金属层51传输至显示面板可操作区内的金属膜层或导线性无机非金属膜层等导电膜层。
如图5所示，检测装置包括检测治具，检测治具包括棒状的第一探针坝21(probebar)和第二探针坝31、连接在第一探针坝21上的第一测试探针组22(probe assembly)、连接在第二探针坝31上的第二测试探针组32，第一测试探针组22和第二测试探针组32分别包括数量不少于检测所需测试信号数量的第一测试探针23和第二测试探针33。第一测试探针23输入信号给测试端子并对第二检测区域进行检测，第二测试探针33输入信号给定位标记12并对第一检测区域进行检测。
如图6所示，本发明显示面板的检测方法包括以下步骤：
第一步：第一探针坝21上的多个第一测试探针23将多个测试信号分别输入测试焊盘11上对应的多个测试端子，显示面板显示预设画面，
第二步：控制电压图像光学系统3(VIOS系统，如图1)对第二检测区域进行检测；
第三步：切断第一测试探针23和测试端子的电性连接，撤出第一探针坝21；
第四步：第二探针坝31上的多个第二测试探针33扎入多个定位标记12，将多个测试信号分别输入多个定位标记12，各定位标记12的金属层51与可操作区内导电膜层的连接关系与所输入的测试信号相对应，显示面板显示预设画面；
具体地，定位标记12的金属层51与显示面板AA区内的多种金属膜层电性连接，包括：红色子像素源极线、绿色子像素源极线、蓝色子像素源极线、公共信号线、奇数行栅极线、偶数行栅极线等，第二测试探针33将对应的红色子像素数据信号R、绿色子像素数据信号G、蓝色子像素数据信号B、公共信号Com、奇数行栅极信号Go、偶数行栅极信号Ge等检测信号输入对应的定位标记12，并通过定位标记12的透明导电膜52和金属层51传输到AA区内；并且与测试探针电性连接的多个定位标记12优选地位于显示面板靠近第二检测区域的一侧，以免妨碍检测；
第五步：控制电压图像光学系统3(VIOS系统)对第一检测区域进行检测；
第六步：切断第二测试探针33和定位标记12的电性连接，撤出第二探针坝31，显示面板的所有区域检测完成。
本发明公开了一种显示面板的检测方法，该检测方法利用现有显示面板周边的定位标记12，根据其金属层51与可操作区内多种导电膜层电性连接的特性，将定位标记12复用为测试端子输入对应的测试信号，利用显示面板周边的测试焊盘11和定位标记12分别对第二检测区域和第一检测区域检测，在不改变显示面板现有结构的前提下，完成对显示面板所有区域的检测，经济高效。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出多个改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示面板的检测装置，显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；其特征在于：
所述检测装置为检测治具，所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；所述第一测试探针输入信号给测试端子并对第二检测区域进行检测，所述第二测试探针输入信号给定位标记并对第一检测区域进行检测。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测装置，其特征在于：所述第一检测区域位于所述可操作区的侧边，所述第二检测区域与第一检测区域连接。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测装置，其特征在于：所述定位标记包括贯穿金属层和无机非金属层的凹槽，所述凹槽呈“L”型或“十”字型。
4.一种显示面板的检测方法，采用检测治具对显示面板进行检测；
所述显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；
所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；
其特征在于，包括以下步骤：
第一步：第一探针坝上的多个第一测试探针将多个测试信号分别输入测试焊盘上对应的测试端子，显示面板显示预设画面，
第二步：对第二检测区域进行检测；
第三步：切断第一测试探针和测试端子的电性连接；
第四步：第二探针坝上的多个第二测试探针将多个测试信号分别输入多个定位标记，各定位标记的金属层与可操作区内导电膜层的连接关系与所输入的测试信号相对应，显示面板显示预设画面；
第五步：对第一检测区域进行检测；
第六步：切断第二测试探针和定位标记的电性连接。
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于：
所述导电膜层包括金属膜层和导电性无机非金属膜层，所述金属膜层包括红色子像素源极线、绿色子像素源极线，蓝色子像素源极线、奇数行栅极线和偶数行栅极线。
6.根据权利要求5所述的显示面板的检测方法，其特征在于：
在所述第四步中，第二测试探针将红色子像素源极信号输入其金属层连接红色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将绿色子像素源极信号输入其金属层连接绿色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将蓝色子像素源极信号输入其金属层连接蓝色子像素源极线的定位标记，第二测试探针将奇数行栅极信号输入其金属层连接奇数行栅极线的定位标记，第二测试探针将偶数行栅极信号输入其金属层连接偶数行栅极线的定位标记。
7.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于：
所述定位标记包括贯穿金属层和无机非金属层的凹槽，所述凹槽呈“L”型或“十”字型。
8.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于：
所述测试焊盘位于显示面板靠近第一检测区域的一侧；
在所述第四步中，与测试探针电性连接的多个定位标记位于显示面板靠近第二检测区域的一侧。
9.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于：
所述第二步和所述第五步中，控制电压图像光学系统分别对第二检测区域和第一检测区域进行检测。
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